信号评价方法以及信号评价装置的制作方法

专利名称：：信号评价方法以及信号评价装置的制作方法
技术领域：
：0001本发明涉及采用了极大似然译码法的信号处理方法以及采用极大似然译码法来评价再现信号的方法。
背景技术：
：0002近年来，由于光盘介质的高密度化，而使记录标记的最短标记长接近于光学分辨率的极限，码间干涉的增大以及SNR(SignalNoiseRatio)的恶化变得更加显著，作为信号处理方法普遍采用PRML(PartialResponseMaximumIikelihood)方式等。0003PRML方式是组合了局部响应(PR)和极大似然译码(ML)的技术，是以引起己知的码间干涉为前提从再现波形中选择最似然的信号系列的方式。因此，与现有的电平判定方式相比，可知译码性能提高(例如，非专利文献1)。0004另一方面，由于信号处理方式从电平判定方式向PRML方式转移，所以在再现信号的评价方法中出现了问题。作为一直以来采用的再现信号评价指标的抖动(jitter)是以电平判定方式的信号处理为前提的，但在电平判定中出现了与信号处理算法不同的PRML方式的译码性能不相关的情况。因此，提出了与PRML方式的译码性能相关的新指标(例如，专利文献l以及专利文献2)。0005另外，还提出了对于光盘介质的记录品质来说非常重要的可检测标记(mark)和空白(space)的位置偏移(沿偏移)的新指标(例如，专利文献3)。在该指标也采用PRML方式的情况下，按照PRML方式的考虑模式需要与PRML方式的译码性能有相关，且必需能够定量地表现每一图形中沿的偏移方向和量。0006当光盘介质的高密度化进一步提高时，码间干涉以及SNR恶化更加构成问题。为了维持系统裕量(systemmargin),在非专利文献1中记载了可通过将PRML方式设为高次方式来进行对应的技术。其中说明了如下的情况例如在12cm光盘介质的每一记录层的记录容量为25GB时，可通过采用PR1221ML方式来维持系统裕量，在每1层的记录容量为33.3GB时，需要采用PR12221ML方式。这样，设想成与光盘介质的高密度化成比例地采用逐步高次的PRML方式的倾向。专利文献1日本特开2003-141823号公报专利文献2日本特开2004-213862号公报专利文献3日本特开2004-335079号公报专利文献4日本特开2003-51163号公报专利文献5日本特开2003-272304号公报非专利文献i图解蓝光盘读本(:/》一XfV7夕読本)欧姆公司非专利文献2自适应信号处理算法(適応信号処理7W^UX、厶)培风馆0007在专利文献1、2中公开了采用「最似然的第1状态转变列与再现信号之差和第2似然的第2状态转变列与再现信号之差的差值度量」来作为指标值。此时，在有可能引起错误的「最似然的第1状态转变列和第2似然的第2状态转变列」有多个图形的情况下，需要对这些进行综合性统计处理。但是，在专利文献l、2中没有公开该处理方法。0008在专利文献5中关注于这点公开了对利用与专利文献1、2同样的方法检测出的差值度量进行多个图形检测后处理该图形组的方法。在专利文献5中采用的PR12221ML信号处理中存在3种容易引起错误的图形(欧几里德距离较小的合流通路的图形组)。该图形组的产生概率与在该图形中产生错误时的错误数不同。因此，在专利文献5中公开了根据这些图形中取得的指标值的分布来求出标准偏差(standarddeviation)o，并根据图形的产生概率(相对全参数(p叩ulationparameter)的产生频度)和图形出错时产生的错误数来预测产生的错误的方法。在专利文献5中将已取得的指标值的分布假定为正态分布(normaldistribution),并预测根据该标准偏差cj和方差平均值(averagevariance^使指标值在0以下的概率、即引起比特错误(biterror)的概率的方法来作为预测错误的方法，但这只是预测错误产生概率的一般方法。在专利文献5中按照每一图形来求出产生概率，算出预测错误率(errorrate)，并将该预测错误率作为信号品质的基准。0009在专利文献4以及5中公开了以由差值度量预测出的bER为指标的方法，不过存在以下这样的问题即使采用这些来作为指标值，但仍与作为光盘的信号品质评价指标使用的时间轴的抖动没有互换性，因此难以使用。特别是，为了与现有的抖动指标值具有互换性，而需要能够用ci来表现信号品质的信号评价指标。在专利文献5所公开的以采用PR12221ML信号处理为前提的系统中，需要可表示与PR12221ML信号处理的性能(错误率)相关性高的信号品质的、用a来表现的信号评价指标。虽然以上进行了说明，但PR12221ML信号处理存在3种容易引起错误的图形(欧几里德距离比较小的合流通路的图形组)。图18示出3种图形组中差值度量平方的分布。由于该3种图形组的产生概率和该图形产生错误时的错误数不同，因此难以表现为一个分布。
发明内容0010本发明鉴于这些问题，提供使用适合采用了PRML方式的系统的信号处理方法来适当评价再现信号品质的方法以及装置。0011本发明的信号评价方法是基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号的信号评价方法，该信号评价方法包含以下步骤检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；取得与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和与上述正确图形对应的错误图形的理想值的步骤；计算上述正确图形的理想值与上述再现信号之间的距离和上述错误图形的理想值与上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。0012根据某实施方式，计算上述错误率的步骤包含以下步骤针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差的步骤；检测上述规定的每个图形组的产生概率的步骤；以及根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率的步骤。0013根据某实施方式，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。0014根据某实施方式，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组、欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组、和欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。0015根据某实施方式，上述PRML方式是PR12221方式。0016本发明的装置是基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号的装置，该装置具有图形检测部，其检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形；差值运算部，其计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值；错误率运算部，其根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率；以及标准偏差运算部，其计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差。0017根据某实施方式，该装置还具有运算部，其针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差；以及检测部，其检测上述规定的每个图形组的产生概率；上述错误率运算部根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、和在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率。0018根据某实施方式，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。0019根据某实施方式，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组、欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组、和欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。0020根据某实施方式，上述PRML方式是PR12221方式。0021本发明的信息记录介质是具有规定品质的信息记录介质，上述信息记录介质具有至少一个记录层，上述记录层包含用于以标记和空白的组合来记录信息的记录区域，与由上述标记以及上述空白再现的再现信号对应的评价值具有规定值，计算上述评价值的处理包含以下步骤根据由上述标记以及上述空白所再现的再现信号采用PRML方式生成二进制信号的步骤；检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。0022本发明的再现装置是再现上述信息记录介质的再现装置，该再现装置具有受光部，其对上述信息记录介质照射光束，并接收来自上述标记以及上述空白的反射光；和再现部，其根据由上述反射光得到的信号，再现采用上述标记以及上述空白所记录的信息。0023本发明的记录装置是对上述信息记录介质进行记录的记录装置，该记录装置具有照射部，其对上述信息记录介质照射脉冲状的光束，并在上述记录区域中形成上述标记；以及调整部，其调整上述光束的发光波形图形，使上述评价值满足上述规定值。0024根据本发明，关注于PRML信号处理中的欧几里德距离比较小的合流通路的图形，根据产生概率不同、产生的错误数不同的多个图形组的差值度量信息来生成一个信号评价指标。根据各个图形组来求出错误产生概率，并算出其总和。根据已算出的整体错误率来计算所预测的正态分布的标准偏差ci。通过将该标准偏差ci作为信号评价指标，可提供与错误率相关非常高的信号评价方法以及信号评价指标。0025另外根据本发明，当采用在最小差值度量的合流通路中含有多个零交叉部分的PRML方式来计算再现信号品质时，仅采用在非最小差值度量的合流通路中只含有一个零交叉部分的状态转变图形来计算再现信号品质。通过采用在合流通路中只具有一个零交叉部分的状态转变图形，可逐个分离地检测每一个零交叉部分(零交叉信息)的错误。通过逐个评价再现信号的零交叉部分，可适当地进行再现信号品质评价。0026图1是表示本发明实施方式的光盘装置的图。图2是表示本发明实施方式的由RLL(l，7)记录码和均衡方式PR(1，2，2，2，l)决定的状态转变规则的图。图3是与图2所示的状态转变规则对应的格子图。式的表1所示的PR均衡理想波形的图。图5是表示本发明实施方式的表2所示的PR均衡理想波形的图。图6是表示本发明实施方式的表3所示的PR均衡理想波形的图。图7是表示本发明实施方式的由RLL(l，7)记录码和均衡方式PR(1，2，2，l)决定的状态转变规则的图。图8是与图7所示的状态转变规则对应的格子图。图9是表示本发明实施方式的表4所示的PR均衡理想波形的图。图10是表示本发明实施方式的聚焦调整时的聚焦参数和各PRML特性的指标M之间的关系的图。图11是表示本发明实施方式的光盘装置的图。图12是表示本发明实施方式的光盘装置的图。图13是表示在本发明实施方式的光盘介质的磁道上记录的标记列与光束径的相对关系的图。图14是表示本发明实施方式的光盘介质的OTF特性的图。图15(a)(c)是表示本发明实施方式的信号品质评价指标值的分布的图。图16是本发明实施方式的具有多个记录层的光盘介质的图。图17是表示本发明实施方式的PR(1，2，2，2，l)ML的差值度量的分布的图。图18是表示本发明实施方式的PR(1，2，2，2，l)ML的各欧几里德距离图形中的差值度量的分布的图。图19是表示本发明实施方式的信号评价指标值与错误率之间的关系的图。图20是表示本发明实施方式的PR(1，2，2，2,l)ML的各欧几里德距离图形中的差值度量的分布与规定阈值之间的关系的图。图21(a)以及(b)是说明了本发明实施方式中的重复的评价图形的例子的图。图22是表示本发明实施方式的光盘装置的图。图23是表示本发明实施方式的光盘装置的图。图24是针对具有不同记录膜的每个介质算出本发明实施方式的信号评价指标值并比较其计算结果的图。图25是采用本发明实施方式的信号评价指标值来示出记录功率裕量的图。图26是表示本发明实施方式的光盘的物理结构的图。图27(A)是表示25GB的BD的例子的图，(B)是表示比25GB的BD高记录密度的光盘的例子的图。图28是表示最短标记(2T)的空间频率比OTF截止频率高、且2T的再现信号振幅为0的例子的图。图29是表示光盘的区域结构的图。图30(1)是表示规定记录密度的盘A以及更高记录密度的盘B的信息记录层的结构，(2)以及(3)分别是表示盘A以及盘B的导入区域的具体结构的图。符号说明0027100，200，300光盘装置1信息记录介质2光头部3前置放大部4AGC部5波形均衡部6A/D变换部7PIX咅P8可变PR均衡部9可变极大似然译码部10信号评价指标运算部11沿移动(edgeshift)检测部12光盘控制器部13图形产生部14记录补偿部值度量运算部203，206，210图形计数部204，208，212标准偏差运算部204a，208a，212a绝对值累计部213，214，215错误运算部216相加部217标准偏差运算部具体实施方式0028以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。对同样的结构要素标注同样的参照符号，省略重复同样的说明。0029首先，对采用了本发明实施方式的PRML方式的记录参数调整(特别是标记以及空白的沿位置的调整)进行说明。在专利文献3中记载了记录参数调整方法的一例，所以这里仅说明与本发明关联的点。为了参考本说明书引用了专利文献3(日本特开2004-335079号公报)的公开内容。0030在记录再现装置中，对再现系统的信号处理采用PR12221ML方式，对记录码采用RLL(l，7)码等RLL(RunLengthLimited)码。0031首先，参照图2以及图3对PR12221ML进行简单说明。图2是表示由RLL(l，7)记录码与均衡方式PR(l，2，2，2，l)决定的状态转变规则的状态转变图。图3是与图2所示的状态转变规则对应的格子图。0032通过PR12221ML与RLL(1，7)的组合，将译码部的状态数限制为10，该状态转变的通路数为16，再现电平为9个电平。0033参照图2所示的PR122221ML的状态转变规则来表现为以下10个状态将某时刻的状态S(O，0，0，O)表述为SO，将状态S(O，0，0，l)表述为S1，将状态S(O，0，1，1)表述为S2，将状态S(O，1，1，1)表述为S3，将状态S(l，1，1，1)表述为S4，将状态S(l，1，1，O)表述为S5，将状态S(l，1，0，0)表述为S6，将状态S(l，0，0，0)表述为S7，将状态S(l，0,0，1)表述为S8，将状态S(O，1，1，0)表述为S9。这里，在括弧中记载的"0"或"1"表示时间轴上的信号系列，示出从某状态开始经过下一时刻的状态转变有可能成为哪个状态。另外，当沿着时间轴展开该状态转变图时可获得图3所示的格子图。0034在图3所示的PR12221ML的状态转变中，在从某时刻的规定状态向其它时刻的规定状态转变时可取得两个状态转变这样的状态转变图形(状态的组合)存在无数个。当限定在某时刻范围、且特别关注于容易产生错误的图形时，可如表l、表2以及表3这样地归纳PR12221ML的状态转变图形。<table>tableseeoriginaldocumentpage15</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage16</column></row><table>0037表3<table>tableseeoriginaldocumentpage17</column></row><table>0038表1表3分别示出表示从两个状态转变图形的起始状态到合流后状态的轨迹的状态转变(记录码(bk.i,，bk))、有可能经由该状态转变的两个记录系列(k-9，，k)、有可能经由该状态转变的两个理想再现波形(PR等效理想值)、两个理想再现波形的欧几里德距离(通路间的欧几里德距离)。0039表1示出可取得两个状态转变的状态转变图形的欧几里德距离为14的状态转变图形，共有18种。这些图形与光盘介质的标记和空白的切换部分(波形的沿部分)相对应。换言之是沿的1比特移动错误(bitshifterror)的图形。作为一例说明在图3所示的状态转变规则中的从S0(k-5)到S6(k)的状态转变通路。在此情况下，检测记录系列转变为"0，0，0，0，1，1，1，0，0"的一个通路，当认为将再现数据"O"置换为空白部分、将"l"置换为标记部分时，与4T空白以上长度的空白、3T标记、2T空白以上长度的空白相对应。将该通路的PR等效理想波形表示成图4的A通路波形。0040图4是表示表1所示的PR均衡理想波形的一例的图。图5是表示用表2示出的PR均衡理想波形的一例的图。图6是表示用表3示出的PR均衡理想波形的一例的图。在图4、图5以及图6中，横轴表示采样时间(按照记录系列的每1时刻进行釆样)，纵轴表示再现信号电平。0041如上所述，在PR12221ML中，理想再现信号电平有9个电平(O电平8电平)。关于图3所示的状态转变规则的从S0(k-5)到S6(k)的状态转变通路中的另一个通路的记录系列的转变"O，0，0，0，0，1，1，0，0"，当认为将再现数据的"O"置换为空白部分、将'T'置换为标记部分时，与5T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白以上长度的空白相对应。在图4中将该通路的PR等效理想波形表示为B通路波形。0042表1所示的欧几里德距离为14的图形特征是必需含有一个沿信息。利用上述特征，可进行最适合PRML方式的沿调整。0043表2示出欧几里德距离为12的状态转变图形，共有18种。这些图形与2T标记或2T空白的移动错误相对应，是2比特错误的图形。作为一例说明在图3所示的状态转变规则中的从S0(k-7)到S0(k)的状态转变通路。在此情况下，检测记录系列转变为"0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0"的一个通路，当认为将再现数据"o"置换为空白部分、将"r，置换为标记部分时，与4T空白以上长度的空白、2T标记、5T空白以上长度的空白相对应。在图5中将该通路的PR等效理想波形表示为A通路波形。0044关于另一个通路的记录系列的转变"O，0，0，0，0，1，1，0，0，0，o"，当认为将再现数据"o"置换为空白部分、将"r置换为标记部分时，与5T空白以上长度的空白、2T标记、4T空白以上长度的空白相对应。在图5中将该通路的PR等效理想波形表示为B通路波形。0045表2所示的欧几里德距离为12的图形的特征是必需含有两个2T的上升以及下降沿信息。0046表3示出欧几里德距离为12的状态转变图形，共有18种。这些图形与2T标记和2T空白连续的位置相对应，是3比特错误的图形。作为一例，说明在图3所示的状态转变规则中的从S0(k-9)到S6(k)的状态转变通路。在此情况下，检测记录系列转变为"0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，1，0，0"的一个通路，当认为将再现数据"O"置换为空白部分、将'T'置换为标记部分时，与4T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白、3T标记、2T空白以上长度的空白相对应。在图6中将该通路的PR等效理想波形表示为A通路波形。0047关于另一个通路的记录系列的转变"O，0，0，0，0，1，1，0，0，1，i，o，o"，当认为将再现数据"o"置换为空白部分、将"r置换为标记部分时，与5T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白、2T标记、2T空白以上长度的空白相对应。在图6中将该通路的PR等效理想波形表示为B通路波形。0048表3所示的欧几里德距离为12的图形的特征是至少含有三个沿信息。0049在调整记录标记的始端沿或终端沿的位置时，需要按照标记和空白的每个组合来检测沿偏移方向以及沿偏移量。因此，在采用PR12221ML方式的情况下，可采用表1所示的欧几里德距离为14的状态转变图形。0050记录标记的始端沿或终端沿的最优位置根据PRML的特性而不同。在PR12221ML的情况下，5T空白以上长度的空白之后的2T标记的始端沿部分的理想波形为图4所示的B通路波形。在图4中，再现信号电平4是全部9个电平的中心电平，这表示2T标记的信号振幅在理想情况下为0。即，如果将2T标记的始端沿调整为这样的2T标记的信号振幅，则记录标记变小。0051为了比较PRML方式的特性，作为其它PRML方式的一例来说明PR1221ML。与PR12221ML相比，PR1221ML方式是非高频域强调特性型。通过PR1221ML与RLL(1，7)的组合，可将译码部的状态数限制为6，该状态转变的通路数为10，再现电平为7个电平。0052图7是表示根据RLL(l，7)与PR1221ML的组合来决定的状态转变规则的状态转变图。图8是与图7所示的状态转变规则对应的格子图。0053参照图7来表现以下6个状态将某时刻的状态S(O，0，O)表述为S0，将状态S(O，0，l)表述为Sl，将状态S(O，1，1)表述为S2，将状态S(l，1，1)表述为S3，将状态S(l，1，0)表述为S4，将状态S(l，0，O)表述为S5。这里，在括弧中记载的"o"或"r表示时间轴上的信号系列，示出从某状态开始经过下一时刻的状态转变有可能成为哪个状态。另外，当沿着时间轴展开该状态转变图时可获得图8所示的格子图。0054在图8所示的PRU21ML的状态转变中，在从某时刻的规定状态向其它时刻的规定状态转变时能够取得两个状态转变这样的状态转变图形(状态的组合)有无数个。当限定在某时刻范围内、且特别关注于容易产生错误的图形时，PR1221ML的状态转变图形可归纳为表4所示的欧几里德距离为IO的图形。0055〗<table>tableseeoriginaldocumentpage21</column></row><table>0056表4示出表示从两个状态转变图形的起始状态到合流后状态的轨迹的状态转变(记录码(bk.i,，bk))、有可能经由该状态转变的两个记录系列(K-IO，，K)、有可能经由该状态转变的两个理想再现波形(PR等效理想值)、两个理想再现波形的欧几里德距离(通路间的欧几里德距离)。0057在PR1221ML方式中，必需含有一个沿信息的图形是表4所示的欧几里德距离为IO的图形。在PR1221ML方式中，5T空白以上长度的空白之后的2T标记的始端沿部分的理想波形为两个有可能从状态S0(K-4)向状态转变S4(K)转变的波形中的图9所示的B通路波形。0058图9是表示表4所示的PR均衡理想波形的一例的图。PR1221ML的理想再现信号电平是7，所以图9所示的再现信号电平的中心为电平3。图9所示的PR1221ML的2T标记的信号振幅表示电平4，因此可将2T标记的始端沿调整为2T标记的信号振幅比PR12221ML时的大。不仅2T标记的始端沿，2T标记的终端沿及3T以上长度的标记的始终端沿也可同样地调整。这样，需要注意调整后的记录标记的形状根据PRML方式的特性而不同o0059这里，对用于评价再现信号的信号评价运算和用于沿偏移检测的信号评价运算进行说明。用于评价再现信号的信号评价指标M可由(式1)、(式2)以及(式3)求出，该信号评价指标为与抖动类似(jitterlike)、且与PRML的再现性能相关的指标。另外还可以称为这样的指标如果在(式2)中将平均值假定为0来计算(式3)，则(式3)利用欧几里德距离的平方使(式1)的方差标准化后的指标。因为在专利文献l中对该指标进行了说明，所以这里省略详细的说明。为了参考本说明书引用了专利文献l(日本特开2003-141823号公报)的公开内容。数1<formula>formulaseeoriginaldocumentpage22</formula>数2CJ"^-问2(式2)数3M="^y(式3)0060表5示出PR1221ML方式下的(式l)运算的具体例。这里，y^yk是后述的PR均衡波形(极大似然译码部输入波形)系列，T.3T3是表4所示的PR均衡理想值系列(可获得06的范围)，欧几里德距离是10(d2=10)。0061表5<table>tableseeoriginaldocumentpage23</column></row><table>0062表4以及表5所示的图形与沿的始终端部分相对应，所以如果按照标记长和空白长的每个组合对再现数字信号分类后进行(式l)的运算，则能够按照每一组合来求出沿偏移方向以及沿偏移量。另外，在表1所示的PR12221ML方式中也以同样的考虑方法进行运算，因此能够求出每一组合的沿偏移方向以及沿偏移量。0063(实施方式1)接着，^t本发明实施方式的光盘装置进行说明。图l是表示本发明第1实施方式的光盘装置100的图。0064信息记录介质1是用于光学地进行信息记录再现的信息记录介质，例如是光盘介质。光盘装置100是对装入的信息记录介质1进行信息记录再现的记录再现装置。0065光盘装置100具有再现部101、记录条件调整部102、和记录部103。0066再现部ioi具有光头部2、前置放大部3、AGC(AutomaticGainController)部4、波形均衡部5、A/D变换部6、和PLL部7。再现部101根据表示从信息记录介质中再现的信息的模拟信号来生成数字信号。0067记录条件调整部102具有PRML部104、信号评价指标运算部IO、和调整部105。PRML部104具有可变PR均衡部8和可变极大似然译码部9。调整部105具有沿移动检测部11和光盘控制器部12。记录条件调整部102例如被制造为半导体芯片。0068记录部103具有图形产生部13、记录补偿部14、和激光驱动部15。0069光头部2使通过物镜2b的激光2a收敛至信息记录介质1的记录层，并接收该反射光来生成表示信息记录介质1中所记录的信息的模拟再现信号。物镜2b的数值孔径是0.70.9，最好是0.85。激光2a的波长是410nm以下，最好是405nm。0070前置放大部3以规定的增益来放大模拟再现信号，然后向AGC4输出。为了使从A/D变换部6输出的再现信号的电平为恒定电平，AGC部4采用预先设定的目标增益来放大再现信号并向波形均衡部5输出。0071波形均衡部5具有放大再现信号的高频域的滤波特性，该波形均衡部5使再现波形的高频域部分放大后向A/D变换部6输出。0072PLL电路7生成与波形均衡后的再现信号同步的再现时钟，然后向A/D变换部6输出。0073A/D变换部6与从PLL电路7输出的再现时钟同步地采样再现信号，将模拟再现信号变换为数字再现信号，并向可变PR均衡部8、PLL部7以及AGC部4输出。0074可变PR均衡部8具有可使滤波特性向多个PR方式的特性变化的功能。可变PR均衡部8具有将记录再现系统的频率特性设定为可变极大似然译码部9假定的特性(例如，PR(l，2，2，l)均衡特性、PR(l，2，2，2，l)均衡特性等)的频率特性，并对再现信号执行PR均衡处理，然后向可变极大似然译码器部9输出，该PR均衡处理进行高频域噪声的抑制以及码间干涉的有意附加。0075对切换可变PR均衡部8的特性的第1方法进行说明。在采用PR(a，b，b，a)均衡特性的情况下，设b/a=A，并采用Al和A2(A2比Al小)作为A。由此，可以从采用Al的高频域强调型的种类变更为采用A2的不强调高频域的种类。0076作为第2方法，从强调2T的PR均衡特性向不强调2T的PR均衡特性变更。具体地说，可变PR均衡部8将PR(a，b，b，a)均衡特性向PR(x，y，z，y，x)均衡特性变更。另外在该变更的同时，设b/a=A、((y+Z)/2)/((x+y)/2)=B，采用A>B的x，y，z系数，从强调高频域的种类变更为不强调高频域的种类。例如，从PR(l，2，2，l)均衡向PR(l，2，2，2，l)均衡变更，使滤波的次数增加，由此能够向不强调2T的PR均衡特性变更。0077可变极大似然译码部9能够与可变PR均衡部8的PR特性同步地切换极大似然译码处理。例如，在上述第1方法中从Al变更为A2时，变更用于译码处理的阈值，使其在A2中成为最优。另外，在上述第2方法中，变更用于译码处理的阈值以及译码规则，使其成为最优。0078可变极大似然译码部9例如是维特比译码器，其采用根据按照局部响应类型有意附加的码的规则来推定最似然的系列的极大似然译码方式，对由可变PR均衡部8进行PR均衡后的再现信号进行译码然后输出二进制数据。该二进制数据作为解调二进制信号向后级电路(省略图示)输出，并执行规定的处理，来再现信息记录介质1中所记录的信息。0079向信号评价指标运算部10输入从可变PR均衡部8输出的已波形整形后的数字再现信号和从可变极大似然译码部9输出的二进制信号。信号评价指标运算部10根据二进制信号来判别状态转变，并利用判别结果和分支度量(bmnchmetric)来执行表示译码结果可靠性的(式l)运算。此外，信号评价指标运算部10还根据二进制信号，按照标记长和空白长的每个组合来分类上述运算结果。例如，按照上述表1所示的18图形及表4所示的8图形中的每个图形(按照记录标记的始终端沿的每个图形)来生成脉冲信号并向沿移动检测部11输出。0080沿移动检测部11按照每个图形对上述运算结果进行累加，并求出从调整记录标记的沿位置的参数的最优值处开始的偏移(也称为沿移动)。0081光盘控制器部12根据每一图形的沿移动量来变更被判断为需要变更的记录参数(记录信号的波形)。此外，光盘控制器部12将用于变更PRML特性的控制信号向可变PR均衡部8、可变极大似然译码部9以及信号评价指标运算部10输出。可变PR均衡部8、可变极大似然译码部9以及信号评价指标运算部10有处理以及运算根据PRML的特性变更而不同的情况，所以通过光盘控制器部12进行同步变更。0082图形产生部13输出用于调整记录标记沿的记录图形。记录补偿部14根据从光盘控制器部12接收到的记录参数和记录图形来生成激光发光波形图形。激光驱动部15根据已生成的激光发光波形图形来控制光头部2的激光发光动作。0083接着，更详细地说明光盘装置ioo的动作。在执行记录参数调整时，光盘控制器部12指示记录补偿部14执行在光盘介质的控制数据等中所记载的记录参数的初始值以及从该初始值多级偏移后的尝试记录。光盘控制器部12将多个图形的记录参数输出至记录补偿部14。图形产生部13输出用于调整记录标记沿的记录图形。记录补偿部14根据从光盘控制器部12接收的记录参数和记录图形来生成激光发光波形图形。激光驱动部15根据已生成的激光发光波形图形来控制光头部2的激光发光动作。经过此一连串的处理，用于记录沿调整的尝试记录结束。接着，再现已尝试记录的区域。0084光盘控制器部12指示可变PR均衡部8、可变极大似然译码部9以及信号评价指标运算部10成为PR1221ML特性。可变PR均衡部8进行波形整形，使输出波形成为PR1221特性。可变极大似然译码部9将用于分支度量计算时的阈值变更为PR1221ML用，将状态数限制为6个状态，将分支度量的转变通路限制为10。0085信号评价指标运算部10为了能够运算PR1221ML用的再现信号评价指标M，而根据表4所示的状态转变通路来运算上述(式1)(式3)，并将运算结果输出给沿移动检测部11。沿移动检测部11按照标记长和空白长的每一组合来累计运算沿移动量，并输出至光盘控制器部12。光盘控制器部12根据累计的沿移动量来求出调整记录标记沿的参数的最优值，并向记录补偿部14输出最优参数。经过该一连串的处理，可求出调整记录标记沿的参数的最优值。0086另外，在执行用户数据等的再现的情况下，光盘控制器部12指示可变PR均衡部8以及可变极大似然译码部9成为PR12221ML特性。可变PR均衡部8进行波形整形，使输出波形成为PR12221特性。可变极大似然译码部9将用于分支度量计算时的阈值变更为PR12221ML用，将状态数限制为IO个状态，将分支度量的转变通路限制为16。可变极大似然译码部9对再现信号进行译码后输出二进制数据。该二进制数据作为解调二进制信号向后级电路(未图示)输出，并执行规定的处理，来再现信息记录介质1中所记录的信息(影像，声音，文字信息等)。0087另外，当执行用于测定记录区域的记录品质的再现时，光盘控制器部12指示可变PR均衡部8、可变极大似然译码部9以及信号评价指标运算部10成为PR1221ML特性。可变PR均衡部8进行波形整形，使输出波形成为PR12221特性。可变极大似然译码部9将用于分支度量计算时的阈值变更为PR12221ML用，将状态数限制为IO个状态，将分支度量的转变通路限制为16。0088信号评价指标运算部10为了能够运算PR12221ML用的再现信号评价指标M，而根据表1表3所示的转变通路来进行上述(式1)(式3)的运算，并将运算结果输出至沿移动检测部11。沿移动检测部11按照表l表3所示的每一转变通路来累计运算信号评价指标M，并输出至光盘控制器部12。光盘控制器部12可根据累计的信号评价指标M来判断记录区域的记录品质。在此情况下，沿移动检测部11不是仅累计沿移动的模块，也可以作为累计信号评价指标M的模块来使用。0089这样，在调整记录参数时(尤其，在调整标记与空白的边界部分的沿位置所涉及的参数时)，选择记录特性最优的PRML特性来调整记录参数，使介质的记录品质最优化。由此，能够容易地达成系统记录的裕量确保。0090当执行采用了PR12221ML的沿位置调整时，调整2T标记或3T标记等的标记长使其变小，结果，记录裕量减少(记录功率偏移、策略偏移的容许范围变窄)，根据再现信号生成同步信号的PLL有时变得不稳定。另外，特别是当进行2T标记或3T标记等短标记縮小的记录时，信号评价指标抖动极端恶化，再现系统中采用了PRML方式以外的其它判别方式(例如电平判别方式)的装置有时难以进行再现，光盘介质的互换成为问题。因此，在沿调整时通过采用PR1221ML，可将2T标记以及3T标记等的标记长(或标记位置)调整为适当长度的标记长，从而能够实现使记录裕量成为最大限的记录、根据再现信号生成同步信号的PLL的稳定性、光盘介质稳定的互换性维持。0091如上所述，在再现的情况(访问用户区域来再现信息的情况)下，选择再现性能最高的PRML特性进行再现，由此能够将系统的再现裕量扩大到最大限。0092如上所述，在执行用于测定记录区域的记录品质的再现时，可通过计算用于再现时的PRML特性的信号评价指标M等来识别系统的再现性能。通过采用该指标M确认系统裕量，可判断在装置侧是否能够支持已插入光盘装置的介质的记录状态及记录性能等。例如，可根据改变记录功率进行尝试记录的区域的信号评价指标M的值变化以及用最优记录参数记录的区域的信号评价指标M的值来判断。0093另外，可釆用信号评价指标M来进行伺服参数(聚焦位置参数，球面像差(sphericalaberration)位置参数，跟踪位置参数等)的最优化。在希望指标M的值随着参数变化而敏感变化的情况下，可切换调整为用于再现的PRML特性以外的再现性能比上述特性差的PRML特性。例如，在改变参数后找到评价指标M变化的谷来提取参数的最优值的方法中，因为能够在较少的参数变化中找到谷，所以能够防止在参数大幅变化时有可能产生的伺服偏离等状态，从而能够实现系统的稳定化。0094图10示出各PRML特性的指标M与聚焦参数的关系。与PR1221M相比，PR12221ML—方示出高的再现性能，在此情况下利用PR1221ML的指标M来调整聚焦参数能够在参数变化小的范围内高精度地检测指标M的谷。0095图11示出进行这样的伺服参数最优化的光盘装置200。光盘装置200的构成要素与光盘装置IOO(图l)的构成要素大致相同，不过为了使说明简单而省略一部分构成要素的图示。光盘装置200还具有伺服控制部16。0096伺服控制部16进行光头部2的位置控制、聚焦位置控制、球面像差位置控制以及跟踪位置控制等向光盘介质的特定位置访问时所需的控制。光盘控制器部12将聚焦参数的最优值(图IO)向伺服控制部16输出。伺服控制部16采用该参数来控制聚焦位置。不仅聚焦位置参数，连球面像差位置参数、跟踪位置参数等也同样地求出，通过使各伺服参数成为最优，可实现光盘装置的记录再现动作的稳定化。伺服参数的最优化不仅能够对再现时的伺服参数进行，也能够对记录时的伺服参数进行。0097另外如上所述，信号评价指标的运算根据PRML特性而不同，所以在PRML特性切换的同时，信号评价指标的运算也切换为适合已选择的PRML特性的运算。0098这样，在记录调整时、再现时、以及信号品质测定用的再现时等中，可通过按照不同用途切换PRML特性，来容易地实现各种记录参数的最优化、再现性能的最优化、以及各种再现参数的最优化，由此，能够提供记录品质以及再现性能高、互换性高的光盘装置。0099在上述说明中，作为PRML方式举出了PR1221ML方式和PR12221ML方式进行了说明，但本发明不限于此。即使是可实施本发明主旨的其它PRML方式的组合也能够同样获得本发明的效果。OIOOJ另外，尝试记录并非必要，根据以初始值的记录参数记录的信息来检测沿偏移，可补正记录参数。0101另外，可变PR均衡部8具有FIR(FiniteImpulseResponse)滤波器结构，采用LMS(TheLeast-MeanSquare)算法可自适应地控制抽头(tap)系数(参照非专利文献2)。0102另外，根据在光盘介质中记录信息时的记录密度可切换PRML特性。此时作为结果，可在全部的情况下选择相同的PRML特性。0103另外，根据PRML特性的切换，光盘控制器部12可切换波形均衡部5的均衡特性。波形均衡部5的波形均衡因为在PLL部7的前级对波形进行整形，所以具有确保PLL的稳定性这样的作用和使可变PR均衡部8的输出特性良好这样的作用。通过与将PRML特性切换成高频域强调型或非高频域强调型同步地切换波形均衡部5的波形均衡特性，能够确保PLL的稳定性，并且使可变PR均衡部8的输出特性良好。在该两个特性不同时成立的情况下，可将波形均衡部设计成PLL用和PRML用两种。在从PR1221ML切换为PR12221ML方式的情况下，可提高PLL用波形均衡部的特性的增益(例如，为提高高频域频率振幅的特性)，降低均衡用波形均衡部的特性的增益(例如，为降低高频域频率振幅的特性)。另外，可仅进行PLL用的波形均衡。可以将波形均衡部5配置在A/D变换部6的后级，并作为数字波形均衡部发挥作用。另外，在上述说明中，调整了与沿移动相关的记录参数，但调整的记录参数没有特别限定。调整的记录参数可以是记录信号波形的始端位置及终端位置、记录波形的高度(记录功率)。即，如果标记的沿位置能调整，则可以是任意的记录参数。另外，调整的记录参数还可以是记录功率。可根据沿的偏移方向以及偏移量来算出标记长，可调整记录功率，使该标记长成为规定长度。0105另外，图1所示的前置放大部3、AGC部4、以及波形均衡部5可构成为一个模拟集成电路(LSI)。A/D变换部6、PLL部7、可变PR均衡部8、可变极大似然译码部9、信号评价指标运算部10、沿移动检测部11、光盘控制器部12、图形产生部13、以及记录补偿部14可构成为模拟数字混载的一个集成电路(LSI)。当然，该模拟数字混载的集成电路可含有前置放大部3、AGC部4、以及波形均衡部5。激光驱动部15可构成为一个驱动器LSI，并组装入光头部2内。0106此外，上述的光盘装置100以及200是记录再现装置，不过也可以是再现专用装置，在此情况下可省略图形产生部13和记录补偿部14。另外此时，作为上述模拟数字混载集成电路的1个模块可包含伺服控制部16。在光盘装置100中可追加伺服控制部16。这些光盘装置的结构例不限于本发明，还可以是其它结构。0107另外，记录调整、再现以及信号品质测定用的再现例如可通过记录访问指令、再现访问指令、测定访问指令等各个访问指令来识别。0108(实施方式2)图12是表示本发明第2实施方式的光盘装置300的图。光盘装置300除了记录条件调整部102含有的构成要素不同之外，具有与光盘装置IOO(图l)相同的构成要素。0109光盘装置300的信号评价指标运算部10进行针对表1所示的图形的评价指标的运算(检测)、针对表2所示的图形的评价指标的运算(检测)、针对表3所示的图形的评价指标的运算(检测)。通过评价指标的运算来检测评价指标的值。光盘装置300还具有选择部17。选择部17选择将运算结器部12输出。0110选择部17接收来自光盘控制器部12的控制信号，选择输出表1表3所示的图形中的哪个图形的信号评价指标的检测结果。既可以选择表1表3所示的图形中的全部，也可以选择一部分。0111接着，说明对33.3GB/层记录线密度的BD(Blu-rayDisc)调整记录参数时的再现处理以及通常用户区域的再现处理。0112光盘控制器部12对PRML检测部104的可变PR均衡部8以及可变极大似然译码部9指示选择PR12221ML方式。另外，光盘控制器部12对选择部17指示仅输出信号评价指标运算部10中的表1图形评价指标检测结果。0113光盘控制器部12将该检测结果识别为信号评价值，并识别在记录区域的再现中获得的再现数字信号的信号品质。0114PR12221ML方式这样的高次PRML方式是为了在码间干涉的影响下识别再现信号而采用更长区间的波形图形来识别再现信号波形的方式。这里，当比较示出在PR12221ML中最易于弄错的图形的表2以及表3、和示出在PR1221ML中最易于弄错的图形的表4时，所谓更长区间是指以最小波形距离合流的通路距离较长的区间(时间K的推移较长)。所谓波形距离在此是表示有可能成为进行维特比译码时的基准的波形的两个波形的分离状况的表现。此外，所谓最易于弄错的图形是指以最小波形距离合流的通路的图形。0115表2所示的评价图形是与2T标记(或2T空白)对应的2T信号孤立的图形，所以具有2T信号的始端和终端这两个沿(零交叉信息)。零交叉信息表示信号的零交叉部分。因为从一个图形中分离一个零交叉信息的误差后无法检测，所以在关注于零交叉信息按照每一标记长来调整记录参数时，难以个别地调整零交叉部分。0116表3所示的评价图形包含2T信号连续的图形和2T信号的前或后不是2T信号的图形，其具有多个零交叉信息。因为从一个图形中分离一个零交叉信息的误差后无法检测，所以在关注于零交叉信息按照每一标记长调整记录参数时，难以个别地调整零交叉部分。0117表1所示的评价图形虽然不是在PR12221ML中最易于弄错的图形，但却是仅具有一个零交叉信息的图形。因为从一个图形中分离一个零交叉信息的误差后无法检测，所以在关注于零交叉信息按照每一标记长调整记录参数时，可个别地调整零交叉部分。0118PR12221ML方式是在最小差值度量的合流通路中含有多个零交叉信息(零交叉部分)的PRML方式，在本实施方式中，采用该PR12221ML方式来计算再现数字信号的信号品质。此时，仅采用在非最小差值度量的合流通路中只含有一个零交叉信息的状态转变图形，来计算评价指标，检测信号品质。在该非最小差值度量的合流通路中只含有一个零交叉信息的状态转变图形是表l所示的状态转变图形。尤其，在采用在信号的零交叉部分具有信息的标记沿记录方式的光盘介质中，该零交叉部分的检测以及评价为对记录区域品质的评价以及调整非常重要的要素。0119此外，图12所示的可变PR均衡部8以及可变极大似然译码部9可以不是能够进行PRML方式切换的结构。例如，可以是固定为PR12221ML方式的结构。01201在进行介质评价时，作为信号评价指标采用了与错误率最相关的指标(与最易于弄错的图形对应的指标)。但是，如表2以及表3所示，由于预先可知与最短标记相关的图形，所以能够进行信号处理程度的对应。重要的是与在信号处理中无法应对的SN、删除特性、档案(archival)特性(记录品质的维持，随着时间变化的消除难度)等相关的应对。采用与零交叉相关的信息来进行这些特性是否良好的判定。因此，无论是哪种高次PRML方式，在每次评价记录状态时，都希望选择适合光盘介质记录方式的图形来进行评价。0121考虑到有可能伴随着记录线密度的提高而产生的码间干涉以及SNR恶化等，需要选择最优的PRML方式。在本实施方式中，在达到规定的记录线密度之前采用PR1221ML方式，当再现规定以上的记录线密度的记录信息时，采用PR12221ML的方式。0122参照图13以及图14对BD的记录线密度进行说明。即使在BD中，也与DVD(DigitalVersatileDisc)同样，将数据作为由于记录层的物理变化而产生的标记列记录在磁道131上。在该标记列中长度最短的标记是最短标记132，在25GB记录容量的BD的情况下，其物理长度是0.149nm。这相当于DVD的最短标记长的约1/2.7，即使改变光学系统的波长参数(405nm)和NA参数(0.85)来提高激光的分辨率，也接近于可识别记录标记的极限即光学分辨率的极限。此外，标记的最短标记长是2T，空白的最短空白长也是2T。0123图13表示在磁道131上记录的标记列中形成有光束点133的状态。在BD中基于光学系统参数，光点133的直径约为0.39pm左右。在不改变光学系统的构造使记录线密度提高的情况下，记录标记相对点径较小，因此再现分辨率变差。0124照射光束来再现记录标记时的再现信号振幅随着记录标记变短而降低，在光学分辨率的极限处为零。可将该记录标记周期的倒数称为空间频率，将空间频率与信号振幅的关系称为OTF(OpticalTransferFunction)。信号振幅随着空间频率变高而近似直线地降低，将振幅为零的再现极限称为OTF截止(cutoff)。图14表示25GB记录容量的BD的OTF与最短记录标记之间的关系。当BD的最短标记的空间频率相对OTF截止频率(为OTF截止的空间频率)为80%时，接近于OTF截止频率。另外，最短标记的再现信号振幅约为10%,从而非常小。BD的最短标记再现为OTF截止、即再现振幅几乎没有的记录线密度在BD中相当于约31GB。0125当最短标记的空间频率为OTF截止频率附近、或为超过该频率的频率时，有时也会达到光学分辨率的极限或超过该光学分辨率的极限，再现信号的再现振幅变小，SNR急剧恶化。0126如果是BD，则将切换PR1221ML方式和PR12221ML方式的记录密度设为相当于31GB的记录线密度。最短标记的空间频率为OTF截止频率的记录线密度在计算上是31.8GB，优选在小于31.8GB的线密度阶段切换PR1221ML方式和PR12221ML方式。0127此外，切换的记录线密度除了考虑激光分辨率之外还要考虑与介质所具有的记录特性相关的SNR等，既可以是比31GB低的密度，也可以是比31GB高的密度。0128信息记录介质1的每一记录层的记录线密度例如是31GB以上，也可以是31.8GB以上。例如，记录层每1层的记录线密度约为33.3GB。信息记录介质1可具有3层以上的记录层，3层记录层总计的记录线密度约为100GB。*0129另外，上述PRML方式仅是一例，不限定于此。可选择与记录线密度相应的PRML方式。0130如上所述，在采用在信号的零交叉部分具有信息的标记沿记录方式的光盘介质中，该零交叉部分的检测以及评价为对记录区域品质的评价以及调整非常重要的要素。对采用了该零交叉部分的信号评价方法的一例进行说明。0131光盘装置300(图12)的信号评价指标运算部10计算表1图形评价指标(针对表1所示的图形的信号评价指标)后进行检测，检测结果按照标记长和空白长的每一组合来进行分离。由该分离可知每个图形的沿偏移及SNR。作为计算例可进行本发明实施方式1说明中示出的(式l)运算，并将运算结果用作类似抖动的分布的指标。0132图15表示对于表1所示的图形进行信号评价指标的运算(式l)的结果的分布(指标D的值的分布)。横轴是(式l)求出的D的值，纵轴是其频度。在PR12221ML方式的情况下，(式l)中的d的平方是14。0133图15(a)示出分布平均值近似为0、标准偏差ci也为较小值的分布，是表示再现信号品质良好的例子。图15(b)示出标准偏差0为比较小的值，示出分布平均值偏移的分布，是相应图形引起沿偏移的例子。图15(c)示出分布平均值近似为O、标准偏差ci为较大值的分布，是表示相应图形的沿的SNR较差的例子。如果采用这些评价方法按照标记长和空白长的每个组合分离后对信号品质进行分析，则能够高精度地评价在光盘介质中形成的记录标记的品质。在信号品质评价处理中，根据计算出的信号品质来决定再现数字信号的SN比的程度和沿移动的程度的至少一方。根据计算出的品质评价指标值分布的平均值，可决定再现数字信号的沿移动的程度。另外，根据计算出的品质评价指标值分布的标准偏差，可决定再现数字信号的SN比的程度。0134然后，可根据该评价结果来变更并记录记录参数，使标记长和空白长的每个组合的沿偏移及SNR良好。这里，所谓沿偏移良好是指分布平均值尽量接近于O，所谓SNR良好是指标准偏差a变小。例如，光盘控制器部12从信号评价指标运算部IO接收评价结果，判断可变更哪个记录参数，并向记录补偿部14输出该变更后的参数。记录参数包含记录功率参数、记录脉冲位置参数等。另外，采用这些评价结果，可进行上述的伺服参数(聚焦位置参数，球面像差位置参数，跟踪位置参数等)的最优化。0135作为评价方法可分离沿偏移和SNR后分别进行评价，或包含双方地进行评价，或按照每个图形分离运算结果后进行评价。0136作为这些评价值的目标应设定在可充分确保系统裕量的范围内，只要利用TW使(式l)中求出的D的方差值标准化，就可以作为与错误率相关的评价值使用。这里，TW是2xd的平方。例如，可将总指标的目标值设为10%，在目标中依据每个要素进行评价。例如，可将沿偏移的目标值作为4.3%进行评价。另外，可将SNR的目标值作为9y。进行评价。0137(实施方式3)接着，对本发明第3实施方式的信息记录介质进行说明。图16是表示本实施方式的信息记录介质1的图。信息记录介质1被装入上述光盘装置100300中。0138在图16中作为信息记录介质1的一例示出多层的相变化薄膜光盘介质，不过也可以是仅具有1层记录层的单层构造的光盘介质。图16所示的信息记录介质1具有n层(n为2以上的整数)的记录层。信息记录介质1从激光2a(图1)的照射侧起具有盖层(保护层)162、记录层LnL0、和聚碳酸酯基板161。另外，在记录层LnLO之间插入作为光学缓冲材料发挥作用的中间层163。基板161的厚度例如是l.lmm。盖层(保护层)162的厚度例如是10^im200pm，最好是100pm以下。0139激光2a(图l)的照射方向164是从光头部2向信息记录介质1的盖层162的方向，激光2a从信息记录介质1的盖层162侧向信息记录介质1内入射。0140这样提出了如下的方案通过一边维持每1层的记录容量一边作成多层构造，来增加每一个信息记录介质的记录容量。但是，记录层的多层化有时给再现动作带来各种各样的影响。例如，因多层化而产生由无法使穿透率平衡最优化引起的反射率降低、由中间层幅度变小导致的层间串扰(crosstalk)所引起的SNR降低、由光头部的结构引起的基于杂散光的SNR降低等。优选适当定量地测定这些SNR的方法。0141在采用上述表2以及表3所示的图形的评价方法中，能够可靠地获得与错误率相关的评价值。但是，由于记录条件，无法适当地评价SNR成分。如上所述，表2以及表3所示的图形包含2T信号的孤立图形或2T信号的重复图形。PR12221ML方式是期待2T振幅再现为O(波形的中心电平)这样地进行再现的方式。因此，在没有沿偏移、SNR也良好的记录状态下，当评价2T信号的DC电平有较大偏移这样的再现信号波形、即非对称(asymmetry)波形时，评价指标受到DC电平偏移的较大影响。因此，当采用表2以及表3所示的图形时，在评价有非对称(asymmetry)性的波形的情况下，有时无法适当高精度地评价SNR的影响。因此，在本发明中如上所述，可通过采用表l所示的图形进行评价，来适当地评价介质特性及光头部特性。0142此外在上述说明中，举出多层构造介质的课题来说明了与其相对的本发明效果，本发明在仅具有1层记录层的单层构造介质的评价中也是有用的。另外，不仅仅是记录型信息记录介质，在ROM(ReadOnlyMemory)型信息记录介质的评价中本发明也是有用的。0143(实施方式4)在上述盘的评价方法中，作为关注于最重要的标记形成所涉及的沿部的指标，仅釆用PR12221ML方式中的在非最小差值度量的合流通路中只含有一个零交叉信息的状态转变图形来计算评价指标，以检测出信号品质。具体地说，在非最小差值度量的合流通路中只含有一个零交叉信息的状态转变图形是表1所示的状态转变图形。作为盘的评价方法只要以表1的图形为主进行评价就足够了，但为了成为与错误率更相关的信号评价指标，在PR12221ML信号处理中，优选作成全部考虑了错误产生的可能性高的图形的评价指标。0144图17是PR12221ML信号处理中的差值度量的分布图。横轴示出欧几里德距离的平方，纵轴示出其频度。图17示出欧几里德距离的平方越小，在PR12221ML信号处理中越能够掩饰成为错误的可能性。由该图17可知，欧几里德距离的平方在12和14部分具有分布组，比此更高值的组只在30以上。即可知，为了成为与错误率有高相关的信号指标，只要关注于欧几里德距离的平方为12和14的组就足够了。该组即表l、表2以及表3的图形。0145图18示出采用表1的图形、表2的图形、以及表3的图形时的上述(式l)的差值度量部IPa-Pbl的方差状况，横轴示出欧几里德距离的平方，纵轴示出其频度。图18的分布(A)仅是欧几里德距离的平方为14的表1图形的分布例，其大致分布为以欧几里德距离的平方14为中心。图18的分布(B)仅是欧几里德距离的平方为12的表2图形的分布例，其大致分布为以欧几里德距离的平方12为中心。图18的分布(C)仅是欧几里德距离的平方为12的表3图形的分布例，其大致分布为以欧几里德距离的平方12为中心。0146在表1的图形、表2的图形和表3的图形中欧几里德距离也不同，由表中的0以及1的系列可知，错误产生个数也不同。欧几里德距离的平方为14的表1图形是产生1比特错误的图形，欧几里德距离的平方为12的表2图形是产生2比特错误的图形，欧几里德距离的平方为12的表3图形是产生3比特以上的错误的图形。尤其，表3图形依赖于2T连续个数，例如，如果是容许到6个连续的记录调制码，则成为最大产生6比特错误的图形。在表3中，虽然没有表现到6比特错误，但能够扩展2T连续的图形。为了使说明简单，在表3中省略。0147另外，在各表的图形中，记录调制码系列中的产生概率也不同。例如，在表1的图形中针对全部采样约为40%左右的产生频度，在表2的图形中针对全部采样约为15%左右的产生频度，在表3的图形中针对全部采样约为5%左右的产生频度。0148在图18的分布(A)、(B)、(C)中，因为表示偏差的标准偏差o、检测窗口(欧几里德距离)、产生频度、与错误比特数相对的权重不同，所以对错误的影响不同。0149这里，关于根据这3个信号分布来获得与错误相关高的信号指标的方法，说明一例。0150(式4)表示采用表1的图形来求出差值度量的式子。这里，对差值度量进行简单地说明。通过PRML处理，由从盘中再现的再现信号来生成二进制信号。根据该二进制信号来检测表l中任意的记录码图形，将该图形设为正确图形，算出与该正确图形对应的PR均衡理想值(理想信号)。此外，还算出与正确图形对比的错误图形和与该错误图形对应的PR均衡理想值。0151例如在表1中，当将正确图形设为(O，0，0，0，1，1，1，0，o)时，与该正确图形对应的PR均衡理想值为(l，3，5，6，5)。另一方面，当错误图形为(O，0，0，0，0，1，1，0，O)时，与该错误图形对应的PR均衡理想值为(O，1，3，4，4)。在此情况下，欧几里德距离的平方值为正确图形与错误图形的PR均衡理想值之差的平方即14。0152接着，求出再现信号系列和与正确图形对应的PR均衡理想值之差的平方值，将其设为PB。同样，求出再现信号系列和与错误图形对应的PR均衡理想值之差的平方值，将其设为PA。然后，求出其差值PA-PB。利用正确图形与错误图形的PR均衡理想值之差的平方值(14)来补偿(offset)该差值信息。这是与(式4)相当的运算。当然，这里虽然用正确图形与错误图形的PR均衡理想值之差的平方值(14)来进行补偿，但并非必需。在运算上记载为分布中心是0。0153此外，可将PB作为正确图形的期待值和信号的距离的计算结果，将PA作为与正确图形对应的错误图形的期待值和信号的距离的计算结果。在此情况下，PA-PB的计算结果为以理想的欧几里德距离的平方值14为中心的分布，不需要如(式4)所示出的绝对值运算。0154同样，(式5)示出采用表2的图形来求出差值度量的式子。(式6)示出采用表3的图形来求出差值度量的式子。数4<formula>formulaseeoriginaldocumentpage42</formula>(式4)数5<formula>formulaseeoriginaldocumentpage42</formula>(式5)数6<formula>formulaseeoriginaldocumentpage42</formula>(式6)0155当将求出的差值度量的分布假定为高斯分布时，产生错误的概率(bER)可根据采用了分布的ci(方差)的(式7)求出。数7，v<formula>formulaseeoriginaldocumentpage42</formula>(式7)0156p是分布的成分相对于全部通道点(channdpoint)的产生概率。基于表1图形的差值度量可由(式4)算出，该分布例是图18的分布(A)。由该分布求出的在表1图形中产生的错误产生概率可根据(式8)求出。it8<formula>formulaseeoriginaldocumentpage42</formula>(式8)0157p"是分布的成分相对于全部通道点的产生概率。另外，在表1图形中产生的错误是1比特错误，所以乘1。0158基于表2图形的差值度量可由(式5)算出，该分布例是图18的分布(B)。由该分布求出的在表2图形中产生的错误产生概率可根据(式9)求出。数9f"<formula>formulaseeoriginaldocumentpage43</formula>0159PUA是分布的成分相对于全部通道点的产生概率。另外，在表2图形中产生的错误是2比特错误，所以乘2。0160基于表3图形的差值度量可由(式6)算出，该分布例是图18的分布(C)。由该分布求出的在表3图形中产生的错误产生概率可根据(式IO)求出。数10f^磁122}=3xp12flx|°——e2。'2,血(式10)0161PUB是分布的成分相对于全部通道点的产生概率。另外，在表3图形中产生的错误是3比特错误，所以乘3。0162当求出在表1图形、表2图形和表3图形的全部图形中产生的错误产生概率时，可通过使(式8)、(式9)和(式IO)相加来求出。当将总错误率设为bER(All)时，bER(All)可由(式ll)示出。数ll<formula>formulaseeoriginaldocumentpage43</formula>(式11)0163即使在(式ll)中也能够充分地定义为信号指标，可成为与实际错误相关的信号指标。但是，当考虑光盘装置评价方法的互换等时，优选类似抖动且与错误率相关的指标。因此，将用(式ll)求出的错误率输入到(式7)的左边来逆算a，在规定的窗口中使求出的cj标准化。由此，能够获得与错误率相关、类似抖动且容易使用的信号指标。此时，(式7)的p是利用P"、P!2A和P!2B的相加求出的、分布成分相对于全部通道数的产生概率。(式7)可变形为(式12)。<formula>formulaseeoriginaldocumentpage44</formula>这里，erfc()是互补误差函数(complementaryerrorftmction)的积分值。这里，将信号指标的定义式设为(式13)。<formula>formulaseeoriginaldocumentpage44</formula>当将该(式13)代入(式12)时，(式12)可表示为(式14<formula>formulaseeoriginaldocumentpage44</formula>0166通过采用(式14)，可使(式ll)所算出的错误率和(式13)所定义的信号指标M相关联。此外，本发明不限于该信号指标M的定义。0167本发明提供与错误率非常相关的信号评价方法以及评价指标，其关注于PRML信号处理中的欧几里德距离比较小的合流通路的图形。并且，从产生概率不同、产生的错误比特数不同的多个图形组的分布中生成一个信号评价指标。因此，从各个分布中求出错误产生概率，算出这些的总和，根据算出的错误率来计算总的cr，作为信号评价。0168图19是表示附加了倾斜(tilt)、散焦(defocus)及球面像差等再现应力(stress)时的比特错误率和(式13)的信号指标值[%]的仿真结果例。图上的实线是可根据(式14)求出的理论曲线。由此可知，即使在实际仿真中，错误率和信号指标M的相关也大致与理论曲线匹配，本发明的信号评价方法以及指标在适当评价再现信号这样的观点下是非常有效的。0169此外，在上述中说明了将PRML信号处理中的欧几里德距离比较小的合流通路的图形大致分成三个图形组来计算信号评价指标的计算例，不过本发明不限于此。在表1中将欧几里德距离的平方为14的图形作为一个组来使用，但也可以将表1依照每个图形特征进一步分类后计算差值度量(相当于(式4》，并进行预测错误率计算滩当于(式8))。所谓依据每个特征的图形分类，作为一例是指记录标记的始端、终端等的分类。另外还存在所记录的记录标记不适当而检测出非线性失真的再现波形的情况。在其情况下，当按照表1所示的每个图形示出图15的分布时，产生分布不是高斯分布的情况以及如图15(b)那样分布中心有较大偏移的情况。在将这样的图形作为一个图形组使用时，有PRML信号处理的性能(比特错误率)和由(式13)获得的信号指标值之间的相关性变差这样的情况。这样，可对具有特征的图形组进一步分类，来计算本发明的信号指标值。即使针对表2、表3的图形也同样能够对具有特征的图形组进行分类，来计算本发明的信号指标值。0170此外，作为依据每个特征的图形分类，在表2中可分类成含有孤立的2T标记的组和含有孤立的2T空白的组。在表3中可分类成含有2T标记2T空白的组和含有2T空白2T标记的组。0171此外，图形分类不限于上述例。在表1表3中可选择与PRML信号处理的性能(比特错误率)相关高的图形分类。在上述中，对信息记录介质的评价方法进行了说明。接着，对记录信息记录介质的评价装置进行说明。0173在上述实施方式的说明中，采用图12对再现信号评价装置的构成例和该构成要素功能进行说明，这里说明在图12的再现信号评价装置中与上述实施方式的说明不同的动作。0174图12的信号评价指标部IO具有根据从PRML检测部输出的二进制数据来检测表l中的某个记录码图形的图形检测部。具有算出部，该算出部将图形检测部所检测出的图形作为正确图形，算出与该正确图形对应的PR均衡理想值，还算出与正确图形对比的错误图形和与该错误图形对应的PR均衡理想值。0175例如，在表1中，当将正确图形作为(O，0，0，0，1，1，1，0，0)时，与该正确图形对应的PR均衡理想值为(l，3，5，6，5)。另一方面，当将错误图形作为(O，0，0，0，0，1,1，0,O)时，与该错误图形对应的PR均衡理想值为(O，1，3，4，4)。在此情况下，欧几里德距离的平方值是正确图形与错误图形的PR均衡理想值之差的平方即14。此外，本发明不限于如表中所示的理想值的固定化，在与根据再现信号来改变该PR均衡理想值的信号处理相对应的情况下，可以不是表中所示的固定值，而是根据再现信号进行更新的结构。0176接着，求出再现信号系列和与正确图形对应的PR均衡理想值之差的平方值，并将其作为PA。同样，求出再现信号系列和与错误图形对应的PR均衡理想值之差的平方值，并将其作为PB。信号评价指标部10具有运算部，该运算部进行以下的运算算出它们的差值PA-PB，并利用正确图形的PR均衡理想值与错误图形的PR均衡理想值之差的平方值(14)来补偿该差值信息。0177在表2以及表3的图形中也进行与表1的图形相同的处理。这些处理是相当于上述(式4)、(式5)、(式6)的运算处理。此外，图12的信号评价指标部10具有用于检测表1图形、表2图形和表3图形的产生频度的图形检测个数计数器。例如是只要由上述检测部检测出表l图形中的任意图形就使计数器增加1的结构。0178图12的光盘控制器12从信号评价指标部10取得在信号评价指标部10中检测以及运算出的与(式4)、(式5)、(式6)相当的值和每个表的个数，来算出产生概率。采用上述(式8)、(式9)、(式10)、(式11)，由各图形组的方差来算出计算上的错误率。采用(式14)由已取得的比特错误率来算出信号指标M。0179在上述(式8)、(式9)、(式IO)中求出的各图形组的估计错误率不特别限定于上述内容。上述内容根据各图形组的d、产生概率和错误数的权重来推定比特错误率。可以是如专利文献4中所介绍的、求出特定图形组的差值度量值已超过规定阈值(在专利文献4中为SL)的数量并根据该求出的数量来推定比特错误率的方法。根据本发明的实施方式，对由图形组的差值度量值来推定各个组的比特错误率的方法进行说明。0180图20示出在图18中所说明的差值度量的各图形组的分布图。分布(A)是上述表1所示的欧几里德距离的平方为14的图形，分布(B)是上述表2所示的欧几里德距离的平方为12的图形，分布(C)是上述表3所示的欧几里德距离的平方为12的图形。0181进行差值度量的计算(Pa-Pb)。Pb是所检测的图形与再现信号的平方距离，Pa是与所检测的图形对比出错的图形和再现信号的平方距离。由此，所检测的差值度量越小，产生错误的概率越大。图20的各分布接近于0的下降边表示错误产生概率大的情况。这里，计算差值度量Pa-Pb为规定以下的错误数。0182例如，累计检测出图20的分布(A)所示的欧几里德距离的平方为14的图形的次数，获得计数值C14。此外，还累计差值度量Pa-Pb是THl(例如，是欧几里德距离的平方的一半即7)以下的次数，获得计数值TH14。0183累计检测出图20的分布(B)所示的欧几里德距离的平方为12的图形的次数，获得计数值C12A。此外，还累计差值度量Pa-Pb是TH2(例如，是欧几里德距离的平方的一半即6)以下的次数，获得计数值TH12A。0184累计检测出图20的分布(C)所示的欧几里德距离的平方为12的图形的次数，获得计数值C12B。此外，还累计差值度量Pa-Pb是TH2以下的次数，获得计数值TH12B。0185求出已获得的各图形组的检测次数和超过规定阈值的次数，并根据该次数，算出按照每个图形组推定的比特错误率。0186例如，图20的分布(A)所示的欧几里德距离的平方为14的图形组所产生的错误率，根据TH14/C14的计算结果来求出超过规定阈值的概率。因此，当假定为分布的平均值是O、标准偏差是1的正态分布时，可通过对标准正态累积分布函数(cumulativedistributionftinction)的反函数进行运算，来算出正态分布的a。此外，图20的分布(A)为0以下的概率可根据求出的(J使用标准正态累积分布函数来求出。此外，通过使已测定的数据量中的图20的分布(A)所示的欧几里德距离的平方为14的图形组的产生概率(在上述中表现为pw)和错误比特数(在14图形的情况下为l)相乘，可推定欧几里德距离的平方为14的图形组所产生的错误率。0187同样，通过使图20的分布(B)所示的欧几里德距离的平方为12的图形组的产生概率(在上述中表现为p,2A)和错误比特数(在12A图形的情况下为2)相乘，可推定欧几里德距离的平方为12的图形组所产生的错误率。0188同样，通过使图20的分布(C)所示的欧几里德距离的平方为12的图形组的产生概率(在上述中表现为P!2B)和错误比特数(在12B图形的情况下为3)相乘，可推定欧几里德距离的平方为12的图形组所产生的错误率。0189将各个图形组中取得的比特错误率相加、根据该错误率来逆运算ci并将该a用作信号指标的方法与上述本发明的实施方式所说明的方法相同。0190但是，该方法不是根据差值度量的计算(Pa-Pb)所获得的(j来推定错误率的方法，而是对差值度量的计算结果单纯超过规定阈值的次数进行计数并根据其结果来推测错误率的方法，与根据ci进行推测的方法相比，容易受到损伤及指纹等所代表的缺陷影响。因此，需要进行延长测定区间等的对策。这样，推定每个图形组所产生的错误率的方法不限于上述所说明的方法，也可以是这里所说明的方法。当然，不限于本实施方式所说明的两个比特错误率推定方法，也可以是其它方法。0191此外，作为装置的结构例，在检测图12的信号评价指标运算部10的差值度量的电路中设有规定的阈值。在各图形中，当差值度量为规定的阈值以下时，增加计数。0192另外，上述表3的2T连续图形的情况在上述中进行了说明，但产生的错误个数根据2T的连续个数而增加，因此可设置扩展了表3的图形评价指标检测部。0193此外，在评价的波形的2T连续个数频度(4次以上)明显比其它图形小时，对于上述表3图形检测范围的扩大(2T的连续个数检测范围)，即使不对其进行考虑，作为评价指标也几乎被认为是个问题，并可以忽略。但是，在评价2T连续个数的频度较多的图形时，优选考虑到2T的连续范围的结构。因为这些给该评价图形及环境带来了影响，所以每次要进行判断，由此可构成图形表以及电路。0194接着，在算出上述错误率的情况下，有将相同时刻的波形作为多个评价值来计数的情况，对这个课题和解决手段进行说明。针对用于评价信号品质的图形，在本实施例中，举出评价图形即表l、表2、表3的图形作为具体例进行了说明。表l，表2，表3的图形是重复的图形，有将相同时刻的波形作为多个评价值来计数的情况。在表1、表2、表3的评价图形组中，所产生的错误数不同，且对相同时刻的波形进行多个不同的加权评价，所以有可能无法根据信号品质来正确地算出评价值。0195以下，举出具体例来说明对策方法。在由维特比译码器再现的二进制图形为表2图形中第1个所记载的图形(记录码0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0)的2T孤立图形时，图21(a)以及(b)表示与该正确图形对应的错误图形的理想波形以及二进制图形。0196图21的波形C是正确图形的理想波形。在时刻7，在作为错误图形候选的表l中第l个所记载的图形(记录码0，0，0，0，1，1，1，0，0)的波形B与波形C之间，求出上述说明的评价值。0197同样，在时刻10，在作为错误图形候选的表1中第7个所记载的图形(记录码0，0，1，1，1，0，0，0，O)的波形A与波形C之间，求出上述说明的评价值。0198同样，在时刻IO，在作为错误图形候选的表2中第2个所记载的图形(记录码0，0，0，0,0，1，1，0，0，0，O)的波形D与波形C之间，求出上述说明的评价值。0199同样，在时刻9，在作为错误图形候选的表2中第1个所记载的图形(记录码0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，O)的波形D与波形C之间(在该例的情况下为正确图形的2时刻前的波形)，求出上述说明的评价值。0200这样，有将相同时刻的波形作为多个评价值来计数的情况。在该例中，波形C(为正确图形)与各波形之间的比较表示在与波形A比较时，是与2T的孤立大于终端侧1T、被判断为3T的可能性的比较。在与波形B比较时，是与2T的孤立大于始端侧1T、被判断为3T的可能性的比较。在与波形D比较时，是与判断为2T的孤立在延迟时间轴方向上移动2T的可能性的比较。在与波形E比较时，是与判断为2T的孤立在提前时间轴方向上移动2T的可能性的比较。0201为了不重复评价相同时刻的波形，而仅采用评价结果在规定以内的部分作为评价值，对其以外不评价。虽然在上述进行了说明，但在差值度量计算中，将PB作为正确图形的期待值和信号的距离计算结果，将PA作为与正确图形对应的错误图形的期待值和信号的距离计算结果，在此情况下，仅在PA-PB的计算结果小于理想的PA和PB之间的距离时作为评价值采用，在大于理想的PA和PB之间的距离时不作为评价值。这样，可不重复地计算评价值。0202例如，因为上述表1的评价图形的理想的欧几里德距离的平方值为14，所以如果PA-PB在14以下，则作为评价值采用。同样，因为表2、表3的评价图形的理想的欧几里德距离的平方值为12，所以如果PA-PB在12以下，则作为评价值采用。0203在图18的分布(A)、(B)、(C)中，分别表示以欧几里德距离的平方值14、12、12为基准仅将左半部分(接近于0的部分)作为评价值釆用。在由差值度量ci预测错误率的情况下也以理想的欧几里德距离的平方值(14，12，12)为基准，仅利用左半部分(接近于O的部分)来求出。通过追加这样的处理，可避免评价图形的重复，可仅采用实际产生错误的可能性高、差值度量的理想距离小的部分来作为评价值，由此，求出的信号指标值与错误率的相关性也变高。0204但是，在欧几里德距离的平方为14、12这样级别不同的评价值之间，在上述方法中有可能无法完全避免重复评价相同时刻的波形的情况。不过至少可避免理想的欧几里德距离的平方为相同距离的波形中的重复评价。0205此外，参照图21说明的检测图形的检测时刻仅是一例，在电路的结构下，可利用不同的定时进行检测。例如，如果是在图形的时间轴中心检测表1、表2、表3中的特定图形这样的结构，则与图21的检测时刻不同。上述图21的检测时刻例是设定为对确定有可能性的合流通路的时刻进行检测的时刻的例子。关于检测决定时刻不限于本实施例。0206此外，为了检测表l、表2、表3中的特定图形，在构成电路、装置、程序等的情况下，可不检测表的图形本身。可预先保存图形差值信息以外的部分，并检测特定图形。另外，可通过计算来求出特定图形。在检测特定图形的方法中，不限于本实施例。0207此外，在检测图12的信号评价指标运算部10的差值度量的电路中，可检测已检测出的差值度量值和理想的欧几里德距离之间的大小关系。在此情况下当差值度量值大时，可以是不输出检测结果以及检测次数(也可输出为0)的结构。0208这些检测以及运算处理不限于上述所说明的内容，也可以是其它结构。0209这里，对图12所示的信号评价指标运算部10结构的一例及其动作进行说明。0210图22是表示图12的光盘装置300所具有的信号评价指标运算部10的图。信号评价指标运算部10、选择部17和光盘控制器12的结构与图12所示的装置不同。0211图12的信号评价指标运算部10的表1图形评价指标检测部包含图22的图形检测部201、差值度量运算部202、图形计数部203、标准偏差运算部204、和错误运算部213。0212图12的信号评价指标运算部10的表2图形评价指标检测部包含图22的图形检测部205、差值度量运算部207、图形计数部206、标准偏差运算部208、和错误运算部214。0213图12的信号评价指标运算部10的表3图形评价指标检测部包含图22的图形检测部209、差值度量运算部211、图形计数部210、标准偏差运算部212、和错误运算部215。0214相加部216以及标准偏差运算部217在图12所示的结构中，被包含在光盘控制器部12内。0215在图12所示的结构中，可通过选择部17来选择错误运算部213、214、215的全部，也可以选择一部分。0216信息记录介质1是用于光学地进行信息记录再现的信息记录介质，例如是光盘介质。光盘装置300是对装入的信息记录介质1进行信息记录再现的装置，但也可以是再现专用装置。0217光盘装置102具有光头部2、前置放大部3、AGC部4、波形均衡部5、A/D变换部6、PLL部7、PR均衡部8、极大似然译码部9、信号评价指标检测部10、光盘控制器部15、图形产生部13、记录补偿部14、和激光驱动部15。0218参照图22，信号评价指标检测部10具有图形检测部201，205，209、差值度量运算部202，207，211、图形计数部203，206，210、标准偏差运算部204，208，212、错误运算部213，214，215、相加部216、和标准偏差运算部217。0219图形检测部201，205，209对表1，2，3的转变数据列和二进制数据进行比较。差值度量运算部202，207，211对与表1(14图形)、表2(12A图形)、表3(12B图形)对应的度量差进行检测。图形计数部203，206，210对各图形的数量进行检测。运算部204，208，212对差值度量运算部的输出的标准偏差CJ进行运算。错误运算部213，214，215根据各图形中的标准偏差和计数值来计算预测错误率。相加部216对错误运算结果全部相加。标准偏差运算部217根据相加后的整体错误率来计算标准偏差。0220光头部2使通过物镜的激光收敛于信息记录介质1的记录层，并接收其反射光，生成表示信息记录介质l所记录的信息的模拟再现信号。物镜的数值孔径是0.70.9，最好是0.85。激光的波长是410nm以下，最好是405nm。前置放大部3以规定的增益来放大模拟再现信号，然后向AGC4输出。AGC部4采用预先设定的目标增益，为了使从A/D变换部6输出的再现信号电平为恒定电平，而放大再现信号，然后向波形均衡部5输出。0221波形均衡部5具有遮蔽再现信号的高频域的LPF特性和放大再现信号的规定频域的滤波特性，以希望的特性对再现波形进行整形，然后向A/D变换部6输出。PLL电路7生成与波形均衡后的再现信号同步的再现时钟，并向A/D变换部6输出。0222A/D变换部6与从PLL电路7输出的再现时钟同步地对再现信号进行采样，将模拟再现信号变换为数字再现信号，并向PR均衡部8、PLL部7以及AGC部4输出。0223PR均衡部8具有将再现系统的频率特性设定为极大似然译码部9所假定的特性(例如，PR(l，2，2，2，l)均衡特性)的频率特性，并执行对再现信号进行高频域噪声的抑制以及码间干涉的有意图附加的PR均衡处理，然后向极大似然译码部9输出。另外，PR均衡部8具有FIR(FiniteImpulseResponse)滤波器结构，采用LMS(TheLeast-MeanSquare)算法，可自适应地控制抽头系数。0224极大似然译码部9例如是维特比译码器，其采用根据按照局部响应类型有意附加的码的规则来推定最似然的系列的极大似然译码方式，对由PR均衡部8进行PR均衡后的再现信号进行译码，然后输出二进制数据。该二进制数据作为解调二进制信号向后级的光盘控制器12输出，执行规定的处理，来再现信息记录介质1中所记录的信息。0225向信号评价指标检测部10输入从PR均衡部8输出的波形整形后的数字再现信号和从极大似然译码部9输出的二进制信号。0226J图形检测部201，205，209对表1，2，3的转变数据列和二进制数据进行比较。然后，在该二进制数据与表l，2，3的转变数据列一致的情况下，根据表l，2，3来选择最似然的转变系列l和第2似然的转变系列2。根据该选择结果，差值度量运算部对转变系列的理想值(表13所示的PR均衡理想值)和数字再现信号之间的距离即度量进行计算，并计算已获得的度量彼此间的差。标准偏差运算部按照每个图形组来计算表示该度量差的偏差程度的标准偏差CJ。0227图形计数部203，206，210对表1，2，3的每个图形组的产生数量进行计数。即，按照表l，2，3的每个图形组，对二进制信号与图形组相应的次数进行计数。该计数值为计算错误率时的各图形组的产生频度。0228错误运算部213，214，215根据差值度量的标准偏差和图形产生数来算出预测错误率。利用相加部216来相加算出的错误率，并利用标准偏差运算部217来计算与该错误率对应的标准偏差。由该标准偏差运算部217计算出的标准偏差为评价再现信号品质的信号评价指标。光盘控制器部12釆用该信号评价指标来进行再现信号品质的评价。0229采用上述(式4)(式ll)来说明各处理的具体计算方法等，所以在此省略。差值度量运算部202执行(式4)的运算处理，差值度量运算部207执行(式5)的运算处理，差值度量运算部211执行(式6)的运算处理。错误率运算部213执行(式8)的运算处理，错误率运算部214执行(式9)的运算处理，错误率运算部215执行(式10)的运算处理。错误率相加运算部216执行(式ll)的运算处理。0230标准偏差运算部217将用(式ll)的运算求出的总错误率变换为相当于该错误率的a。0231此外，可利用各图形组总计的产生概率来使错误率标准化，进行(式7)的逆运算，并变换成为了求出信号指标而检测出的釆样部的(j。0232如上所述，可通过图22的电路结构来计算信号评价指标。0233这里，对采用了标准偏差运算部217的输出值的信号评价方法的具体例进行说明。0234首先，本发明的信号评价方法对于评价记录介质的品质是有用的。图24是在具有不同特性的记录膜的介质中准备用最优的记录参数(记录功率、记录策略等)进行记录的区域、算出本发明的信号评价指标值并按照每个介质来比较信号评价指标值的图。横轴表示介质的种类AE，纵轴表示本发明的信号评价指标值(指标M)。0235在本发明中，能够采用设定规定的标准、将介质的品质规定为在该标准以下可进行记录的介质的方法。例如，在将指标M的标准设为11%的情况下，在11%以下可进行记录的介质被判断为能满足规定品质的介质。在图24的例子中，因为介质C和介质D没有满足规定品质的标准(指标M=ll%)，所以可判断为品质不佳。0236该指标M的标准可以根据图16所示的信息记录介质的每一层来进行规定。例如，3层中的L0记录层的标准可以为10.5%以下，Ll记录层的标准可以为11.0%以下，L2记录层的标准可以为11.5%以下。在图16的多层结构的信息记录介质的例子中，当记录层配置在距离光头远的位置时，因光头的透镜倾斜度及介质的弯度而产生的倾斜应力的容许裕量比其它记录层窄。由此，当考虑各层的裕量时，如果记录层配置在距离光头远的位置处，则需要作为基础的信号品质良好。此外，上述标准不限于这些例子。以倾斜应力也不容许的情况为前提，在全部的记录层中可采用相同的标准。在此情况下，例如，标准可以为11.0%。0237另外，可按照信息记录介质所记录的记录密度来规定标准。在上述实施例中示出每个记录层的记录容量为33.3GB的情况和为31.0GB的情况。例如，在3层记录构造中的各记录层的记录容量为33.3GB的情况下，各记录层的标准可以是LO层为11.0%、Ll层为11.5%、L2层为11.5%。在4层记录构造中的各记录层的记录容量为31.0GB的情况下，各记录层的标准可以是LO层为10.5%丄1层为10.5。/。、L2层为11.0%丄3层为11.0%。0238这样，按照记录层的数量及记录容量来规定标准，由此能够设定维持信息记录介质的品质的规定，能够适当地设定介质所要求的品质。结果，不会对信息记录介质要求多余的品质、且能够维持记录或再现信息记录介质的系统的互换性高。本发明提供能够使信息记录介质的低成本化和系统的高互换性都成立的信号评价方法以及其标准的规定方法。0239另外，本发明的信号评价方法对于评价信息记录介质的记录裕量是有用的。图25是在规定的信息记录介质中一边使记录功率变化一边进行记录、再现其区域并算出本发明的信号评价指标值的图。0240将最优的记录功率作为基准记录功率，按照规定的标准来检测恶化之前的记录功率变化有多少，由此能够测定信息记录介质的记录功率裕量。例如，在将指标M的标准设为15%的情况下，针对基准记录功率，根据低侧的记录功率变化将达到标准的变化量设为x%，根据高侧的记录功率变化将达到标准的变化量设为y%。该x和y是规定以上的信息记录介质可判断为满足规定的记录功率裕量的信息记录介质。例如，可以设x为15.0%，y为10.0。X)。此外，x和y不限于这些数值。只要设定为能够使实现上述标准的信息记录介质的成本和系统的高互换性都成立的值既可。0241另外，本发明的信号评价方法对于探查各种伺服参数最优点的方法是有用的。图10是一边改变聚焦参数一边算出本发明的信号评价指标值的图。在图IO中选择指标M最小的聚焦参数设定，由此在再现信号处理的传送路径中可决定最优的聚焦参数设定。这样，通过选择伺服参数使指标M成为最小，可决定使再现传送路径成为最优的设定。作为伺服参数有倾斜、球像差参数等。0242此外，在从差值度量运算部202,207，211输出的差值度量值的偏差接近正态分布的情况下，可使电路进一步简单化。图23示出其一例。为了利用电路求出标准偏差，电路规模变大。另外，在利用程序求出标准偏差的情况下，因为处理量多所以整体的处理速度变慢。0243在图23的结构中，取代图22的标准偏差运算部204，208，210而设置绝对值累计部204a，208a，210a。绝对值累计部204a，208a，210a对差值度量202，207，211的输出进行绝对值相加。然后，通过将累计值除以图形计数部203，206，210的计数值的运算，来求出差值度量的绝对值的平均值。一般情况下，当ci假定为高斯分布时，标准偏差o与绝对值平均m之间的关系为规定系数的关系((J—1.253m)。利用这个情况，可根据绝对值平均值来求出(j，采用该a在错误运算部213，214，215中计算错误率。这样，图23的结构相对于图22的结构可削减标准偏差处理，所以能够縮小电路规模。0244此外，在与硬件以及CPU运算处理相对的误差函数运算的负荷较大的情况下，可采用如表6所示的比特错误率和信号指标M的变换表。运算精度等可根据需要进行最优化。<table>tableseeoriginaldocumentpage59</column></row><table>0246这样，通过提供与比特错误率相关的一个参数的信号评价指标，可容易地进行记录介质的规定。另外，通过提供类似抖动的指标，可容易地实现与现有评价方法的互换。另外，如采用图15所说明的那样，在PR12221ML方式中，按照欧几里德距离，通过采用沿偏移分量、分离为SN分量的信号指标，可定量地检测记录功率参数的偏移以及记录策略参数的偏移，从而使参数的最优化变得容易。上述说明了欧几里德距离的平方为14的情况，显然，还能够适用于表2以及表3所示的欧几里德距离的平方为12的图形。表2以及表3的图形是必需含有2T标记以及2T空白的至少一方的图形。如图15所示，通过分离沿偏移分量和SN分量，可使2T标记前后的影响定量化，对于评价以及最优化与2T关联的参数是有用的。0247此外，上述采用PR12221ML进行了说明，但PR的类型不限于此，其它PR的类型也可适用本发明。0248这里，对与本发明相关的光盘(尤其与记录密度相关的点)进行说明。0249图26示出光盘1的物理结构。在圆光盘状的光盘1中，例如同心圆状或螺旋状地形成有多个磁道2，在各磁道2中形成有细致区分的多个扇区。此外，如后所述，在各磁道2中以预定的尺寸的块3为单位来记录数据。0250光盘1与现有光盘(例如25GB的BD)相比，扩展了每一信息记录层的记录容量。通过提高记录线密度来实现记录容量的扩展，例如，可通过进一步縮短光盘中所记录的记录标记的标记长来实现。这里，所谓「提高记录线密度」表示縮短通道比特长。所谓该通道比特就是相当于基准时钟的周期T(利用规定的调制规则记录标记时的调制基准周期T)的长度。0251此外，光盘l可以是多层化。但以下为了简便说明，而仅言及一个信息记录层。0252此外，在设置有多个信息记录层的情况下，即使设置于各信息记录层的磁道的幅度相同时，也可以按照每一层使标记长一致地变化，按照每一层使记录线密度不同。0253磁道2按照数据的每个记录单位64kB(千字节)来划分块，且顺次分配块地址值。块被分割成规定长度的子块，由3个子块来构成1块。子块从前到后顺次分配02的子块编号。0254接着，采用图27对记录密度进行说明。0255图27(A)表示25GB的BD的例子。在BD中，激光123的波长是405nm，物镜220的数值孔径(NumericalAperture;NA)是0.85。0256DVD也同样，在BD中，记录数据作为物理变化的标记列120、121被记录到光盘的磁道2上。在该标记列中，将长度最短的称为「最短标记」。在图中，标记121是最短标记。0257在25GB记录容量中，最短标记121的物理长度是0.149(im。这相当于DVD的约1/2.7，即使改变光学系统的波长参数(405nm)和NA参数(0.85)来提高激光的分辨率，也接近光束可识别记录标记的极限、即光学分辨率的极限。0258此外，采用图13以及14对记录容量进行了叙述，假定为图27(B)的高记录密度的光盘的记录线密度可适合再现信号的最短标记频率处于OTF截止频率附近的情况(还包括虽然是OTF截止频率以下、但不显著低于OTF截止频率的情况)至OTF截止频率以上的情况。0259作为记录容量，在OTF截止频率附近的情况下，例如有约29GB(例如，29GB士0.5GB或29GB士1GB等)或29GB以上，或者约30GB(例如，30GB士0.5GB或30GB士1GB等)或30GB以上，或者约31GB(例如，31GB士0.5GB或31GB士1GB等)或31GB以上，或者约32GB(例如，32GB土0.5GB或32GB士1GB等)或32GB以上。0260作为记录容量，在OTF截止频率以上的情况下，例如可假定为约32GB(例如，32GB士0.5GB或32GB士1GB等)或32GB以上，或者约33GB(例如，33GB士0.5GB或33GB士1GB等)或33GB以上，或者约33.3GB(例如，33.3GB士0.5GB或33.3GB士1GB等)或33.3GB以上，或者约34GB(例如，34GB士0.5GB或34GB士1GB等)或34GB以上，或者约35GB(例如，35GB士0.5GB或35GB士1GB等)或35GB以上等。0261这里，当记录密度为33.3GB时利用3层可实现约100GB(99.9GB)，当为33.4GB时利用3层可实现100GB以上(100.2GB)。虽然这相当于25GB的BD为4层时的记录容量，但在多层化中还伴随有各记录层中的再现信号振幅的降低(SN比的恶化)以及多层杂散光(来自邻接记录层的信号)的影响等。因此，通过成为约33.3GB或其以上的记录密度，可抑制这样的影响，即，利用更少的层数(3层)就能够实现约100GB(100GB以上)。0262图28示出最短标记(2T)的空间频率高于OTF截止频率、且2T的再现信号振幅为0的例子。最短比特长的2T空间频率是OTF截止频率的1.12倍。0263另外，高记录密度的光盘B中的波长、数值孔径和标记/空白长的关系如以下所述。0264在将最短标记长设为TMnm、最短空白长设为TSnm时，最短标记长十最短空白长P是TM+TSnm。在17调制的情况下，为P-2T+2T=4T。当采用激光波长X(405nm士5nm，即400410nm)、数值孔径NA(0.85土0.01即0.840.86)、最短标记+最短空白长P(在17调制的情况下，为P-2T+2T:4T)这三个参数时，基准T变小直到P《X/2NA为止，此时空间频率超过OTF截止频率。0265与NA=0.85、入=405时的OTF截止频率相当的基准T为T=405/(2x0.85)/4=59.558nm。0266此外相反，在P〉V2NA的情况下，空间频率低于OTF截止频率。0267此外，以上，比较了最短标记的再现信号频率和OTF截止频率之后对记录密度进行了叙述，在进入更高记录密度的情况下，可通过次最短标记(再次最短标记、次最短标记以上的记录标记)的再现信号频率与OTF截止频率之间的关系，根据和以上相同的原理，来设定分别对应的记录密度(记录线密度、记录容量)。0268接着，参照图29来详细地说明本发明实施方式中的光盘400的结构。0269图29表示光盘400的区域结构。光盘400含有信息记录层。通过在信息记录层上形成记录标记，来在光盘400中记录数据。在光盘400中同心圆状地形成有磁道。0270光盘400包含BCA(BurstCuttingArea)区域410、导入区域420、用户区域430和导出区域440。0271BCA区域410预先记录有条型码状的信号，并包含依据每一张光盘而不同的介质识别用的固有编号、著作权信息及盘特性信息。在该盘特性信息中含有信息记录层的层数及地址管理方法的识别信息。作为上述盘特性信息例如包含表示信息记录层的层数本身的信息、与许可层数相应的规定比特信息，关于记录密度的信息。作为关于记录密度的信息例如举出表示光盘的记录容量的信息、表示通道比特长(记录线密度)的信息。0272另外，关于该记录密度的信息的存储位置在再现专用型光盘的情况下，考虑了BCA区域以及/或记录数据(凹凸坑)的内部(记录为在数据中附加的数据地址)等。在一次写入型或改写型的记录型光盘的情况下，考虑了BCA区域、以及/或PIC区域、以及/或摆动(记录为与摆动重叠的副信息)等。0273用户区域430构成为用户可记录任意的数据。在用户区域430中例如记录有用户数据。在用户数据中例如包含音频数据以及图像(视频)数据。0274导入区域420与用户区域430不同，没有构成为用户可记录任意的数据。导入区域420包含PIC(PermanentInformationandControldata)区域421、OPC(OptimumPowerCalibration)区域422、禾口INFO区域423。0275在PIC区域421中含有盘特性信息。在该盘特性信息中例如记录有如上述所说明的信息记录层的层数、地址管理方法的识别信息、访问参数。访问参数例如是与用于在光盘400中形成/删除多个记录标记的激光功率有关的参数、以及与用于记录多个记录标记的记录脉冲宽度有关的参数。0276此外，在本实施方式中，在BCA区域410以及PIC区域421的任意一个中都存储有盘特性信息。不过，这只是例子，本发明不限于此例。例如可以是BCA区域、PIC区域、记录数据的内部、摆动中的任意一个或这些中的任意2个以上的区域等。此外，如果将相同的盘特性信息分别记录在多个位置，则可以从任意一个中读出。由此能够确保盘特性信息的可靠性。另外，即使盘种类是未知的，也能够通过在光盘装置中将盘特性信息预先存储在已定位的这些区域上，来可靠地知晓该盘的信息记录层的层数等。0277此外，当存在多个信息记录层时，配置有盘特性信息的信息记录层(基准层)例如可以是位于与光头相距最远的位置的层，换言之，可以是位于与激光入射侧的表面相距最深的位置的层。0278另外，为了获得与仅对应于BD的过去机种的互换性，希望按照记录线密度来变更磁道地址格式，以使上述基准层的盘特性信息与现有信息相比不发生改变。0279以下，参照图30对这点进行更详细地说明。图30(1)表示现有记录密度的盘A以及更高记录密度的盘B的信息记录层的结构，图30(2)以及(3)分别表示盘A以及盘B的导入区域420的具体结构。0280图30(1)表示某光盘的信息记录层。从内周侧(附图的左侧)开始顺次配置有箝位区域425、BCA区域410、导入区域420、用户数据区域430。0281图30(2)示出盘A的基准层的导入区域420的具体配置例。PIC区域421从半径位置22.2mm开始具有规定的半径距离A。图30(3)示出盘B的基准层的导入区域420的具体配置例。PIC区域421从半径位置22.2mm开始具有规定的半径距离B。在此特征点是盘B的PIC区域421的半径距离B与盘A的PIC区域421的半径距离A相同。0282在盘B中单纯提高记录线密度且在PIC区域421中记录信息时，通道比特长变短，因此与其对应PIC区域421的半径距离B也应该能够变短。但是，在盘B的PIC区域421内存储对光盘访问重要的信息，PIC区域421需要能够安全地再现。例如，使光头机械地高精度移动到预定位置上读出PIC区域421的信息的光盘驱动器在PIC区域421的半径距离变短时有可能无法进行再现。为了维持与这样的驱动的下位互换，还优选半径距离B与半径距离A相同。0283.这里，作为使半径距离B与半径距离A相同的方法例如考虑了以下两个方法。第1种方法是关于盘B的PIC区域，不是以盘B的记录线密度而是以与盘A相同的记录线密度进行记录。此时，即使在导入区域内，也有根据区域记录线密度发生变化的情况。第2种方法是以盘B的记录线密度来增加PIC区域所记录的信息的反复记录次数的方法。因为在PIC区域中记录的信息是重要的信息，所以为了确保可靠性而反复进行记录，但在这样的情况下记录线密度增加，通过增加反复次数(例如从5次增加至7次)可以保持与现有的半径距离A相等。0284OPC区域422是用于记录或再现测试数据的区域。在测试数据的记录或再现中，向光盘400访问的光盘装置进行访问参数的调整(例如，记录功率及脉冲宽度等的调整)。0285在INFO区域423中记录有对于向光盘400访问的装置所需的用户区域430的管理信息及用户区域430的缺陷管理用的数据。0286此外，采用图16对多层记录介质进行了叙述，但在此作进一步补充。在盘特性信息的识别之前，光盘装置对与上述基准层不同的层进行对焦以及跟踪，在读入地址信息的情况下，有时层信息以及块地址信息的配置不同，这样存在对地址位置误判别的可能性。为了避免这个，要确保上述基准层与其他层的中间层大于其他层之间的中间层，这样可防止层的误判别。例如从激光方向观察，与BD的2层对应的基准层的L0层构成在约100pm深度的位置上，Ll层构成在约75pm的位置上。在本发明中，为了防止误引入到U层，而可以将构成在L1层以后的接近于激光侧的记录层构成比75iim更靠激光侧。例如，Ll层是70pm的位置。但是，当极端增大基准层与L1层之间的中间层的幅度(厚度)时，难以充分地确保L2层以后的中间层的幅度。因此，需要既不误引入到L1层又能够确保其他层的中间层幅度这样的平衡。0287接着，对关于BD的物理格式、逻辑格式及记录方式等更详细地进行说明。0288BD包括作为一次写入记录的BD-R(—次写入型蓝光盘)、可多次信息改写的BD-RE(改写型蓝光盘)及仅能再现的BD-ROM(再现专用蓝光盘)等。在「蓝光盘读本」(「:/》一^,fV7夕読本」)(欧姆公司出版)及蓝光协会的主页(http:〃www.blu-raydisc.com/)所记载的白皮书(whitepaper)中公开了蓝光盘的主要光学常数和物理格式。0289(主要参数等)在BD中采用波长405nm(如果将误差范围的容许值设为士5nm则是400410nm)的激光以及NA-0.85(如果将误差范围的容许值设为土0.01则是0.840.86)的物镜。BD的磁道间距是0.32|_im，记录层设有1层或2层。记录层的记录面是从激光入射侧起具有单面1层或单面2层的结构，从BD的保护层表面到记录面的距离是75pn10(^m。0290记录信号的调制方式利用了17PP调制，被记录的标记的最短标记长(2T标记)是0.149pm(通道比特长T是74.50nm)。记录容量是单面单层25GB(或27GB)(更详细地说是25.025GB(或27.020GB))或单面2层50GB(或54GB)(更详细地说是50.050GB(或54.040GB))。0291通道时钟频率在标准速度(BDlx)的转送速率中是66MHz(通道比特速率66.000Mbit/s)，在4倍速(BD4x)的转送速率中是264MHz(通道比特速率264.000Mbit/s)，在6倍速(BD6x)的转送速率中是396MHz(通道比特速率396.000Mbit/s)，在8倍速(BD8x)的转送速率中是528MHz(通道比特速率528.000Mbit/s)。标准线速度(基准线速度，lx)是4.917m/sec。02922倍(2x)、4倍(4x)、6倍(6x)以及8倍(8x)的线速度分别是9.834m/sec、19.668m/sec、29.502m/sec以及39.336m/sec。高于标准线速度的线速度一般是标准线速度的正整数倍，但不限于整数，也可以是正实数倍。另外，还能定义为0.5倍(0.5x)等比标准线速度慢的线速度。0293(保护层)关于保护层(盖层)的厚度，为了抑制伴随着数值孔径提高、焦点距离变短、且由倾斜所引起的点失真的影响，而设置更薄的保护层，例如将介质的总厚度1.2mm左右中的保护层厚度设为10200^im(更具体地说，在l.lmm左右的基板上，如果是单层盘则为O.lmm左右的透明保护层，如果是二层盘则是0.075mm左右保护层上0.025mm左右的中间层(分隔层SpacerLayer))。如果是三层以上的盘则保护层以及/或中间层的厚度变得更薄。0294(多层的构造)在从保护层侧入射激光来再现以及/或记录信息的单面盘中，当记录层为二层以上时，在基板与保护层之间设置多个记录层，但可以如下地构成在此情况下的多层构造。即，在与光入射面相隔规定距离的最里侧的位置上设置基准层(LO)，以从基准层向光入射面侧增加层的方式进行层叠(L1，L2，，Ln)，另外，使从光入射面到基准层的距离与从单层盘中的光入射面到记录层的距离相同(例如O.lmm左右)等。这样与层数无关将到达最里层的距离设为恒定，因此可保持关于向基准层访问的互换性，另外能够抑制伴随层数增加的倾斜影响增加(这是因为虽然最里层受到最倾斜的影响，但并不随着层数的增加而使到达最里层的距离增加)。0295(用于防止对保护层造成损伤的突起部)另外，光学的信息记录介质可具有以下这样的突起部。例如在蓝光盘的情况下，关于保护层的厚度，单层盘是10(Him，2层盘是75pm，但为了防止对这样薄的保护层造成损伤，可以在保持区域(ClampArea)的外侧或内侧设置突起部。尤其在设置到保持区域内侧的情况下，除了防止保护层的损伤之外，还因为在盘的中心孔附近部分有突起部，所以可减轻由于突起部重量平衡所导致的对旋转主轴(马达)的负担，可避免与光头的冲突(为了使光头能够访问处于保持区域外侧的信息记录区域而在保持区域的内侧设置突起部，由此避免突起部与光头的冲突。0296然后，在设置到保持区域内侧的情况下，例如，外径120mm的盘中的具体位置可以如下地设置。假设在中心孔的直径为15mm、保持区域为直径23mm33mm的范围内时，在中心孔与保持区域之间、即直径15mm23mm的范围内设有突起部。此时，可以距中心孔设置某程度的距离(例如，可以与中心孔的边缘端相距O.lmm以上(或/以及0.125mm以下))。另外，可以设置距保持区域某程度的距离(例如，与保持区域的内端相距O.lmm以上(或/以及0.2mm以下))。0297另外，还可以设置与中心孔边缘端和保持区域内端双方相隔某程度的距离(作为具体的位置，例如可以在直径17.5mm21.0mm的范围内设置突起部)。此外，作为突起部的高度，可考虑难以对保护层造成伤害和易于提起的平衡后来决定，但如果过高也许会发生其他问题，所以例如可设置为从保持区域起0.12mm以下的高度。0298(再现方向)另外，关于点的进行方向/再现方向，例如，即可以是在全部层中相同，即在全部层中从内周方向向外周方向、或在全部层中从外周方向向内周方向这样的平行通路。另外也可以是相反通路。相反通路例如在基准层(LO)中将点的进行方向设为从内周侧向外周侧的方向时，在L1中是从外周侧向内周侧的方向，在L2中是从内周侧向外周侧的方向，…g卩，在Lm(m为0以及偶数)中是从内周侧向外周侧的方向，在Lm+l中是从外周侧向内周侧的方向。或，在Lm(m为O以及偶数)中是从外周侧向内周侧的方向，在Lm+l中是从内周侧向外周侧的方向。这样，在相反通路中每当切换层时再现方向相反。0299(调制方式)在将数据(原有的源数据/调制前的二进制数据)记录到记录介质中时，分割为规定的尺寸，并将分割为规定尺寸的数据进一步分割为规定长度的帧，按照每一帧插入规定的同步码(synccode)/同步码系列(帧同步区域framesyncarea)。分割成帧的数据被记录为按照与记录介质的记录再现信号特性一致的规定调制规则进行调制的数据码系列(帧数据区域)。0300这里作为调制规则可以是限制标记长的RLL(RunLengthLimited)编码方式等。表述为RLL(d，k)的情况表示在1与1之间出现的0是最小d个、最大k个(d以及k是满足d<k的自然数)。例如在d=l、k=7的情况下，当将T设为调制的基准周期时，成为最短2T、最长8T的记录标记以及空白。另外还可以使RLL(l，7)调制成为进一步增加了以下的[1][2]特征的l-7PP调制。所谓l-7PP的"PP，，是Paritypreserve/ProhibitRepeatedMinimumTransitionLength的縮写，[l]最初的P即Paritypreserve表示调制前的源数据比特"1"的个数的奇偶(即Parity)和与其对应的调制后比特图形"1"的个数的奇偶一致，[2]后方的P即ProhibitRepeatedMinimumTransitionLength表示限制调制后的记录波形上的最短标记以及空白的反复次数(具体地说，将2T的反复次数限制为最大6次)的结构。0301(帧同步)另一方面，在插入帧间的同步码/同步码系列中不适用前述的规定调制规则，所以可包含由该调制规则约束的码长以外的图形。该同步码/同步码系列因为决定再现被记录数据时的再现处理定时，所以可包含如下这样的图形。0302从容易与数据码系列进行识别的观点出发，在数据码系列中可包含不出现的图形。例如，是比数据码系列所包含的最长标记/空白更长的标记或空白及该标记与空白的反复。在调制方式是l-7调制的情况下，标记及空白的长度被限制在2T8T中，所以是比8T长的9T以上的标记或空白(9TMand/or9TS)及9T标记/空白的反复(9T/9T)等。0303从容易地进行同步引入等处理的观点出发，可以包含多次发生标记/空白转移(零交叉点)的图形。例如，是数据码系列所包含的标记/空白中的比较短的标记或空白及该标记和空白的反复。在调制方式是1-7调制方式的情况下，是作为最短的2T标记或空白(2TMand/or2TS)及2T标记/空白的反复(2T/2T)、作为次最短的3T标记或空白(3TMand/or3TS)及3T标记/空白的反复(3T/3T)等。0304(帧同步的码间距离)当假设将包含前述的同步码系列和数据码系列的区域称为帧区域，将包含多个(例如31个)该帧区域的单位称为扇区(或AddressUnit)时，在某扇区中，可以将该扇区的任意帧区域中所包含的同步码系列和该任意帧区域以外的帧区域中所包含的同步码系列的码间距离设为2以上。这里所谓的码间距离表示在对两个码系列进行了比较的情况下码系列中的不同比特的个数。这样通过将码间距离设为2以上，即使由于再现时的噪声影响等而引起一个读出系列的1比特移动错误，也没有误识别为另一个。另外，特别是可以将位于该扇区开头的帧区域中所包含的同步码系列和位于开头以外的帧区域中所包含的同步码系列的码间距离设为2以上，由此，可以容易地识别出是否是开头位置/是否是扇区的结尾位置。0305此外，码间距离含有在NRZ记录时NRZ表述了码系列、在NRZI记录时NRZI表述了码系列的码间距离的意思。因此，当采用了RLL调制的记录时，所谓该RLL表示在NRZI的记录波形上限制高电平或低电平信号持续的个数，因此表示NRZI表述中的码间距离是2以上这样的情况。0306(记录方式iIn-Groove/On-Groove)另外，关于记录方式，因为通过在介质中形成了槽，从而形成槽部、槽和槽之间的槽间部，所以具有在槽部记录、在槽间部记录、或在槽部与槽间部双方中记录的各种方式。这里，将在槽部与槽间部中在从光入射面观察为凸部的一侧进行记录的方式称为On-Groove方式，将在从光入射面观察为凹部的一侧进行记录的方式称为In-Groove方式。在本发明中，作为记录方式可以是On-Groove方式、In-Groove方式、或许可两方式中任意一种的方式。0307此外，在许可两方式中任意一种的方式的情况下，该介质为了能够容易地识别是哪种记录方式，可以将表示是On-Groove方式还是In-Groove方式的记录方式识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的记录方式识别信息。在此情况下，可将各层的记录方式识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(LO)或最近的层、以及在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的记录方式识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的记录方式识别信息。0308另外，作为记录记录方式识别信息的区域有BCA(BurstCuttingArea)、盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，在再现专用区域中磁道间距有时比数据记录区域广)、以及摆动(与摆动重叠着记录)等，可以记录在任意一个区域、任意多个区域或全部区域中。0309另外，关于摆动的开始方向可以通过On-Groove方式和In-Groove方式来成为相反。S卩，如果在On-Groove方式中摆动的开始方向是从盘的内周侧开始的情况，则在In-Groove方式中摆动的开始方向可以从盘的外周侧开始。或，如果在On-Groove方式中摆动的开始方向是从盘的外周侧开始的情况，则在In-Groove方式中摆动的开始方向可以从盘的内周侧开始。这样，因为以On-Groove方式和In-Groove方式使摆动的开始方向相互相反，所以无论是哪种方式都能够使跟踪极性相同。这是因为在On-Groove方式中在从光入射面观察为凸部的一侧进行记录，与此相对在In-Groove方式中，在从光入射面观察为凹部的一侧进行记录，所以假设在两者的槽深度相同时，跟踪极性为相反关系。因此，两者摆动的开始方向也相互相反，由此能够使跟踪极性相同。0310(In-Pit/On-Pit)上述的In/On-Groove方式与在介质中形成槽的记录型介质相关，但即使是再现专用型介质也能够适用同样的考虑方法。即在再现专用型介质的情况下，信息以凸点(emboss)/凹凸坑这样的形状进行记录，但作为该坑的形成方式，将从光入射面观察形成为凸部的坑的方式称为On-Pit方式，将从光入射面观察形成为凹部的坑的方式称为In-Pit方式，在本发明中，作为坑的形成方式可以为On-Pit方式、In-Pit方式、或许可两方式中任意一种的方式。0311另外，在许可两方式中任意一种的方式的情况下，该介质为了能够容易地识别是哪种记录方式，可以将表示是On-Pit方式还是In-Pit方式的坑形成方式识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的坑形成方式识别信息。在此情况下，可将各层的坑形成方式识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(LO)或最近的层、以及在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的坑形成方式识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的坑形成方式识别信息。0312另夕卜，作为记录坑形成方式识别信息的区域有BCA(BurstCuttingArea)及盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，磁道间距有时比数据记录区域广)等，可以记录在任意一个区域或两方的区域中。0313(记录膜和反射率HTL/LTH)另外，关于记录膜的特性，基于记录部分与未记录部分的反射率的关系有以下的两个特性。即，未记录部分比已记录部分高反射率(High-to-Low)的HtoL特性、和未记录部分比已记录部分低反射率(Low-to-High)的LtoH特性。在本发明中，作为介质的记录膜特性有HtoL、LtoH或许可任意一方的特性。0314另外，在许可任意一方的特性的情况下，为了能够容易地识别是哪种记录膜特性，可以将表示是HtoL还是LtoH的记录膜特性识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的记录膜特性识别信息。在此情况下，可将各层的记录膜特性识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(LO)或最近的层、以及在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的记录膜特性识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的记录膜特性识别信息。0315另外，作为记录记录膜特性识别信息的区域有BCA(BurstCuttingArea)、盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，在再现专用区域中磁道间距有时比数据记录区域广)、以及摆动(与摆动重叠着记录)等，可以记录在任意一个区域、任意多个区域或全部区域中。0316此外，当记录密度提高时，产生存在多种光盘介质记录密度的可能性。在此情况下，关于上述各种格式及方式可根据记录密度仅采用其一部分，或者将一部分变更为其它格式及方式。0317此外，上述作为记录介质举光盘为例进行了说明，针对关于记录介质的表现采用介质、信息记录介质等的语言，但意思相同。另外，本发明中作为对象的记录介质不仅仅是利用光进行记录或再现的光盘，还可以适用于采用磁能量进行记录或再现的「磁记录介质」、「光磁记录介质」等。另外，本发明可适用于进行采用了PRML信号处理方式的信号处理的领域。例如，可适用于通信传送路径的特性评价这样的领域。例如，还可以适用于「HD-PLC]、「HDMI」等的高速通信的传送路径评价。0318本发明的信号评价方法是基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号的信号评价方法，该信号评价方法包含以下步骤检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；取得与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和与上述正确图形对应的错误图形的理想值的步骤；计算上述正确图形的理想值与上述再现信号之间的距离和上述错误图形的理想值与上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。0319根据某实施方式，计算上述错误率的步骤包含以下步骤针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差的步骤；检测上述规定的每个图形组的产生概率的步骤；以及根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率的步骤。0320根据某实施方式，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。0321根据某实施方式，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组、欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组、和欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。0322根据某实施方式，上述PRML方式是PR12221方式。0323本发明的装置是基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号的装置，该装置具有图形检测部，其检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形；差值运算部，其计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值；错误率运算部，其根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率；以及标准偏差运算部，其计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差。0324根据某实施方式，该装置还具有运算部，其针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差；以及检测部，其检测上述规定的每个图形组的产生概率；上述错误率运算部根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、和在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率。0325根据某实施方式，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。0326根据某实施方式，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组、欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组、和欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。0327根据某实施方式，上述PRML方式是PR12221方式。0328本发明的信息记录介质是具有规定品质的信息记录介质，上述信息记录介质具有至少一个记录层，上述记录层包含用于以标记和空白的组合来记录信息的记录区域，与由上述标记以及上述空白再现的再现信号对应的评价值具有规定值，计算上述评价值的处理包含以下步骤根据由上述标记以及上述空白所再现的再现信号采用PRML方式生成二进制信号的步骤；检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号评价的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。0329本发明的再现装置是再现上述信息记录介质的再现装置，该再现装置具有受光部，其对上述信息记录介质照射光束，并接收来自上述标记以及上述空白的反射光；和再现部，其根据由上述反射光得到的信号，再现采用上述标记以及上述空白所记录的信息。0330本发明的记录装置是对上述信息记录介质进行记录的记录装置，该记录装置具有照射部，其对上述信息记录介质照射脉冲状的光束，并在上述记录区域中形成上述标记；以及调整部，其调整上述光束的发光波形图形，使上述评价值满足上述规定值。0331本发明的信号评价方法是根据由信息记录介质所再现的信号采用PRML信号处理方式生成二进制信号的信号评价方法。在该信号评价方法中，根据上述二进制信号来检测上述PRML方式中的以相同状态合流的通路的图形。将上述二进制信号设为正确图形，算出由该正确图形得出的理想信号、与该正确图形对应的错误图形、由该错误图形得出的理想信号、以及上述正确图形与上述错误图形的欧几里德距离。在上述二进制信号被检测为规定图形时，算出上述正确图形的理想信号与再现信号的欧几里德距离和上述错误图形的理想信号与再现信号的欧几里德距离之间的差值，针对规定的每个图形组求出上述差值的d和图形组的产生概率。针对上述每个图形组通过误差函数的积分值计算来求出推定的比特错误率。采用将上述求出的每个图形组的推定比特错误率相加后得出的整体推定比特错误率来评价再现信号。另外，根据将上述求出的每个图形组的推定比特错误率相加后得出的整体推定比特错误率来求出cj，并可以采用该cj来评价再现信号。0332本发明的信号评价装置是根据由信息记录介质所再现的信号采用PRML信号处理方式来生成二进制信号的信号评价装置。信号评价装置具有根据上述二进制信号检测上述PRML方式中的以相同状态合流的通路的图形的单元；以及将上述二进制信号设为正确图形，并算出由该正确图形得出的理想信号、与该正确图形对应的错误图形、由该错误图形得出的理想信号、和上述正确图形与上述错误图形的欧几里德距离的单元。信号评价装置具备在上述二进制信号被检测为规定图形时，算出上述正确图形的理想信号与再现信号的欧几里德距离和上述错误图形的理想信号与再现信号的欧几里德距离之间的差值的单元；针对规定的每个图形组求出上述差值的a和图形组的产生概率的单元;针对上述每个图形组通过误差函数的积分值计算来求出推定的比特错误率的单元；以及求出将上述已求出的每个图形组的推定比特错误率相加后得出的整体推定比特错误率的单元。另外，信号评价装置可具有根据将上述已求出的每个图形组的推定比特错误率相加后得出的整体推定比特错误率来求出cj的单元。0333本发明的信号评价方法是根据由信息记录介质所再现的信号采用PRML信号处理方式生成二进制信号的信号评价方法。在信号评价方法中，根据上述二进制信号来检测上述PRML方式中的以相同状态合流的通路的图形。将上述二进制信号设为正确图形，生成由该正确图形得出的理想信号、与该正确图形对应的错误图形、和由该错误图形得出的理想信号。在上述图形检测中，当上述二进制信号被检测为规定图形时，算出上述正确图形的理想信号与上述再现信号的距离和上述错误图形的理想信号与上述再现信号的距离之间的差值。根据上述算出的差值结果来求出针对规定的每个图形组预测的错误率。求出根据将在上述错误率运算步骤中求出的每个图形组的错误率相加后得到的整体错误率预测的正态分布的cj，采用该a来评价再现信号。0334在计算上述错误率时，针对上述规定的每个图形组来求出已算出的上述差值信息的cj和上述规定的图形组的产生概率。根据在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来求出所预测的错误率。0335另外，在计算上述错误率时，针对上述规定的每个图形组来求出已算出的上述差值信息超过规定阈值的次数和上述规定的图形组的产生概率。根据在上述规定的每个图形组中产生的错误数来求出预测的错误率。0336本发明的信号评价装置是根据由信息记录介质所再现的信号采用PRML信号处理方式生成二进制信号的信号评价装置。信号评价装置具有根据上述二进制信号来检测上述PRML方式中的以相同状态合流的通路的图形的单元；以及将上述二进制信号设为正确图形，并生成由该正确图形得出的理想信号、与该正确图形对应的错误图形、和由该错误图形得出的理想信号的生成单元。信号评价装置在上述检测单元中具有差值计算单元，其在上述二进制信号被检测为规定图形时，算出上述正确图形的理想信号与上述再现信号的距离和上述错误图形的理想信号与上述再现信号的距离之间的差值；错误率运算单元，其根据上述算出的差值结果来求出针对规定的每个图形组预测的错误率；以及求出根据将在上述错误率运算单元中求出的每个图形组的错误率相加后得到的整体错误率预测的正态分布的(7的单元。工业上的可利用性0337本发明在采用极大似然译码法进行信号处理的
技术领域：
中特别有用。权利要求1.一种信号评价方法，基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号，其包含以下步骤检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；取得与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和与上述正确图形对应的错误图形的理想值的步骤；计算上述正确图形的理想值与上述再现信号之间的距离和上述错误图形的理想值与上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。2.根据权利要求1所述的信号评价方法，其中，计算上述错误率的步骤包含以下步骤针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差的步骤；检测上述规定的每个图形组的产生概率的步骤；以及根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率的步骤。3.根据权利要求1所述的信号评价方法，其中，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。4.根据权利要求1所述的信号评价方法，其中，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组；欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组；以及欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。5.根据权利要求1所述的信号评价方法，其中，上述PRML方式是PR12221方式。6.—种装置，基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号，来评价上述再现信号，该装置具有图形检测部，其检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形；差值运算部，其计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值；错误率运算部，其根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率；以及标准偏差运算部，其计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差。7.根据权利要求6所述的装置，其还具有运算部，其针对上述规定的每个图形组计算上述差值的标准偏差；以及检测部，其检测上述规定的每个图形组的产生概率，上述错误率运算部根据上述差值的标准偏差、上述产生概率、和在上述规定的每个图形组中产生的错误数，来计算上述错误率。8.根据权利要求6所述的装置，其中，上述规定的图形组分别是欧几里德距离为14以下的图形组。9.根据权利要求6所述的装置，其中，多个上述规定的图形组包含欧几里德距离为14的图形组；欧几里德距离为12且2T信号孤立的图形组；以及欧几里德距离为12且2T信号连续的图形组。10.根据权利要求6所述的装置，其中，上述PRML方式是PR12221方式。11.一种信息记录介质，是具有规定品质的信息记录介质，其中，上述信息记录介质具有至少一个记录层，上述记录层包含用于以标记和空白的组合来记录信息的记录区域，与由上述标记以及上述空白再现的再现信号对应的评价值具有规定值，计算上述评价值的处理包含以下步骤根据由上述标记以及上述空白所再现的再现信号采用PRML方式生成二进制信号的步骤；检测与上述二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；计算与上述二进制信号对应的正确图形的理想值和上述再现信号之间的距离以及与上述正确图形对应的错误图形的理想值和上述再现信号之间的距离的差值的步骤；根据上述差值，针对上述PRML方式中规定的每个图形组，计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于评价上述再现信号的、与将上述规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。12.—种再现装置，用于再现权利要求11所述的信息记录介质，该再现装置具有受光部，其对上述信息记录介质照射光束，并接收来自上述标记以及上述空白的反射光；以及再现部，其根据由上述反射光得到的信号，再现采用上述标记以及上述空白所记录的信息。13.—种记录装置，用于对权利要求11所述的信息记录介质进行记录，该记录装置具有照射部，其对上述信息记录介质照射脉冲状的光束，在上述记录区域形成上述标记；以及调整部，其调整上述光束的发光波形图形，使上述评价值满足上述规定值。全文摘要本发明的信号评价方法是基于根据由信息记录介质所再现的再现信号采用PRML方式生成的二进制信号来评价再现信号的信号评价方法。信号评价方法包含以下步骤检测与二进制信号对应的以相同状态合流的通路的图形的步骤；取得与二进制信号对应的正确图形的理想值和与正确图形对应的错误图形的理想值的步骤；计算正确图形的理想值与再现信号之间的距离和错误图形的理想值与再现信号之间的距离的差值的步骤；根据差值，针对PRML方式中规定的每个图形组计算所预测的错误率的步骤；以及计算用于再现信号评价的、与将规定的每个图形组的错误率相加后得出的整体错误率对应的标准偏差的步骤。文档编号G11B7/0045GK101681658SQ20098000028公开日2010年3月24日申请日期2009年2月27日优先权日2008年2月28日发明者中田浩平,宫下晴旬,日野泰守,木村直浩申请人:松下电器产业株式会社