专利名称：激光控制方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种烧录数据至一媒介的方法及装置，特别是有关于一种烧录数据至光储存媒介的激光控制方法及其装置。
背景技术：
烧录光盘片时，常利用激光控制(laser control)的方式来调整目前烧录的激光功率(laser power)或烧录策略(write strategy)，而现有的激光控制方法则利用先前已烧录至盘片上的数据来调整现在要烧录的激光功率或是改变烧录策略。然而这样的方法通常无法相常准确地调整所需的激光功率或烧录策略，因此无法确保烧录的品质。
发明内容
本发明提供一种激光控制方法，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整烧录的激光功率(laser power)。该激光控制方法包含有依据一初始激光功率将一普通数据(normal data)烧录至该光盘片；当一触发事件产生时，暂停烧录；读取已烧录至该光盘片的该普通数据，并产生一第一烧录品质指标；依据一选取的激光功率在一测试样式(test pattern)的开始烧录点开始烧录一测试样式；读取该测试样式并产生一第二烧录品质指标；以及依据该第一以及第二烧录品质指标来动态地决定一激光功率以继续烧录该普通数据。
烧录所述普通数据至光盘片的步骤另包括在烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生所述触发事件。
所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值(asymmetry value)、一误比特率(biterror rate，BER)、一抖动(jitter)、一坑/岸长度误差(pit/land lengthdeviation)、一数据时脉缘误差(data-to-clock edge deviation)、或RF信号大小。
所述动态激光功率计算如下PowC＝PwoA+[(IndexTarget-IndexA)/(IndexB-IndexA)]*(PwoB-PwoA)；其中PowA为所述初始激光功率、PowB为所述选取的激光功率、PowC为所述动态确定的激光功率、IndexA为所述第一烧录品质指标、IndexB为所述第二烧录品质指标、以及IndexTarget为一烧录品质的一目标值(target value)。
所述测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
所述测试样式的一长度为一预定值，且该测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
用来烧录该测试样式的所述开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
用来烧录该测试样式的开始烧录点以及所述普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
本发明另提供一种激光控制方法，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整烧录的烧录脉冲形状(write pulse shape)，该激光控制方法包含有依据一初始烧录脉冲形状将一普通数据烧录至该光盘片；当一触发事件产生时，暂停烧录；读取已烧录至该光盘片的该普通数据，并产生一第一烧录品质指标；依据一选取的烧录脉冲形状于一测试样式的开始烧录点开始烧录一测试样式；读取该测试样式并产生一第二烧录品质指标；依据该第一以及第二烧录品质指标来动态地决定一烧录脉冲形状以继续烧录该普通数据。
烧录该普通数据至光盘片的步骤另包括于烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生该触发事件。
所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值(asymmetry value)、一误比特率(biterror rate，BER)、一抖动(jitter)、一坑/岸长度误差(pit/land lengthdeviation)、一数据时脉缘误差(data-to-clock edge deviation)、或RF信号大小。
该测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
该测试样式的一长度为一预定值，且该测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
用来烧录该测试样式的开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
用来烧录该测试样式的所述开始烧录点以及普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
本发明另提供一种激光控制装置，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整输出激光的烧录算法。该激光控制装置包含有一读取头(pick-up head，PUH)、一检测装置、以及一激光烧录调制电路。该读取头用来依据该输出激光的烧录算法发出激光以烧录数据至光盘片。该检测装置是用来检测已烧录数据的至少一烧录品质指标。该激光烧录调制电路是用来产生一初始输出激光的烧录算法应用至该读取头以烧录一普通数据、当收到一触发事件时产生一停止信号以停止烧录、产生一选取的输出激光的烧录算法应用至该读取头以于一测试样式开始烧录点开始烧录一测试样式至该光盘片、以及依据该第一以及第二烧录品质指标来产生一动态的输出激光的烧录算法以继续烧录该普通数据。其中该第一烧录品质指标由该检测装置通过读取已烧录的普通数据的方法进行检测、以及所述第二烧录品质指标由该检测装置通过读取已烧录的该测试样式(testpattern)的方法进行检测。
该检测装置于烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生该触发事件。
所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值(asymmetry value)、一误比特率(biterror rate，BER)、一抖动(jitter)、一坑/岸长度误差(pit/land lengthdeviation)、一数据时脉缘误差(data-to-clock edge deviation)、或RF信号大小。
该动态的输出激光的烧录算法为一动态激光功率的算法。
该激光烧录调制电路计算该动态激光功率如下PowC＝PwoA+[(IndexTarget-IndexA)/(IndexB-IndexA)]*(PwoB-PwoA)；其中PowA为该初始激光功率、PowB为该选取的激光功率、PowC为所述动态激光功率、IndexA为所述第一烧录品质指标、IndexB为所述第二烧录品质指标、以及IndexTarget为一烧录品质的一目标值(target value)。
该输出激光的烧录算法为一烧录脉冲形状的算法。
所述测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
所述测试样式的一长度为一预定值，且所述测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
用来烧录该测试样式的所述开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
用来烧录该测试样式的所述开始烧录点以及所述普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
相对于现有技术，本发明激光控制方法是依据之前所烧录的测试样式以及普通数据(或是仅依据测试样式)来调整激光功率或是烧录策略(烧录脉冲形状)，以确保烧录的品质。
图1为显示本发明光盘系统一实施例的功能方块图；图2为显示烧录至图1光盘片上的一数据区段的示意图；图3为本发明激光控制方法一实施例的流程图；图4为本发明激光控制方法另一实施例的流程图；图5显示一烧录策略、一烧录至光盘片的讯坑(pit)、一切割信号、以及一EFM数据时脉的波形示意图；图6A以及图6B分别为显示多脉冲和单脉冲烧录策略的波形示意图；图7显示一DVDRW多脉冲烧录策略的波形示意图。
主要组件符号说明100～光盘系统；102～光盘片；104～读取头； 106～切割器；108～锁相回路；110～解调制器(demodulator)；112～误比特率测量器； 114～抖动测量器；116～坑/岸长度误差计算器； 118～数据时脉缘误差计算器；120～射频峰对峰值检测器； 122～非对称检测器；124～调制器(modulator)； 126～激光烧录调制电路；200～数据区段；210、230～普通数据；220～测试样式。
具体实施例方式
请同时参阅图1以及图2。图1显示本发明光盘系统100一实施例的功能方块图，图2则显示烧录至图1光盘片102上的一数据区段200的示意图。请注意，在某些实施例中，光盘片102的种类可以是任一可烧录的DVD光盘片(例如常见的DVDR或是DVDRW)或是其它种类的盘片。详细烧录数据区段200的过程说明如下。首先，光盘系统100会先烧一段普通数据(normal data)210到光盘片102上，并且一边烧录一边根据目前已烧录至盘片的普通数据210来同时检测某些特定的烧录策略指标。请注意，本发明并未限定烧录策略指标的种类，举例来说，烧录策略指标可以是以下所列举的项目(请同时参照图1)由误比特率测量器(BER measurer)112所检测出的误比特率(biterror rate，BER)、由抖动测量器(jitter measurer)114所检测出的抖动、由坑/岸长度误差计算器(pit/land length deviation calculator)116所检测出的坑/岸长度误差(pit/land length deviation)、以及由数据时脉缘误差计算器(data-to-clock edge deviation calculator)118所检测出的数据时脉缘误差、由非对称检测器(asymmetry detector)122检测出的非对称性值。当然，除了图1所述组件外，本领域的技术人员应能可以列举出多种用以判断烧录品质的指标，例如RF信号大小，因此，本发明不应以列举的指标为限。而当烧录的过程中，一旦检测到烧录策略指标发生恶化时(例如在图2的某一点P1)，光盘系统100即触发动作来停止烧录普通数据210(点P1即为结束烧录点)。接着，光盘系统100读取(read)已完全烧录至盘片102的普通数据210，来获得比边写边检测时更加精确的烧录策略指标。在得到更精确的烧录策略指标值后，光盘系统100开始烧录一段预定常度的测试样式(test pattern)220到盘片102上面，烧录的范围则从前一段的结束烧录点P1开始，到另一预定的结束烧录点P2为止，烧录时则用不同于普通数据210的激光功率或烧录策略来进行烧录。在烧录完测试样式220后，光盘系统100就可以参考测试样式220所提供的信息(或是普通数据210以及测试样式220所提供的信息)，来决定新的最适合用来烧录目前盘片的激光功率或烧录策略，并利用更新后的激光功率或烧录策略来烧录后续的普通数据230。关于如何决定新的激光功率或烧录策略的进一步说明如下。
关于产生新的激光功率的方法说明如下。首先，假设烧录至盘片102的普通数据210的激光功率值为PwoA，而烧录至盘片102的测试样式220的激光功率值为PwoB。若是非对称检测器122所检测到的普通数据210的非对称性值为BetaA，而测试样式220的非对称性值为BetaB，则用来烧录普通数据230的新激光功率PowC可以依据以下方程序计算出来PowC＝PwoA+[(BetaTarget-BetaA)/(BetaB-BetaA)]*(PwoB-PwoA)；其中BetaTarget为一预定值。由于激光功率和非对称性值之间存在有一种线性的关系，由此新的激光功率PwoC可以利用上面的算式计算而得。另外，若是希望缩短测试用的测试样式220的长度时，可以利用重复烧录某些特定的特殊样式(例如，一串较长的记号(长度大于8T)以及一串较短的记号(长度小于5T)的组合)来达到目的。举例来说，假定测试样式220的预定长度为2单位的EFM(Eight-to-Fourteen Modulation)讯框(frame)(在DVDR的规格中，1单位的EFM讯框长度等于1488T)，则可选择特殊样式(11T+11T+11T+11T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T+4T)来重复烧录直到填满测试样式220的预定长度为止。此外，若是对测试样式220的长度没有特殊限制时，任意的随机样式也可加以实施。
在上述公式中，非对称性值可以改为其它烧录品质指标，换句话说，BetaTarget可以改为IndexTarget，表示一烧录品质的一目标值；BetaA可以改为IndexA，BetaB可以改为IndexB。
请参阅图3，图3为本发明激光控制方法一实施例的流程图，其应用于光盘系统100。进一步说明如下步骤302开始。
步骤304执行最佳功率控制(optimum power control，OPC)校正。
步骤306依据校正的结果设定一初始激光功率PwoA。
步骤308是否启动烧录？若是则进入步骤310，否则回到步骤308。
步骤310依据初始激光功率PwoA的功率值将普通数据210烧录至光盘片102上。
步骤312是否完成烧录？若是则进入步骤324，否则进入步骤314。
步骤314光盘系统100决定是否触发动作？若是则进入步骤316，否则回到步骤310。
步骤316停止烧录普通数据210，并读取已烧录至光盘片的普通数据210。
步骤318利用另一激光功率PwoB的功率值于一测试样式开始烧录点开始烧录测试样式220。
步骤320于一测试样式结束烧录点停止烧录测试样式220，并读取已烧录至光盘片的测试样式220。
步骤322依据读取回来的普通数据210以及测试样式220的信息来产生新的激光功率PwoC。
步骤324结束。
接下来说明产生新的烧录策略(write strategy)的方法。请注意，本发明并未限定烧录策略的种类，在此以烧录脉冲形状(write pulse shape)为例。首先，假设烧录至盘片102的普通数据210的烧录脉冲形状为WpsA，而烧录至盘片102的测试样式220的烧录脉冲形状为WpsB。则用来烧录普通数据230的新烧录脉冲形状WpsC可以利用读取测试样式220以及/或是普通数据210的方式加以决定。举例来说，将测试样式220烧录至盘片后，若是光盘系统100可正确地读取烧录至盘片的测试样式220内的数据(例如，非对称性、抖动、误比特率、坑/岸长度误差、数据时脉缘误差或是RF信号大小的品质在一可接受的范围)，则就可以将新的烧录脉冲形状WpsC设定为烧录脉冲形状WpsB。进一步说明如下。
请参阅图4，图4为本发明激光控制方法另一实施例的流程图，其应用于光盘系统100。说明如下步骤402开始。
步骤404设定一烧录脉冲形状WpsA。
步骤406是否启动烧录？若是则进入步骤408，否则回到步骤406。
步骤408依据初始烧录脉冲形状WpsA的脉冲形状将普通数据210烧录至光盘片102上。
步骤410是否完成烧录？若是则进入步骤422，否则进入步骤412。
步骤412光盘系统100决定是否触发动作？若是则进入步骤414，否则回到步骤408。
步骤414停止烧录普通数据210，并读取已烧录至光盘片的普通数据210。
步骤416利用另一烧录脉冲形状WpsB的脉冲形状于一测试样式开始烧录点开始烧录测试样式220。
步骤418于一测试样式结束烧录点停止烧录测试样式220，并读取已烧录至光盘片的测试样式220。
步骤420依据读取回来的普通数据210以及测试样式220的信息来产生新的烧录脉冲形状WpsC。
步骤422结束。
关于烧录脉冲形状的进一步说明如下。请同时参阅图5、图6A、图6B、以及图7。请注意，本发明并未限定烧录脉冲形状的种类，举例来说，烧录脉冲形状可以是数据时脉缘误差(请见图5)或是坑/岸长度误差(请见图6A、图6B、图7)。图5显示一烧录策略(由图1的激光烧录调制电路126产生)、一烧录至光盘片102的讯坑(pit)、一切割信号(sliced signal)、以及一EFM数据时脉(由图1的锁相回路108)的波形示意图。通过检测来自缘误差计算器118的数据时脉缘误差(下降缘d1或是上升缘d2)，烧录脉冲形状的烧录时间Ttopr和Tlast就可以进一步调整。图6A以及图6B显示利用坑/岸长度误差(来自坑/岸长度误差计算器116)所分别进行的多脉冲(multi-pulse)和单脉冲(single-pulse)烧录策略的波形示意图。同样地，图7则是显示一DVDRW多脉冲烧录策略的波形示意图。
另外，某些实施例中，当产生新的激光功率或是烧录策略之后，接下来要烧录的普通数据可以从测试样式开始烧录点开始烧录；而在某些实施例中，当产生新的激光功率或是烧录策略之后，接下来要烧录的普通数据可以从测试样式结束烧录点开始烧录。换句话说，测试样式可以说择被覆盖与否。
相对于现有技术，本发明激光控制方法是依据之前所烧录的测试样式以及普通数据(或是仅依据测试样式)来调整激光功率或是烧录策略(烧录脉冲形状)，以确保烧录的品质。
权利要求
1.一种激光控制方法，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整烧录的激光功率，其特征在于，该激光控制方法包含有依据一初始激光功率将一普通数据烧录至该光盘片；当一触发事件产生时，暂停烧录；读取己烧录至该光盘片的该普通数据，并产生一第一烧录品质指标；依据一选取的激光功率于一测试样式的开始烧录点开始烧录一测试样式；读取该测试样式并产生一第二烧录品质指标；以及依据该第一以及第二烧录品质指标来动态地决定一激光功率以继续烧录该普通数据。
2.根据权利要求1所述的激光控制方法，其特征在于，烧录所述普通数据至光盘片的步骤还包括在烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生所述触发事件。
3.根据权利要求2所述的激光控制方法，其特征在于，所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值、一误比特率、一抖动、一坑/岸长度误差、一数据时脉缘误差、或RF信号大小。
4.根据权利要求1所述的激光控制方法，其特征在于，所述动态激光功率计算如下PowC＝PwoA+[(indexTarget-IndexA)/(IndexB-IndexA)]*(PwoB-PwoA)；其中PowA为所述初始激光功率、PowB为所述选取的激光功率、PowC为所述动态确定的激光功率、IndexA为所述第一烧录品质指标、IndexB为所述第二烧录品质指标、以及IndexTarget为一烧录品质的一目标值。
5.根据权利要求1所述的激光控制方法，其特征在于，所述测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
6.根据权利要求5所述的激光控制方法，其特征在于，所述测试样式的一长度为一预定值，且该测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
7.根据权利要求1所述的激光控制方法，其特征在于，用来烧录该测试样式的所述开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
8.根据权利要求1所述的激光控制方法，其特征在于，用来烧录该测试样式的开始烧录点以及所述普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
9.一种激光控制方法，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整烧录的烧录脉冲形状，其特征在于，该激光控制方法包含有依据一初始烧录脉冲形状将一普通数据烧录至该光盘片；当一触发事件产生时，暂停烧录；读取己烧录至该光盘片的该普通数据，并产生一第一烧录品质指标；依据一选取的烧录脉冲形状于一测试样式的开始烧录点开始烧录一测试样式；读取该测试样式并产生一第二烧录品质指标；以及依据所述第一以及第二烧录品质指标来动态地决定一烧录脉冲形状以继续烧录该普通数据。
10.根据权利要求9所述的激光控制方法，其特征在于，烧录该普通数据至光盘片的步骤还包括于烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生该触发事件。
11.根据权利要求10所述的激光控制方法，其特征在于，所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值、一误比特率、一抖动、一坑/岸长度误差、一数据时脉缘误差、或RF信号大小。
12.根据权利要求9所述的激光控制方法，其特征在于，该测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
13.根据权利要求12所述的激光控制方法，其特征在于，该测试样式的一长度为一预定值，且该测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
14.根据权利要求9所述的激光控制方法，其特征在于，用来烧录该测试样式的开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
15.根据权利要求9所述的激光控制方法，其特征在于，用来烧录该测试样式的所述开始烧录点以及普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
16.一种激光控制装置，用来于烧录数据至一光盘片时，动态地调整输出激光的烧录算法，其特征在于，该激光控制装置包含有一读取头，用来依据该输出激光的烧录算法发出激光以烧录数据至光盘片；一检测装置，用来检测己烧录数据的至少一烧录品质指标；以及一激光烧录调制电路，用来产生一初始输出激光的烧录算法应用至该读取头以烧录一普通数据；当收到来自该检测装置的一触发事件时，产生一停止信号以停止烧录；产生一选取的输出激光的烧录算法应用至该读取头以于一测试样式开始烧录点开始烧录一测试样式至该光盘片；以及依据该第一以及第二烧录品质指标来产生一动态的输出激光的烧录算法以继续烧录该普通数据；其中该第一烧录品质指标由该检测装置通过读取己烧录的普通数据的方法进行检测、以及所述第二烧录品质指标由该检测装置通过读取己烧录的该测试样式的方法进行检测。
17.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，该检测装置于烧录时检测一进行中的品质指标，当该进行中的品质指标恶化至低于一预定值时产生该触发事件。
18.根据权利要求17所述的激光控制装置，其特征在于，所述进行中的品质指标、第一烧录品质指标、以及第二烧录品质指标从如下至少一选项选取一非对称性值、一误比特率、一抖动、一坑/岸长度误差、一数据时脉缘误差、或RF信号大小。
19.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，所述动态的输出激光的烧录算法为一动态激光功率的算法。
20.根据权利要求19所述的激光控制装置，其特征在于，该激光烧录调制电路计算该动态激光功率如下PowC＝PwoA+[(IndexTarget-IndexA)/(IndexB-IndexA)]*(PwoB-PwoA)；其中PowA为该初始激光功率、PowB为该选取的激光功率、PowC为所述动态激光功率、IndexA为所述第一烧录品质指标、IndexB为所述第二烧录品质指标、以及IndexTarget为一烧录品质的一目标值。
21.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，该输出激光的烧录算法为一烧录脉冲形状的算法。
22.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，所述测试样式包含有多个长度大于8T的记号以及多个长度小于5T的记号。
23.根据权利要求22所述的激光控制装置，其特征在于，所述测试样式的一长度为一预定值，且所述测试样式包含有重复出现的一特殊样式以填满该预定值。
24.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，用来烧录该测试样式的所述开始烧录点为所述普通数据的暂停烧录点。
25.根据权利要求16所述的激光控制装置，其特征在于，用来烧录该测试样式的所述开始烧录点以及所述普通数据的暂停烧录点之间存在有一间距。
全文摘要
本发明提供一种激光控制方法及其装置，用来在烧录数据至一光盘片时，动态地调整烧录的激光功率。该激光控制方法包含有依据一初始激光功率将一普通数据烧录至该光盘片；当一触发事件产生时，暂停烧录；读取己烧录至光盘片的所述普通数据，并产生一第一烧录品质指标；依据一选取的激光功率于一测试样式的开始烧录点开始烧录一测试样式；读取该测试样式并产生一第二烧录品质指标；以及依据该第一以及第二烧录品质指标来动态地决定一激光功率以继续烧录该普通数据。
文档编号G11B7/125GK1941101SQ200610126428
公开日2007年4月4日 申请日期2006年8月31日 优先权日2005年8月31日
发明者游志青, 张鸿祥, 蔡品再 申请人:联发科技股份有限公司