专利名称：记录/再现设备和激光驱动脉冲调整方法
技术领域：
本发明涉及记录/再现设备和用于诸如记录光盘的光记录介质的激光驱动脉冲 调整方法。
背景技术：
在针对光盘的记录技术中，一般将构成由激光形成的记录波形的记录参数称为写 策略，并基于写策略来驱动激光发光从而记录信息。在光盘上记录信息时，调整写策略的参 数以达到高记录质量称为写策略调整。一般通过对基准策略进行校正来执行写策略调整。基准策略是用作预定基准的基 本写策略，并且基准策略的特定数值可由介质制造商设定(预先记录在介质上)或者预先 存储在驱动器中。这里，一般而言，可针对要加载在驱动器中的每一个光盘来执行写策略调整。艮口， 已知写策略与光盘记录薄膜的材料和厚度、凹槽的配置等密切相关，因而有必要针对要使 用的每一个光盘来优化写策略。另外，写策略调整对于减少驱动器中的偏差(variation)是必要的。在此情况中，每一个驱动器均执行写策略调整存在以下原因。S卩，市场上分布着驱动器制造商很难处理的许多类型的光盘，并且预先针对市场 上分布着的所有光盘来准备适当的写策略需要相当多的研究努力。这是耗时的，而且还提 高了驱动器成本。另外，为了应对在驱动器装货之后分发的介质，需要诸如驱动器的固件更 新之类的措施，这也是耗时的。由于上述原因，在记录期间由驱动器执行写策略调整是必要的。例如在日本未实审专利申请公布No. 2000-200418中公开了写策略调整的一种特 定技术的示例。日本未实审专利申请公布No. 2000-200418记载了“从可写光盘读取指定了多个 可能的传号(mark)长度和空号(space)长度组合的记录脉冲位置的标准记录脉冲条件。这 些标准记录脉冲条件被用于测试写入。标准记录脉冲条件被统一地或个别地改变，并且最 佳记录脉冲条件被获得，从而减少抖动”。公开的是最简单的技术，即，基于基准策略来改变写策略数次，并使写策略经受测 试写入。然后，获取测试写入的信号质量评估值，并且在实际记录中使用具有最精良信号质 量的写策略。通过采用这种技术，减少了各个光盘和驱动器的偏差，从而调整为最优化的写策略。但是，由于最优化的写策略与基准策略之间的偏差的量和方向取决于光盘驱动器 的组合而变化，因此，为了在日本未实审专利申请公布No. 2000-200418所公开的技术中实 现高精度的策略调整，应该执行被赋予了在相对宽广的范围中的写策略调整值的测试写 入。换而言之，从这个角度看，日本未实审专利申请公布No. 2000-200418所公开的技术往往要针对策略调整执行大量测试写入，相应地存在需要长调整时间的问题。使用利用线性近似的计算来实现调整时间的减少是有效的，并且例如，日本未实 审专利申请公布No. 2008-84376和No. 2007-521183公开了该特定技术的示例。日本未实审专利申请公布No. 2008-84376公开了 “在设定激光的两个或更多个功 率水平时，为了在光记录介质中、在针对记录脉冲的调整设定的不同条件下进行调整而执 行记录操作，基于记录脉冲的设定条件读取通过该记录操作而记录的信号来计算质量评估 值，该质量评估值是记录信号质量的指标。从而，可在每一功率设定下针对各设定条件来 获得质量评估值，并基于针对功率的各个设定条件的质量评估值来确定记录脉冲的调整设 定。相应地，从而可以确定能够在设定了多个记录功率水平的条件下提高总记录质量的写 策略”。另外，日本未实审专利申请公布No. 2007-521183公开了 “通过使用三种记录脉冲 条件中的每一种，将特定记录图案(pattern)连续地记录到光盘上以供测试并连续地再现 记录图案。根据每一再现信号来测量与三种记录脉冲条件中的每一种相对应的传号的边沿 移位量，并根据测量值、通过线性近似来计算该记录脉冲条件的校正值”。在两种技术中，都是针对多个写策略执行测试写入并获得各个信号评估值。然后， 基于该结果通过预定线性近似使用算术表达式来执行计算，并调整写策略。这里，参考图16A、16B和17，将说明在要通过这种计算来导出写策略的情况下包 括激光记录功率调整在内的一系列调整处理的流程的具体示例。图16A和16B示出了在调整操作中在光盘上的每一记录的内容(位置)和布置顺 序的示例，图17示出了为了在这种情况下实现调整操作而要执行的处理顺序的示例。可写光盘介质(例如，数字多功能盘(DVD)-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW、蓝光盘(BD 注册商标)-R、或BD-RE)设有在其上的最内圆周部分和最外圆周部分中的要经受诸如激光 功率或写策略之类的调整的区域(调整区域，测试区域)。在图中，例示了如下情况执行 使用最外圆周侧的测试区域进行的调整。在此情况中，上述各介质被规定为使得从具有最高地址编号的侧开始使用测试区 域。图16A所示的位置A对应于图16B所示的位置A，并且以相同方式，图16A所示的位置 B对应于图16B所示的位置B。另外，在图16A中，箭头指示出写和读的方向。并且，在上述各介质中，最外圆周部分中的测试区域一周具有大约5个集群(集群 是误差校正的单位)。在图16A、16B和17所示的示例中，在写策略的调整操作之前，执行激光记录功率 的调整操作作为所谓的最佳功率控制(0PC)。具体而言，执行了 作为图16A和16B所示的 记录功率调整记录<1>的用于记录功率调整的记录(图17中的步骤S1001)，<1>的记录部 位的评估值的获取(S1002)，以及基于该评估值进行的记录功率调整(S1003)。如上所述，由于此情况被规定为从较高地址编号侧开始使用测试区域，所以记录 功率调整记录<1>被执行为使得在测试区域中使用未记录区域中的具有最高地址编号的 集群(在此情况中，最外圆周中的集群)。在此情况下，由于记录功率调整记录<1>具有如 图16A所示的一个集群的记录长度，所以针对该具有最高地址编号的集群执行记录功率调 整记录<1>。
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然后，为了策略计算而执行试验写入和评估值的获取。具体而言，作为策略计算和 用于再现引入(!^production pull-in)的记录(S1004)，执行了图16A禾口 16B中的从再现 引入记录<5>到策略计算记录<4>至<2>的记录，并在随后，获取策略计算记录<4>至<2> 的每一记录部位的评估值(S1005)。这里，再现引入记录<5>是针对再现数据所必需的引入处理(例如，锁相环(PLL)、 自动增益控制(AGC)等的引入)而执行信号记录的处理。不言而喻，再现引入记录<5>被 用作在评估值获取中再现策略计算记录<4>至<2>的记录部位时的引入区域。另外，策略计算记录<4>至<2>是用于通过改变每一写策略数次来执行信号记录 的处理。在针对每一策略计算记录<4>至<2>获取了评估值之后，基于这些评估值来计算 最优化的写策略(S1006)。换而言之，基于预定算术表达式(利用线性近似的算术表达式) 和评估值来计算最优化的写策略。然后，设定如此计算出的写策略(S1007)。
发明内容
与使用日本未实审专利申请公布No. 2000-200418所公开的技术的情况相比，通 过执行如上所述的使用利用线性近似的算术表达式进行的策略调整操作，可以急剧地减少 测试写入的数目和调整时间。但是，由于上述技术是基于在写策略改变和相应的质量评估值改变之间存在某种 类型的线性的前提的，当该线性丢失时，无疑无法执行准确的调整操作。具体而言，如图16A、16B和17所示，当假设针对三种类型的写策略执行测试写入 并针对调整而执行计算时，如果针对其中的一种写策略在测试写入区域中出现诸如缺陷之 类的扰乱(disturbance)，则作为调整计算的前提的线性丢失，并且其结果是无法进行准确 的调整操作。或者，甚至在介质的特性显著地恶化时，作为调整计算的前提的线性也不完善，并 且其结果是也无法进行准确的调整操作。在日本未实审专利申请公布No. 2008-84376和No. 2007-521183所公开的相关领 域的技术中，没有针对线性丢失的情况采取的措施，并且在实际记录中如其原样地使用计 算出的写策略。换而言之，从这个角度看，在基于预定算术表达式(利用线性近似的算术表 达式)来调整写策略的相关技术中，令人担忧的是设定了错误的写策略布置值，从而无法 进行准确的记录操作。因此，考虑到上述问题，本发明一个实施例具有作为如下所述的记录/再现设备 的配置。根据本发明一实施例，一种记录/再现设备，包括光学头单元，通过将激光照射 在光记录介质上来在所述光记录介质上执行对由传号和空号表示的信息的写入和读取；激 光驱动脉冲生成单元，生成与所记录信息相应的激光驱动脉冲以向所述光学头单元提供激 光驱动信号，并向所述光学头单元上实行用以进行记录的激光照射；评估值计算单元，基于 由所述光学头单元从所述光记录介质读取的信号来计算作为记录信号质量的指标的质量 评估值；以及调整控制单元，执行对在所述激光驱动脉冲生成单元中生成的激光驱动脉冲的调整设定，并且在该记录/再现设备中，关于针对所述激光驱动脉冲的波形调整参数，在 所述调整控制单元通过依次设定不同的波形调整参数来执行针对各波形调整参数的测试 写入之后，所述单元基于读取用于测试写入的信号的结果来计算用于提高信号质量的波形 调整参数，并在所述调整控制单元通过依次在所述激光驱动脉冲生成单元中设定这样算出 的算出波形调整参数以及被定义成该算出波形调整参数的比较对象的比较目标波形调整 参数来实行在各波形调整参数的设定下的测试写入之后，所述单元基于所述评估值计算单 元获取所述用于测试写入的信号的质量评估值的结果，判断在设定所述算出波形调整参数 的情况下是否比在设定所述比较目标波形调整参数的情况下更进一步提高了信号质量，以 基于该判断结果来执行对所述激光驱动脉冲的调整设定。根据本发明该实施例，通过使用被规定为比较对象的比较对象波形调整参数，执 行各自设定了通过测试写入计算出的算出波形调整参数的比较对象和该算出波形调整参 数的测试写入，此外，基于通过获取质量评估值而获得的结果，判断在设定算出波形调整参 数的情况下是否比在设定比较对象波形调整参数的情况下更进一步提高了信号质量。另 外，基于该判断结果，来设定波形调整参数。根据本发明实施例，可以判断波形调整参数是否被正确计算出，并基于该结果，可 以防止设定未正确计算出的波形调整参数。本发明实施例希望判断波形调整参数是否被正确计算出，并且基于该结果来防止 设定未正确计算出的波形调整参数。终究，其结果是，能够实现记录质量的提高。另外，根据本发明实施例，通过使用比较对象波形调整参数来相对地判断波形调 整参数是否被正确计算出，可以清楚地判断波形调整参数是否被错误地计算出，例如，即使 在使用未从其获得有利信号质量的对象(介质或记录/再现设备)的情况下也是如此。同 时，例如，由于基于判断结果设定了具有有利信号质量的波形调整参数，所以能够在该对象 中确保设定有利波形调整参数。
图1是图示出根据本发明一实施例的记录/再现设备的内部构成的框图；图2A和2B是描述根据本发明第一实施例的写策略调整操作的示图；图3是图示出用于实现根据本发明第一实施例的调整操作而要执行的处理序列 的流程图；图4是图示出当通过本发明第一实施例的技术来执行用于调整操作的记录时各 记录在盘上的位置关系的示图；图5A和5B是描述根据本发明第二实施例的写策略调整操作的示图；图6是图示出当通过本发明第二实施例的技术来执行用于调整操作的记录时各 记录在盘上的位置关系的示图；图7A和7B是描述在图5A和5B所示的记录布置中调整操作所需的记录长度的减 小的示图；图8是图示出用于实现根据本发明第二实施例的调整操作而要执行的处理序列 的流程图9A和9B是描述根据本发明第三实施例的写策略调整操作(前半操作)的示 图；图IOA和IOB是描述根据本发明第三实施例的写策略调整操作(后半操作)的示 图；图11是图示出用于实现根据本发明第三实施例的调整操作而要执行的处理序列 的流程图；图12A和12B是描述根据本发明第四实施例的写策略调整操作的示图；图13是图示出当通过本发明第四实施例的技术来执行用于调整操作的记录时各 记录在盘上的位置关系的示图；图14是图示出用于实现根据本发明第四实施例的调整操作而要执行的处理序列 的流程图；图15是图示出用于实现作为在执行再次尝试操作的修改例的调整操作而要执行 的处理序列的流程图；图16A和16B是图示出在相关技术的写策略调整操作中执行的各记录的内容(位 置)和布置顺序的示图；以及图17是图示出用于实现相关技术中的写策略调整操作而要执行的处理序列的流 程图。
具体实施例方式下文中，将按如下顺序描述本发明的示例性实施例(下文中称为实施例)。1.第一实施例1-1.记录/再现设备的构成1-2.作为第一实施例的调整操作1-3.用于实现第一实施例的调整操作的处理序列2.第二实施例2-1.作为第二实施例的调整操作2-2.用于实现第二实施例的调整操作的处理序列3.第三实施例3-1.作为第三实施例的调整操作3-2.用于实现第三实施例的调整操作的处理序列4.第四实施例4-1.作为第四实施例的调整操作4-2.用于实现第四实施例的调整操作的处理序列5.修改示例1.第一实施例1-1.记录/再现设备的构成图1是图示出根据本发明的记录/再现设备的一实施例的记录/再现设备1的内 部构成的框图。在图1中，盘D是盘状光记录介质。这里，光记录介质是通过照射激光来读取所记录信息的记录介质的总称。盘状光记录介质也称为光盘。此实施例的记录/再现设备1能够处理以相变方式来执行数据记录的光盘(可记 录且可写的盘)，该光盘的一种是上面的盘D。在此情况中，在盘D上形成经受摆动(wobble) (蛇行)的凹槽，并且这些凹槽是记录轨道。通过在凹槽中摆动来内置作为所谓的ADIP信 息的地址信息等等。除了这种可写盘之外，此实施例的记录/再现设备1还能够处理所谓的ROM型(再 现专用类型)盘D，在该ROM型盘D上，信息是由凹坑/小岛(pit/land)的组合来记录的。此实施例的记录/再现设备1被配置为至少处理可写盘和ROM型盘，例如数字多 功能盘(DVD)和蓝光盘(BD 注册商标)。盘D被加载在转台(图中未示出)上，并在记录/再现操作期间受主轴电机(SPM)2 驱动而例如以固定的线性速度(CLV)进行旋转。另外，还执行通过光学读取头(光学头)OP进行的对盘D上通过摆动凹槽轨道而 内置的ADIP信息的读取、对通过相变传号记录的信息的读取、或者对由凹坑/小岛的组合 记录的信息的读取。此外，在记录期间，用户数据被光学读取头记录在轨道中作为相变传号。光学读取头OP设有用于对盘D执行激光照射的激光二极管LD。激光二极管LD基于来自图中所示的激光驱动器13的激光驱动信号(驱动电流) 受驱动而发光。另外，虽然图中未示出，但是在光学读取头OP中，形成有检测从激光二极管LD对 盘D的激光照射产生的反射光的光电检测器，作为激光输出端子的物镜，和光学系统(后面 将描述)，该光学系统经由物镜将激光照射在盘记录表面上并将反射光引导至光电检测器。在光学读取头OP中，物镜被保持为根据二轴机构在循轨方向(tracking direction)禾口聚焦方向(focus direction)上移动。另外，整个光学读取头OP还能够根据图中的螺线机构(threadmechanismU而在 与盘半径方向平行的方向上移动。由光学读取头OP中的光电检测器检测出的来自盘D的反射光信息被提供给矩阵 电路4作为与受光量相应的电信号。矩阵电路4设有响应于来自作为光电检测器的多个光传感器件的输出电流的电 流_电压转换电路、矩阵计算/放大电路等等，并且通过矩阵计算处理而生成必要信号。例如，矩阵电路4生成与再现数据相对应的高频信号(也称为再现数据信号或RF 信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号、循轨误差(trackingerror)信号等。矩阵电路4还生成与凹槽的摆动相关的信号，即，作为用于检测摆动(摆动幅度) 的信号的推挽信号(push-pull signal) 0分别地，从矩阵电路4输出的再现数据信号被提供给读/写(RW)电路5，聚焦误差 信号和循轨误差信号被提供给伺服电路11，并且推挽信号被提供给摆动电路8。读/写电路5通过对所再现的数据信号(RF信号)进行二值化处理和锁相环(PLL) 处理来执行再现时钟等的生成。经读/写电路5 二值化的数据被提供给调制/解调电路6。读/写电路5还通过后面要描述的处理执行记录中的记录信号的生成。另外，读/写电路5在其中设有评估器5a。评估器5a基于RF信号来测量(计算)
10质量评估值，该质量评估值是对再现信号质量的评估指标。在一具体示例的情况下，评估器 5a计算抖动值作为质量评估值。由评估器5a计算出的质量评估值被提供给系统控制器10。调制/解调电路6设有在再现期间用作解码器的部件以及在记录期间用作编码器 的部件。作为再现期间的解码处理，基于再现时钟来执行对游程长度受限码的解调处理。另外，ECC编码器/解码器7执行用以在记录期间添加纠错码的ECC编码处理和 用以在再现期间纠错的ECC解码处理。在再现期间，在调制/解调电路6中经解调的数据被放入内部存储器以执行诸如 检错/纠错或去交织之类的处理并从而获得再现数据。在ECC编码器/解码器7中被解码成再现数据的数据基于系统控制器10的指令 而被读取，并被传送至主机计算机15。从矩阵电路4输出的推挽信号作为与凹槽的摆动相关的信号在摆动电路8中被处 理。作为ADIP信息的推挽信号在摆动电路8中被解调成构成ADIP地址的数据流并被提供 给地址解码器9。地址解码器9通过对提供来的数据执行解码来获得地址值并将该数据提供给系 统控制器10。另外，地址解码器9使用从摆动电路8提供来的摆动信号来生成PLL处理中的时 钟，并例如在记录期间将该时钟提供给各个部分作为编码时钟。在记录时，记录数据从主机计算机15传送来，但是记录数据被递送给ECC编码器 /解码器7中的存储器(图中未示出)以进行缓冲。在此情况中，ECC编码器/解码器7针对所缓冲的记录数据执行作为编码处理的 纠错码、子码、交织等的添加。另外，经受了 ECC编码的数据还要在调制/解调电路6中经受例如在RLL(1-7)PP 模式中的预定游程长度受限编码处理(调制处理)，并被提供给读/写电路5。作为编码时钟(其是用于记录期间的这种编码处理的基准时钟)，使用了从上述 摆动信号生成的时钟。在编码处理中生成的记录数据在读/写电路5中经受预定的记录调制编码或D/A 转换处理，然后作为记录信号被提供给写策略电路14。写策略电路14根据从读/写电路5提供来的记录信号来生成激光驱动脉冲。在 写策略电路14中生成的激光驱动脉冲的脉冲水平或脉冲边沿位置被调整了来自系统控制 器10的设定值(写策略设定值)。在记录期间，在写策略电路14中生成的并经受了策略调整的激光驱动脉冲经由 激光驱动器13而被给出作为激光二极管LD的驱动信号。另外，在记录期间，通过最佳功率控制(OPC)处理来对记录功率执行校准，并为激 光驱动器13设定通过OPC获取的最优化的记录功率。由于OPC处理是基于系统控制器10的控制处理来执行的，所以系统控制器10为 激光驱动器13设定了从OPC处理的执行获取的记录功率的值。因此，可通过最优化的记录 功率来执行记录操作。
伺服电路11根据上述来自矩阵电路4的聚焦误差信号和循轨误差信号来生成诸 如聚焦、循轨和螺线之类的各种类型的伺服驱动信号以执行伺服操作。换而言之，根据聚焦误差信号和循轨误差信号生成聚焦驱动信号和循轨驱动信 号，并驱动光学读取头OP中的作为二轴机构的聚焦线圈和循轨线圈。从而，由光学读取头 OP(光电检测器)、矩阵电路4、伺服电路11和二轴机构形成了循轨伺服环和聚焦伺服环。另外，伺服电路11根据来自系统控制器10的轨道跳转命令而关断循轨伺服环，并 通过输出跳转驱动信号来执行轨道跳转操作。此外，伺服电路11生成作为循轨误差信号的低通分量来获得的螺线误差信号、或 者基于来自系统控制器10的访问执行控制的螺线驱动信号，并驱动螺线机构3。螺线机构 3设有由支撑光学读取头OP的主杆、螺线电机、传动齿轮等构成的机构，并且螺线电机根据 螺线驱动信号而受驱动以执行光学读取头OP所必要的滑行移动。主轴伺服电路12控制主轴电机2执行CLV旋转。主轴伺服电路12在盘D为可写盘的情况下获得针对摆动信号在PLL处理中生成 的时钟作为当前的主轴电机2的旋转速度信息，并通过对该信息与预定的CLV基准速度信 息进行比较来生成主轴误差信号。在数据再现时，由于通过读/写电路5的PLL处理生成的再现时钟(作为解码处 理的标准的时钟)变为当前的主轴电机2的旋转速度信息，所以通过对该信息与预定的CLV 基准速度信息进行比较来生成主轴误差信号。然后，主轴伺服电路12输出根据主轴误差信号生成的主轴驱动信号，并致使主轴 电机2执行CLV旋转。另外，主轴伺服电路12根据来自系统控制器10的主轴起动/制动(kick/brake) 控制信号来致使出现主轴驱动信号，并且还致使主轴电机2进行诸如启动、停止、加速和减 速之类的操作。如上的伺服系统和记录/再现系统的每一种操作都受形成在微计算机中的系统 控制器10的控制。系统控制器10根据来自主机计算机15的命令来执行各种处理。例如，当从主机计 算机15发出写命令时，系统控制器10将光学读取头OP移动到要写入数据的地址。然后， ECC编码器/解码器7通过调制/解调电路6对从主机计算机15传送来的数据(例如，具 有MPEG2等的各种形式的视频数据或音频数据)执行如上所述的编码处理。然后，根据该 处理而从读/写电路5向激光驱动器13提供记录信号，从而执行在盘D上的记录。另外，当例如从主机计算机15提供来要求传送盘D上记录的某种数据(例如， MPEG 2视频数据)的读取命令时，执行目标为所指示的地址的搜寻操作控制。换而言之，向 伺服电路11发出一命令，然后执行目标为所指示地址的光学读取头OP访问操作。之后，执行将所指示数据区中的数据传送到主机计算机15所需的操作控制。换而 言之，执行从盘D的数据读取，在读/写电路5、调制/解调电路6和ECC编码器/解码器7 中执行解码、缓冲等，并传送所请求的数据。另外，在此示例的情况中，系统控制器10通过向写策略电路14给出不同的写策略 设定值来致使进行不同写策略设定条件下的测试写入，基于根据执行了测试写入的部位的 读取而获得从评估器5a提供来的质量评估值的结果，计算信号质量改善的写策略(最优化的写策略)。此外，作为包括写策略的这种计算的实施例，将再次描述写策略调整操作。这里，在图1的示例中，在假设AV装备(例如，个人计算机或视频记录器)包含有 盘驱动单元的构成的情况下，例示了如下配置其中，设在盘驱动单元中的系统控制器10 根据设在设备主体中的主机计算机15 (对记录/再现设备1执行总体控制)的指令而执行 各种处理。但是，本发明不限于设有主机计算机15和系统控制器10的配置，并且可采用根 据实际实施例来进行了适当优化的配置。1-2.作为第一实施例的调整操作首先，在描述作为本实施例的写策略调整操作之前，将说明此示例中的前提。首先，在此示例中，在预先在盘D上确定的测试区域(调整区域)中执行用于写 策略调整的测试写入。在此示例中，如上所述，盘D相当于诸如DVD或BD(DVD-R，DVD+R， DVD-RW, DVD+RW或BD-R，BD-RE)的可写盘，包括盘D在内的这种介质在最外圆周部分和最 内圆周部分中设有测试区域。这里，在第一实施例到第三实施例中，例示了如下情况在设在最外圆周部分的测 试区域中执行用于写策略调整的测试写入。另外，在这些情况中，在测试区域内，盘D按照格式被规定为使得从较高地址编号 侧(在此情况中为外圆周侧)开始执行信号记录。此外，在此示例中，作为根据作为OPC的优化记录功率调整操作的一系列操作，执 行写策略调整操作。此外，在此示例中，按照作为最小单位的集群来执行盘D上的记录。这里，集群是 纠错单位(相当于一个ECC块)。此外，在此示例中，写策略的计算是以与例如日本未实审专利申请公布 No. 2008-84376和No. 2007-521183所公开的发明相同的方式、基于通过在用于设定写策略 的不同条件下执行测试写入来获得的记录部位的评估值获取结果、根据利用线性近似的算 术表达式来执行的。此外，为了确认而进行描述，本发明不具有用于提高信号质量的写策略自身的计 算技术的特性，而是可根据预定的算术表达式来执行写策略的计算。换而言之，本发明不限 于日本未实审专利申请公布No. 2008-84376和No. 2007-521183所公开的技术。此外，在此示例中，在为了提高信号质量而计算写策略时，针对用于设定写策略的 三种条件来执行测试写入。换而言之，在此情况中的用于写策略计算的测试写入是在按照 第一设定条件的写策略设定下、在按照第二设定条件的写策略设定下、以及在按照第三设 定条件的写策略设定下执行的。另外，针对一种写策略设定条件，对两个集群执行此情况中的测试写入(例如，参 见图2A)。基于上述前提，将参考图2A和2B描述作为第一实施例的写策略调整操作。图2A和2B示出了在执行作为本实施例的写策略调整操作(和OPC处理)时的各 记录及其布置顺序。图2A主要示出了各记录的不同内容及其记录长度和布置顺序，图2B 示出了图2A中的各记录在盘D上的位置和布置顺序。这里，图2A所示的位置A对应于图2B所示的位置A，并且以相同方式，图2A所示的位置B对应于图2B所示的位置B。另外，在图2A中，箭头指示出写方向和读方向。首先，如上所述，在本实施例中，在设在盘D上的最外圆周部分中的测试区域中执 行用于调整操作的测试写入。这里，在前述各介质中，设在最外圆周部分的测试区域中的轨道的一周长度相当 于大约5个集群的长度。通过对图2A和2B与上面说明的图16A和16B进行比较可了解，在本实施例的调 整操作中，对最优化记录功率的调整操作和用于提高信号质量的写策略的计算是以与相关 技术中的情况相同的方式执行的。具体地，在此情况中，同样地，首先针对测试区域内的未记录区域中具有最高地址 编号的集群执行记录功率调整记录(图中的<1>并且总计一个集群)，并获取按照记录功率 调整记录<1>的记录部位的质量评估值。然后，基于该结果，对最优化的记录功率(基于评 估值来导出并设定最优化的记录功率)进行调整。之后，为了写策略的计算而执行图中的策略计算记录(<2>到<4>)和再现引入记 录 5 。这里，再现引入记录是用于以与上面的图16A和16B所描述的方式相同的方式执 行数据再现所必需的引入处理(例如，PLL和自动增益控制(AGC)的引入)的信号记录。在此示例中，再现引入记录的记录长度变为相当于如图2A和2B所示的一个集群。为了确认而进行描述，由于此情况中的读和写方向是图中示出的箭头方向(从内 圆周侧到外圆周侧)，所以当要获得策略计算记录<2>至<4>和再现引入记录<5>的记录内 容时，各记录被执行为使得沿写和读方向按“再现引入记录<5> —策略计算记录<4>(第一 写策略设定条件下的记录)一策略计算记录<3>(第二写策略设定条件下的记录)一策略 计算记录<2> (第三写策略设定条件下的记录)，，的顺序来布置。此时，为了保持推入较高地址编号侧的规则，通过根据例如测试区域中的未记录 区域的最后地址(在此情况中，在执行记录功率调整记录<1>的地址之前的地址)的信息 以及要记录的信号长度(在此情况中，再现引入记录<5>—策略计算记录<4>至<2>的信 号长度)的信息进行逆计算来获得开始记录的地址。然后，在执行再现引入记录<5>和策略计算记录<4>至<2>之后，执行对策略计算 记录<4>至<2>的各记录部位的读取，并相应地，在评估器5a中获取质量评估值。之后，基于如上获取的质量评估值，根据利用线性近似的算术表达式来计算写策 略以用于提高信号质量。如上根据利用线性近似的算术表达式计算出的写策略在下文中称为“算出策略”。在本实施例中，不是根据如上获得的算出策略立即将其设定到写策略电路14，如 图所示，在执行比较策略测试记录(<6>)和算出策略测试记录(<7>)之后，判断通过设定算 出策略是否提高了信号质量。这里，在此示例中，作为比较策略，使用了所谓的基准策略(初始策略)。如上所述，基准策略是预先确定的用作基准的基本写策略，并且作为特定设定值， 存在由介质制造商确定(记录在盘D上)并预先存储在驱动器(记录/再现设备1)中的 设定值。
基准策略可从例如将作为基准的盘D与记录/再现设备1 (光学读取头0P)相组 合的实验结果获得。在图2A和2B中，作为获得算出策略之后的特定操作，首先，沿着图中的箭头方向 执行再现引入记录<8> —算出策略测试记录<7> —比较策略测试记录<6>。在此情况中，再现引入记录也是一个集群。另外，算出策略和比较策略二者的测试 记录都是两个集群。在此情况中，同样地，在通过逆计算获得记录开始地址之后开始记录操作，从而记 录被执行并被推入较高地址编号侧。此外，在执行再现引入记录<8>—算出策略测试记录<7> —比较策略测试记录<6> 之后，通过执行对算出策略测试记录<7>和比较策略测试记录<6>的记录部位的读取来获 取质量评估值。然后，基于所获取的质量评估值的大小关系，判断在设定了算出策略的情况下是 否比在设定了比较策略的情况下更进一步提高了信号质量。具体而言，判断在算出策略测 试记录<7>的记录部位获取的质量评估值的数值是否好于在比较策略测试记录<6>的记录 部位获取的质量评估值的数值。例如，当如同此示例中那样，质量评估值是抖动值时，判断 在算出策略测试记录<7>的记录部位获取的质量评估值是否小于在比较策略测试记录<6> 的记录部位获取的质量评估值。作为如上判断的结果，当在设定算出策略的情况下比在设定比较策略的情况下更 进一步提高了信号质量时，认为正确地执行了算出策略的导出，并且采用该算出策略作为 要在实际记录中使用的写策略。具体而言，在写策略电路14中设定作为算出策略的写策略 设定值。另一方面，作为如上判断的结果，当在设定算出策略的情况下没有比在设定比较 策略的情况下更进一步提高信号质量时，可认为未正确执行算出策略的导出。为此，在本实施例中，当在设定算出策略的情况下没有比在设定比较策略的情况 下更进一步提高信号质量时，采用该比较策略作为要在实际记录中使用的写策略。具体而 言，在写策略电路14中设定作为比较策略的写策略设定值。这样，在本实施例中，通过使用基准策略作为比较策略，基于在设定了比较策略以 及设定了从测试写入的结果进行计算而获得的算出策略的情况下进行的测试写入，判断在 设定算出策略的情况下是否比在设定比较策略的情况下更进一步提高了信号质量。然后， 基于该判断结果，执行波形调整参数的设定。根据作为上面的本实施例的写策略调整操作，可以判断是否正确地计算出了算出 策略，并且基于该结果，可以防止设定错误计算出的策略。最后，其结果是，能够实现记录质量的提高。这里，就判断写策略是否被正确计算出而论，想到判断也可被执行为使得执行在 设定算出策略的情况下的测试写入以及质量评估值的获取，并判断所获取的评估值是否等 于或大于预先设定的一阈值。换而言之，可获得大于预定信号质量的质量是被确定为正确 计算出的写策略的技术概念，该正确计算出的写策略可被采用。但是，当采用这样来确定质量评估值的绝对阈值的技术时，对于在信号质量方面 具有有利特性的对象(盘D和记录/再现设备1)而言是良好的，但是在具有不利特性的对象的情况下，即使写策略本身的计算被正常执行，也可能出现不能够获得满足阈值的质量 的情况。换而言之，在此情况中，即使具有比比较策略高的信号质量的算出策略有效，评估 值也小于阈值，从而可能采用具有较低信号质量的比较策略。为了应对该问题，根据本实施例的技术，由于相对地判断算出策略是否好于比较 策略，所以可以防止即使在算出策略实际上更好的情况下也采用比较策略，如上所述这是 由对象的不利特性的导致的。换而言之，从这个角度可理解，根据本实施例，存在如下优点基于如上的相对判 断结果可为对象确保设定更好的策略。1-3.用于实现第一实施例的调整操作的处理序列图3是图示出用于实现根据上述第一实施例的调整操作而要执行的处理序列的 流程图。图3示出在图1所示的系统控制器10基于例如容纳在内部存储器中的程序来执 行操作的前提下、用于实现作为第一实施例的调整操作的具体处理序列。另外，从图3开始，假定图7A和7B、图11、图14和图15处在如下状态在盘D上 记录了比较策略的情况下，从盘D对比较策略的读取已完成。在图3中，从步骤SlOl到S106的处理与已在图16A和16B中描述的步骤S 1001 到S1006的处理相同。为了确认而进行描述，首先，从步骤SlOl到S103的处理是作为OPC处理的、用于
调整最优化的记录功率的处理。具体而言，在步骤S101，实行用于执行记录功率调整记录(图2A和2B中<1>的记 录)的处理。换而言之，伺服电路11、读/写电路5、调制/解调电路6、ECC编码器/解码 器7被控制来实行数据记录，并且通过改变要设定到激光驱动器13的记录功率数次来实行 记录功率调整记录。从上面的描述可理解，记录功率调整记录<1>是通过使用测试区域内的未记录区 域中在最高地址编号侧的集群来执行的。随后，在步骤S102，作为用于获取<1>的记录部位的评估值的处理，在伺服电路11 受控之后针对在步骤SlOl执行记录的部位来执行数据读取，并相应地，获取在评估器5a中 获得的质量评估值。然后，在下一步骤S103，作为基于评估值来调整记录功率的处理，基于在步骤 S102获取的质量评估值来导出最优化的记录功率并将所导出的记录功率设定到激光驱动 器13。随后，步骤S104到S106的处理用于策略计算。换而言之，首先在步骤S104，执行用于执行策略计算和再现引入(从<5>到<2>的 记录)的记录的处理。如先前所述，这种记录是沿着写和读方向按“再现引入记录<5>—策 略计算记录<4> —策略计算记录<3> —策略计算记录<2>”的布置顺序来执行的。具体而言，在步骤S104，针对再现引入记录<5>，伺服电路11、读/写电路5、调制/ 解调电路6和ECC编码器/解码器7被控制来实行预定数据记录。另外，对于策略计算记 录<4>到<2>，预先确定的测试数据的记录被实行，并且写策略电路14的写策略设定值被改 变数次(在此情况中，每两个集群改变一次)。随后，在步骤S105，作为用于获取<4>到<2>的记录部位的评估值的处理，通过控制伺服电路11来执行针对策略计算记录<4>到<2>的记录部位的读取，并相应地获取在评 估器5a中获得的质量评估值。此外，在下一步骤S106，基于评估值来计算最优化策略。换而言之，基于在上面的 步骤S105获取的质量评估值，根据预先设定的算术表达式来计算用于提高信号质量的最 优化写策略。在如上的步骤S106的计算处理中获得算出策略之后，在步骤S107，实行用于执行 比较策略和算出策略的测试记录以及再现引入记录(从<8>到<6>的记录)的处理。如上面在图2A和2B中所述，这种记录被执行为使得布置顺序是沿着读和写方向 的“再现引入记录<8> —算出策略测试记录<7> —比较策略测试记录<6>”。在步骤S107， 针对再现引入记录<8>，伺服电路11、读/写电路5、调制/解调电路6和ECC编码器/解 码器7被控制来实行预定数据记录。另外，针对算出策略测试记录<7>到比较策略测试记 录<6>，执行预先确定的测试数据的记录，并将写策略电路14的写策略设定值的设定状态 从算出策略的设定状态改变到比较策略的设定状态(各自执行两个集群)。随后，在步骤S108，作为用于获取<7>和<6>的记录部位的评估值的处理，通过控 制伺服电路11来执行针对算出策略测试记录<7>和比较策略测试记录<6>的记录部位的 读取，并相应地获取在评估器5a中获得的质量评估值。另外，在下一步骤S 109，判断算出策略的评估值是否良好。换而言之，判断在步骤 S108获取的算出策略测试记录<7>的质量评估值相比于以相同方式在步骤S108获取的比 较策略测试记录<6>的质量评估值是否具有更有利的值。当在此示例中质量评估值为抖动值时，步骤S109的判断处理是用于判断算出策 略测试记录<7>的质量评估值是否小于比较策略测试记录<6>的质量评估值的处理。在步骤S109，当获得算出策略具有有利评估值的肯定结果时，处理行进到步骤 S110,并且设定算出策略。换而言之，对写策略电路14设定在步骤S106的计算处理中计算 出的写策略设定值。另一方面，在步骤S109，当获得算出策略具有不利评估值的否定结果时，处理行进 到步骤S111，并且设定比较策略。换而言之，对写策略电路14设定作为基准策略的写策略 设定值，该基准策略是预先存储在记录/再现设备1中或预先记录在盘D上的。在实行步骤SllO或Slll之后，图中示出的用于调整操作的处理结束。2.第二实施例2-1.作为第二实施例的调整操作接下来，将描述第二实施例。在第二实施例中，记录算出策略的位置和记录比较策略的位置被布置在盘D上的 相同角度位置(angular position)处。此外，从第二实施例开始，在下面要描述的第三和第四实施例中，记录/再现设备 1的构成与第一实施例中的相同，并因此，将不再重复参考附图对该部分的描述。图4示出了当通过第一实施例中所述的技术来实行用于调整操作的记录时、在用 于记录的盘D上的位置关系。这里，当以第一实施例所述的顺序来执行用于调整操作的记录时，执行比较策略 测试记录<6>的位置和执行算出策略测试记录<7>的位置被布置为在圆周方向上彼此相
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因此，当通过压印指纹等而产生的扰乱(β)出现在图中示出的位置时，比较策略 测试记录<6>中的评估值往往恶化，并且结果，令人担忧的是即使未正确执行算出策略的 计算，也将算出策略测试记录<7>的评估值确定为有利。另外，可能发生与其相反的情形。如从以上角度可理解的，当以如第一实施例所述的顺序执行用于调整操作的各记 录时，存在在算出策略和比较策略的任一个的测试记录部位中出现扰乱的情况，并且相应 地，令人担忧不能够恰当地判断算出策略是否被正确计算出。其结果是，存在如下问题设 定了不恰当的写策略，这会导致记录质量恶化。因此，在第二实施例中，针对算出策略执行测试记录的位置和针对比较策略执行 测试记录的位置被布置在盘D上的相同角度位置处，并且其旨在防止出现由如图4所示的 仅在一个记录位置上的扰乱产生的影响。图5Α和5Β是用于描述根据第二实施例的写策略调整操作的示图，并且示出了当 执行与图2Α和2Β的情况中的调整操作相同的调整操作时实行的各记录的位置和布置顺 序。在此情况中，以与图2Α和2Β中相同的方式，图5Α示出了各记录的不同内容及其记录 长度和布置顺序，并且图5Β示出了图5Α中的各记录在盘D上的位置和布置顺序。如通过比较图5Α和5Β与图2Α和2Β可理解的，与第一实施例的不同点在于针对 比较策略执行测试记录的位置被布置在沿外圆周侧偏离三个集群那么远的位置处。具体而言，在此情况的调整操作中，在以与第一实施例相同的方式执行记录功率 调整记录<1>之后通过OPC处理执行最优化的记录功率调整操作之后，各记录被执行为使 得如图所示从外圆周侧开始布置成“策略计算记录<2> —策略计算记录<3> —比较策略测 试记录<4> —策略计算记录<5> —再现引入记录<6>”的顺序。即，各记录被执行为使得沿 着写和读方向布置成“再现引入记录<6> —策略计算记录<5> —比较策略测试记录<4> — 策略计算记录<3> —策略计算记录<2>”的顺序。可见，作为比较策略设定条件下的测试写入的比较策略测试记录<4>被插入在作 为第一策略设定条件下的测试写入的策略计算记录<5>和作为第二策略设定条件下的测 试写入的策略计算记录<3>之间。另外，在此情况中，在以如上沿着写和读方向的“再现弓I入记录<6> —策略计算记 录<5> —比较策略测试记录<4> —策略计算记录<3> —策略计算记录<2>”的顺序执行记 录之后，执行对策略计算记录<5>、策略计算记录<3>和策略计算记录<2>的各记录部位的 读取，获取各记录部位的质量评估值，然后基于所获取的质量评估值和预定算术表达式来 计算写策略。此外，在通过这样的计算处理获得算出策略之后，沿着写和读方向以“再现引入记 录<8> —算出策略测试记录<7>”的顺序执行各记录。之后，针对算出策略测试记录<7>的记录部位和比较策略测试记录<4>的记录部 位执行读取，并获取各自的质量评估值。基于所获取质量评估值的大小关系，判断在以与第 一实施例中相同的方式设定算出策略的情况下是否比在设定比较策略的情况下更进一步 地提高了信号质量，并基于判断结果来设定写策略。在第二实施例中，通过利用如上所述的布置顺序和记录长度来执行各记录，在算 出策略测试记录和比较策略测试记录之间形成了三个集群那么远的间隔。
这里，在此示例中，测试区域中的轨道的一周相当于约五个集群。在此示例中，同 样地，对两个集群执行算出策略和比较策略的各自的测试记录。因此，通过如上在算出策略和比较策略的各自的测试记录之间形成三个集群的间 隔，执行算出策略和比较策略的各自的测试记录的位置可被布置在盘D上的相同角度位置。图6示出了当通过根据如上所述第二实施例的技术实行用于调整操作的记录时 各记录在盘D上的位置关系。如从图6显而易见的，如果使得将算出策略和比较策略的各自的测试记录位置布 置在相同角度位置，则可以有效地防止发生扰乱(β)仅在一个测试记录位置上的影响。这里，一般而言，由于诸如缺陷之类的扰乱出现在对于盘D的轨道宽度(例如，在 BD的情况下为0.32 μ m)而言相当宽范围(例如，从数打(dozen)到数百个轨道)内，所以 可以认为扰乱的影响在如上布置在相同角度位置的各记录位置上被相等地接收。因此，根据第二实施例，可以有效地防止由于扰乱的影响而对算出策略的计算是 否被正确执行作出错误判断的情形，并且结果，能够执行更恰当的写策略调整操作。另外，通过遵循图5A和5B所示的布置来执行各记录，当算出策略和比较策略的各 自的测试记录位置被布置在相同角度位置时，可以抑制调整操作所需的总记录长度。这里，如果目的简单地是使得算出策略和比较策略的各自的测试记录位置的角度 相同，则例如如图7A所示，可以采用如下技术，其中，执行三个集群的伪(dummy)记录(图 中的<D>)以使得在如第一实施例中所述的图2A和2B的记录布置中，角度在比较策略测试 记录<6>和算出策略测试记录<7>之间相同。图7B作为比较示出了如图5A和5B所示的记录布置，但是如从图7A和图7B之间 的比较显而易见的，如果采用图5A和5B所示的记录布置，则可理解，调整操作所需的记录 长度与采用简单地使得角度相同的技术的情况相比实际上减小了。这样，通过减小调整操作所需的记录长度(在此情况中为三个集群)，能够以在有 限测试区域中可进行多得多的调整操作的方式来达到对测试区域的高效使用。2-2.用于实现第二实施例的调整操作的处理序列图8是图示出用于实现根据本发明第二实施例的调整操作而要执行的处理序列 的流程图。在图8中，同样地，用于实现调整操作的处理是图1所示的系统控制器10基于例 如容纳在内部存储器中的程序来实行操作的处理。另外，在图8中，在具有已在第一实施例中描述过的相同内容的处理中，给与相同 的步骤编号，并不再重复对其的描述。通过比较图8和图3可理解，在第二实施例中，取代第一实施例的步骤S104到 S108的处理，执行了步骤S201到S206的处理。具体而言，在此情况中，在实行步骤S103的记录功率调整处理之后，在步骤S201 中，实行如下处理执行各记录以使得从外圆周侧起布置成“策略计算记录<2X3>—比较 策略测试记录<4> —策略计算记录<5> —再现引入记录<6>”的顺序。具体而言，对伺服电路11、读/写电路5、调制/解调电路6和ECC编码器/解码 器7进行控制，并设定写策略电路14的写策略设定值数次以使得沿着读和写方向按“再现引入记录<6> —策略计算记录<5> —比较策略测试记录<4> —策略计算记录<3><2>”的顺 序来执行各记录。此外，不言而喻，此情况中在测试区域中的记录也被执行并被推入较高地址编号。 即，在此情况中，同样地，系统控制器10执行记录开始地址的计算以使得在各记录期间将 观测到以上规则。随后，在步骤S202，执行用于获取<5>、<3>和<2>的记录部位的评估值的处理。换而言之，控制伺服电路11，执行对策略计算记录<5>、策略计算记录<3>和策略 计算记录<2>的各记录部位的读取，并相应地获取在评估器5a中获得的质量评估值。然后，在下一步骤S203，基于在步骤S202获取的<5>、<3>和<2>的质量评估值来 计算最优化策略。在通过步骤S203的计算处理获得算出策略之后，在下一步骤S204，实行用于执行 算出策略测试记录和再现引入记录(<8>和<7>的记录)的处理。换而言之，对伺服电路11、读/写电路5、调制/解调电路6、ECC编码器/解码器7 进行控制，并对写策略电路14设定写策略以使得沿着写和读方向按“再现引入记录<8> — 算出策略测试记录<7>”的顺序执行各记录。随后，在步骤S205，实行用于获取<7>的记录部位(算出策略的测试记录部位)的 评估值的处理。在下一步骤S206，实行用于获取<4>的记录部位(比较策略的测试记录部位)的 评估值的处理。在如上获取了算出策略和比较策略的各自的记录部位的质量评估值之后，实行以 与第一实施例中相同的方式判断算出策略是否具有有利评估值的处理(步骤S 109)和基 于该判断结果来设定写策略的处理(步骤SllO和S111)。这里，第二实施例旨在提议一种用于排除扰乱的影响的技术，并且其细节内容不 限于以上提供的描述。例如，根据各记录操作的记录长度从以上示例改变的情况以及在三 种或更多种设定条件下执行策略计算记录的情况，应当修改细节处理内容。当要排除扰乱的影响时，各测试记录可被执行为使得比较策略的测试记录部位和 算出策略的测试记录部位被布置在盘D上的相同角度位置处。3.第三实施例3-1.作为第三实施例的调整操作接下来，将描述第三实施例。第三实施例想要在获取算出策略和比较策略的各自的测试记录部位的质量评估 值期间对相邻轨道中的记录/未记录条件进行组织。这里，当质量评估值在此示例中是抖动值，或者是作为部分响应最大似然(PRML) 系统的评估值的差分度量的标准偏差、PRSNR等时，根据相邻轨道中的各种记录/未记录条 件而在所获取评估值中出现了差异。为了确认而进行描述，在以作为测量评估值的对象的轨道作为标准的情况下，具 体而言，上述相邻轨道中的记录/未记录条件是分类为如下条件的条件一个条件是与标 准轨道相邻的两个轨道都已经受记录，一个条件是与标准轨道相邻的两个轨道都尚未经受 记录，或者另一条件是仅仅一个轨道经受了记录。
图9A、9B、10A和IOB是用于描述根据第三实施例的调整操作的示图。在图9A、9B、10A、10B中，在作为第三实施例的调整操作期间执行的记录操作被划 分成前半操作和后半操作。图9A和9B示出了作为前半操作执行的各记录，图IOA和IOB 示出了作为前半操作执行的各记录和作为后半操作执行的各记录。此外，在图9A、9B、10AU0B中，以与图2A、2B、5A和5B的情况相同的方式，图9A和 IOA主要示出了各记录的不同内容及其记录长度和布置顺序，而图9B和IOB示出了图9A和 IOA中的各记录在盘D上的位置和布置顺序。首先，作为图9A和9B所示的前半操作，执行了一直到算出策略的获取为止的操 作，这些操作基本上与第二实施例中的那些操作相同。换而言之，在此情况中，同样地，在基于记录功率调整记录<1>的结果执行最优化 记录功率的调整操作之后，各记录被执行为使得如图所示从外圆周侧开始布置成“策略计 算记录<2><3> —比较策略测试记录<4> —策略计算记录<5> —再现引入记录<6>”的顺序。 然后，基于获取策略计算记录<2>、<3>和<5>的记录部位的质量评估值的结果来计算写策 略。但是，在第三实施例中，在针对策略计算记录<2><3> —比较策略测试记录<4> — 策略计算记录<5> —再现引入记录<6>执行了记录之后，与第二实施例中的情况不同的是， 不仅仅针对策略计算记录<2>、<3>和<5>的记录部位获取质量评估值。还并行地针对比较 策略测试记录<4>的记录部位获取质量评估值。换而言之，在执行算出策略的测试记录之 前预先执行了比较策略的测试记录的质量评估值的获取。这里，如从图9B显而易见的，由于在上述定时处执行了针对比较策略的测试记录 部位(<4>)的评估值的获取，所以针对比较策略的测试记录部位的评估值的获取是在仅一 个相邻轨道(相邻于外侧)已经受记录的条件下执行的。这样，在作为前半操作获取了策略计算记录<2>、<3>和<5>以及比较策略测试记 录<4>的评估值并基于策略计算记录<2>、<3>和<5>的评估值计算出写策略之后，作为图 IOA和IOB所示的后半操作，各记录被执行为使得从外圆周侧起布置成“算出策略测试记录 <7> —再现引入记录<8>”的顺序，并且算出策略测试记录<7>的记录部位的质量评估值被 获取。此时，如从图IOB可理解的，算出策略的测试记录部位(<7>)的评估值的获取是在 算出策略的测试记录部位的仅一个相邻轨道(相邻于外侧)已经受记录的条件下执行的。在第三实施例中，同样地，响应于针对算出策略测试记录<7>的记录部位获取质 量评估值以及针对比较策略和算出策略的测试记录部位二者获取质量评估值的状态，以与 到目前为止的实施例的情况相同的方式，基于所获取质量评估值的大小关系来判断在设定 算出策略的情况下是否比在设定比较策略的情况下更进一步提高了信号质量，并基于判断 结果来设定写策略。如上所述，在第三实施例中，在对算出策略执行测试记录之前对比较策略执行测 试记录。另外，将比较策略的测试记录部位与位于比较策略的测试记录部位与算出策略的 测试记录部位之间的记录部位(在此情况中为<5>和<6>)放在一起的部分的长度不应超 出轨道一周的长度(在此情况中为五个集群)。在满足上述条件之后，通过如上在算出策略的测试记录之前获取比较策略的测试记录部位的评估值，在获取两个测试记录部位的评估值期间相邻轨道的记录/未记录条件 能够与条件“仅一个相邻轨道已经受记录”一致。其结果是，可以不在各个测试记录部位中 所获取的评估值中生成由记录/未记录条件的不一致产生的差异，并因此可以适当地判断 是否正确计算出了算出策略。另外，如通过比较图IOA和IOB与图5A和5B可理解的，在第三实施例中，各记录 自身的布置与第二实施例的情况相同。即，如从这个角度可理解的，以与第二实施例相同的 方式，在第三实施例中也可排除扰乱的影响。同时，为了如同第二实施例中那样在第三实施例中也排除扰乱的影响，可以抑制 调整操作所需的总记录长度。这里，图9A、9B、10A和IOB所示的技术仅仅是示出用于使获取各个测试记录部位 的评估值期间、相邻轨道的记录/未记录条件彼此一致的技术的一个示例，并且例如，除了 根据是相邻轨道二者都已经受记录(或未记录)还是仅一个相邻轨道已经受记录之外，还 可根据实际实施例适当地修改在调整操作中执行的各记录的记录长度或布置顺序。作为第三实施例，测试记录和质量评估值可被获取为使得相邻轨道的记录/未记 录条件在获取比较策略和算出策略的各自的测试记录部位的质量评估值期间彼此一致。3-2.用于实现第三实施例的调整操作的处理序列图11是图示出用于实现根据第三实施例的调整操作的处理序列的流程图。在图 11中，作为根据第三实施例的调整操作的示例，将描述用于实现图9A、9B、10A和IOB所示的 调整操作的处理序列。在图11中，同样地，用于实现调整操作的处理是由图1所示的系统控制器10基于 例如容纳在内部存储器中的程序来执行的。另外，在图11中，具有相同内容的处理被给予与目前为止的实施例中已描述的那 些相同的步骤编号，并且不再重复其描述。如通过比较图11和图8可理解的，在第三实施例的处理序列中，步骤S202改变为 步骤S301，并且省略了步骤S206，这些是与第二实施例的处理序列相比的不同点。具体而言，在此情况中，在步骤S201中处理被实行来执行各记录以使得从外圆周 侧起布置成“策略计算记录<2><3> —比较策略测试记录<4> —策略计算记录<5> —再现弓I 入记录<6>”的顺序之后，在步骤S301中，处理被实行来获取<5>到<2>的记录部位的评估 值(获取策略计算记录和比较策略测试记录的评估值)。换而言之，伺服电路11被控制来实行对从策略计算记录<5>到策略计算记录<2> 的记录部位的读取，并且相应地，在评估器5a中获得的质量评估值被获取。这样，由于在步骤S301中针对比较策略测试记录<4>获取了评估值，所以此示例 中省略了图8所述的步骤S206的处理(获取比较策略的测试记录部位的评估值)。4.第四实施例4-1.作为第四实施例的调整操作第四实施例提议了一种基于使用内圆周侧的测试区域的前提的、用于如同第三实 施例中那样达到扰动影响的排除以及使相邻轨道的记录/未记录条件一致的特定技术。图12A和12B是图示出第四实施例的调整操作的示图，并且示出了在如同图2A、 2B、5A和5B—样执行调整操作时实行的各记录的位置和布置顺序。在此情况中，以与图2A、
222B、5A和5B的情况相同的方式，图12A主要示出了各记录的不同内容及其记录长度和布置 顺序，并且图12B示出了图12A中的各记录在盘D上的位置和布置顺序。
为了确认而进行描述，相同的是，在内圆周侧的测试中记录也被执行并被推入较 高地址编号。 另外，轨道一周在内圆周侧的测试中是两个集群。在图12A和12B中，针对此情况中的调整操作，首先，执行记录功率调整记录<1>， 并通过OPC处理执行最优化记录功率的调整操作。因此，在此情况中，在执行最优化记录功率的调整操作之后，各记录被执行为使得 如图所示从外圆周侧起布置成“策略计算记录<2> —策略计算记录<3> —策略计算记录 <4> —比较策略测试记录<5>”的顺序(换而言之，沿着写和读方向要布置成“比较策略测 试记录<5> —策略计算记录<4> —策略计算记录<3> —策略计算记录<2>”的顺序)。在此情况中，在执行以上各记录之后，通过使用比较策略测试记录<5>作为用于 再现引入的记录部位，获取策略计算记录<2>到<4>的评估值。然后，基于所获取的策略计 算记录<2>到<4>的评估值来计算写策略。在计算出写策略之后，各记录被执行为使得从外圆周侧起布置成“算出策略测试 记录<6> —再现引入记录<7>”的顺序(换而言之，沿着写和读方向将布置成“再现引入记 录<7> —算出策略测试记录<6>”的顺序)。之后，执行对算出策略测试记录<6>的读取和 对比较策略测试记录<5>的读取，并获取各测试记录部位的质量评估值。然后，基于所获取 的质量评估值，如同第一实施例中那样判断在设定算出策略的情况下是否比在设定比较策 略的情况下更进一步提高了信号质量，并基于判断结果来设定写策略。在作为上述第四实施例的调整操作中，比较策略的测试记录部位(在此情况中也 是两个集群)和算出策略的测试记录部位(同样是两个集群)在圆周方向上彼此相邻。利用此配置，对于轨道一周为两个集群的在内圆周侧的测试区域，比较策略和算 出策略的测试记录部位在此情况中被布置成处在相同角度位置。换而言之，其旨在防止仅 一个测试记录区域受到扰乱的影响(参见图13)。此外，在第四实施例中，与比较策略的测试记录部位的外圆周侧相邻地形成了相 当于两个或更多个集群的经记录区域，并且与算出策略的测试记录部位的内圆周侧相邻地 形成了相当于两个或更多个集群的经记录区域。另外，在获得这种记录状态之后，针对比较 策略和算出策略的测试记录部位的每一个获得质量评估值。利用此配置，对于比较策略和算出策略的测试记录部位的每一个，在获取质量评 估值期间相邻轨道的记录/未记录条件能够与条件“相邻轨道二者都已经受记录”一致。其 结果是，可以适当地判断算出策略是否被正确计算出。这里，图12A和12B所述的技术仅仅是用于实现在内圆周侧的测试区域中排除扰 乱的影响以及使相邻轨道的记录/未记录条件一致的一个示例，并且用于实现扰乱影响的 排除以及相邻轨道的记录/未记录条件的一致的技术不应限于上述技术。在此情况中，同样地，当要排除扰乱的影响时，各测试记录可被执行为使得算出策 略和比较策略的测试记录部位被布置为处在盘D上的相同角度位置。另外，当记录/未记录条件要彼此一致时，各测试记录和质量评估值的获取可被 执行为使得在获取比较和算出策略的测试记录部位的质量评估值期间、相邻轨道的记录/未记录条件彼此一致。4-2.用于实现第四实施例的调整操作的处理序列图14是图示出用于实现根据第四实施例的调整操作的处理序列的流程图，并且 例示了用于实现图12A和12B所述的调整操作的处理序列。在图14中，同样地，用于实现调整操作的处理是由图1所示的系统控制器10基于 例如容纳在内部存储器中的程序来实行的。另外，在图14中，具有相同内容的处理被给与了与到目前为止的实施例中已描述 过的那些相同的步骤编号，并且将不再重复对其的描述。图14所示的处理序列与上面的图11所示的第三实施例的处理序列的不同之处在 于取代步骤S201 — S301 — S203 — S204 — S205这一系列处理，执行从步骤S401到步骤 S405的处理。具体而言，在此情况中，在步骤S103中执行最优化记录功率的调整处理之后，在 步骤S401，各记录被执行为使得从外圆周侧起布置成“策略计算记录<2><3><4> —比较策 略测试记录<5>”的顺序。随后，在步骤S402，实行用于获取<4>、<3>和<2>的记录部位的评估值的处理(获 取策略计算记录的评估值的处理)。如前所述，在此时的读取操作中，在再现引入处理中使用比较策略测试记录<5> 的记录部位。另外，在下一步骤S403，基于<4>、<3>和<2>的评估值来计算最优化策略。此外，在下一步骤S404，作为用于执行算出策略测试记录和再现引入记录(<7>和 <6>的记录)的处理，各记录被执行为从外圆周侧起布置成“再现引入记录<7>—算出策略 测试记录<6>”的顺序。随后，在步骤S405，实行用于获取<6>和<5>的记录部位(算出策略的测试记录部 位和比较策略的记录部位)的评估值的处理。在此情况中，由于算出策略测试记录<6>和比较策略测试记录<5>在圆周方向上 彼此相邻(参见图12A和12B)，所以能够相继执行对这些记录部位的读取(作为一系列的 读取操作)。5.修改例上文中已描述了本发明的实施例，但是本发明不限于上述具体示例。例如，在到此为止的描述中，响应于对在设定算出策略的情况下没有比在设定比 较策略的情况下更进一步提高信号质量的判定(换而言之，判定算出策略尚未被正确计算 出)，立即例示了设定比较策略的情况。但是，响应于对在设定算出策略的情况下没有提高 信号质量的判定，可以再次尝试策略的计算。图15的流程图示出了用于实现作为针对这种再次尝试操作的修改示例的调整操 作的处理序列。另外，该图还示出了由系统控制器10执行的处理序列。而且，该图示出了当对第一实施例应用再次尝试操作时的处理序列。如通过比较图15和图3可理解的，在作为修改例的处理序列中，在执行第一实施 例的处理序列中的步骤SlOl之前执行步骤S501，并根据步骤S109中获得的否定结果要实行步骤S502。在步骤S501，执行将再次尝试次数的计数值设定为“1” (η = 1)的处理。这里，在 实行步骤SlOl之前执行步骤S501的处理，但是步骤S501的处理至少应当在实行步骤S502 之前执行。另外，在步骤S502，判断是否η = N，换而言之，再次尝试次数的计数值η是否已达 到再次尝试上限次数N。在步骤S502，当获得η兴N的否定结果时，处理如图中那样行进到步骤S503以将 再次尝试次数的计数值增大1 (η — η+1)，并且处理返回到步骤S104。另一方面，在步骤S502，当获得η = N的肯定结果时，处理行进到步骤Slll以实行 设定比较策略的处理。通过执行这种处理，当在步骤S109中获得关于算出策略具有不利评估值的否定 结果时，再次尝试计算策略的处理和步骤S109的判断处理。此时，再次尝试的次数受限于 上限次数N。为了确认而进行描述，当盘D是可记录类型介质时，不能进行信号的重写。因此， 作为再次尝试而实行的在步骤S104和步骤S107中执行的记录的位置可依次针对各再次尝 试移至未记录区域。另外，当盘D是可重写介质时，在策略计算和针对步骤S109的判断而进行的各记 录中，可擦除前一次的记录内容，并因此，每一操作可在与先前使用的区域相同的区域中执 行。但是，如从稍后的描述可理解的，由于通过使用与先前使用的区域不同的区域来执行作 为再次尝试操作而执行的各个记录是有效的，所以在可重写介质上也依次使用未使用区域 来执行再次尝试记录。终究，操作是通过针对各再次尝试改变位置来执行的。这里，图15例示了再次尝试操作被应用于第一实施例的情况，但是相同的再次尝 试操作可通过以相同方式对其它实施例插入步骤S501、S502和S503的处理来实现。通过如上地执行再次尝试操作，当算出策略未被正确计算出时可再次执行策略计 笪弁。这里，如上所述，策略计算不正确的原因之一是用于测试计算的测试写入区域的 一部分会受到诸如缺陷之类的扰乱的影响。在考虑到这点时，用于策略计算的测试写入可 通过如上的再次尝试操作来依次改变位置从而再次执行。而且，通过基于该结果执行策略 的重新计算，可以避免扰乱的影响并促成策略的正确计算。简而言之，根据再次尝试操作，当用于策略计算的测试写入的一部分意外地受到 扰乱的影响并且策略被错误地计算时，可以提升避免立即设定比较策略的操作并设定比比 较策略更有利的策略的可能性。如从这一点可理解的，根据再次尝试操作，可以提升通过有利的信号质量来执行 记录的可能性。另外，在到此为止的描述中避免了明确表述，但是具体地，在激光驱动脉冲的前边 沿位置和后传号边沿位置的调整可被例示为写策略调整。或者，要调整的边沿位置不限于 前边沿和后边沿，而是例如，可以是多个脉冲的边沿位置。实际上，可根据介质类型适当地选择在调整所生成传号的前边沿和后边沿时有效 使用的脉冲边沿。
另外，不仅仅局限于激光驱动脉冲的边沿位置，而是可以调整其幅度。例如，当使用阶梯形状的脉冲时，对各阶梯的差异水平进行调整，不过这种调整也 属于写策略调整的范畴。根据以上描述，在本说明书中提及的写策略调整可被定义成使能对形成在光盘上 的传号的边沿位置的调整的、针对激光驱动脉冲的参数的调整。另外，在到此为止的描述中，例示了如下情况，其中，用作算出策略的比较对象的 比较策略是预先记录在例如光盘或记录/再现设备上的基准策略，但是，作为在本发明实 施例中提及的“作为比较对象的波形调整参数”，例如，可使用通过先前的策略计算来计算 出的策略。在本发明的实施例中，作为“作为比较对象的波形调整参数”，可采用其它波形调 整参数，只要这些参数适合在对用于提高信号质量的波形调整参数的计算是否已被正确执 行的判断中作为比较对象，即使这些参数不同于基准策略或者先前计算出的策略也是如 此。另外，在到此为止的描述中，例示了如下情况，其中，在计算策略的处理中使用的 质量评估值和用于判断算出策略是否被正确计算出的质量评估值按照抖动值彼此相同，但 是可单独使用各个质量评估值。例如，在计算策略的处理中使用的评估值可以是如日本未实审专利申请公布 No. 2008-84376所公开的“传号边沿位置误差”，并且用于判断算出策略是否被正确计算出 的评估值可以是抖动值。另外，作为本发明实施例中的质量评估值，除了如上的“边沿位置误差”和抖动值 之外，例如，可使用其它值，比如如上所述的差分度量的标准偏差和PRSNR。无论什么都可以，作为本发明实施例中的质量评估值，可以使用作为记录信号质 量的指标的、根据从光记录介质读取的信号生成的任意值。本申请包含与在2009年7月7日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2009-160589所公开的主题相关的主题，该申请的全部内容通过引用而结合于此。本领域技术人员应当了解，可以依据设计要求和其它因素进行各种修改、组合、子 组合和变更，只要它们在所附权利要求或其等同物的范围内即可。
权利要求
一种记录/再现设备，包括光学头单元，通过将激光照射在光记录介质上来在所述光记录介质上执行对由传号和空号表示的信息的写入和读取；激光驱动脉冲生成单元，生成与所记录信息相应的激光驱动脉冲以向所述光学头单元提供激光驱动信号，并向所述光学头单元上实行用以进行记录的激光照射；评估值计算单元，基于由所述光学头单元从所述光记录介质读取的信号来计算作为记录信号质量的指标的质量评估值；以及调整控制单元，执行对在所述激光驱动脉冲生成单元中生成的激光驱动脉冲的调整设定，其中，关于针对所述激光驱动脉冲的波形调整参数，在所述调整控制单元通过依次设定不同的波形调整参数来执行针对各波形调整参数的测试写入之后，所述调整控制单元基于读取用于测试写入的信号的结果来计算用于提高信号质量的波形调整参数，并在所述调整控制单元通过依次在所述激光驱动脉冲生成单元中设定这样算出的算出波形调整参数以及被定义成该算出波形调整参数的比较对象的比较目标波形调整参数来实行在各波形调整参数的设定下的测试写入之后，所述调整控制单元基于所述评估值计算单元获取所述用于测试写入的信号的质量评估值的结果，判断在设定所述算出波形调整参数的情况下是否比在设定所述比较目标波形调整参数的情况下更进一步提高了信号质量，以基于该判断结果来执行对所述激光驱动脉冲的调整设定。
2.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中所述光记录介质是盘状记录介质，并且所述调整控制单元实行针对各个波形调整参数的测试写入，以使得在所述光记录介质 上所述比较目标波形调整参数的测试写入位置被布置成的角度位置与所述算出波形调整 参数的测试写入位置被布置成的角度位置彼此一致。
3.根据权利要求2所述的记录/再现设备，其中用于测试写入的测试区域被设置在所述光记录介质的最外圆周部分，轨道的一周在该 测试区域中相当于五个集群，并且所述测试区域被规定成通过被推入较高地址编号侧而被 使用，在为了提高信号质量而计算波形调整参数时，规定成针对总共三种类型的第一到第三 波形调整参数执行测试写入，所述调整控制单元通过在所述测试区域中按照地址编号从大到小的顺序布置设定了 第一波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、设定了第二波形调整参数的2个集 群测试写入信号记录区域、设定了所述比较目标波形调整参数的2个集群测试写入信号记 录区域、设定了第三波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、用作信号读取期间 的引入区域的1个集群信号记录区域、设定了所述算出波形调整参数的2个集群信号记录 区域、以及用作信号读取期间的引入区域的1个集群信号记录区域之后执行信号写入，来 致使所述比较目标波形调整参数的测试写入位置被布置成的角度位置与所述算出波形调 整参数的测试写入位置被布置成的角度位置一致。
4.根据权利要求2所述的记录/再现设备，其中用于测试写入的测试区域被设置在所述光记录介质的最内圆周部分，轨道的一周在该测试区域中相当于两个集群，并且所述测试区域被规定成通过被推入较高地址编号侧而被 使用，在为了提高信号质量而计算波形调整参数时，规定成针对总共三种类型的第一到第三 波形调整参数执行测试写入，所述调整控制单元通过在所述测试区域中按照地址编号从大到小的顺序布置设定了 第一波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、设定了第二波形调整参数的2个集 群测试写入信号记录区域、设定了第三波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、 作为设定了所述比较目标波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域的并且还兼用 作信号读取期间的引入区域的信号记录区域、设定了所述算出波形调整参数的2个集群信 号记录区域、以及用作信号读取期间的引入区域的2个集群信号记录区域之后执行信号写 入，来致使所述比较目标波形调整参数的测试写入位置被布置成的角度位置与所述算出波 形调整参数的测试写入位置被布置成的角度位置一致。
5.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中所述光记录介质是盘状记录介质，并且所述调整控制单元致使在获取所述比较目标波形调整参数的测试写入位置和所述算 出波形调整参数的测试写入位置的质量评估值期间的相邻轨道的记录/未记录条件彼此 一致，以执行对测试写入的实行控制以及针对各个波形调整参数的质量评估值的获取。
6.根据权利要求5所述的记录/再现设备，其中用于测试写入的测试区域被设置在所述光记录介质的最外圆周部分，轨道的一周在该 测试区域中相当于五个集群，并且所述测试区域被规定成通过被推入较高地址编号侧而被 使用，在为了提高信号质量而计算波形调整参数时，规定成针对总共三种类型的第一到第三 波形调整参数执行测试写入，所述调整控制单元致使信号写入在所述测试区域中按照地址编号从大到小的顺序布 置设定了第一波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、设定了第二波形调整参数 的2个集群测试写入信号记录区域、设定了所述比较目标波形调整参数的2个集群测试写 入信号记录区域、设定了第三波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、以及用作 信号读取期间的引入区域的1个集群信号记录区域之后被执行，用于提高信号质量的波形调整参数的计算以及针对所述比较目标波形调整参数的质 量评估值的获取被通过使用该写入信号来执行，并且之后，所述调整控制单元致使信号写入在接着引入信号记录区域、按照地址编号从大 到小的顺序布置设定了所述算出波形调整参数的2个集群信号记录区域以及用作信号读 取期间的引入区域的1个集群信号记录区域之后被执行，以获取针对所述算出波形调整参 数的质量评估值。
7.根据权利要求5所述的记录/再现设备，其中用于测试写入的测试区域被设置在所述光记录介质的最内圆周部分，轨道的一周在该 测试区域中相当于两个集群，并且所述测试区域被规定成通过被推入较高地址编号侧而被 使用，在为了提高信号质量而计算波形调整参数时，规定成针对总共三种类型的第一到第三波形调整参数执行测试写入，所述调整控制单元致使信号写入在所述测试区域中按照地址编号从大到小的顺序布 置设定了第一波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域、设定了第二波形调整参数 的2个集群测试写入信号记录区域、设定了第三波形调整参数的2个集群测试写入信号记 录区域、以及作为设定了所述比较目标波形调整参数的2个集群测试写入信号记录区域的 并且兼还用作信号读取期间的引入区域的信号记录区域之后被执行，用于提高信号质量的波形调整参数被通过使用设定了所述第一到第三波形调整参数 的测试写入信号来计算，并且之后，所述调整控制单元致使信号写入在接着所述比较目标波形调整参数的测试写入 信号记录区域、按照地址编号从大到小的顺序布置设定了所述算出波形调整参数的2个集 群信号记录区域以及用作信号读取期间的引入区域的2个集群信号记录区域之后被执行， 以获取针对所述算出波形调整参数和所述比较目标波形调整参数的质量评估值。
8.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，当判定在设定了所述算出波形调整参 数的情况下没有提高信号质量时，所述调整控制单元设定所述比较目标波形调整参数。
9.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，当判定在设定了所述算出波形调整参 数的情况下没有提高信号质量时，所述调整控制单元再次尝试用于提高信号质量的波形调 整参数的计算。
10.根据权利要求9所述的记录/再现设备，其中，所述调整控制单元判断用于计算 波形调整参数的再次尝试的次数是否已达到上限，并且当再次尝试的次数达到了所述上限 时，设定所述比较目标波形调整参数。
11.一种在记录/再现设备中的激光驱动脉冲调整方法，所述记录/再现设备包括光 学头单元，通过将激光照射在光记录介质上来在所述光记录介质上执行对由传号和空号表 示的信息的写入和读取；激光驱动脉冲生成单元，生成与所记录信息相应的激光驱动脉冲 以向所述光学头单元提供激光驱动信号，并向所述光学头单元上实行用以进行记录的激光 照射；评估值计算单元，基于由所述光学头单元从所述光记录介质读取的信号来计算作为 记录信号质量的指标的质量评估值；以及调整控制单元，执行对在所述激光驱动脉冲生成 单元中生成的激光驱动脉冲的调整设定，所述方法包括以下步骤关于针对所述激光驱动脉冲的波形调整参数，在通过依次设定不同的波形调整参数来 执行针对各波形调整参数的测试写入之后，基于对用于测试写入的信号的读取的结果来计 算用于提高信号质量的波形调整参数；以及在通过依次设定这样算出的算出波形调整参数以及被定义成该算出波形调整参数的 比较对象的比较目标波形调整参数来实行在各波形调整参数的设定下的测试写入之后，基 于所述评估值计算单元获取所述用于测试写入的信号的质量评估值的结果，判断在设定所 述算出波形调整参数的情况下是否比在设定所述比较目标波形调整参数的情况下更进一 步提高了信号质量，以基于该判断结果来执行对所述激光驱动脉冲的调整设定。
全文摘要
本发明提供了记录/再现设备和激光驱动脉冲调整方法。记录/再现设备包括光学头单元，通过将激光照射在光记录介质上来在该光记录介质上执行对由传号和空号表示的信息的写入和读取；激光驱动脉冲生成单元，根据所记录信息来生成激光驱动脉冲以向光学头单元提供激光驱动信号，并实行激光向光学头单元上的照射用以进行记录；评估值计算单元，基于由光学头单元从光记录介质读取的信号来计算作为记录信号质量的指标的质量评估值；以及调整控制单元，执行对在激光驱动脉冲生成单元中生成的激光驱动脉冲的调整设定。
文档编号G11B7/00GK101944369SQ201010219260
公开日2011年1月12日 申请日期2010年6月30日 优先权日2009年7月7日
发明者儿玉英隆, 立野龙也 申请人:索尼公司