专利名称：光记录介质及其评价方法、信息记录及再现方法
技术领域：
本发明涉及具有多个记录层的光记录介质以及具有多个记录层的光记录介质的层间串扰信号的评价方法。
背景技术：
图2是概念表示现有的多层光盘的剖面结构和选择性地记录再现各记录层的信息的原理。在本现有例中，记录介质具有第一记录层411、第二记录层412、第三记录层413、第四记录层414、第五记录层415的共计5层。使用该5层介质，例如为访问第二记录层412上的记录信息，控制物镜30的位置，使光点32的位置位于第二记录层412上，此时，通过物镜被缩小过程中的收束(convergent)光31，透过半透明的第一记录层411，但是在该第一记录层411上，收束光31的光束直径，比在第二记录层412上的光点32的直径大许多，因此，不能分解半透明的第一记录层411上的记录信息进行再现。因为在半透明的第一记录层411上光束直径大，每单位面积的光强度相对变小，不用担心在记录时破坏第一记录层411的信息。这样，不使第一记录层受影响地实现在比第一记录层深的第二记录层上的信息记录再现。
同样在记录再现第五记录层415上的信息时，控制物镜30的位置，使光点32的位置位于第五记录层415上。这里，作为记录再现目的的层的相邻层的光束直径，在取层间隔为L、物镜的数值孔径为NA、光的波长为λ时为L*NA/(1-NA^2)^1/2。
例如在L为5μm、NA为0.85的情况，为8μm，波长λ为400nm时的、目的层的光点32的直径与λ/NA＝470nm比较直径成为约17倍、面积成为约300倍。这样，关于对其它层无影响地、在具有多个记录层的光记录介质上进行记录再现的条件，在特开平5-101398(专利文献1，对应US5414451)中详细记载。
在特开平11-016208(专利文献2)中，公开了如何设计这样的多层光盘的各层的反射率、透过率。亦即，在具有叠层大于等于3层的信息记录层的结构的多层信息记录介质中，在把从来自拾光器的读取光入射的入射面侧开始数位于第n的记录层的反射率作为Rn、吸收率作为an时，设计该值相对于从入射面侧开始数第n-1的记录层的反射率Rn-1成为Rn-1Rnx(1-an-1-Rn-1)^2的关系。因为该(1-an-1-Rn-1)表示层n-1中的透过率，所以使在第n-1层反射的光量、和透过n-1层在n层反射进而透过n-1层返回来的光量大体相等，即，设计成从所有的拾光器输出，到达各层再次返回到拾光器时的实际的反射率在全部的层大体相等。即从光入射侧看，通过提高位于进深侧的层的反射率，来设计为弥补由跟前层的反射吸收而产生的光强度的衰减。
此外，在特开2005-38463号(专利文献3，对应US2005/0013236)中，记载了随着从光入射面离开，使记录面的膜厚更厚、使从各记录面来的反射光量大体相等(0121段)、使盘片的折射率和粘接层的折射率大体相等(0124段)，但是未注意记录面的背面(backside)的反射率。
专利文献1特开平5-101398专利文献2特开平11-016208专利文献3特开2005-3846
发明内容但是在上述那样的多层结构介质的设计方法中，考虑了由跟前层引起的光的衰减的效果，但是未考虑由作为记录再现的目的的层在跟前层中的多重反射的影响。使用图4说明该多重反射光成为问题的情况。在把记录再现的目的层作为第n层时，如图所示，在第n层上形成光点32那样照射收束光31。此时，在目的层的跟前一层第n-1层上反射的光成为不需要光，到达第n-2层的背面，由第n-2层的背面反射的不需要的光再次由第n-1层反射，沿与第n层的反射光几乎相同的路径返回光拾取侧，产生大的串扰(crosstalk)。这样的不需要的光返回拾光器成为较大的问题。
第一，因为不需要的光在第n-2层上收束，成为不需要的光点，所以能够以光学方式分解第n-2层上的信息，不需要的光的影响与通常的光记录再现信号的频带重合，不能分离。
第二，因为不需要的光的返回光，沿与第n层的反射光几乎相同的路径返回光拾取侧，所以即使在拾光器内也沿同一光路在检测器上光完全重合。
第三，不能在检测器上分离光这点也是使不需要的光引起的串扰量的定量评价变得困难的主要原因。
这样，多重反射的不需要的光的不良影响，即，串扰的问题，起因于各层的间隔大体相同这点。因此，例如在Japanese Journal of Applied Physics，Vol.43，No.7B，2004，pp.4983-4986中公开了把各层的间隔做成不等间隔的方法。在该例中，通过把4个层做成15μm、17μm、13μm的间隔，多重反射的不需要的光不返回同一路径。
但是，在这一方法中，因为层的间隔的差只有2μm左右，所以不需要的光的光点大小和本来的光点大小的差较小，容易残留影响，再有，由于制造分散等，各层的间隔仅偏离1μm左右，就会有由不需要的光引起的串扰急剧增大的问题。反过来说，需要制造抑制分散的非常高精度的介质，导致介质制造成本增大。再一个问题是，为得到把层的间隔做成不等间隔的余量(margin)，需要在通常的两层介质或两层介质以上扩展层间隔，结果难以增加层数。
本发明的第一目的是提供具有多个记录层的多层光记录介质，其能在把光盘的记录层的层数增加到三层或三层以上时抑制产生的层间串扰的影响，而不使制造成本上升。
本发明的第二目的是提供一种光记录介质的评价方法，其能定量评价在把光盘的记录层层数增加到三层或三层以上时产生的层间串扰的影响。
非专利文献1Japanese Journal of Applied Physics，Vol.43，No.7B，2004，pp.4983-4986为实现本发明的第一目的，使用下述措施。
(1)在具有三层或三层以上的记录层的多层光记录介质中，具有从用于记录或者再现的光的入射侧看、背面侧的光反射率比来自表面侧的光反射率小的记录层。
由此，因为能够降低多重反射时来自背面的影响，所以能够降低串扰。亦即，在图4的例子中，意味着降低第n-2层的背面侧的反射率Rn-2背面，能够降低不需要的光由于第n-2层的背面反射而返回到光头的量。
(2)除位于距光入射侧最远侧的两层以外的、所有记录层的背面侧的光反射率比表面侧的光反射率小。
由此，因为能够减低由于在多层上产生的所有的多重反射引起的串扰的影响，所以能够提高目标层的再现信号质量。
(3)在具有三层或者三层以上的记录层的多层光记录介质中，在选择除位于距光入射面最远侧的层以外的任意邻接的两层记录层、从接近光入射面开始作为第一记录层、第二记录层时，第一记录层的背面侧的光反射率和第二记录层的表面侧的光反射率的积小于等于0.0025。
图4中，第n-2层是第一记录层，第n-1层是第二记录层。由多重反射引起的串扰光，是由第n-1层的表面反射后，由第n-2层的背面反射、再次由第n-1层的表面反射后的返回光。另一方面，信号光是透过第n-1层、进而在深处的第n层的表面反射后返回的光，但是从再现输出的均匀化的观点出发，如关联前面的特开平11-016208说明的那样，使和在第n-1层上吻合焦点时的信号光即第n-1层表面上的反射光的强度大体相同。因此，信号光与第n-1层表面上的反射率成比例，串扰光大体相等于第n-1层表面上的反射率的平方与第n-2层的背面反射率相乘的积。因为第n-1层表面的反射率相同，所以串扰光相对于信号光的比，等于第n-1层表面上的反射率与第n-2层的背面反射率相乘的积，即，第一记录层的背面侧的光反射率和第二记录层的表面侧的光反射率的积。通过把该比抑制到通常的信号光的最小振幅和最大振幅的比的约一半的1/20的平方，即0.0025左右，可以抑制由于多重反射引起的层间串扰对于再现质量的影响。
(4)如上所述，使光反射率的积小于等于0.001。
由此，即使考虑串扰光和信号光的波动光学的干涉效果的影响，也可以把相对串扰量抑制到小于等于(0.001)^(1/2)1/30。
(5)相对于在任意的记录层上有光点的焦点的情况时通过来自该层的反射光检测到的信号输出，使在焦点偏离该层大于等于1微米的位置检测到的来自该层的串扰信号的最大值的比小于等于0.0025。更希望小于等于0.001。
因为该层的信号和在其它层上会聚焦点时的其它层的信号大体为相同水平，所以该层的信号在其它层的位置所带来的串扰量，与相对于其它层的信号的串扰的比大体相同，由此可以得到和上述(3)(4)同样的效果。
(6)使用具有在每一记录层上记录不同信号的区域的介质，相对于使焦点位置移动时的任意的记录层的信号成分的信号强度最大值，使在焦点位置从该层偏离的位置检测到的该层信号的第二峰值输出的比小于等于0.0025，更希望小于等于0.001。
该第二峰值输出的比等于上述(5)的串扰信号比。因此，能够得到和(3)(5)同样的效果，再有，因为在每一记录层上记录不同的信号，所以能够容易地分离检测各层串扰量。
(7)作为在每一所述记录层中记录的不同的信号，使用频率不同的信号。
由此，通过带通滤波器(band pass filter)或者频谱分析器(spectrumannalizer)，能够容易地分离检测来自各记录层的影响即串扰。
(8)作为在每一所述记录层中记录的不同的信号，使用沟槽或者坑列(aseries of pits)的摆动信号(wobble signal)。通过把该摆动与地址信息用的摆动共用或者重叠，并作为差动信号输出来检测摆动信号，能够不使用无用的区域，得到用于分离检测各层的信号。即数据效率优良。另外，即使在未记录的介质的情况下，也有不需要预记录、没有对数据不良影响的优点。
(9)使用具有仅在一个记录层上记录信号、在其它层上不记录信号的区域的介质，相对于使焦点位置移动时的该记录层的信号成分的信号强度最大值，使在焦点位置从该层偏离的位置检测的该层信号的第二峰值输出的比小于等于0.0025。更理想的是使小于等于0.001。
由此，能够不受其它层的信号的影响，正确进行要评价的层的层间串扰特性，通过把该测定的串扰量抑制到足够小，能够得到和上述(3)(5)(6)同样的效果。
为实现本发明的第二目的使用以下的措施。
(10)在具有多个记录层的光记录介质的各层内，预先记录在每层中频率不同、在层内成为一定频率那样的信号，分离检测各层的频率信号成分，使焦点位置横切所有层地移动，通过测定相对于各层的频率信号成分的最大强度的副峰(sub-peak)值输出的比，使从各层来的串扰量相同。由此在具有多层的记录介质中，能够不受其它层的影响正确地测定、比较串扰量。通过这样的测定，能够精密地规定介质的记录再现特性，结果是能够提供高质量的光记录介质。
如图12所示，根据本发明，不用精密地控制多层的层间隔，就能够得到稳定的、良好的记录再现特性(低跳动)。即，因为能够使用在层间隔中容易产生分散的旋转涂敷(spin coat)法等便宜的制造处理，结果，能够用低成本提供高质量的多层记录介质。另外，因为不需要不要的多层的层间余量，所以能够在与当前的蓝色光对应光盘相同的25μ左右的球面象差的修正范围内，配置大于等于6层的记录层，能够实现大于等于150GB的记录容量。
图1是本发明的多层记录介质的剖面结构的概念图。
图2是表示现有的多层记录介质的结构和在各层上独立地进行记录再现的原理的图。
图3是多层记录再现装置的例子。
图4是说明现有的多层记录介质的问题点的图。
图5是本发明实施例的光记录介质的各层的叠层构造的例子。
图6是用于对在本发明的光信息记录介质上记录的多层进行识别评价的信号的一个实施例，(a)是介质上的识别评价信号记录区域，(b)是各层的识别评价信号。
图7是用于对在本发明的光信息记录介质上记录的多层进行识别评价的区域的配置例，(a)表示介质上的识别评价信号记录区域的配置，(b)表示各层的识别评价信号的配置的关系。
图8是本发明的实施例的光头的构成的例子。
图9是本发明的多层信息记录介质的信号评价装置的框图。
图10是多层信息记录介质的串扰信号评价结果的比较例。
图11是表示串扰信号的相对强度和再现跳动(jitter)的相关的图。
图12是把由于本发明的光记录介质的层间隔分散引起的再现跳动变动与现有的多层光记录介质进行比较的图。
符号说明记录介质1，信息记录区域11，层识别评价信号记录区域12，第一、第二、第三、第四记录层识别评价信号记录区域121、122、123、124，无信号区域13，再现信号处理块2，摆动检测电路22，地址检测电路23，解调电路24，信号处理电路25，解码电路26，微处理器27，激光驱动器28，存储器29，光头3，物镜30，收束光31，光点32，校准透镜331、332、333，激光34，伺服检测器351，信号检测器352、353，光束分离器36，象差修正元件37，针孔38，全息摄影元件39，记录介质4，基板40，记录层41，第一、第二、第三、第四、第五记录层411、412、413、414、415，光入射面42，光入射侧的反射率51，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光入射背面的反射率511、512、513、514、515，光入射背面的反射率52，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光入射背面的反射率521、522、523、524、525，记录层的光透过率53，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光透过率531、532、533、534、535，激光驱动电路71，信号选择电路72，频带选择电路73，带通滤波器74，旋转控制选择电路76，电动机77，透镜致动器78，激光驱动器79，差信号81，和信号82，XY示波器90，主机99。
具体实施例方式
(第一实施例)图1是概念表示本发明的一个实施例的记录介质的剖面结构的图。记录介质4，通过在基板40上叠层第五记录层415、第四记录层414、第三记录层413、第二记录层412、第一记录层411的合计五层的记录层。每一记录层间的间隔约为6μm，其上形成约70μm的覆盖层，从入射面42侧照射收束光31，在记录层上形成光点32。从每一记录层的入射面侧来的反射率51和从其背面侧来的反射率52各异。图中，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光入射背面的反射率分别是511、512、513、514、515，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光入射背面的反射率分别是521、522、523、524、525。另外，第一、第二、第三、第四、第五记录层的光透过率分别是531、532、533、534、535。
表1把多层光记录介质的这些反射率和透过率的设计例做成表表示。
表1
在本实施例中，把光头中的有效反射率(消除入射面表面42的影响)设计为约6％。此时，表2表示由上数第2层(光入射侧)的记录层的背面反射而返回光头的光的有效反射率、与信号光的强度比(串扰比)以及考虑光波干涉的干涉的影响。
表2
转下页表2，接上页
串扰强度比得到小于等于0.10％。该串扰光在层间的距离大体一致时，在检测器上光的波面变得大体一致，干涉非常强。这样的光学干涉，因为不是光的能量、而是作为电磁波的振幅彼此干涉，强度比的平方根成为考虑干涉的串扰的影响。这点在表2中作为干涉影响表示。在本实施例中，即使考虑干涉的影响也是小于等于约3.2％(约-30dB)，由此可知能够得到实用上足够低的值。另一方面，在背面的反射率等于入射侧的反射率的现有的例子中，如表3、表4所示，表3
表4
由串扰强度比约3％、干涉的影响约17％(-15dB)，可知成为非常大的影响。如考虑在通常的光盘的再现信号中的最大信号振幅和最小振幅的比(分辨能力)为10％左右时，则在现有例中，干涉的影响超过最小信号的振幅比，可知处于实际上不可再现的状态。
这样，根据本发明，能够把多层介质的背面反射的影响抑制到实用上足够小的值。
(第二实施例)图5概念表示作为本发明的第二实施例的具有6层记录层的再现专用型记录介质的剖面结构。记录介质4由第一记录层411、第二记录层412、第三记录层413、第四记录层414、第五记录层415、第六记录层416的合计6层的记录层组成。每一记录层间的间隔约为5μm。覆盖层厚约为75μm。各记录层通过叠层反射层61、干涉层62、吸收层63、干涉层64共4层形成。通过该干涉层和吸收层，使抑制背面的反射率那样地考虑光学多重干涉来设计。
表5表示多层光记录介质的反射率和透过率的设计例。
表5
为得到这样的光学特性的各记录层构造的设计方法，和在DVD-RW等可改写型的光盘中使用的相变记录介质的一般的设计方法相同。亦即，抑制背面的反射率，并且使表面的反射率吻合目标值，而且使透过率成为最大那样把4层膜厚作为参数进行最优化设计。在该例中，在反射层中使用银系合金，在两个干涉层中使用ZnS-SiO2，在吸收层中使用硫属化物系材料。在本实施例中，设计成在光头中的有效反射率(消除入射面表面42的影响)为约3％。此时，从上数第二层的层背面反射而返回光头的光的有效反射率、与信号光的强度比(串扰比)以及考虑光波干涉的干涉的影响示于表6。
表6
由串扰强度比小于等于0.15％、干涉的影响也大约小于等于3.8％(-28dB)，可知能够得到实用上足够低的值。
这里，表6中不需要的光的有效反射率，在图4中等于(Rn-1表面)×(Rn-2背面)×(Rn-1表面)×(直到第n-1层跟前的往复的透过率)。另一方面，表5的信号光的有效反射率，把第n层、第n-1层都设计为约3％，其值，在第n-1看的话，为(Rn-1表面)x(直到第n-1层跟前的往复的透过率)。因此，和不需要的光的反射率的比(串扰比)等于(Rn-1表面)×(Rn-2背面)。因此，如以方法中的项来说明的那样，在选择除位于离光入射面最远侧的层外的任意相邻的两层的记录层、作为从接近光入射面侧开始的第一记录层、第二记录层时，通过使第一记录层的背面侧的光反射率和第二记录层的表面侧的光反射率的积变得充分小，可以减低串扰比。当考虑上述的干涉时，则该比需要小于等于作为最密、最租再现信号振幅比的1/20的平方即0.25％左右，作为可以忽视对再现信号的影响的水平，希望小于等于1/30的平方即0.1％左右。
在本实施例中，为了比较，也用表7、表8表示了背面的反射率等于入射侧的反射率的现有的设计例。
表7
表8
由串扰强度比约0.8％，干涉的影响约9％(-20dB)，可知成为大的影响。
(第三实施例)为掌握多层介质的质量，需要个别评价各层的串扰影响。但是在多层介质中的串扰、特别是由背面反射引起的串扰中，如图4所示，对于本来的目的层，在别的层中形成不需要的光点，由此难以在检测器上分离。这是由于不需要的光点和从本来的光点来的反射光通过大体相同的路径返回到光头的缘故。因此，在本实施例中提供通过在各层中配置具有特征的信号来分离来自各层的信号的方法。
如图6(a)所示，在记录介质1的内圆周部设置层识别评价信号记录区域11，在该区域上预先记录如图6(b)所示那样的、在每层上频率少许不同在层内大体成为单一频率那样的信号。通过如这样事先根据层来记录不同的信号，能够从信号频率的不同而容易地分离是由哪层的影响引起的信号。为分离频率，使用带通滤波器或者频谱分析器。
在本实施例中，设置记录单一频率的信号的半径区域，但是通过以与摆动地址重叠的形式事先嵌入单一频率信号，可以不使用特定的区域，而在记录区域全部进行层间识别。这样使用单一频率信号的优点之一是，即使在聚焦伺服和跟踪伺服不开动的状态下，也能够在光点横切记录层时作为信号相当灵敏地检测到。
(第四实施例)图7表示为进行各层串扰的识别评价的别的实施例。在图7中，在盘的一部分上事先配置仅在一层上记录了信号的区域，使各层不重叠。此时，考虑收束光的扩展，事先配置无信号区域13十分重要。
本方式的特征是在在各层上进行聚焦的状态下能够容易地发现来自他层的串扰的影响这一点。此时不一定需要记录单一频率的信号，但是在检测灵敏度的点，希望使用某种重复信号。本方式也和上述实施例3同样在信号区域中事先记录单一频率的信号，也可以不开动聚焦或跟踪来进行评价，但是此时需要与盘的旋转同步采样每层的识别信号。
(第五实施例)为评价由来自其它层的背面的反射引起的串扰的影响，这里使用图8所示构成的光头，使能够确实分离由来自其它层的直接反射引起的信号。亦即，通过分离伺服信号检测部和再现信号检测部，在再现信号检测部的检测器的紧前面配置针孔，做成所谓的共焦点结构，防止从其它层直接反射来的光混入检测器。
使用这样的光头3，构成图9的结构的评价系统。通过锯齿状激光驱动信号71，使光头3的激光30上下移动，使用带通滤波器74选择在光点32横切各层时通过检测器353检测出来的信号的频率，用XY示波器(XY scope)90进行观察。由此，能够独立地观察在把透镜的位置作为横轴时的各层的信号频率成分。信号选择电路与旋转控制电路同步，进行取入数十μ秒的时间的采样控制。由此能够防止由于盘的上下运动等引起的横轴的偏离，另外，也能够对应实施例3、实施例4中任何一种类型的盘。信号选择电路的输出也可以与通常的和信号82与摆动信号(差信号)81中任何一个都对应。
图10分离评价实施例2的表5、6的本发明的介质和表7、8的现有的介质的串扰特性。作为识别评价信号，实施例3的摆动重叠型的评价信号预先重叠在各层的地址信息上。在本发明的测定结果中，与串扰相当的第二峰值相对于任何一层的信号成分都足够小，但是在现有例子中与其相比可以观察到大的第二、第三峰值。
(第六实施例)下面表示通过图3所示的记录再现装置再现评价各种光盘的例子。从作为光头3的一部分的激光光源34(在本实施例中波长约405nm)射出的光通过校准透镜331校准为大体平行的光束。被校准的光束透过光束分离器(beamsplitter)36、通过象差修正元件78以及物镜30作为收束光31照射在光盘1上，形成光点32。从盘来的反射光通过光束分离器36或者全息摄影元件39等，通过检测透镜332以及333导向伺服检测器351以及信号检测器352。从各检测器来的信号被加、减处理，成为跟踪误差信号或者聚焦误差信号等的伺服信号，输入伺服电路79。伺服电路以得到的跟踪误差信号或者聚焦误差信号为基础来控制物镜致动器78或者光头3全体的位置，使光头3的位置位于目的的记录/再现区域。检测器352的相加信号输入信号再现块2。输入信号在通过信号处理电路25进行滤波处理、频率均衡处理后，进行数字化处理。在盘上以槽(沟槽部)的摆动等形状形成的地址信息作为从分割检测器352来的差动信号来检测，输入到信号再现块2中的摆动检测电路22。摆动检测电路22生成与摆动信号同步的时钟，具有区分摆动波形的作用。通过摆动检测电路22检测出来的摆动信号由地址检测电路23变换为数字信息，其后，通过解码电路26进行修正等处理，作为地址信息被检测出来。根据检测出来的地址信息，生成记录再现处理的开始定时信号1等，控制用户数据的解调电路24。同时，地址信息也发送给控制电路(微处理器)27，在访问等中使用。
使用本装置，表示多层光记录介质的、作为再现信号质量跳动进行评价的例子。为明了本发明的效果，准备多个有意从表5的条件偏离记录介质的反射率的构造的介质，用实施例5的方法测定串扰量，作为参数进行再现信号质量(跳动)的评价，其结果示于图11。当串扰量的相对强度超过约0.1％时，跳动的测定分散开始变大，当相对强度超过0.25％即400分之一时达到再现界限。在0.1％跳动的测定分散变大是因为干涉的缘故，因为通过干涉在波长的1/2左右的层间的分散下信号变动大，所以测定分散急剧变大。
图12是在本发明的介质(实施例1，表1)和现有结构的介质(实施例1，表3)的结构中准备层间间隔改变的盘、评价第五层的再现跳动的结果。对于在本发明的介质中不依赖层间隔而获得充分低的跳动值，在现有的介质中，层间隔仅稍微偏离跳动便大大恶化。这里，该现有例中的最优值(零)使用使层间隔为不等间隔的盘，从光入射侧，使层间隔为5μm、7μm、5μm、9μm。本发明的介质与实施例1相同全部都是6μm的层间隔。即，本发明的介质与现有例相比表示层间隔的偏离较强、制造余量较宽。
以上，在实施例中主要表示再现特性，但是在层间干涉中记录再现特性恶化，该恶化通过本发明减低背面反射率来抑制，这点对于记录型或可改写型介质也同样。
此外，本实施例记载了跳动评价，但是使用图3所示的记录或者/以及再现装置，在本申请发明的介质中记录或者再现信息的方法，也是本申请发明的一个实施例。
权利要求
1.一种光记录介质，是具有三层或三层以上的记录层的多层光记录介质，其特征在于，至少具有从用于记录或者再现的光的入射侧看、背面侧的光反射率比来自表面侧的光反射率小的记录层。
2.根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，除位于距所述光的入射侧最远侧的两层以外的、所有记录层的背面侧的光反射率比表面侧的光反射率小。
3.一种光记录介质，是具有三层或三层以上的记录层的多层光记录介质，其特征在于，在选择除位于距光入射面最远侧的层以外的任意邻接的两层记录层、从接近光入射面开始作为第一记录层、第二记录层时，第一记录层的背面侧的光反射率和第二记录层的表面侧的光反射率的积小于等于0.0025。
4.根据权利要求3所述的光记录介质，其特征在于，所述第一记录层的背面侧的光反射率和所述第二记录层的表面侧的光反射率的积小于等于0.001。
5.根据权利要求3所述的光记录介质，其特征在于，相对于在所述多层光记录介质中任意记录层上有光点的焦点时的、通过来自该层的反射光检测的信号输出，在焦点从该层偏离的位置处检测的、来自该层的串扰信号的最大值的比小于等于0.0025。
6.根据权利要求5所述的光记录介质，其特征在于，所述串扰信号的最大值的比小于等于0.001。
7.根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，使用具有在每一所述记录层上记录不同信号的区域的介质，相对于使焦点位置移动时的任意记录层的信号成分的信号强度最大值，在焦点位置从该层偏离的位置处检测到的该层信号的第二峰值输出的比小于等于0.0025。
8.根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于，所述第二峰值输出的比小于等于0.001。
9.根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于，在每一所述记录层中记录的不同的信号，是频率不同的信号。
10.根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于，在每一所述记录层中记录的信号，是沟槽或者坑列的摆动信号。
11.根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，在所述多层光记录介质中，使用具有仅在一个记录层上记录有信号而在其它层上没有记录信号的区域的介质，相对于使焦点位置移动时的该记录层的信号成分的信号强度最大值，在焦点位置从该层偏离的位置处检测的该层信号的第二峰值输出的比小于等于0.0025。
12.根据权利要求11所述的光记录介质，其特征在于，所述第二峰值输出的比小于等于0.001。
13.一种光记录介质的评价方法，在具有多个记录层的光记录介质的各层中预先记录信号，该信号是在每层中频率不同、在层内为一定频率的信号，对各层的频率信号成分进行分离检测，使焦点位置横切所有层地移动，通过测定相对于各层频率信号成分的最大强度的副峰值输出的比，使来自各层的串扰量相同。
14.一种信息再现方法，其特征在于，使用至少具有从用于记录或者再现的光的入射侧看、背面侧的光反射率比来自表面侧的光反射率小的记录层的光记录介质，所述光记录介质是具有三层或者三层以上的记录层的多层光记录介质，通过用所述光照射所述记录层，再现在所述记录层上所记录的信息。
15.一种信息记录方法，其特征在于，使用至少具有从用于记录或者再现的光的入射侧看、背面侧的光反射率比来自表面侧的光反射率小的记录层的光记录介质，所述光记录介质是具有三层或者三层以上的记录层的多层光记录介质，通过用所述光照射所述记录层，记录信息。
全文摘要
在具有三层或三层以上的记录层的多层光记录介质中，因为由多层记录层中的多重反射引起的串扰的影响而需要对每一记录层精密控制层间隔。通过使从各记录层的背面侧来的反射率比表面侧的反射率低，因为能够不使用高精度的层间隔控制技术就降低多重反射的影响，所以能够大大降低介质制造成本。
文档编号G11B7/00GK101022022SQ20061010892
公开日2007年8月22日 申请日期2006年7月28日 优先权日2006年2月14日
发明者宫本治一, 广常朱美 申请人:株式会社日立制作所