专利名称：光学拾取器的焦点位置调整方法和焦点位置调整装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及安装在DVD重放机等信息记录再生装置中的光学拾取器的焦点位置调整方法以及焦点位置调整装置。
背景技术：
以前，在制造例如DVD重放机的制造工序中，为了调整光学拾取器的焦点位置，一般是采用下述的众所周知之调整方法。
具体地说，当光学拾取器的焦点位置偏离恰当的目标位置时，由于因偏离目标位置而造成的不利影响，往往不能够对装填于DVD重放机中的光盘在恰当的聚焦状态下实行记录或重放。为此，一般是在产品出厂之前，利用来自实际光盘的反射光使光学拾取器产生试验性动作，从而调整焦点位置。
具体做法是，采用已装填有光盘的调整机使之实行与通常的记录重放动作同样的动作，从而经由设在光学拾取器内的物镜对光盘照射光束，然后使由此而产生的来自光盘的反射光经由该物镜而入射至所定的受光面。
实际上，在光学拾取器内，除了设置有上述的物镜之外，还设置了受光元件。该受光元件具有多个被点对称排列的受光面，透过物镜的反射光被分割受光在这些受光面之后可输出为生成RF信号和焦点误差信号的光电变换信号。再者，在物镜与受光元件之间还设置了能够针对受光元件而纠正反射光之焦点的多重透镜。
当反射光对上述受光面的关系造成光轴方向上的焦点位置偏离其正确位置时，光学拾取器中物镜的焦点位置就会变得不恰当。为了避免此问题，用来纠正反射光的焦点的多重透镜被设置在物镜与受光元件之间。
这样，为了纠正透过物镜的反射光的焦点而对多重透镜在光轴方向上的位置进行调整，可以在反射光入射至排列在受光元件上的受光面之后，利用所获得的光电变换信号来调整光学拾取器的焦点位置从而使之处于恰当的目标位置。
然而，在现有技术的焦点位置调整方法中，因为需要在每台调整机中实际装填调整用的光盘，且需要根据再生后的再生信号来调整光学拾取器的焦点位置，所以容易使这种调整操作受到光盘制造中的不均一性之影响。
同时，因为光盘容易产生弯曲等变形，即使只把1片光盘用作调整之目的，上述调整也只能基于接受了变形等不利影响的光电变换信号，因而难以实现高精度的焦点位置调整。
此外，因为必须将光盘实际装填在多台调整机中，因而使得光学拾取器的焦点位置之调整操作变得繁杂化。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而产生的，其目的在于提供一种能恰当地调整光学拾取器之焦点位置的调整方法以及调整装置。
本发明的一个方面提供了一种光学拾取器的焦点位置之调整方法，其特征在于包括第1工序把亮度测定装置对置于光学拾取器，该亮度测定装置包括半透明反射镜、对焦于该半透明反射镜的物镜、求得经由半透明反射镜以及物镜而入射的光像之最高亮度的信号处理部；第2工序使得光学拾取器产生动作从而使之实行聚焦伺服，同时连续改变光学拾取器中半导体激光器的位置，或者连续改变多重透镜与受光元件的相对位置，然后借助信号处理部来求得经由光学拾取器中的物镜而入射至半透明反射镜的光点之最高亮度之变化，当上述最高亮度变成最大之最高亮度时将半导体激光器或多重透镜和受光元件固定在它们此时所处的位置上，从而完成光学拾取器的焦点位置之调整。
本发明的另一个方面提供了一种光学拾取器的焦点位置之调整装置，其特征在于包括亮度测定装置，该亮度测定装置包括半透明反射镜、对焦于该半透明反射镜的物镜、求得经由半透明反射镜以及物镜而入射的光像之最高亮度的信号处理部；使得光学拾取器产生动作从而使之实行聚焦伺服，同时连续改变光学拾取器中半导体激光器的位置，或者连续改变多重透镜与受光元件的相对位置，然后借助信号处理部来求得经由光学拾取器中的物镜而入射至半透明反射镜的光点之最高亮度之变化；当上述最高亮度变成最大之最高亮度时将半导体激光器或多重透镜和受光元件固定在它们此时所处的位置上，从而完成光学拾取器的焦点位置之调整。
图1(a)至图1(c)是说明图，表示了根据本发明实施形态的光学拾取器焦点位置之调整方法。
图2是截面图，表示了本发明实施例中所使用的亮度测定装置之构成。
图3是立体图，表示了本发明实施例中所使用的光学拾取器的重要部分之构成。
图4是说明图，用几何光学之方法表示了图3所示的光学拾取器的重要部分之构成。
图5是流程图，表示了根据本发明实施例的焦点位置调整工序。
图6(a)至图6(c)为表示实验结果的图表，证实了根据本发明实施例的焦点位置调整方法的有效性。
图7(a)和图7(b)为表示实验结果的说明图，进一步证实了根据本发明实施例的焦点位置调整方法的有效性。
图8(a)和图8(b)为表示实验结果的说明图，进一步证实了根据本发明实施例的焦点位置调整方法的有效性。
图9(a)和图9(b)为表示实验结果的说明图，进一步证实了根据本发明实施例的焦点位置调整方法的有效性。
具体实施例方式
以下，将参照图1来说明本发明的实施形态。然而，图1为说明图，模式性地说明了根据本发明之实施形态的、光学拾取器的焦点位置调整方法。
如图1所示，在调整光学拾取器的焦点位置时，采用了测定光像亮度的亮度测定装置1。
如图1(a)所示，亮度测定装置1具有形成在其光像入射面上的半透明反射镜2，而在半透明反射镜2的后方设有物镜3、二维摄像元件4(例如电荷藕合器件(CCD)等)、通过处理二维摄像元件4的输出信号Q来检测光像最高亮度BP的信号处理部5。这些半透明反射镜2、物镜3、以及二维摄像元件4均沿该装置的光轴被设置在该装置的内部。
实际上，半透明反射镜2包括设置在亮度测定装置1之入射面的、不产生变形等的透明玻璃板，而在该透明玻璃板的内面通过蒸镀等形成了介质薄膜等的半透明膜6。这里，物镜3被装设在焦点调整用的镜架7上。
在实施本发明的焦点位置调整方法时，首先是进行前处理。即，通过操作镜架7来使设置在亮度测定装置1中的物镜3对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上。
在这种前处理过程中，如图1(b)所示，作为调整对象，例如用现有技术的调整方法作了调整的光学拾取器的特定的1个作为基准光学拾取器PUg。
然后，如图1(c)所示，将基准光学拾取器PUg设置在面对亮度测定装置1的半透明反射镜2的位置上，且开始聚焦伺服从而使该光学拾取器PUg对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上。此时，基准光学拾取器PUg是借助驱动光学拾取器的夹具Xi来实行聚焦伺服的。
之后，使亮度测定装置1产生动作以便测定成像在半透明膜6上的光束之光点SPg，并且移动镜架7等从而使物镜3朝向半透明反射镜2产生进退移动。在这种进退移动时能获得一些最高亮度BP，而在一种最大之最高亮度BPmax被获得时，物镜3则被固定在该最大之最高亮度被获得时的位置上，从而完成前处理。然而，此时也可以使半透明反射镜2朝向物镜3产生进退移动，而在一种最大之最高亮度BPmax被获得时，半透明反射镜2则被固定在该最大之最高亮度被获得时的位置上。
通过上述前处理，半透明反射镜2的半透明膜6起到了光盘的记录层之作用。此时，就能够如图1(c)所示，可以使亮度测定装置1的物镜3对焦于来自基准光学拾取器PUg(已对焦于半透明膜6上)的入射光束的光点SPg。所以，亮度测定装置1的物镜3可以被预先设定在与基准光学拾取器PUg的焦点位置相一致的最佳聚焦状态上。
完成了上述前处理之后，就可以如图1(c)所示，使用亮度测定装置1对于产品出厂前应该调整的各光学拾取器PUi的焦点位置进行调整。
即，在上述前处理中已完成调整的亮度测定装置1被配置在面对光学拾取器PUi的位置上，进一步说是使其面对光学拾取器PUi的物镜OB。
然后，使光学拾取器PUi实行与通常的记录或再生相同的试验性动作，从而使射自半导体激光器LD(以下称为「激光光源」)的激光经由物镜OB而照射到半透明反射镜2一侧。
这里，光学拾取器PUi包括发射出记录或再生用激光的激光光源LD和半透明反射镜HM。该半透明反射镜HM将发射自激光光源LD的激光供给至物镜OB，同时将返回自物镜OB一侧的反射光(也可称为返回光)经由焦点补正用的多重透镜ML供给到受光元件OEIC。
作为一个例子，可如图1(c)所示，来自激光光源LD的激光借助半透明反射镜HM被反射到物镜OB，而返回自物镜OB一侧的反射光则透过多重透镜ML被供给到受光元件OEIC。另一方面，虽然未图示，也可以改变激光光源LD和多重透镜ML以及受光元件OEIC相对于半透明反射镜HM的位置。即，将来自激光光源LD的激光透过半透明反射镜HM供给至物镜OB，同时将返回自物镜OB方面的反射光经由多重透镜M而供给至受光元件OEIC。
这里，受光元件OEIC具有按点对称排列的数个受光面，通过在这些受光面上分割接受透过多重透镜ML的反射光，可以输出为生成RF信号和聚焦误差信号等的光电变换信号Sd。
同时，因为多重透镜ML为圆筒形透镜与凹透镜之组合，通过调整多重透镜ML与受光元件OEIC之间的间隔可以纠正反射光的焦点，从而可以控制反射光在受光元件OEIC上的焦点。
再者，在夹具Xi中设有聚焦伺服电路FSV，它利用输出自受光元件OEIC的光电变换信号Sd来对物镜OB的位置实行微调整，而光学拾取器PUi中设有聚焦促动器ACT。
此时，光学拾取器PUi可借助聚焦伺服电路FSV而处于聚焦伺服状态。
然后，在处于聚焦伺服之状态中，利用亮度测定装置1连续测定入射于半透明反射镜2上的光点SPi之最高亮度BPi，且使得多重透镜ML沿光轴方向作适当的进退移动，从而把多重透镜ML固定在最高亮度BPi中的最大之最高亮度BPimax被获得时的位置上，于是完成光学拾取器PUi的焦点位置之调整。
也就是，在处于聚焦伺服之状态中，一旦使得多重透镜ML沿光轴方向作适当的进退移动并且当反射光入射于受光元件OEIC时，就可以根据由反射光产生的光电变换信号Sd来调整物镜OB在光轴方向上的位置从而使聚焦误差成为0。
然而，在连续地使得多重透镜ML沿光轴方向作适宜的进退移动时，且当物镜OB根据(其焦点相对于受光元件被适当调整的反射光入射至受光元件OEIC时所产生的)光电变换信号Sd被调整至聚焦状态时，亮度测定装置1就能够测定出高于最高亮度BPi的最大之最高亮度BPimax。这里，所谓的最高亮度BPi是当物镜OB根据(其焦点相对于受光元件未被适当调整的反射光所产生的)光电变换信号Sd被调整至聚焦状态时所产生的。
并且，当该最大之最高亮度BPimax被获得时，可通过固定多重透镜ML的位置来完成光学拾取器PUi的焦点位置之最佳调整。
换言之，以处于聚焦伺服之状态，当使得多重透镜ML沿光轴方向作适当的进退移动时，并且当物镜OB仅仅根据(其焦点相对于受光元件未被适当调整的反射光所产生的)光电变换信号Sd被调整至聚焦状态时，用亮度测定装置1测定的最高亮度BPi只是在低水平上变化，而光学拾取器PUi还未达到其最佳的焦点位置。为此，在最大之最高亮度BPimax与低于它的最高亮度BPi的变化出现之前，以聚焦伺服状态使得多重透镜ML沿光轴方向作适当的进退移动。之后，通过把多重透镜ML固定在最大之最高亮度BPimax被获得时的位置，可来完成该光学拾取器PUi的焦点位置之最佳调整。
然后，对应该被调整的其他光学拾取器PUi，也采用已实施了上述前处理的亮度测定装置1进行焦点位置的调整。
这样，根据本实施形态的焦点位置调整方法，因为可根据基准光学拾取器PUg将亮度测定装置1中的物镜3对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上，所以能够把亮度测定装置1的物镜3设定在最佳的对焦状态。
再者，作为调整对象的光学拾取器PUi被设置在面对于(已被设定在最佳之对焦状态的)亮度测定装置1的半透明反射镜2的位置。然后，通过实施聚焦伺服来使该拾取器对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上。接着，调整光学拾取器PUi中多重透镜ML的位置以使亮度测定装置1能够测定出最大之最高亮度BPimax，从而实现了一种新型的焦点位置调整方法。这样，可把各个光学拾取器PUi的焦点位置调整至与基准光学拾取器PUg的焦点位置相一致。
并且，在使得多重透镜ML实行适当的进退移动时，因为亮度测定装置1能测定出最大的最高亮度BPimax，所以即使不实行特定且复杂的调整操作，也能够迅速地找到多重透镜ML之最佳位置。其结果是，不但能迅速调整光学拾取器PUi的焦点位置，而且可实现调整工作的简化以及迅速化。
再者，因为使用了预先设定在最佳聚焦状态的亮度测定装置1来调整光学拾取器PUi的焦点位置，所以可避免现有技术中在装填了光盘之场合时因光盘制造质量的不均一或变形而带来的不利影响，从而能够以极为高的精度来调整光学拾取器PUi的焦点位置。
此外，因为使用了预先设定在最佳聚焦状态的亮度测定装置1来调整光学拾取器PUi的焦点位置，所以能够以均一的质量来制造全部的光学拾取器PUi。
再者，通过将接受了前处理的亮度测定装置1配置在生产线上，可以使得传送过来的每个光学拾取器PUi自动地面对亮度测定装置1的半透明反射镜2，从而可实现焦点位置调整的自动化。
实施例以下，将参照图2～9来更具体地说明本实施形态的实施例。然而，以下将被说明的是一种调整方法，用来调整能对CD(Compact Disc)和DVD(Digital Versatile Disc)实行记录或再生的光学拾取器PUi的焦点位置。
图2是说明图，表示了亮度测定装置1的构成。图3是立体图，表示了光学拾取器PUi的重要部分。图4是说明图，用几何光学的方式表示了光学拾取器PUi的重要部分。图5是流程图，表示了焦点位置的调整工序。图6是显示试验结果的图表，证实了本实施例的焦点位置调整方法所产生的效果。图7～图9是显示试验结果的说明图，证实了本实施例的焦点位置调整方法所产生的效果。
然而，在图2～图4和图7～图9中，与图1中相同或相当的部分将由同一符号来表示。
首先，参照图2来说明亮度测定装置1的构成。
如图所示，在亮度测定装置1的入射面形成了由透明玻璃板和介质薄膜等的半透明膜6所构成的半透明反射镜2。该透明玻璃板具有0.6mm的厚度且不产生变形，而半透明膜6是被蒸镀在透明玻璃板的内壁面。
在半透明反射镜2的后方(半透明膜6一侧)沿着该装置的光轴设有物镜3、反射镜1a、聚光透镜1b，1c，1d、由电荷藕合器件(CCD)构成的二维摄像元件4、通过处理二维摄像元件4的输出信号Q来检测并输出光像的最高亮度BP的信号处理部5。
这里，半透明膜6的透射率和反射率被设定在大体上相等的值上，而物镜3被装设在焦点调整用的镜架7上。
接着，参照图3以及图4来说明光学拾取器PUi的重要部分之构成。
如图所示，光学拾取器PUi包括发射出用于DVD记录或再生的波长为660nm的激光光束的第1半导体激光器LD1、发射出用于CD记录或再生的波长为780nm的激光光束的第2半导体激光器LD2、对于来自半导体激光器LD1的激光光束进行分光的第1衍射光栅G1、对于来自半导体激光器LD2的激光光束进行分光的第2衍射光栅G2、使得通过衍射光栅G1和G2的激光光束朝同一方向射出的分色镜等合成棱镜M。
在合成棱镜M的前方设有半透明反射镜HM，它能反射来自合成棱镜M的激光光束，同时使该激光光束的一部分通过从而作为透过光来射出。再者，来自物镜OB的反射光则透过该半透明反射镜HM被供给至多重透镜ML。
在半透明反射镜HM的后方设置有通过接受上述激光光束的一部分来个别地检测出半导体激光LD1，D2的射出能量的受光元件PD；上述多重透镜ML；以及具有多个受光面的受光元件OEIC。这里，受光元件OEIC通过接受透过多重透镜ML的反射光来输出为生成RF信号和聚焦误差信号的光电变换信号Sd。
在半透明反射镜HM的前方沿着拾取器之光轴设有准直透镜CL、反射镜MS、慧形象差补正用的液晶单元LCD、1/4波长板PL、与要被装填于夹住位置的CD和DVD相面对的物镜OB。
同时，还设置了能使得物镜OB对焦的聚焦促动器ACT。
在上述构成中，当反射自半透明反射镜HM的激光光束入射至准直透镜CL后，该反射光则变成平行光而入射至反射镜MS，从而被反射至垂直于x方向的z方向(光盘被夹住的方向)。然后，该激光光束透过液晶单元LCD，借助1/4波长板PL从直线偏振光被转化成圆偏振光。之后，该激光光束被物镜OB聚光成细微的光束从而被照射于CD或DVD的记录面上。
同时，反射自CD或DVD之记录面的反射光入射于物镜OB，而透过该物镜OB的反射光则借助1/4波长板PL从圆偏振光被转换成直线偏振光，再透过液晶单元LCD和反射镜MS。之后，该激光光束借助准直透镜CL被聚光，且透过半透明反射镜HM和多重透镜ML，从而被入射至受光元件OEIC的多个入射面上。
以下，参照图5来说明本实施例的焦点位置调整工序。
然而，首先是进行图1(b)和图1(c)所示的前处理。然后，按照图5所示的流程图进行焦点位置调整。
此时，如图1(c)所示，把经过前处理的亮度测定装置1配置在面对作为调整对象的光学拾取器PUi的位置上，且使亮度测定装置1的半透明反射镜2面对光学拾取器的物镜OB。接着，使光学拾取器PUi和亮度测定装置1产生动作，从而根据图5的流程图开始焦点位置之调整。然而，为了说明上的方便，这里还是通过参照图1(c)来说明图5所示的焦点位置调整工序。
首先，在步骤S100中，把作为调整对象的光学拾取器PUi的多重透镜ML移动至其初期位置。
然后，在步骤S101中，对多重透镜ML进行粗调整。
更具体地说，首先使得多重透镜ML作比较粗略的移动，然后采用亮度测定装置1来测定成像在半透明反射镜2的半透明膜6上的(从第1半导体激光器LD1射出的)激光光束之光点像SPi。然后，把多重透镜ML设定在多重透镜ML之粗调整过程中最高亮度BPi变成最大时的位置上。
这样，通过对多重透镜ML实行粗调整，可以借助亮度测定装置1来测定光点像SPi。
接着，在步骤S102中，即在“促动器之粗检索”步骤中，借助聚焦伺服电路FSV实行粗略的散焦，从而把物镜OB调整到最高亮度BPi成为最大时的对焦状态。为此，就能够使物镜OB对焦在半透明反射镜2的半透明膜6上。
然后，在步骤S103中，即在“促动器之微检索”步骤中，以步骤S102中设定的对焦状态作为基准来实施更加细腻的散焦，从而把物镜OB调整到大于步骤S102中得到的最高亮度BPi的最高亮度BPi被获得时的对焦状态。为此，就能够使物镜OB更加正确地对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上。这里，把步骤S103中得到的更大的最高亮度BPi规定为最大的最高亮度BPimax。
接着，在步骤S104中，以聚焦伺服之状态和以散焦量为0之状态，反复地使得多重透镜ML作适当的进退移动，从而把多重透镜ML固定在最接近于(在步骤S103得到的)最大之最高亮度BPimax的最高亮度BPi被获得时的位置上，于是完成了光学拾取器PUi的焦点位置之调整。
并且，对待调整的其他光学拾取器PUi，也采用经过前处理的亮度测定装置1来实行步骤S100～S104的处理。
这样，通过实施本发明的焦点位置调整方法，就能够以高的精度来调整光学拾取器PUi的焦点位置。
以下，参照图6～图9来说明本发明之焦点位置调整方法之效果。
然而，在图6(a)所示的表中，通过实验来调整光学拾取器PUi之焦点位置时所获得的对焦位置(即，理想位置)被认为是偏倚量为“0”，使多重透镜ML偏离该理想位置时所获得的RF信号的振幅水平之变化被表示为RF水平之变化，而多重透镜ML位于理想位置时亮度测定装置1所测得的最高亮度被认为是100％的理想亮度。这里，使多重透镜ML偏倚时亮度测定装置1所测得的最高亮度BPi和理想亮度之百分比率被表示成(最高亮度BPi/理想亮度)×100。
在作为代表例的图6(a)中，当对焦点的偏倚量被设定在0.10μm时，RF水平为304.7mv，BP亮度为100％。另外，当对焦点偏倚量被设定在-0.20μm时，RF水平为296.7mv，而BP亮度为99％。
图6(b)为曲线图，表示了图6(a)中的BP亮度与RF水平之间的关系。
图6(c)也为曲线图，表示了图6(a)中的偏倚量与BP亮度之间的关系。
从图6(a)～6(c)可知，随着对焦点偏倚量的绝对值之增加，BP亮度就降低。随着BP亮度降低，RF水平也就降低。因为这种偏倚量与RF水平以及BP亮度之间有着相关关系，为了得到恰当的RF信号，一种有效的方法是把多重透镜ML调整到恰当的位置，减低对焦点偏倚量的绝对值，从而提高BP亮度。
根据本发明的焦点位置调整方法，在上述的前处理步骤中，把亮度测定装置1预先调整到可测定理想亮度的状态。然后，在图5所示的步骤S103，S104中把多重透镜ML固定在(在改变多重透镜ML的偏倚量时能够得到的)最大之最高亮度BPimax的位置。所以，就能够实现一种基于偏倚量与RF水平以及BP亮度之间相关关系的焦点位置调整方法，从而能够以极高的精度来调整光学拾取器PUi的焦点位置。
同时，如图7(a)所示，在调整多重透镜ML的位置之前，因为拾取器PUi的焦点位置还未调整好，即使对物镜OB实施聚焦伺服，在物镜OB未被对焦在亮度测定装置1的半透明反射镜2的半透明膜6上时，其结果就如图7(b)的照片之拷贝所示的那样，不能在透明膜6上形成高亮度的光点。
为此，如图8所示，以物镜OB处于聚焦伺服之状态来调整多重透镜ML的位置，从而使物镜OB接受聚焦促动器ACT的驱动力而开始微小的往返动作，于是使拾取器PUi的焦点位置得以逐渐调整。这样，在多重透镜ML的位置被调整的过程中，物镜OB有时对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上，有时不对焦于该半透明膜上，因而处于这两种情况反复出现的过渡状态。其结果，就如图8(b)的照片之拷贝所示的那样，在半透明膜6上逐渐出现了一种高亮度的光点。
接着，如图9(a)所示，以物镜OB处于聚焦伺服之状态来调整多重透镜ML的位置，从而使物镜OB恰好对焦于半透明反射镜2的半透明膜6上。其结果，就如图9(b)的照片之拷贝所示的那样，在半透明膜6上形成了BP亮度为100％的高亮度光点。然后，把多重透镜ML固定在BP亮度为100％时的位置，从而可完成光学拾取器PUi的焦点位置之调整。之后，把该光学拾取器装设在已装填有光盘的检查机中，借助聚焦伺服电路FSV对物镜OB实行聚焦伺服，从而可在物镜OB对焦时再生出最适当水平(跳动最小)的RF信号。
即，在把多重透镜ML固定在BP亮度为100％的高亮度光点成像于半透明膜6时的位置之后，就可完成光学拾取器PUi的焦点位置之调整。然后，把该光学拾取器PUi装设在已装填有光盘的检查机中，借助聚焦伺服电路FSV使物镜OB对焦于光盘，从而可得到与(横轴表示聚焦误差量、纵轴表示RF信号之振幅水平时的)图6(c)所示之相同的特性。即，图6(c)的横轴中心为聚焦误差量“0”，而此时的RF信号之振幅水平为最大。然后，当聚焦误差量朝正负方向增加时，RF信号的振幅水平则逐渐变小，从而形成一种极为理想的聚焦伺服特性。
所以，通过测定形成于半透明反射镜2的半透明膜6上的光点之亮度并且把多重透镜ML固定在该亮度变成最大时的位置上，能够对光学拾取器PUi的焦点位置作恰当的调整，从而证实了本发明的有效性。
虽然上述实施例是说明了焦点位置之调整方法，但也可以形成一种焦点位置调整装置，它包括图2所示的亮度测定装置1和位置调整机构(具有图3以及图4所示的、改变多重透镜ML之位置的促动器)，从而用这种焦点位置调整装置来调整光学拾取器PUi的焦点位置。
即，可以采用这种焦点位置调整装置来调整光学拾取器PUi的焦点位置。在这种焦点位置调整之际，使得光学拾取器PUi产生动作从而使之实行聚焦伺服，同时采用上述位置调整机构来连续地改变光学拾取器PUi的多重透镜ML之位置，并且通过信号处理部5来求得经由光学拾取器PUi的物镜OB而入射于半透明反射镜2一侧的光点的最高亮度之变化。然后，位置调整机构把多重透镜ML固定在最高亮度变成最大之最高亮度时多重透镜ML所处的位置，从而完成光学拾取器PUi的焦点位置之调整。
这样，包括亮度测定装置1和位置调整机构的焦点位置调整装置被用来调整光学拾取器PUi的焦点位置时，不但可以迅速地调整拾取器的焦点位置，还可以实现焦点位置调整的自动化。
再者，虽然上述实施例是通过改变多重透镜ML的位置来实行焦点之调整的，但也可以通过改变半导体激光器LD的位置或受光元件OEIC的位置，而在最高亮度变成最大的最高亮度之时来固定半导体激光器LD或受光元件OEIC的位置，从而获得同样的焦点位置之调整效果。
权利要求
1.一种光学拾取器的焦点位置之调整方法，其特征在于包括第1工序把亮度测定装置对置于光学拾取器，该亮度测定装置包括半透明反射镜、对焦于该半透明反射镜的物镜、求得经由半透明反射镜以及物镜而入射的光像之最高亮度的信号处理部；第2工序使得光学拾取器产生动作从而使之实行聚焦伺服，同时连续改变光学拾取器中半导体激光器的位置，或者连续改变多重透镜与受光元件的相对位置，然后借助信号处理部来求得经由光学拾取器中的物镜而入射至半透明反射镜的光点之最高亮度之变化，当上述最高亮度变成最大之最高亮度时将半导体激光器或多重透镜和受光元件固定在它们此时所处的位置上，从而完成光学拾取器的焦点位置之调整。
2.根据权利要求1所述的光学拾取器的焦点位置之调整方法，其特征在于包括前处理工序，在该前处理工序中，控制基准光学拾取器以便使之对焦于亮度测定装置的半透明反射镜，调整亮度测定装置中的物镜和上述半透明反射镜的相对位置以便使来自基准光学拾取器的入射至半透明反射镜的光点发出最高亮度，从而使物镜对焦于半透明反射镜；通过上述前处理工序使得亮度测定装置的物镜对焦于上述半透明反射镜之后，开始实行上述第1工序。
3.根据权利要求1或2所述的光学拾取器的焦点位置之调整方法，其特征在于上述多重透镜为焦点补正用透镜，通过组合圆筒形透镜和凹透镜而形成，且被配置于上述光学拾取器中的物镜与受光元件之间；上述受光元件接受返回自物镜的反射光从而发出为生成RF信号的光电变换信号。
4.一种光学拾取器的焦点位置之调整装置，其特征在于包括亮度测定装置，该亮度测定装置包括半透明反射镜、对焦于该半透明反射镜的物镜、求得经由半透明反射镜以及物镜而入射的光像之最高亮度的信号处理部；使得光学拾取器产生动作从而使之实行聚焦伺服，同时连续改变光学拾取器中半导体激光器的位置，或者连续改变多重透镜与受光元件的相对位置，然后借助信号处理部来求得经由光学拾取器中的物镜而入射至半透明反射镜的光点之最高亮度之变化；当上述最高亮度变成最大之最高亮度时将半导体激光器或多重透镜和受光元件固定在它们此时所处的位置上，从而完成光学拾取器的焦点位置之调整。
全文摘要
本发明的目的在于调整光学拾取器的焦点位置。具体方法是，把包括半透明反射镜2和(对焦于该半透明反射镜2的)物镜7的亮度测定装置1配置在面对于光学拾取器PUi的位置，并且使光学拾取器PUi的物镜OB和半透明反射镜2相互对置。然后，使光学拾取器PUi产生动作从而使之实行聚焦伺服，且使得拾取器PUi中多重透镜ML的位置连续发生变化，同时利用亮度测定装置1测定出经由物镜OB入射至半透明反射镜2的光点SPi之最高亮度。之后，检测出通过改变多重透镜ML的位置而产生的最高亮度之变化，把多重透镜ML固定在最大之最高亮度被获得时的位置，从而实现光学拾取器焦点位置之最恰当的调整。
文档编号G11B7/09GK1534637SQ200410004350
公开日2004年10月6日 申请日期2004年2月13日 优先权日2003年2月18日
发明者滝口仁史, 大内秀和, 熊丸靖, 山田直树, 村上哲也, 桑原庆成, 石井耕, 也, 口仁史, 和, 成, 树 申请人:日本先锋公司