电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置与流程

本发明关于一种电容式感测技术，特别关于一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置。

背景技术：

为了提升使用上的便利性，越来越多电子装置使用触碰屏幕(touchscreen)作为操作界面，以让用户直接在触碰屏幕上点选画面来进行操作，由此提供更为便捷且人性化的操作模式。触控屏幕主要由提供显示功能的显示器以及提供触控功能的感测装置所组成。

一般而言，感测装置利用自电容(self-capacitance)感测技术及/或互电容(mutualcapacitance)感测技术来得知面板是否有被使用者触碰。在感测过程中，当感测装置检测到某个坐标位置的电容值的变化时，感测装置判断此坐标位置有被用户触碰。因此，在动作时，感测装置会对每一个坐标位置都储存有未触碰的电容值，并且在后续接收到最新的电容值时，通过比对最新的电容值与未触碰的电容值来判断此电容值所对应的位置是否有被触碰。

由于感测装置的设计、制造与材料的差异，造成感测装置上每个感测点(驱动电极线与感应电极线的交点)的寄生电容有差异，而使得感测点的信号强度有所差异。感测装置需要强度强且均匀的信号才易于进行后续信号处理(如，触控检测等)。由于不同感测点无法同时完成量测，因此存在量测时间差所造成的问题。举例来说，不同感测点的信号基础在同一个时点是稳定的，但会随着时间产生变化，由于不同感测点的量测时点不同，量测时间差所造成信号基础变化误以为是不同感测点的信号基础不稳定。

技术实现要素：

在一实施例中，一种电容式感测装置的量测阈值的校正方法，包括下列步骤。扫描一信号传感器以得到信号传感器的多个感测点的基础信号，其中信号传感器包括多条第一电极线与多条第二电极线，并且多条第一电极线与多条第二电极线交错设置以界定多个感测点。由一信号仿真单元仿真一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号。根据第一触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一第一触碰信号。计算每一第一电极线界定的感测点的多个基础信号的多个第一统计量，其中多个第一统计量包括多个基础信号的平均值、多个基础信号的标准偏差、多个基础信号的最大值及多个基础信号的最小值。计算每一第一电极线界定的感测点的多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中多个第二统计量包括多个第一触碰信号的平均值、第一触碰信号的标准偏差、多个第一触碰信号的最大值及多个第一触碰信号的最小值。根据多个第一统计量与多个第二统计量设定多个量测阈值，其中多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点。

在一实施例中，一种电容式感测装置，其包括：多条第一电极线、多条第二电极线以及一信号处理电路。多条第一电极线与多条第二电极线交错，并且此些第一电极线与此些第二电极线界定以一矩阵配置的多个感测点。信号处理电路电性连接此些第一电极线与此些第二电极线。信号处理电路执行一校正程序以及基于此校正程序的结果进行各感测点的触控检测。其中，校正程序包括下列步骤。扫描多个感测点以得到多个感测点的基础信号。模拟一正常触控事件以产生一第一触碰仿真信号。根据第一触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一第一触碰信号。计算每一第一电极线界定的感测点的多个基础信号的多个第一统计量，其中多个第一统计量包括多个基础信号的平均值、多个基础信号的标准偏差、多个基础信号的最大值及多个基础信号的最小值。计算每一第一电极线界定的感测点的多个第一触碰信号的多个第二统计量，其中多个第二统计量包括多个第一触碰信号的平均值、第一触碰信号的标准偏差、多个第一触碰信号的最大值及多个第一触碰信号的最小值。根据多个第一统计量与多个第二统计量设定多个量测阈值，其中多个量测阈值包括未发生任何触控事件的感测信号的一第一容许范围、发生正常触控事件的感测信号的一第二容许范围以及量测基准点。

综上所述，根据本发明的电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置，其以同一电极上的所有感测点的各种信号的多种统计值设定电容式感测装置进行触控检测时所使用的量测阈值，以此避免量测时间差造成各感测点的信号强度不均匀、强度不足等问题发生。

附图说明

图1为根据本发明一实施例的电容式感测装置的方块示意图。

图2为图1中信号传感器的一实施例的示意图。

图3为根据本发明一实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法的流程示意图。

图4为根据本发明任意实施例中的量测阈值的一些示范例的信号示意图。

图5为根据本发明另一实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法的流程示意图。

图6为图1中信号仿真单元的一示范例的示意图。

图7为图1中信号仿真单元的另一示范例的示意图。

图8为图1中信号仿真单元的又一示范例的示意图。

图9为在根据本发明的电容式感测装置的量测阈值的校正方法中，周期校正程序的一示范例的流程示意图。

图10为在根据本发明的电容式感测装置的量测阈值的校正方法中，周期校正程序的另一示范例的流程示意图。

图11为根据本发明又一些实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法的局部流程图。

图12为图9或图10中的量测基准点的调整程序的一示范例的流程图。

附图标记说明

12信号处理电路

14信号传感器

121驱动单元

122检测单元

123控制单元

125信号仿真单元

127储存单元

x1～xn驱动电极线

y1～ym感应电极线

p(1,1)～p(n,m)感测点

l1第一容许范围

l2第二容许范围

l3保护范围

vcc驱动电压

gnd接地

c1～c2电容

s1～s3开关

r1电阻

yi感应电极线

f滤波器

vr比较基础

sg信号发生器

s11～s31步骤

s11～s31'步骤

s41～s51步骤

s41～s51'步骤

s33～s35步骤

s61～s65步骤

具体实施方式

首先，根据本发明任一实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法可适于一电容式感测装置，例如但不限于触控面板、电子画板、手写板等。在一些实施例中，电容式感测装置还可与显示器整合成触控屏幕。并且，电容式感测装置的触碰可以是用手、触控笔、或触控画笔等触碰组件来发生。

图1为根据本发明一实施例的电容式感测装置的方块示意图。请参考图1，电容式感测装置包含一信号处理电路12以及一信号传感器14。信号传感器14连接信号处理电路12。信号传感器14包括交错配置的多个电极(例如，第一电极线y1～ym以及第二电极线x1～xn)。其中，n及m为正整数。n可等于m，也可不等于m。从俯视视角来看，第一电极线y1～ym与第二电极线x1～xn相互交错，并且界定以一矩阵配置的多个感测点p(1,1)～p(n,m)，如图2所示。在一些实施例中，从俯视视角来看，交迭后的第一电极线y1～ym与第二电极线x1～xn呈菱形蜂巢状、网格状或栅状。在一些实施例中，第一电极线y1～ym与第二电极线x1～xn可以位于不同平面(位于不同感测层上)，并且不同平面之间可以但不限于夹置有绝缘层(图中未示)。在另一些实施例中，第一电极线y1～ym与第二电极线x1～xn也可以位于同一平面，也就是仅位于单一感测层上。

在一实施例中，第一电极线y1～ym可为感应电极线，而第二电极线x1～xn可为驱动电极线。但不限于此，在另一实施例中，第一电极线y1～ym可为驱动电极线，而第二电极线x1～xn可为感应电极线。

信号处理电路12包含驱动检测单元及控制单元123。控制单元123耦接驱动检测单元。驱动检测单元包含驱动单元121及检测单元122。在此，驱动单元121及检测单元122可以整合成单一组件，也可以采用两个组件来实现，端视设计时的现况来决定。

驱动单元121用以输出驱动信号(如，驱动电压)至驱动电极线，而检测单元122用以基于量测阈值量测感应电极线。在此，控制单元123能用以控制驱动单元121及检测单元122的动作并且根据背景信号(已确定无触碰的电容值)与感测信号(待检测触碰是否发生的电容值)判断各感测点的电容值变化。其中，背景信号可由先前的量测得基础信号而得。

在此，电容式感测装置能通过执行根据本发明任一实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法，以设定电容式感测装置进行触控检测时所使用的量测阈值，以避免量测时间差造成各感测点的信号强度不均匀、强度不足等问题发生。换言之，信号处理电路12执行一校正程序以及基于校正程序的结果进行各感测点的触控检测(正常程序)。

在此，请再参考图1，信号处理电路12可还包括一信号仿真单元125。信号仿真单元125电性连接检测单元122与控制单元123。控制单元123能控制各组件的动作。

在一般情况(正常程序)下，检测单元122的输入断开信号仿真单元125，以由控制单元123直接对检测单元122的量测值进行信号处理，以判断各感测点的电容值变化。而在校正程序下，检测单元122导通信号仿真单元125。控制单元123致使信号仿真单元125仿真一触控事件以产生一触碰仿真信号。并且，触碰仿真信号会与检测单元122从信号传感器14所得到的基础信号整合成仿真各感测点被触碰时的触碰信号(发生目标触碰事件时的感测信号)。此实施例中，触碰仿真信号相当于一个触碰事件的发生。在一范例中，触控事件可为一正常触控事件。举例来说，触控事件可为一手指触控事件，而触碰仿真信号可以是仿真一手指信号的信号强度。在一范例中，触控事件可为一异常触控事件，如，水触控事件或其他导电异物触控事件。当触控事件为水触控事件时，触碰仿真信号可以是仿真一水信号的信号强度。或者，当触控事件为导电异物触控事件时，触碰仿真信号可以是仿真导电异物信号的信号强度。

以下进一步详细说明电容式感测装置的量测阈值的校正程序。

请参照图1至图3，图3为根据本发明一实施例的电容式感测装置的量测阈值的校正方法的流程示意图。

在确定信号传感器14无触碰发生的情况下，驱动检测单元扫描信号传感器14，以得到感测点p(1,1)～p(n,m)的基础信号(步骤s11)。以第一电极线y1～ym可为感应电极线且第二电极线x1～xn可为驱动电极线为例，每一次扫描期间，驱动单元121依序驱动电极线(第二电极线x1～xn)。并且，在任一条驱动电极线xi(第二电极线x1～xn中之一)驱动时，检测单元122会量测感应电极线(第一电极线y1～ym)，以得到此条驱动电极线xi与感应电极线(第一电极线y1～ym)所界定的感测点p(i,1)～p(i,m)的基础信号；接着，再驱动下一条驱动电极线x(i+1)并量测感应电极线(第一电极线y1～ym)，依此类推直至以得到所有感测点p(1,1)～p(n,m)的基础信号。其中，i为1～n中的任一者。在一实施例中，驱动检测单元可以此形式执行一次扫描。在另一实施例中，驱动检测单元也可以此形式反复执行多次扫描以得到各感测点的多个基础信号。

在步骤s11后，控制单元123计算每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一基础信号的多种统计量(以下称第一统计量)(步骤s13)。在此，第一统计量为每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的平均值、每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的标准偏差、每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的最大值、及每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的最小值其中多者。在一些实施例中，每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的最大值与最小值能整合以每一条第一电极线界定的n个感测点的多个基础信号的最大差表示。举例来说，针对第一电极线y1，控制单元123会计算感测点p(1,1)～p(n,1)的基础信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。针对第一电极线y2，控制单元123会计算感测点p(1,2)～p(n,2)的基础信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。依此类推至第一电极线ym。

在步骤s11后，控制单元123能控制信号仿真单元125仿真一正常触控事件以产生一触碰仿真信号(以下称第一触碰仿真信号)(步骤s15)。在此，控制单元123能根据第一触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一触碰信号(以下称第一触碰信号)(步骤s17)。

在步骤s17之后，控制单元123计算每一第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的多个第二统计量(步骤s19)。其中，多个第二统计量包括每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的平均值、每一条第一电极线界定的n个感测点的第一触碰信号的标准偏差、每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的最大值、及每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的最小值。在一些实施例中，每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的最大值与最小值能整合以每一条第一电极线界定的n个感测点的多个第一触碰信号的最大差表示。举例来说，针对以第一电极线y1，控制单元123会计算感测点p(1,1)～p(n,1)的第一触碰信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。针对以第一电极线y2，控制单元123会计算感测点p(1,2)～p(n,2)的第一触碰信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。依此类推至第一电极线ym。

在得到第一统计量与第二统计量(步骤s13与s19)后，控制单元123会根据第一统计量与第二统计量设定多种量测阈值(步骤s31)。其中，多个量测阈值包括未发生任何触控事件(notouch)的感测信号的一容许(接受)范围(以下称第一容许范围l1)、发生正常触控事件(touch)的感测信号的一容许(接受)范围(以下称第二容许范围l2)以及量测基准点(base)，如图4所示。在此，量测基准点包括参考电压(referenceline)以及底电压(bottomline)，如图4所示。

在一些实施例中，请参照图1、图2及图5，在步骤s11后，控制单元123还能控制信号仿真单元125仿真一异常触控事件以产生一触碰仿真信号(以下称第二触碰仿真信号)(步骤s21)。在此，控制单元123能根据第二触碰仿真信号与各感测点的基础信号生成各感测点的一触碰信号(以下称特殊触碰信号)(步骤s23)。

在步骤s17之后，控制单元123计算每一第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的多个第三统计量(步骤s25)。其中，多个第三统计量包括每一条第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的平均值、每一条第一电极线界定的n个感测点的特殊触碰信号的标准偏差、每一条第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的最大值、及每一条第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的最小值。在一些实施例中，每一条第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的最大值与最小值能整合以每一条第一电极线界定的n个感测点的多个特殊触碰信号的最大差表示。举例来说，针对第一电极线y1，控制单元123会计算感测点p(1,1)～p(n,1)的特殊触碰信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。针对第一电极线y2，控制单元123会计算感测点p(1,2)～p(n,2)的特殊触碰信号的平均值、标准偏差、最大值与最小值。依此类推至第一电极线ym。

在得到第一统计量、第二统计量与第三统计量(步骤s13、s19与s25)后，控制单元123会根据第一统计量、第二统计量与第三统计量设定多种量测阈值(步骤s31')。其中，多个量测阈值包括第一容许范围l1、第二容许范围l2、量测基准点以及发生异常(如，水或其他导电异物)触控事件的感测信号的保护范围l3，如图4所示。在此，量测基准点包括参考电压(referenceline)以及底电压(bottomline)，如图4所示。

在一些实施例中，控制单元123可基于所得的第一统计量找出未发生任何触控事件(notouch)的感测信号的第一容许范围l1。

在一些实施例中，控制单元123可基于所得的第二统计量找出发生正常触控事件(touch)的感测信号的第二容许范围l2。

在一实施例中，当信号仿真单元125仿真的异常触控事件为水触控事件时，控制单元123可基于所得的每一第一电极线界定的n个感测点的特殊触碰信号的第三统计量找出水触控事件的感测信号的保护范围。在另一实施例中，当信号仿真单元125仿真的异常触控事件为异物触控事件时，控制单元123可基于所得的每一第一电极线界定的n个感测点的特殊触碰信号的第三统计量找出异物触控事件的感测信号的保护范围l3。

在一些实施例中，控制单元123可基于第一统计量、第二统计量与第三统计量找出量测基准点。

在一示范例中，参考电压(referenceline)可高于未发生任何触控事件(notouch)的感测信号的第一容许范围l1的上限值。较佳地，参考电压(referenceline)可低于异物触控事件的感测信号的保护范围l3的下限值。

在一示范例中，底电压(bottomline)可低于发生正常触控事件(touch)的感测信号的第二容许范围l2的下限值。

在一些实施例中，在找出量测基准点后，控制单元123在后续信号处理过程中，可先将参考电压(referenceline)与底电压(bottomline)之间的信号放大一既定倍数(如，1.5倍、2倍或更高)，以此增加后续信号处理单元的辨识率。

在一些实施例中，信号仿真单元125能以软件或硬件电路实现。

在一示范例中，信号仿真单元125可以是仿信号传感器14的阻抗开关电路，并且可通过导通或断开(跨过)其中的串联电阻来模仿有触控发生或无触控发生。

举例来说，以驱动电极线xj与感应电极线yi所界定的一个感测点p(j,i)为例，参照图6，信号仿真单元125可包括一组或多组开关s1与电阻r1的组合。在此，检测单元122以电容开关电路为例，检测单元122的输入经由电阻r1耦接感应电极线yi，而开关s1耦接对应的电阻r1的二端。其中，驱动电极线xj可为第一电极线x1～xn其中任一者，即j可为1～n其中任一者。感应电极线yi可为第二电极线y1～ym其中任一者，即i可为1～m其中任一者。

在正常程序下，开关s1导通电阻r1的两端，检测单元122基于量测阈值直接量测感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容并且将量测值输出给控制单元123。在校正程序下，开关s1断开，以致电阻r1与检测单元122的输入信号连接；此时，检测单元122基于量测阈值对感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容的量测值(基础信号)会经由电阻r1产生对应的压降(触碰仿真信号)而形成触碰信号，再输出给控制单元123。

在一些实施例中，当信号仿真单元125具有多组开关s1与电阻r1的组合时，由开关s1控制耦接电阻r1的数量来提供相应不同电容值的触碰仿真信号，即不同阻值代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的信号反应。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有单一组开关s1与电阻r1的组合时，电阻r1可为可变电阻，并且控制单元123可通过调控可变电阻的阻值，以使电阻r1提供代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的信号反应。

在另一示范例中，信号仿真单元125可以是仿信号传感器14的电容开关电路，并且可通过导通或断开其中的并联电容来模仿有触控发生或无触控发生。

举例来说，以驱动电极线xj与感应电极线yi所界定的一个感测点p(j,i)为例，参照图7，信号仿真单元125可包括一组或多组开关s2与电容c1的组合。在此，检测单元122以电容开关电路为例，检测单元122的输入耦接感应电极线yi，而电容c1经由对应的开关s2耦接在检测单元122的输入。换言之，当开关s2导通时，电容c1与感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容并联。

在正常程序下，开关s2断开，检测单元122基于量测阈值直接量测的感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容的电容值(感测信号)，并输出给控制单元123。在校正程序下，开关s2导通，以致电容c1与感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容并联。检测单元122基于量测阈值量测感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容的电容值(基础信号)与电容c1的电容值(触碰仿真信号)的总和(触碰信号)后，再输出给控制单元123。

在一些实施例中，当信号仿真单元125具有多组开关s2与电容c1的组合时，每个电容c1可提供代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的触碰感测信号。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有单一组开关s2与电容c1的组合时，电容c1可为可变电容，并且控制单元123可通过调控可变电容的电容值，以使电容c1提供代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的信号反应。

在又一示范例中，参照图8，信号仿真单元125可为一信号发生器sg，并且信号发生器sg经由开关s3耦接在检测单元122的输入。

在正常程序下，开关s3断开。在校正程序下，开关s3导通，信号发生器sg可以软件形式产生所需的触碰仿真信号(如，仿真正常触控事件或模拟异常触控事件)，并且检测单元122基于各感测点的量测阈值量测感应电极线yi对驱动电极线xj的感应电容的电容值(基础信号)与触碰仿真信号的总和(触碰感测信号)，然后再输出给控制单元123。

在一些实施例中，信号仿真单元125内建于电容式感测装置的芯片内并且与电容式感测装置的外界环境隔离；换言之，相对于信号传感器14而言，信号仿真单元125封装在内部且手指无法接触或靠近(足以影响其电性)，因此不易受到外界噪声的干扰。其中，建置信号仿真单元125的芯片可为无实现其他组件(控制单元、驱动检测单元及路径选择单元)的独立芯片，或是同时实现信号仿真单元125与其他组件(控制单元、驱动检测单元、路径选择单元或其任意组合)的多功能芯片。换言之，信号处理电路12可由一个或多个芯片实现。

在一些实施例中，量测阈值的设定可以设定比较器的比较基础vr、滤波器f的滤波范围、及/或控制单元123进行信号处理的参数等参数来实现。

在一些实施例中，在量测阈值设定(步骤s31或s31')的初始校正程序后，信号处理电路12可定时执行一周期校正程序以确认是否有发生变异，进而排除量测基准点随时间所产生的变化。

参照图1、图2及图9，控制单元123控制驱动检测单元驱动并量测多个感测点p(1,1)～p(n,m)中的至少一者(以k个为例)，以得到k个感测点的第二基础信号(步骤s41)。其中，k为大于或等于1且小于n*,的正整数。在此，控制单元123可随机进行一个或多个感测点的未发生任何触控事件(notouch)的感测信号(第二基础信号)的读取。在一示范例中，控制单元123可得到面板上任意位置的一个感测点的第二基础信号。在另一示范例中，控制单元123可得到面板上不同位置的任意两个感测点的第二基础信号。在又一示范例中，控制单元123可得到面板上不同位置的任意十个感测点的第二基础信号。在步骤s41中，感测点的数量并非本发明的限制，可依实际需求(如，指令周期、精准度等)设定取得第二基础信号的感测点的数量。

在得到第二基础信号(步骤s41)后，控制单元123将感测点的第二基础信号个别与第一容许范围比较以得到第一比较结果(步骤s43)。并且，控制单元123根据第一比较结果选择性执行量测基准点的调整程序(步骤s51)。举例来说，当任一感测点的第二基础信号超出第一容许范围(高于上限值或低于下限值)时，控制单元123判定变异发生并执行量测基准点的调整程序。反之，当感测点的第二基础信号均未超出第一容许范围(介于上限值与下限值之间)时，控制单元123判定变异未发生并不执行量测基准点的调整程序。在另一示范例中，当第二基础信号超出第一容许范围的感测点的数量大于一既定数量(如，一个、两个或三个等小于k的正整数)时，控制单元123判定变异发生并执行量测基准点的调整程序。反之，当第二基础信号超出第一容许范围的感测点的数量小于或等于一既定数量时，控制单元123判定变异未发生并不执行量测基准点的调整程序。

在一些实施例中，控制单元123还可基于发生正常触控事件(touch)的感测信号判断异常是否发生。

参照图1、图2及图10，在得到第二基础信号(步骤s41)后，控制单元123致能信号仿真单元125，使信号仿真单元125再次仿真正常触控事件而产生第一触碰仿真信号(步骤s45)。控制单元123根据各第二基础信号与再次产生的第一触碰仿真信号生成一触碰信号(以下称第二触碰信号)(步骤s47)。换言之，控制单元123可随机进行一个或多个感测点的发生正常触控事件(touch)的感测信号(第二触碰信号)的读取以得到g个感测点的第二触碰信号。其中，g为大于或等于1且小于n*,的正整数，并且g可以相等或不等于k。在此，感测点的数量(g)并非本发明的限制，可依实际需求(如，指令周期、精准度等)设定取得第二触碰信号的感测点的数量。在此，控制单元123所得到的第二触碰信号的来源与所得到的第二基础信号的来源可为相同感测点，或为不同感测点(数量可相同或相异)，或一部份为相同感测点而另一部分为不同感测点(数量可相同或相异)。

在生成第二触碰信号(步骤s47)之后，控制单元123比对各第二触碰信号与第二容许范围以得到一第二比较结果(步骤s49)，并且根据第一比较结果与第二比较结果选择性执行量测基准点的调整程序(步骤s51')。举例来说，当任一感测点的第二基础信号超出第一容许范围(高于上限值或低于下限值)或任一感测点的第二触碰信号超出第二容许范围(高于上限值或低于下限值)时，控制单元123判定变异发生并执行量测基准点的调整程序。反之，当感测点的第二基础信号均未超出第一容许范围(介于上限值与下限值之间)且感测点的第二触碰信号均未超出第二容许范围(介于上限值与下限值之间)时，控制单元123判定变异未发生并不执行量测基准点的调整程序。在另一实施例中，控制单元123可确认第二基础信号超出第一容许范围的感测点和第二触碰信号超出第二容许范围的感测点的总数是否大于一既定数量，并在大于时判定变异发生，反之不大于时判定变异未发生。

在一些实施例中，参照图1，信号处理电路12可还包括一储存单元127，并且控制单元123耦接储存单元127。

在一些实施例中，参照图1、图2及图11，在量测阈值设定(步骤s31或s31')的初始校正程序中，控制单元123还计算多条第一电极线y1～ym之间各第一统计值的比值(步骤s33)，并将计算出的各第一统计值的比值记录在储存单元127中以作为标准比值(步骤s35)。举例来说，控制单元123会计算第一电极线y1～ym之间的平均值的比值、第一电极线y1～ym之间的标准偏差的比值、第一电极线y1～ym之间的最大值的比值及第一电极线y1～ym之间的最小值的比值其中至少一者。

在一些实施例中，参照图1、图2及图12，在执行量测基准点的调整程序中，控制单元123利用多条第二电极线x1～xn中之一得到多条第一电极线y1～ym的量测值(步骤s61)。举例来说，以第一电极线y1～ym可为感应电极线，且第二电极线x1～xn可为驱动电极线为例，控制单元123控制驱动单元121驱动第二电极线x1，并控制检测单元122基于量测阈值个别量测第一电极线y1～ym对驱动电极线x1的感应电容，以得到第一电极线y1～ym的量测值。

接着，控制单元123根据得到的第一电极线y1～ym的量测值与标准比值确认变异范围(变异值的电压范围)(步骤s63)，并根据变异范围调整量测基准点(步骤s65)。在一些实施例中，控制单元123找出变异值的电压范围后，可将此电压范围设为保护范围以不读取此范围内的信号。在一示范例中，控制单元123可将量测基准点调整至变异值附近，例如将参考电压调整至变异值附近或调整至低于变异值等。

应当可理解的是，各步骤的执行顺序并不限于前述描述顺序，可依据步骤的执行内容适当地调配执行顺序。

在一些实施例中，储存单元127用以储存相关的软件/固件程序、数据、数据及其组合等。在此，储存单元127可由一个或多个内存实现。

综上所述，根据本发明的电容式感测装置的量测阈值的校正方法及电容式感测装置，其以同一电极上的所有感测点的各种的信号的统计值设定电容式感测装置进行触控检测时所使用的量测阈值，以此避免量测时间差造成各感测点的信号强度不均匀、强度不足等问题发生。在此，所有的量测阈值均是相对接地gnd、驱动电压vcc及邻近信号而得，即，一个感测点就有三个参考(统计量)且具有差分效果，以此排除相对于接地gnd、驱动电压vcc及共模噪声，进而提升精准度。