专利名称：光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光盘装置。
背景技术：
近年来，作为数据(例如音乐或影像)的记录或再生用的存储介质，利用光盘介质(例如CD(Compact Disk)、DVD(Digital Versatile Disk))。另外，随着光盘介质的普及，用于进行这种光盘介质的再生等的光盘装置也在普及。
在记录有数据的光盘介质中，从内周向外周以螺旋状形成信息坑列(以下称磁道)。并且，在记录在光盘介质的数据读出中，光盘装置从设在光拾器的物镜向光盘介质照射激光。此时，从物镜射出的激光必须正确照射磁道。为此，光盘装置对物镜进行跟踪、聚焦等控制。在此，所谓跟踪是指在由光盘介质的偏心等而产生径向的偏转的情况下，使物镜向径向移动，以使激光正确照射磁道的方式控制物镜。即，物镜是用支持物镜的执行元件来控制相对径向的光盘介质的照射位置。
但是，从记录在光盘介质的数据读出所必要的数据的情况下，光盘装置使光拾器向记录有该必要数据的磁道(以下称目标磁道)移动(以下称磁道转移)。然后，光盘装置对物镜执行上述由跟踪进行的控制，向目标磁道照射激光。详细叙述的话，磁道转移时，光拾器向光盘介质的径向移动。然后，在到达目标磁道时，向该执行元件供给物镜应该向目标磁道照射激光的、控制执行元件用的脉冲。该脉冲是按照其电平来改变相对光盘介质的物镜的照射位置的脉冲，是恒定的电平。
专利文献1特开2002-245642号公报然而，存在由于光盘介质的偏心而产生光拾器移动速度变化的情况。这种情况下，存在因为上述的脉冲为恒定的脉冲，故物镜受到通常以上的光拾器的惯性力，在该脉冲中是不能完全正常控制执行元件，而从径向的目标磁道偏离的现象。因此，存在磁道转移后的、向目标磁道的跟踪所需要的时间变长的问题。或者存在上述的从目标磁道的偏离不在由物镜进行的跟踪中可能控制的范围内，对该目标磁道的激光照射失败的情况。这种情况下，产生必须再一次重复磁道转移的问题。
发明内容
因此，本发明的目的在于，提供一种与光拾器的移动速度无关而可以对光盘介质正确照射激光的光盘装置。
为了解决上述问题的发明，是一种光盘装置，其中具有脉冲产生部，其在具有用于射出对光盘介质的信息记录或再生用激光的物镜的光拾器，从形成在所述光盘介质的第一磁道到第二磁道为止沿所述光盘介质的径向移动的情况下，产生用于决定所述物镜对所述光盘介质径向的对向位置的物镜用脉冲；和驱动部，其根据所述物镜用脉冲，决定所述物镜的对向位置；其特征在于，具备速度检测部，其检测所述光拾器从所述第一磁道移动到第二磁道时的速度；和电平可变部，其按照所述速度检测部的检测结果，使所述物镜用脉冲的电平可变；所述驱动部根据所述物镜用脉冲的电平，变更所述物镜相对所述光盘介质径向的对向位置。
根据本发明，可以提供与光拾器的移动速度无关，可以正确地向光盘介质照射激光的光盘装置。
图1是表示本发明涉及的光盘装置的磁道转移处理部、跟踪伺服处理部的构成的一例的功能框图。
图2是表示相对光盘介质磁道的、跟踪错误信号与TES信号之间关系的波形图和光盘剖面图。
图3是表示物镜的磁道转移的跟踪错误信号、TES信号、时钟信号的关系的波形图和磁道转移控制脉冲和物镜用脉冲C的时间图。
图4是表示本发明涉及的光盘装置的动作的流程图。
图5是应用本发明的光盘装置的光盘再生装置的整体构成的功能框图。
图中1-光拾器，2-光盘介质，3-激光二极管，4-物镜，5 FE信号检测电路，6-TE信号检测电路，8-动作控制部，12-聚焦执行元件，13-跟踪执行元件，14-指示控制部，15-主轴电动机，16-旋转轴，17-转盘，18-光检测器，19-丝杆电动机，20-聚焦伺服处理部，21-磁道转移处理部，22-跟踪伺服处理部，23-丝杆伺服处理部，24-主轴伺服处理部，27-物镜用脉冲产生部，28、30-寄存器，29-比较部，31-乘法运算器，32-加法运算器，33-磁道转移控制脉冲产生部，34-跟踪控制脉冲产生部，36-减法运算器，37-存储部，70、71-A/D转换器，90、91、92、93-D/A转换器，110、111、112、113-驱动器，250、251-计数器，260、261-运算部，350、351-开关。
具体实施例方式
根据本说明书和附图的记载，至少清楚如下事项。
＝＝＝光盘再生装置的整体构成＝＝＝参照图2、图5，对应用本发明的光盘装置的光盘再生装置等的整体构成进行说明。图2是表示相对光盘介质的磁道的、跟踪错误信号和TES信号之间关系的波形图。另外，在图2中，光盘介质的剖面图表示磁道的有无。图5是表示应用本发明的光盘装置的光盘再生装置等的整体构成的功能框图。另外，在本实施方式中，光盘介质2例如作为记录了音乐数据的CD(Compact Disk激光唱盘)来说明，但不限于这些。例如也可以是存储了数据(音乐、影像等)的DVD(Digital Versatile Disk)、MD(Mini Disk)等。
在图5中，光拾器1具有激光二极管3、物镜4、光检测器18、聚焦执行元件12、跟踪执行元件13。光拾器1射出从光盘介质2读出音乐数据用的激光。该光拾器1作为光源具备激光二极管3，把从激光二极管3发出的激光，通过物镜4，向形成在光盘介质2上的磁道照射。光检测器18接收从光盘介质2反射的激光。物镜4例如是双焦点透镜方式的透镜，由聚焦执行元件12、跟踪执行元件13来支撑。
FE(聚焦错误)信号检测电路5是从光检测器18所接收的激光产生例如表示由光盘介质2的面偏转而引起的向面垂直方向(图5所示的Y方向)的偏转的聚焦错误信号、的电路。
TE(跟踪错误)信号检测电路6是从光检测器18所接收的激光产生例如表示由光盘介质2的面偏转而引起的向径向方向(图5所示的X方向)的偏转的跟踪错误信号、的电路。
A/D转换器70是把FE信号检测电路5中产生的聚焦错误信号，从模拟值变换为数字值的部件。另外，A/D转换器71是把TE信号检测电路6中产生的跟踪错误信号从模拟值变换为数字值的部件。(下面，把变换为数字值的跟踪错误信号叫做TES信号)。
在图2中，光拾器1沿光盘介质2的径向移动的情况下，TE信号检测电路6产生与磁道有无相应的正弦波形状的跟踪错误信号。该正弦波形状的跟踪错误信号在光盘介质2形成的每一个磁道间成为一个周期。A/D转换器71输出把该跟踪错误信号从模拟值变换为数字值的TES信号。另外，作为A/D转换器71，可以用将跟踪错误信号与规定的基准电压相比较的比较器来实现。例如，TES信号是在跟踪错误信号大于基准电压时变为高电平、且在跟踪错误信号小于基准电压时变为低电平的信号。
动作控制部8具有聚焦伺服处理部20、磁道转移处理部21、跟踪伺服处理部22、丝杆伺服处理部23、主轴伺服处理部24。动作控制部8例如由DSP(Digital Signal Processor)而构成。
聚焦伺服处理部20根据来自A/D转换器70的聚焦错误信号，向D/A转换器90输出用于修正向光盘介质2的Y方向偏转而引起的激光照射位置的聚焦控制脉冲。D/A转换器90把聚焦控制脉冲变换为模拟值。驱动器110把来自D/A转换器90的模拟值作为聚焦执行元件控制电压而输出。聚焦执行元件12具有聚焦控制线圈(省略图示)。于是，通过将聚焦执行元件控制电压施加在聚焦控制线圈上，从而聚焦执行元件12使物镜4向Y方向移动。即，聚焦执行元件12根据聚焦执行元件控制电压，进行物镜4向Y方向的驱动控制。
指示控制部14进行记录在光盘介质2上的音乐数据的读出或写入有关的光盘装置整体的控制。另外，指示控制部14如果接收例如来自遥控器(省略图示)等的、记录在光盘介质2的音乐数据的快进、选曲等指示信号，则向磁道转移处理部21、跟踪伺服处理部22、丝杆伺服处理部23发送磁道转移信号。另外，在接收了该指示信号时，运算出从物镜4正在照射激光的磁道到目标磁道为止的磁道条数，把该磁道条数作为目标磁道值设定在磁道转移处理部21中。
磁道转移处理部21如果接收来自指示控制部14的磁道转移信号，则进行用来将物镜4从物镜4正在照射激光的磁道(第一磁道)向被选曲的音乐数据所在磁道(第二磁道，下面称目标磁道)移动的控制。另外，在本实施方式中，上述的物镜4向目标磁道的移动是从内周一侧向外周一侧(+X方向)的移动来进行说明。
跟踪伺服处理部22根据来自A/D转换器71的TES信号，向D/A转换器91输出用于修正向光盘介质2的X方向偏转而引起的激光照射位置的跟踪控制脉冲。D/A转换器91把跟踪控制脉冲变换为模拟值。驱动器111(驱动部)把来自D/A转换器91的模拟值作为跟踪执行元件控制电压而输出。跟踪执行元件13具有跟踪控制线圈(省略图示)。于是，通过将跟踪执行元件控制电压施加在跟踪控制线圈，从而跟踪执行元件13使物镜4沿X方向移动。即，跟踪执行元件13根据跟踪执行元件控制电压，进行物镜4的X方向的驱动控制。
丝杆伺服处理部23根据来自指示控制部14的磁道转移信号，向D/A转换器92输出丝杆控制脉冲。D/A转换器92把丝杆控制脉冲变换为模拟值。驱动器112把来自D/A转换器92的模拟值作为丝杆控制电压而输出，施加在丝杆电动机19上。即，丝杆电动机19的旋转速度和旋转方向由丝杆控制电压来控制，其结果，控制连结在丝杆电动机19的旋转轴(省略图示)的光拾器1向X方向的移动。
转盘17固定在主轴电动机15的旋转轴16上。主轴伺服处理部24控制安装在转盘17的光盘介质2的旋转速度。详细叙述的话，主轴伺服处理部24利用从光盘介质2的数据信号抽出的同步信号和位时钟，产生以线速度恒定方式旋转控制用的主轴控制脉冲，并向D/A转换器93输出。或者，主轴伺服处理部24取得和ATIP(Absolute Time In Pre-groove)译码器(省略图示)所译码的ATIP信号的同步，产生主轴控制脉冲，并向D/A转换器93输出。D/A转换器93把来自主轴伺服处理部24的主轴控制脉冲变换为模拟值。驱动器113把D/A转换器93的模拟值作为控制电压而输出，施加在主轴电动机15上。即，主轴电动机15的旋转速度由主轴控制电压来控制。
＝＝＝磁道转移处理部、跟踪伺服处理部的构成例＝＝＝参照图1、图3、图5，说明本发明的光盘装置的磁道转移处理部、跟踪伺服处理部。图1是表示图5的磁道转移处理部、跟踪伺服处理部的构成一例的功能框图。图3是表示物镜的磁道转移中的跟踪错误信号、TES信号、时钟信号的关系的波形图。进一步地，在图3中表示磁道转移控制脉冲和物镜用脉冲C的有无。
在图1中，跟踪伺服处理部22具有跟踪控制脉冲产生部34、开关351。
跟踪控制脉冲产生部34根据TES信号，产生用于修正由光盘介质2向X方向偏转而导致的激光照射位置的跟踪控制脉冲，并向D/A转换器91输出。
开关351在物镜4不进行磁道转移时(下面称通常)闭合。另外，开关351由于来自指示控制不14的磁道转移指示信号而打开。即，通过开关351打开，从而跟踪控制脉冲产生部34所产生的跟踪控制脉冲不能向D/A转换器91输出。由此，在物镜4的磁道转移时，不能进行利用跟踪伺服处理部22的物镜4向X方向的控制。
磁道转移处理部21具有计数器250(速度检测器)、251、运算部26(存储部和电平可变部)、物镜用脉冲产生部27(脉冲产生部)、寄存器28、30、比较部290、291、乘法运算器31(电平可变部)、加法运算器32(电平可变部)、磁道转移控制脉冲产生部33、开关350。
开关350通常一端连接在触点B上，另一端连接D/A转换器91。开关350根据来自比较部291的转换信号，和触点A相连接。另外，如果不能输出来自比较部291的转换信号，则开关350是和触点B连接。
如果从指示控制器14接收磁道转移信号，则磁道转移控制脉冲产生部33产生应该使物镜4向+X方向移动的磁道转移控制脉冲，并通过开关350向D/A转换器91输出。另外，在本实施方式中，磁道转移控制脉冲产生部33在使物镜4向+X方向移动的情况下，以产生向图3的纸面上侧突出的磁道转移控制脉冲来进行说明。因此，在使物镜4向-X方向(从外周侧到内周侧)移动的情况下，磁道转移控制脉冲产生部33产生向图3的纸面下侧突出的磁道转移控制脉冲(省略图示)。
计数器251计数TES信号的上升沿。
寄存器28存储从指示控制不14发送的目标磁道值。
比较部291比较计数器251的计数值和存储在寄存器28中的目标磁道值，如果每一个值一致，则输出将开关350的一端从触点B切换为触点A的切换信号。
计数器250具有输入规定频率(例如，2MHz)的时钟信号的C端子和输入TES信号的R端子(复位)。计数器250计数TES信号的每一周期的时钟信号的周期数。详细叙述的话，计数器250计数TES信号的一个周期(例如，从TES信号的上升沿到下一个上升沿为止的一个周期)的时钟信号的变化(例如，时钟信号的上升沿)。另外，计数器250用TES信号的上升沿变化来复位。由此，计数器250可以计数TES信号的每一周期中的时钟信号的周期数。然后，计数器250向运算部26输出作为TES信号的每一周期的时钟信号的周期数的计数值。
减法运算器36进行从存储在寄存器28的目标磁道值减去规定值n(例如，1)的减法运算。并且减法运算器36把减法运算后的值X(目标磁道值-n)存储在寄存器30中。另外n是比较部290用于设定对运算部26发送信号Y用的定时的值。例如，如果在减法运算器36中设定n＝1，则比较部290在物镜4到达目标磁道的前一个磁道时发送信号Y。
比较部290比较计数器251的计数值与存储在寄存器30中的值X。然后，如果每一个值一致，则比较部290向运算部26发送指示为运算部26设定乘法运算器31的乘法运算系数的信号Y。
运算部26按照计数器250的计数值Z，设定乘法运算器31的乘法运算系数。因此，运算部26具有选择与计数值Z相应的乘法运算系数时参照的存储部37。作为存储部37，可以采用例如RAM等易失性存储器、EEPROM等非易失性存储器。在存储部37中，将相当于TES信号周期的适宜的基准周期、包含在该基准周期的时钟信号的周期数M、与该基准周期对应的乘法运算系数多个加以对应存储。
例如，在存储部37中存储有基准周期1/5.2KHz、包含在基准周期1/5.2KHz中的周期数M1、乘法运算系数0。另外，在该存储部37中也存储有基准周期1/6.25KHz、包含在基准周期1/6.25KHz中的周期数M2、乘法运算系数0.25。另外，在该存储部37中还存储有基准周期1/6.94KHz、包含在基准周期1/6.94KHz中的周期数M3、乘法运算系数0.5。另外，在该存储部37中也存储有基准周期1/7.35KHz、包含在基准周期1/7.35KHz中的周期数M4、乘法运算系数0.75。另外，在该存储部37也存储有基准周期1/7.80KHz、包含在基准周期1/7.80KHz中的周期数M5、乘法运算系数0.85，并且，还存储比1/7.80KHz还短的基准周期相对应的乘法运算系数1。
并且，运算部26从M1开始按顺序比较计数值Z与包含在基准周期中的时钟信号数(M1乃至M5)。进一步地，运算部26根据比较结果，把对应于基准周期的乘法运算系数设定在乘法运算器31中。例如，运算部26首先比较计数值Z与M1，当计数值Z大于M1的情况下，将乘法运算系数0设定在乘法运算器31中。另一方面，在计数值Z小于M1的情况下，比较计数值Z与M2。然后，在计数值Z大于M2的情况下，在乘法运算器31中设定乘法运算系数0.25。这是因为，如上所述，物镜4向径向的移动由跟踪执行元件13来驱动控制的缘故。
该跟踪执行元件13是通过将跟踪控制电压施加在跟踪控制线圈上而进行驱动控制的。该跟踪控制电压由物镜用脉冲的电平所决定。并且，该物镜用脉冲的电平在此时为规定值。但是，如果光拾器1的移动速度变快，则物镜4所受的惯性力变大，跟踪执行元件13进行的物镜4的驱动控制受到该惯性力的影响。因此，在作为规定值的物镜用脉冲的电平中，存在不可以使物镜4向与目标磁道对向的位置移动的可能性。因此，应该使物镜4向与目标磁道对向的位置的移动成为可能的物镜用脉冲的电平，有必要设定为与光拾器1的移动速度相对应的电平。因此，计数值Z是大于M2的值，就意味着TES信号的一个周期比基准周期1/6.25KHz还长。因此，以对应于光拾器1移动速度的、基准周期1/6.25KHz的物镜用脉冲电平能够使物镜4向径向移动。因此，为了产生基准周期1/6.25KHz的物镜用脉冲电平，运算部把乘法运算系数0.25设定在乘法运算器31中。另外，计数值Z小于M2的情况下，进一步地把计数值Z与M3、M4、M5如上所述地按顺序进行比较。然后，运算部26根据比较结果，把对应于基准周期的乘法运算系数设定在乘法运算器31中。
物镜用脉冲产生部27在物镜4到达目标磁道时，产生从物镜4射出的激光应该正确照射目标磁道的、和上述磁道转移控制脉冲的电平反相电平的物镜用脉冲A。物镜用脉冲A的电平是把物镜4决定为相对向光盘介质2的径向位置的恒定值。另外，物镜用脉冲产生部27输出物镜用脉冲A，直到开关350的一端连接在触点A为止。
乘法运算器31利用运算部26所设定的乘法运算系数，产生对来自物镜用脉冲产生部27的物镜用脉冲A的电平进行过乘法运算的物镜用脉冲B。
加法运算器32对来自物镜用脉冲产生部27的物镜用脉冲A的电平和来自乘法运算器31的物镜用脉冲B的电平进行加法运算，产生物镜用脉冲C。即，如果根据上述比较部290的切换信号，开关350的一端连接在触点A上，则向D/A转换器91输入来自加法运算器32的物镜用脉冲C。例如，在设定于乘法运算器31的乘法运算系数为0.5的情况下，物镜用脉冲C的电平变为物镜用脉冲A的电平的1.5倍的电平。因此，物镜用脉冲C变为消除光拾器1磁道转移时的物镜4所受的惯性力，使物镜4可以移动到对目标磁道正确照射激光的位置的电平。
＝＝＝光盘装置的动作＝＝＝参照图1、图3乃至图5，作为本发明的光盘装置的动作，说明磁道转移时的物镜的控制。图4是表示运算部26的动作的流程图。另外，在本发明涉及的光盘装置中，在不进行磁道转移的通常时，跟踪伺服处理部22的开关351通常是闭合的。另外，开关350连接在触点B上。并且，跟踪伺服处理部22进行跟踪控制。
例如，如果利用遥控器(省略图示)等进行用于再生记录在光盘介质2上的规定曲子的指示，则指示控制部14接收来自该遥控器的指示信号。
接收了该指示信号时，指示控制部14运算出从物镜4正在照射激光的当前磁道到记录规定曲子的目标磁道为止的磁道条数，在磁道转移处理部21的寄存器28中，作为目标磁道值设定该磁道条数。另外，指示控制不14向磁道转移处理部21、跟踪伺服处理部22、丝杆伺服处理部23发送磁道转移信号。
跟踪伺服处理部22的开关351根据磁道转移信号来打开。因此，跟踪控制脉冲产生部34所产生的跟踪控制脉冲不能向D/A转换器91输出。因此，在物镜4的磁道转移时，不能进行由跟踪伺服处理部22进行的、物镜4向X方向的控制。
如果接收磁道转移信号，则丝杆伺服处理部23向D/A转换器92输出用于使光拾器1移动到目标磁道为止的丝杆控制脉冲。D/A转换器92把该丝杆控制脉冲变换为模拟值。驱动器112把来自D/A转换器92的模拟值作为丝杆控制电压输出，并施加在丝杆电动机19上。于是，丝杆电动机19由于丝杆控制电压而旋转的同时，和丝杆电动机19的旋转轴连结的光拾器1向+X方向的目标磁道移动。
如果接收磁道转移信号，则磁道转移处理部21的磁道转移控制脉冲产生部33产生应该使物镜4向+X方向移动的磁道转移控制脉冲。然后，磁道转移控制脉冲通过开关350向D/A转换器91输出。D/A转换器91把磁道转移控制脉冲变换为模拟值。驱动器111把来自D/A转换器91的模拟值作为磁道转移控制电压而输出。于是，磁道转移控制电压施加在跟踪执行元件13的跟踪控制线圈上，物镜4向+X方向移动(参照图3、T1磁道转移控制脉冲)。
但是，即使在磁道转移中，物镜4也继续把激光照射在光盘介质2上。此时，TE信号检测电路6，从光盘介质2被反射而光检测器18所接收的激光，产生图3所示的跟踪错误信号。
跟踪错误信号通过A/D转换器71而变为TES信号，并输入到计数器250、251。
计数器250计数图3所示的TES信号的上升沿T1到T2为止的一个周期中的时钟信号的上升沿(图3、时钟信号T1T2间)。其次，计数器250计数复位为TES信号的上升沿T2、从TES信号的上升沿T2到T2为止的一个周期中的时钟信号的上升沿(图3、时钟信号T2T3间)。接着，计数器250计数复位为TES信号的上升沿T3、从TES信号的上升沿T3到T4为止的一个周期中的时钟信号的上升(图3、时钟信号T3T4间)。
比较部290比较计数器251所计数的TES信号的上升沿的计数值、与存储在寄存器30中的减法运算器36从目标磁道值减去规定的值1的值X。然后，如果计数器251的计数值和存储在寄存器30中的值X一致时(图3、T5)，向运算部26发送信号Y。
如果从比较部290接收信号Y，则运算部26读出作为计数器250所计数的TES信号的一个周期的时钟信号的周期数的计数值Z(图4、S1)。
然后，运算部26比较该计数值Z与基准周期1/5.2KHz相对应的时钟信号的周期数M1(图4、S2)。此时，在计数值Z多于M1的情况下(图4、S2是)，TES信号的周期相当于基准周期1/5.2KHz，将乘法运算系数0设定在乘法运算器3 1中。另外，在计数值Z少于M1的情况下(图4、S2否)，比较该计数值Z与基准周期1/6.25KHz相对应的时钟信号的周期数M2(图4、S4)。此时，在计数值Z多于M2的情况下(图4、S4是)，TES信号的周期相当于基准周期1/6.25KHz，将乘法运算系数0.25设定在乘法运算器3 1中。另外，在计数值Z少于M2的情况下(图4、S4否)，比较该计数值Z与基准周期1/6.94KHz相对应的时钟信号的周期数M3(图4、S6)。此时，在计数值Z多于M3的情况下(图4、S6是)，TES信号的周期相当于基准周期1/6.94KHz，将乘法运算系数0.5设定在乘法运算器3 1中。另外，在计数值Z少于M3的情况下(图4、S6否)，比较该计数值Z与基准周期1/7.35KHz相对应的时钟信号的周期数M3(图4、S8)。此时，在计数值Z多于M4的情况下(图4、S8是)，TES信号的周期相当于基准周期1/7.35KHz，把乘法运算系数0.75设定在乘法运算器31中。另外，在计数值Z少于M4的情况下(图4、S8否)，比较该计数值Z与基准周期1/7.80KHz相对应的时钟信号的周期数M5(图4、S10)。此时，在计数值Z多于M5的情况下(图4、S10是)，TES信号的周期相当于基准周期1/7.80KHz，把乘法运算系数0.875设定在乘法运算器31中。进一步，在计数值Z少于M5的情况下(图4、S10否)，TES信号的周期相当于比基准周期1/7.80KHz还短的周期，将乘法运算系数1设定在乘法运算器31中(图4、S12)。在本实施方式中，说明计数值Z为M4≤Z＜M3。即，设定在乘法运算器31中的乘法运算系数为0.75。
然后，乘法运算器31将控制物镜用脉冲产生部27所产生的控制跟踪执行元件13的物镜用脉冲A的电平乘以上述运算部26所设定的乘法运算系数0.75，产生物镜用脉冲C(＝物镜用脉冲A×1.75)。即，产生图3所示的物镜用脉冲C。
进一步，比较部291比较计数器251的计数值与存储在寄存器28中的目标磁道值。然后，在计数器251的计数值和存储在寄存器28中的目标磁道值一致时(图3、T6)，发送用于把开关350的一端连接在触点A的切换信号。因此，开关350的一端连接在触点A上，物镜用脉冲C输出到D/A转换器91。D/A转换器91把物镜用脉冲C变换为模拟值。驱动器111作为跟踪执行元件控制电压，输出来自D/A转换器91的模拟值。于是，通过将跟踪执行元件控制电压施加在跟踪执行元件13的跟踪控制线圈上，从而物镜4移动到激光正确照射目标磁道的位置。
根据上述的实施方式，通过计数器250计数磁道转移时的TES信号的一个周期的规定频率的时钟信号的周期数，从而可以检测出物镜4的移动速度。进一步，利用运算部26、乘法运算器31、加法运算器32，可以把物镜用脉冲产生部27所产生的物镜用脉冲A变换为对应于上述计数器250的计数值Z的物镜用脉冲C。即，在结束物镜4的磁道转移时，可以把从物镜射出的激光向目标磁道正确照射。
＝＝＝其他实施方式＝＝＝如上所述，在本发明涉及的光盘装置中，说明了磁道转移时的光拾器移动速度相对应的物镜的控制，但是，上述的说明只不过是为了容易理解本发明，并不限定本发明。本发明不脱离其宗旨地可以获得变更、改进。
《TES信号与基准周期之间的比较形态》在本实施方式中，在运算部中比较TES信号的一个周期的时钟信号的周期数与基准周期的时钟信号数，来决定设定在乘法运算器中的乘法运算系数，但不限于这些。例如，也可以是在TES信号的多个周期中，运算出每一个周期的时钟信号的周期数的平均值，比较该平均值与基准周期的时钟信号的数。
《运算部的形态》
在本实施方式中，构成电平可变部的运算部具有在设定乘法运算系数时参照的存储部，但不限于这些。例如，也可以是运算部利用适宜的程序来执行乘法运算系数设定动作，在该程序自体里装入基准周期、包含在该基准周期的时钟信号周期数、对应于该基准周期的乘法运算系数。
《时钟信号的频率》在本实施方式中，时钟信号的周期比TES信号周期还短的周期而进行了说明，但不限于这些。也可以是按照时钟信号的周期与TES信号周期之间的差分，决定设定在乘法运算器中的乘法运算系数。
权利要求
1.一种光盘装置，其中具有脉冲产生部，其在具有用于射出对光盘介质的信息记录或再生用激光的物镜的光拾器，从形成在所述光盘介质的第一磁道到第二磁道为止沿所述光盘介质的径向移动的情况下，产生用于决定所述物镜对所述光盘介质径向的对向位置的物镜用脉冲；和驱动部，其根据所述物镜用脉冲，决定所述物镜的对向位置；其特征在于，具备速度检测部，其检测所述光拾器从所述第一磁道移动到第二磁道时的速度；和电平可变部，其按照所述速度检测部的检测结果，使所述物镜用脉冲的电平可变；所述驱动部根据所述物镜用脉冲的电平，变更所述物镜相对所述光盘介质径向的对向位置。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部在所述光拾器从所述第一磁道移动到所述第二磁道为止时，比较通过向所述光盘介质照射所述激光而产生的跟踪错误信号和规定频率的时钟信号之间的频率，根据该比较结果，检测所述光拾器从所述第一磁道移动到所述第二磁道为止时的速度。
3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部比较所述跟踪错误信号与频率高于所述跟踪错误信号的规定频率的时钟信号的周期，根据包含在所述跟踪错误信号的规定周期中的所述时钟信号的周期数，检测所述光拾器从所述第一磁道移动到所述第二磁道为止时的速度。
4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，所述速度检测部具有用所述跟踪错误信号的二进制信号来复位、计数所述时钟信号的计数器；把所述计数器的计数值作为所述跟踪错误信号的规定周期所包含的所述时钟信号的周期数。
5.根据权利要求3或4所述的光盘装置，其特征在于，具有将所述时钟信号周期数与所述物镜用脉冲的电平的设定值多个加以对应并存储的存储部；所述电平可变部比较所述跟踪错误信号的规定一个周期所包含的所述时钟信号的周期数与所述时钟信号的规定周期数；按照与该比较结果相应的所述存储部的所述物镜用脉冲的电平的设定值，把所述物镜用脉冲的电平设定为1倍以上。
6.根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，所述电平可变部具有把所述物镜用脉冲的电平用0～1的乘法运算系数来进行乘法运算的乘法运算器；把所述物镜用脉冲的电平和所述乘法运算器所输出的所述物镜用脉冲的电平进行加法运算的加法运算器；所述乘法运算器的乘法运算系数由所述物镜用脉冲的电平的设定值来设定。
全文摘要
本发明提供一种与光拾器的移动速度无关、对光盘介质可以正确照射激光的光盘装置。本发明的光盘装置包括检测光拾器从第一磁道移动到第二磁道为止时的速度的速度检测部；按照速度检测部的检测结果，使物镜用脉冲的电平可变的电平可变部；驱动部根据物镜用脉冲的电平，变更物镜相对光盘介质的径向的对向位置。
文档编号G11B7/00GK1684160SQ20051006509
公开日2005年10月19日 申请日期2005年4月13日 优先权日2004年4月16日
发明者小暮浩之 申请人:三洋电机株式会社