光记录介质、记录装置及记录方法

专利名称：光记录介质、记录装置及记录方法
技术领域：
本发明涉及一种光记录介质,具体涉及用于体型光记录介质的记录装置和记录方法。
背景技术：
例如，所谓的光盘，诸如⑶(光盘)、DVD (数字化通用光盘)以及BD (蓝光盘注册商标)已经作为通过利用光在其上记录信号或再生信号的光记录介质。用于这些光盘的系统通过利用激光经由物镜以非接触方式读取在盘的一侧形成的反射中的细微变化。众所周知，盘上光斑的大小通过λ/NA (λ指激光波长、NA指数值孔径)计算产生，并且分辨率与该值成比例。例如，约为25GB、直径为12cm的蓝光盘详情在上述非专利文献I中公开。此夕卜，非专利文献2和3提出了多层记录型光盘。当在多个层中进行记录和再生时，一张盘的记录容量乘以层数。现有技术文献
非专利文献非专利文献I :Yutaka KASAMI、Yuji KURODA, Katsuhiro SEO、Osamu KAffAKUBO, Shigeki TAKAGAffA, Masumi ONO和Masahiro YAMADA的“大容量及高数据率相变光盘”，日本 J. Appl. Phys.，卷 39 (2000)，第 756 页非专利文献 2:Isao Ichimura、Kimihiro Saito、Takeshi Yamasaki 和 Kiyoshi Osato的“多层只读存储器光盘结构提案”，应用光学，卷45，NO. 82006，第1794页非专利文献3 :Noriyoshi SHIDA、Takanobu HI⑶CHI、Yasuo H0S0DA、Hiroko MIY0SHI、Akio NAKANO和Katsunori TSUCHIYA的“适用于使用记录容量为100GB的光聚合薄膜的蓝光盘标准的多层光学只读存储器盘”，日本J. Appl. Phys.，卷43 (2004)，第4983 页

发明内容
技术问题图17示出了非专利文献2所示的多层记录型光盘的实例。图17 (a)表示一个四层光盘的实例。该4层盘具有通过将记录层L0、间隔层SP1、记录层LI、间隔层SP2、记录层 L2、间隔层SP3、记录层L3和70 μ m的覆盖层101顺序层叠在I. Imm的基板102上从而形成的结构。在该实例中，间隔层SPl为11.511111、间隔层5 2为15. O μ m以及间隔层SP3为 9. 5ym0即，记录层L0、LI、L2和L3之间的层间隔被设定为互不相同。在再生专用型光盘 (ROM盘)中，记录层LO、LI、L2和L3具有通过例如凹凸串记录在其内的数据。此外，全反射膜形成于最深的记录层LO内，半透明反射膜形成于其他记录层L1、L2和L3内。此外，图17 (b)表不一个八层光盘的实例。记录层L0-L7形成于I. Imm的基板 102和41 μ m的覆盖层之 间，间隔层SPl - SP7置于记录层LO - L7之间。还是在该实例中， 间隔层SPl - SP7的厚度，即层间隔不一致。
由于以下原因，层间隔是不一致的厚度。图18(a)表不四层光盘中间隔层SP1-SP3 具有相同厚度的实例。假设在该实例中，记录层LI用激光LZ照射，如图18 (b)所示，当激光聚焦在记录层LI上时，可以获得经记录层LI的凹凸串调制的返回光。记录在记录层LI 内的信息可以通过使用光检测器检测返回光读取。然而，在多层盘中，由另一记录层调制的杂散光成分出现在导入光检测器的返回光内。如图18 (b)中的虚线所示，作为聚焦在记录层LI上的激光的一部分的成分由记录层L2反射并成为杂散光。该杂散光还由记录层L3和L2中的每一个反射并成为返回光的一部分。这是由记录层L3调制的光成分。此时如果层间隔一致，则由虚线表示的杂散光成分的焦点FP在记录层L3上。即杂散光成分以聚焦状态照射到记录层L3的凹凸串上，从而变成具有较高强度的调制成分。这种杂散光成分混入照射到光检测器的返回光内，从而引起所谓的层间串扰，并因此降低再生信号的质量。在该实例中如果层间隔互不相同，则由这类杂散光引起的层间串扰的影响可以减轻甚至消除。图18 (c)表示通过将间隔层SP1-SP3设置为各自具有不同厚度从而使记录层L0-L3之间的层间隔互不相同。还是在该实例中，如果激光LZ聚焦在记录层LI上，作为激光LZ的一部分的成分由记录层L2反射并成为杂散光，例如，如图18 (d)中的虚线所示。 该杂散光由记录层L3和L2中的每一个反射并成为返回光的一部分。然而，在该实例中，由于间隔层SP2和SP3具有不同厚度，该杂散光成分的焦点FP不在记录层L3上(如图所示)。 因而记录层L3以所谓的离焦状态由杂散光成分照射。该杂散光成分受到记录层L3的凹凸串的调制。然而，该杂散光成分未聚焦，从而使得调制强度变得非常弱。因此，即使当被混入以作为照射至光检测器的返回光的一部分时，杂散光成分也几乎不影响再生信号。S卩，如果多层盘中的层间隔互不相同，则由另一记录层调制的杂散光成分的调制强度与目标记录层相比可以降低。结果，层间串扰可以降低至不影响再生信号的程度。因而，使多层盘中的层间隔互不相同可以提高再生信号的质量。然而，在上述实例中，劣势在于多种间隔层厚度设置需要设置在盘的制造结构内。特别是近来提出将层的数量增加至8层、16层甚至更多。然而，为间隔层SP设置多种膜厚度并在通过，例如，溅射形成间隔层SP的情况下在间隔层成形的每一步骤中变换设置就流程效率和制造成本而言存在劣势。因此，本发明提出了一种光记录介质结构，使得能够用最少种类的层间隔消除层间串扰的影响。技术方案根据本发明的光记录介质包括N个记录层(其中N > 4);彼此相邻的记录层之间的层间隔的种类的数量为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;以及一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。例如，四层记录介质具有Iog2 (4)以上的最小整数M=2，并且具有一个块，该一个块包括具有顺序形成在该一个块中的第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。此外，例如八层记录介质具有Iog2(S)以上的最小整数M=3，并且具有两个块，该两个块包括具有顺序形成在该两个块中的第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。从而，块之间的层间隔为第三层间隔。此外，记录层的数量为使得作为层间隔的种数的M为M > 3，并且光记录介质使得、从第三层间隔至第M层间隔的各个层间隔中的一部分分别作为构成上述块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不包含在包括所述记录层的块内。此夕卜，在该实例中，第一间隔层〈第二间隔层〈第三间隔层〈……〈第M间隔层。在M > 3的实例中，如果光记录介质有5 - 8个记录层，并且上述M=3，则光记录介质将第三层间隔的一部分作为形成上述块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不包含在包括该记录层的块内。此外，如果光记录介质有9-16个记录层，并且上述M=4，则光记录介质将第三层间隔的一部分和第四层间隔的一部分分别作为形成上述块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不包含在包括所述记录层的块内。 此外，如果光记录介质有17-32个记录层，并且上述M=5，则光记录介质将第三层间隔的一部分、第四层间隔的一部分和第五层间隔的一部分分别作为形成上述块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不包含在包括所述记录层的块内。如果记录层的数量为N=2y (y是3以上的整数)，第M层间隔设置在第(N/2)记录层和第{ (N/2)+l}记录层之间，第一记录层至第(N/2)记录层以及第{ (N/2)+l}记录层至第N记录层均具有至少一个或多个块，并且从第一记录层至第(N/2)记录层之间各个层间隔的设置与从第{ (N/2)+l}记录层至第N记录层之间各个层间隔的设置相同。这对应于记录层的数量为8、16、32……的实例。例如，通过16层(M=4)的实例来说明，第四层间隔设置在第八记录层和第九记录层之间，第一记录层至第八记录层以及第九记录层至第十六记录层均有两个块，从第一记录层至第八记录层之间各个层间隔的设置与从第九记录层至第十六记录层之间各个层间隔的设置相同。即，层间隔关于第八记录层和第九记录层之间的中心对称设置。此外，以下是记录层的数量N为2y_kN〈2y(y是3以上的整数)的实例。假设N’=2y、 第M层间隔设置在第(N’/2)记录层和第{ (N’/2)+l}记录层之间、第一记录层至第(N’/2) 记录层以及第{ (N’/2)+l}记录层至第N’记录层均具有至少一个或多个块、并且从第 一记录层至第(N’ /2)记录层之间各个层间隔的设置与从第{ (N’ /2)+1}记录层至第N’记录层之间各个层间隔的设置相同，此时N个记录层被形成为具有在从第一记录层至第N’记录层中选取N个连续记录层的情况下的层间隔设置。这对应于记录层的数量为5 - 7、9 - 15、 17 - 31……的实例。例如，将以N=12(M=4)的实例进行说明。首先，假设N’=16 (顺便地，在 16层的实例中还是M=4)，在该实例中，第四层间隔设置在第八记录层和第九记录层之间， 第一记录层至第八记录层以及第九记录层至第十六记录层均有两个块，从第一记录层至第八记录层之间各个层间隔的设置与从第九记录层至第十六记录层之间各个层间隔的设置相同。即，层间隔关于第八记录层和第九记录层之间的中心对称设置。第一至第十二记录层被形成为具有从如上所述设定的16层中选取N个连续记录层(在该实例中为12)的情况下的层间隔设置。根据本发明的记录装置包括光学拾取器，用于利用激光照射光记录介质，所述光记录介质具有通过激光照射记录光记录信息、并且形成有在其中记录光记录信息的多个记录层的体层；聚焦控制部，被配置为将激光的焦点位置控制在体层内；控制部，被配置为给予聚焦控制部关于焦点位置的指示，从而通过使用激光的记录操作形成每个记录层，使得N 个记录层(其中N34)形成在体层内，彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;并且体层具有一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。根据本发明的记录方法为记录装置的记录方法，记录装置包括光学拾取器，用于利用激光照射光记录介质，所述光记录介质具有通过激光照射记录光记录信息、并且形成有在其中记录光记录信息的多个记录层的体层；聚焦控制部，被配置为将激光的焦点位置控制在体层内。该记录方法在聚焦控制部根据各记录层控制焦点位置之后通过使用激光执行记录操作，以形成各记录层，使得N个记录层(其中N > 4)形成在体层内，彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;并且体层具有一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。根据本发明的光记录介质内的记录层之间的层间隔、或者通过根据本发明的记录装置或记录方法执行记录而形成其记录层的体型光记录介质中的记录层之间的层间隔具有可以用最少量种类的层间隔消除层间串扰影响的层间隔设置。有益效果根据本发明的光记录介质，作为具有四层或更多层的多层光记录介质，是可以在再生时用最少种类的层间隔消 除层间串扰影响的光记录介质。因此，可在通过例如溅射形成记录层之间的间隔层时最小化膜厚度设置的种类，从而提高生产效率。此外，按照根据本发明的记录装置和记录方法，可在四个或更多记录层通过记录操作形成于体型多层光记录介质上时实现能够用最少种类的层间隔消除再生时层间串扰影响的光记录介质。因此，在记录时通过聚焦控制设置焦点位置可以达到简化和更高效率。


图I是说明根据本发明第一实施方式的4层记录介质的说明图。图2是说明根据第一实施方式的光记录介质内杂散光的说明图。图3是说明根据第一实施方式的8层记录介质的说明图。图4是说明根据第一实施方式的8层记录介质内杂散光的说明图。图5是说明根据第一实施方式的16层记录介质的说明图。图6是说明根据本发明第一实施方式的32层记录介质的说明图。图7是说明根据第一实施方式的20层记录介质的说明图。图8是说明根据第一实施方式的20层记录介质的说明图。图9是说明根据第一实施方式的20层记录介质的说明图。图10是说明根据第一实施方式的5层记录介质、6层记录介质、9层记录介质和12 层记录介质的说明图。图11是说明微全息图记录的说明图。图12是说明微全息图记录的说明图。图13是说明根据本发明第二实施方式的散记录介质的说明图。图14是说明根据第二实施方式在每次记录时伺服控制的说明图。图15是说明根据第二实施方式的记录和再生光系统的说明图。图16是根据第二实施方式的记录过程的流程图。图17是说明普通4层盘和普通8层盘的说明图。
图18说明设置为不同的层间隔的说明图。
具体实施例方式本发明实施方式将按照以下顺序进行说明。〈I.第一实施方式>[1-1 N 层(N=2y)记录介质][1-2 :N 层(2rl〈N〈2y)记录介质]
〈2.第二实施方式用于体型光记录介质的记录装置〉[2-1 :光记录介质结构][2-2 :伺服控制][2-3 :记录和再生光学系统][2-4 :记录过程]〈I.第一实施方式>[1-1 N 层(N=2y)记录介质]下文将描述作为第一实施方式的光记录介质。这种光记录介质可以实现为例如蓝光盘中的再生专用型光盘、一次写入光盘或可再写光盘。例如，再生专用型蓝光盘(BD-ROM)的光盘尺寸为直径120mm、光盘厚度I. 2mm。 即，从这些方面来看，BD - ROM外观与⑶盘或DVD盘类似。则所谓的蓝光激光器用作用于记录/再生的激光器，并且光学系统具有高NA (例如NA=O. 85)。例如，在BD-ROM中，螺旋形的凹凸串形成于由厚度约为I. Imm的诸如聚碳酸酯的树脂形成的基板(磁盘基板)上，并且具有由凹凸串形成的凹陷和突出的表面由反射薄膜覆盖形成记录层。此外，在BDROM中，不仅有具有一个记录层的一层盘，而且已开发出具有两个记录层、三个记录层、……、n个记录层的多层盘。每个记录层形成于磁盘基板上，记录层之间设置有间隔层。当然，记录容量可以通过设置大量的记录层得以极大地提高。然后还形成了具有预定厚度的覆盖层，从而形成厚度为I. 2mm的盘。此外，BDR (可记录蓝光盘)和BD-RE (可再写蓝光盘)通称为可记录光盘。BDR为符合蓝光盘标准的一次写入光盘。BD-RE为符合蓝光盘标准的可再写光盘。BDR和BD-RE 光盘仅有预先形成于磁盘基板上的槽，没有凹凸串。在这些可记录光盘中，也开发了具有多个记录层的光盘。顺便提及，根据本发明的具有下文将描述结构的记录介质不限于蓝光盘系统的光盘，但是具有可实现为蓝光盘或下一代光盘的结构的结构。此外，根据本实施方式的记录介质不一定限于盘类型记录介质，例如，也适用于具有卡片形状的诸如光记录介质的其它种类的记录介质。即，根据本实施方式的记录介质广泛适用为具有4层或更多层的多层光记录介质。首先，根据本实施方式的光记录介质基于下列前提。例如，图2 (a)示意性地示出了八层记录介质中LO - L8记录层。在该实例中，当记录层LI再生时,激光LZ聚焦在记录层LI上(如图中实线所示)。此时，如虚线所示，杂散光成分聚焦在另一记录层L5(焦点FP) 上，从而由记录层L5调制并作为具有较高强度的调制成分混入返回光中。这形成了上述层间串扰。此外，如图2 (b)中的虚线所示，存在被反射两次并混入返回光的成分。在本实施方式中，由特定记录层只反射一次并聚焦在另一记录层上(如图2 Ca)所示)的情况得以避免，多次反射形成聚焦(如图2 (b)所示)的情况可以忽略。这是因为在多次反射的情况下， 反射的次数增加两次以上，使得光量少，产生的影响也小。首先，将参考图I (b)描述作为本实施方式的4层记录介质。顺便提及，图I (a) 示出了 2层记录介质的结构实例以供参考。如图I (a)所示，在2层记录介质的实例中，记录层LO和LI形成于基板12和覆盖层11之间。间隔层SPl形成于记录层LO和LI之间。 这种两层结构可以扩展为开发具有多层，诸如3层、4层、……的记录介质。如图I (b)所示，根据本实施方式的4层记录介质具有形成于基板12和覆盖层11 之间的记录层L0、LI、L2和L3。间隔层SP1、SP2和SP3形成于记录层L0、LI、L2和L3之间。在上述蓝光盘的实例中，例如，基板12厚度约为I. 1_，从记录层LO到覆盖层11的表面的厚度约为100 μ m,从而形成了厚度为12mm的盘。记录层L0-L3中的每个具有形成于其中的凹凸串(embossed pit string)和婉艇槽(wobbling groove)。本实例中的四层记录介质具有两种层间隔，即第一层间隔A和第二层间隔B，如图所示。具体地，LO-LI层间隔(间隔层SPl厚度)……ALI - L2层间隔(间隔层SP2厚度)……B·
L2-L3层间隔(间隔层SP3厚度)……A在该实例中，A〈B，例如，Α=9 μ m而B=IO μ m。根据这种层结构，能够避免杂散光聚焦在另一记录层上(图2(a))。下文将参考图 2 (C)和图2 (d)进行说明。例如，将考虑记录层LO被设定为再生对象的实例，如图2 (c) 所示。当激光LZ聚焦于记录层LO上时，如虚线所示，作为激光LZ —部分的成分由靠近激光入射面的一侧上的记录层LI反射，并变成杂散光。该杂散光由记录层L3和L2中的每一个反射并成为返回光的一部分。然而，在该实例中，LO - LI层间隔A是不同于LI - L2层间隔B的层间隔。因而，杂散光成分的焦点FP不在记录层L2上(如图所示)。因而记录层L2 以所谓的离焦状态由杂散光成分照射。该杂散光成分受到记录层L3的凹凸串调制。然而， 该杂散光成分未聚焦，从而使得调制强度变得非常弱。因此，即使当混入成为照射至光检测器的返回光的一部分，杂散光成分几乎不影响再生信号。尽管图中未示出，聚焦在记录层LO 上的激光LZ也包括由记录层L2反射的杂散光成分。然而，杂散光成分在记录层L3上也没有焦点位置。这同样适用于将记录层LI设置为再生对象(如图2 (d)所示)的实例。当激光LZ 聚焦于记录层LI上时，如虚线所示，作为激光LZ —部分的成分由记录层L2反射，并变成杂散光。然而，在该实例中，L1L2层间隔B是不同于L2L1层间隔A的层间隔。因而,杂散光成分的焦点FP不在记录层L3上(如图所示)。因此，返回光中杂散光成分的调制强度非常弱，几乎不影响再生信号。用这些不同的层间隔减轻层间串扰影响的能力本身类似于参考图17和18所描述的内容。然而，本实施方式可以用最少种类的层间隔达到相似的效果。具体地，根据本实施方式的4层记录介质具有四个记录层L0-L3，相邻记录层之间的层间隔种类数为M=2，其中M 是等于或大于log2(4)的最小整数。即，根据本实施方式的4层记录介质具有两种层间隔A 和B。从而，根据本实施方式的4层记录介质具有一个带有四个记录层的块(如图I (b)中示出的“AB块”)，在该块中，第一层间隔A、第二层间隔B以及第一层间隔A顺序形成。而例如图17 (a)所述的四层盘具有三种层间隔，本实例中只要有两种层间隔即足够。此外，根据本实施方式的具有N层(N=2y)的记录介质，即具有8层、16层、32层…… 的记录介质可以通过延伸此AB块，即，延伸包括带有层间隔A-B-A的四个记录层的构造而形成。一个八层记录介质的实例如图3所示。在八层记录介质的实例中，使用了两个如上所述的AB块，且第三层间隔C置于AB块之间。如图3所示，记录层LO - L7形成于基板 12和覆盖层11之间。间隔层SPl - SP7形成于记录层L0、LI、L2……和L7之间。则三种层间隔，即，第一层间隔A、第二层间隔B以及第三层间隔C设置为层间隔的种类。具体地，LO-LI层间隔(间隔层SPl厚度)……ALI - L2层间隔(间隔层SP2厚度)……BL2-L3层间隔(间隔层SP3厚度)……A L3-L4层间隔(间隔层SP4厚度)……CL4-L5层间隔(间隔层SP5厚度)……AL5-L6层间隔(间隔层SP6厚度)……BL6-L7层间隔(间隔层SP7厚度)……A在该实例中，A〈B〈C，例如，Α=9μ m、B=IO μ m 而 C=Il μ m。即使利用这种层结构，也可以避免聚焦在另一记录层上的杂散光(如图2 (a)所示)。记录层L4和L5被设定为再生对象的实例可以看作是与图2 (c)和图2 (d)所述的用于上述4层记录介质的实例类似。图4 (a)表示记录层L3被设定为再生对象的实例。具体地，当激光LZ聚焦于记录层L3上时，如虚线所示，作为激光LZ —部分的成分由靠近激光入射面的一侧上的记录层反射，诸如记录层L4和记录层L3，并变成杂散光。然而，由记录层 L4反射的杂散光焦点FP1、由记录层L5反射的杂散光焦点FP2以及由记录层L6反射的杂散光焦点FP3均不在记录层上。这是因为L3 - L4的层间隔为C，因此杂散光成分中的调制强度非常弱，即使当杂散光成分混入成为射入光检测器的返回光的一部分时也几乎不影响再生信号。这同样适用于将记录层L2设置为再生对象(如图4 (d)所示)的实例。当激光LZ 聚焦于记录层L2上时，如虚线所示，作为激光LZ —部分的成分由靠近激光入射面的一侧上的记录层反射，并变成杂散光。然而，由记录层L3反射的杂散光焦点FP1、由记录层L4反射的杂散光焦点FP2、由记录层L5反射的杂散光焦点FP3以及由记录层L6反射的杂散光焦点 FP4均不在记录层上。这是因为L3 - L4的层间隔为C且L2 - L3的层间隔为A，因此杂散光成分中的调制强度非常弱，即使当杂散光成分混入成为射入光检测器的返回光的一部分时也几乎不影响再生信号。这同样适用于记录层LI和L0。对于记录层LO被设定为再生对象的实例而言，例如，由与记录层LO位于同一 AB块内的记录层LI和L2反射的杂散光未聚焦在记录层L2和 L3上。由于形成了 A-B-A层间隔设置，可以考虑按照图2 (c)和2 (d)类似的方式。由记录层L3-L6反射的杂散光可以看做类似于上述图4 (b)中的杂散光，没有杂散光聚焦在记录层上。因此，杂散光几乎不影响再生信号。
从而，8层记录介质可以只用3种层间隔来减轻层间串扰。具体地，本实例中的8 层记录介质有8个记录层L0-L7，彼此相邻的记录层之间的层间隔种数为M=3，其中，M是等于或大于Iog2(S)的最小整数。即，根据本实施方式的8层记录介质有三种层间隔A、B和 C，而且根据本实施方式的8层记录介质有两个带有四个记录层的块，在块中，第一层间隔 A、第二层间隔B和第一层间隔A顺序形成。此外，构成AB块的记录层和与该记录层相邻的记录层(该相邻的记录层不包括在含有该记录层的AB块中)之间的层间隔，即，作为本实例中两个AB块之间的层间隔的记录层L3和L4之间的层间隔是第三层间隔C，这种构造使得即使在8层记录介质的实例中也可用三种层间隔采取措施消除层间串扰。通过延伸上述构造即足以形成16层记录介质和32层记录介质。图5示出了 16层记录介质的层间隔。在该实例中，使用了两个对应于上述8层记录介质构造的“ABC块”，并且第四层间隔D设置在ABC块之间。在该实例中，A〈B〈C〈D，例如，Α=9 μ m、B=10 μ m、C=ll μ m 而 D=13 μ m。本实例中的16层记录介质有16个记录层LO - L15，彼此相邻的记录层之间的层间隔种类数量为M=4，其中M是等于或大于Iog2 (16)的最小整数。即，本实例的16层记录介质有四种层间隔A、B、C和D，而且本实例中的16层记录介质有4个带有4个记录层的 “AB块”，在块中，第一层间隔A、第二层间隔B和第一层间隔A顺序形成。本实例中的16层记录介质还将第三层间隔C的一部分和第四层间隔D的一部分分别作为构成AB块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，该相邻的记录层不包含在含有该记录层的AB 块内。在本实例中，两个AB块之间的L3 - L4层间隔和两个AB块之间的LI I - L12层间隔为第三层间隔C，L7 - L8层间隔为第四层间隔D。这种构造使得即使在16层记录介质的实例中也可仅用四种层间隔来减轻层间串扰。
图6示出了 32层记录介质的层间隔。在该实例中，使用了两个对应于上述16层记录介质构造的“AB⑶块”，并且第五层间隔E设置在AB⑶块之间。在该实例中，A<B<C<D<E， 例如，Α=9 μ m、B=IO μ m、C=Il μ m、D=13 μ m 而 Ε=15 μ m。本实例中的32层记录介质有32个记录层L0-L31，相邻记录层之间的层间隔种类数量为M=5，其中M是等于或大于log2(32)的最小整数。即，本实例中的32层记录介质有五种层间隔A、B、C、D和E，而且本实例中的32层记录介质有8个带有四个记录层的“AB块”， 在块中，第一层间隔A、第二层间隔B和第一层间隔A顺序形成。本实例中的32层记录介质还将第三层间隔C的一部分、第四层间隔D的一部分以及第五层间隔的一部分作为构成AB 块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不包含在含有该记录层的AB块内。在本实例中，两个AB块之间的L3 - L4层间隔、两个AB块之间的LI I - L12 层间隔、两个AB块之间的L19 - L20层间隔和两个AB块之间的L27 - L28层间隔为第三层间隔C。此外，L7 - L8层间隔和L23 - L24层间隔为第四层间隔D，并且L15-L16层间隔为第四层间隔E。这种构造使得即使在32层记录介质的实例中也可仅用五种层间隔来减轻层间串扰。尽管图中未示出，具有更多层的记录介质，诸如64层记录介质和128层记录介质可以以类似方式考虑。具有N个(其中N=2y)记录层，诸如4层、8层、16层和32层的记录介质已经在上文中进行了说明。根据本实施方式的这些光记录介质是能够在当多层光记录介质有四层或更多层时在再生时用最少量种类的层间隔消除层间串扰影响的光记录介质。因此可在通过例如溅射形成记录层之间的间隔层时最小化膜厚度设置的种类，从而提高生产效率。此外， 如果每个间隔层是由片材形成，则片材的厚度种类可减少。因此，根据本实施方式的光记录介质适于提高生产效率并降低成本。此外，可以采用互相层叠以AB块为单位制造的薄板的方法。此外，如果记录层的数量为N=2y，并且y为3以上，即，在8层、16层、32层……的实例中，具体地，可以获得以下特征。第M层间隔置于第(N/2)记录层和第{ (N/2)+l}记录层之间。第一记录层(LO)至第(N/2)记录层和第{ (N/2)+l}记录层至第N记录层均具有至少一个AB块或更多。此外，从第一记录层(LO)至第(N/2)记录层之间各个层间隔的设置与从第{ (N/2)+l}记录层至第N记录层之间各个层间隔的设置相同。例如，在16层(M=4，M为层间隔的种数)的情况下，第四层间隔D置于第八记录层(L7)和第九记录层(L8)之间。第一至第八记录层(LO) - (L7)和第九至第十六记录层 (L8)- (L15)均具有两个AB块。此外，从第一记录层(LO)至第八记录层(L7)之间各个层间隔的设置与从第九记录层(L8)至第十六记录层(L15)之间各个层间隔的设置相同。SP， 层间隔关于第八记录层(L7)和第九记录层(L8)之间的中心对称设置。层间隔配置关于这些中心记录层之间的中心对称不仅减少了层间隔的种数(如上所述)，还有助于层间隔的设置，这对提高生产过程的效率是有利的。此外，层间隔设置的规律性有利于在每个光记录介质内的记录层上的聚焦控制以及在记录和再生装置的一侧上的焦点跳跃、(层间移动)操作。尽管在上述每个实例中，层间隔设置为使A〈B〈C〈D……，但层间隔不限于此，只需至少设置A古B^C^D……即可。然而，至少使第一层间隔A最小化可以最小化总的层厚度。这是因为存在大量的具有层间隔A的间隔层。此外，就具体的层间隔而言，只需要使用再生激光的波长λ、NA以及层之间的折射率η (假定全文中折射率相同)将最小的第一层间隔A设置为12. 4 · λ /NA/tan(asin(NA/ η))即可，这个值在“K. Saito and S. Kobayashi :Proc. SPIE 6282 (2006) ”中有描述。例如， 如果λ =0. 405um、NA=O. 85并且n=l. 55，则同上述实例，层间隔Α=9 μ m。此外，层间隔B、C、D……均从从较浅的层间隔分离开焦点深度(η λ/NA2)即可。例如，只需要设置层间隔B=IO μ m、层间隔C=Il μ m以及层间隔D=13 μ m即可。顺便提及，设置为B+C Φ A+D是适合的。[1-2 :N 层 Qy-kNU7)记录介质]上述实例为记录层的数量为2的幂的实例。下文中将说明其中记录层的数量N为 2rl<N<2y的记录介质。简单地说，在的实例中，只需要从2y构造中提取层数量的结构。下文说明记录层的数量N为TANUy (y是3以上的整数)的实例。首先，暂时假定上述记录层的数量为2y的构造。即，设置为使N’ =2%若层间隔种数为M，第M层间隔设置在第(N’/2)记录层和第{ (N’/2)+1}记录层之间。第一记录层(LO)至第(N’/2)记录层和第{ (N’/2)+1}记录层至第N’记录层均具有至少一个AB块或更多。此外，从第一记录层至第(N’ /2)记录层之间各个层间隔的设置与从第{ (N’ /2)+1}记录层至第N’记录层之间各个层间隔的设置相同。这对应于上述8层、16层、32层等的构造。此时，在正在讨论的假设的N个连续记录层从第一至第N’记录层中选取的实例中，记录层的数量N由层间隔设置形成。以具体实例为例简单来说，如果形成的是20层记录介质，例如，则只需要从图6所示的32层记录介质构造中选取20层。图7、图8和图9均示出了 20层记录介质层间结构的实例。图7表示20层记录介质的实例，其中图6所示32层记录介质的记录层L12 - L31设置为记录层LO - L19。图8 表示20层记录介质的实例,其中图6所示32层记录介质的记录层LO - L19设置为记录层 LO - L19。图9表示20层记录介质的实例,其中图6所示32层记录介质的记录层L8 - L27 设置为记录层LO - L19。如上所述，在32层记录介质中，例如，层间隔设置为在再生每个记录层时，由比该记录层更靠近激光入射面一侧的记录层反射的杂散光成分未聚焦在特定记录层上。因此， 即使任何20层的任意设置均从每个层间隔设置如上的32层记录介质中提取，再生时杂散光成分也未聚焦在特定记录上。因此，在形成20层记录介质的实例中，例如，如果每个层间隔设置为从图7、图8或图9所示实例中的32层构造中提取的构造，则可以实现降低串扰影响的光记录介质，并且层间隔的种数可被最少化。 图10示出了其他实例。一个5层记录介质的实例如图10 (a)所示。具体地，如图3所示8层记录介质中的记录层L3-L7设置为记录层L0-L4。在一个6层记录介质的实例中，如图10 (b)所示，例如，如图3所示8层记录介质中的记录层L2-L7设置为记录层 L0-L5。在一个9层记录介质的实例中，如图10 (c)所示,如图5所示16层记录介质中的记录层L7-L15设置为记录层L0-L8。在一个12层记录介质的实例中，如图10 (d)所示，例如，如图5所示16层记录介质中的记录层L4-L15设置为记录层L0-L11。类似的设置用于具有其他数量的层的实例中。当然还存在上述示例之外的构造。 例如，在5层记录介质的实例中，图3所示8层记录介质中的记录层LO - L4可以设置为记录层LO - L4。利用这种构造，即使记录层的数量N为2y_kN〈2y (y为3以上的整数)，仍能够实现使用最少种类的层间隔来有效降低层间串扰的记录介质，如同记录层数量为2y的上述实例。从而获得包括提高生产过程效率等在内的效果。〈2.第二实施方式用于体型光记录介质的记录装置〉[2-1 :光记录介质的结构]接下来将描述用于体型光记录介质的记录装置作为第二实施方式。体型光记录介质没有预先在其内形成的记录层，但通过由记录装置进行信息记录可首次在体型光记录介质中形成记录层。因此，记录层的位置是通过记录时在记录装置内设置焦点位置确定的。因此，如果考虑再生时的层间串扰，记录装置需要合理设置记录层(层间隔)的位置。首先将说明体记录型光记录介质。体记录是一种通过使用例如激光照射至少具有覆盖层2和体层5 (如图11所示)的光记录介质同时连续改变焦点位置从而在体层5内进行多层记录以实现高记录容量的技术。关于这种体记录，已知的是一种被称为所谓的微全息方式的记录技术。微全息方式将所谓的全息记录材料用作体层5的记录材料。例如，可发生光聚作用的光敏聚合物广泛已知为全息记录材料。
如图12所不，微全息方式是一种通过在相同位置处会聚两个相对光束(光束A和光束B)以形成微小干涉条纹(全息图)并将此设定为记录标志的方法。此外，本申请人已提出一种空隙记录(空洞记录)方式作为用于体记录的另一种方法。空隙记录方式是一种使用较高功率的激光照射由例如诸如可发生光聚作用的光敏聚合物的记录材料形成的体层5从而记录体层5内的空隙(空洞)的方法。因此，形成的空隙部分有不同于体层5内其他部分的折射率，并且在这些部分之间的边界部位处光的折射增加。因此，上述空虚部分用作记录标志。从而通过形成空隙部分来实现信息记录。这种空隙记录方式不能形成全息图，因此在记录中只需要光从一侧照射。具体地， 可以不必像正型微全息方式实例中那样通过在同一位置处会聚两个光束以形成记录标志， 并且可以不需要用于在同一位置处会聚两个光束的高位置控制精确度。在下文中，将以用于在记录时从一侧进行光照射的空隙记录方式的光记录介质为实例。然而，下文将说明的本实施方式不必只用于空隙记录方式，还适用于在体层内进行信息记录的系统。图13是体记录介质I的截面结构图，其中，记录是由根据本发明第二实施方式的记录装置进行的。图13所示的体记录介质I是盘状光记录介质。标记记录(信息记录)是通过用激光照射被旋转驱动的体记录介质I进行的。此外，记录信息是通过用激光照射被旋转 驱动的体记录介质I而再生的。在图13中，体记录介质I具有从上层侧(激光入射面一侧)沿着厚度方向顺序形成的覆盖层2、基准面3以及体层5 (如图所示)。顺便提及的是，诸如“厚度方向”、“深度方向”的词汇用于本实例的说明中。“厚度方向”和“深度方向”指体记录介质I厚度的方向， 为平行于激光入射方向的方向。在体记录介质I中，覆盖层2是由诸如聚碳酸酯或丙烯酸树脂的树脂形成，基准面 3形成于覆盖层2的下表面一侧(如图所示)。基准面3以凹凸的截面形状示出，该凹凸的截面形状伴随着用于引导记录/再生位置的引导槽的形成。从盘的平面方向上看去，引导槽以螺旋形状形成。连续槽(槽)或凹凸串形成用作上述引导槽。如果引导槽为槽，例如，该槽被形成为周期性地弯曲(蜿蜒)的状态以便地址信息可以由弯曲的周期信息记录。下文将假设基准面3形成为具有记录在其中的地址信息的连续槽(蜿蜒槽)进行说明。覆盖层2通过使用其上形成凹凸形状作为这种弯曲引导槽(蜿蜒槽)的压模以注模或类似方法形成。从而使凹凸形状转移到覆盖层2的下表面一侧。基准面3是通过在覆盖层2的凹凸形状的表面上形成选择性反射膜而形成的。在这种情况下,体记录介质I的记录方式应用用于在体层5中进行标记记录的记录光(下文中称为第一激光)以及与此分离的用于在上述基准面的基础上获得跟踪误差信号和聚焦误差信号的伺服光(下文中称第二激光)。此时，如果第二激光到达体层5，体层5 内的标记记录可能受到不利影响。因此，必需有具有选择性地反射第二激光并透射第一激光的反射膜。在本实例中，第一激光和第二激光各自有不同的波长，例如，诸如第一激光波长为405nm，第二激光波长为660nm。为了对此采取措施，具有波长选择性以反射与第二激光处于相同波长范围的光并输送其他波长的光的选择性反射膜用作上述选择性反射膜。体层5形成于基准面3的下层侧(从激光入射面一侧来看更深的一侧)。只需要使用合适的材料作为形成根据诸如微全息方式或空隙记录方式的记录方式的体层5的材料 (记录材料)。例如，在空隙记录方式中，使用的是塑性材料。在体层5中，使用标记信息的信息记录是通过顺次将激光聚焦在沿着体层5的深度方向预先确定的每个位置上进行的。因此，已经记录的体记录介质I具有多个形成于体层5内的记录层L。在图示实例中，如记录层L0-L7所示，形成了 8个记录层。体层5的厚度大小等未确定。然而，如果在应用具有例如O. 85NA光学系统的蓝色激光(波长为405nm) 的情况下，在从盘表面(覆盖层2的表面)沿着深度方向的50 μ m-300 μ m位置处形成记录层是合适的。该范围是考虑了球差校正后给出的范围。此外，在循迹(跟踪)通过使用形成于基准面3内的槽获得的伺服控制状态下，标记被记录在每个记录层L内。因此，从盘的平面方向上看去，形成于记录层L内的标记串以螺旋状形成。在这种情况下，在图13所示实例中，形成有记录层L0-L7的深度位置由虚线表示。 如上所述，使用标记信息的信息记录是通过顺次将激光聚焦在沿着体层5的深度方向预先确定的每个位置上进行的。结果，形成了记录层。在该实例中，“预先确定的每个位置”是根据前述第一实施方式的层间隔配置所确定的每个位置。从而考虑了串扰而确定的记录层位置得以实现。在图13所示实例中，例如，以8层为例，其有三个层间隔，S卩，第一层间隔A、第二层间·隔B以及第三层间隔C，并且层间隔配置如下LO-LI 层间隔......AL1-L2 层间隔......BL2-L3 层间隔......AL3-L4 层间隔......CL4-L5 层间隔......AL5-L6层间隔……BL6-L7 层间隔......AS卩，形成了类似于图3所示8层记录介质的层间隔配置。顺便提及的是，从基准面 3至记录层LO的间隔设置为R。[2-2:伺服控制]下文将参考图14说明记录/再生时体记录介质I上的伺服控制。如上所述，利用用于形成记录标记并从记录标记中再生信息的第一激光以及具有与第一激光不同波长的第二激光来照射体记录介质I。如下文将参考图15进行说明那样，经由共用物镜(图15中的物镜21)使用第一激光和第二激光进行照射体记录介质I。在这种情况下，如图13所示，体记录介质I内的体层5在作为记录对象的每个层位置中不包括具有由凹点、槽等形成的引导槽的反射表面，这点不同于与诸如DVD和蓝光盘的当前的光盘相关的多层盘。因此，在还未形成标记即进行记录时，用于第一激光的聚焦伺服和循迹伺服不能使用第一激光本身的反射光进行。因此，在体记录介质I上记录时，第一激光的聚焦伺服和循迹伺服都通过使用第二激光的反射光作为伺服光进行。具体地，首先，能够独立地仅改变第一激光焦点位置的第一激光调焦机构(由图15所示透镜17和18以及透镜驱动部分19形成的扩束器)被设置用于记录时第一激光的聚焦伺服。并且，用于第一激光的聚焦伺服是通过以基准面3为基准、基于图2所示的偏移量控制第一激光的调焦机构(扩束器)进行的。在这种情况下，如上所述，第一激光和第二激光经由共用物镜施加至记录介质I。 并且，用于第二激光的聚焦伺服是通过使用第二激光从基准面3的反射光(返回光)控制物镜进行的。如果第一激光和第二激光因此经由共用物镜得以施加并且用于第二激光的聚焦伺服是通过基于第二激光从基准面3的反射光来控制物镜而进行，第一激光的焦点位置基本上在基准面3上。即，基于第二激光从基准面3的反射光而进行的用于物镜的这种聚焦伺服为第一激光的焦点位置提供了沿着体记录介质I的表面变化的功能。并且，上述第一激光的调焦机构以上述偏移量偏离第一激光的焦点位置。因此能使第一激光的焦点位置在体层5内的要求深度位置上。图14示出了对应于其中信息记录层LO - L7设置在体层5内的实例的每个偏移的实例。具体地，示出了设置对应于记录层LO的层位置的LO的偏移、对应于记录层LI的层位置的LI的偏移、……、对应于记录层L7的层位置的L7的偏移的实例。当用于第一激光的调焦机构用这些偏移值驱动时，深度方向上的标记形成位置(记录位置)可以从记录层 L0-L7的层位置中适当地选取。此外，记录时的用于第一激光的循迹伺服通过运用第一激光和第二激光经由上述共用物镜而施加这一事实来使用第二激光从基准面3的反射光进行物镜的循迹伺服而得以实现。另外，在记录时地址信息可以运用具有记录在其内的地址信息的蜿蜒槽形成于基准面3中这一事实而从第二激光从基准面3的反射光信息得到。 另一方面，再生时记录层L形成于如图13所示的体层5内，因此可从这样的记录层L获得第一激光的反射光。因此，再生时用于第一激光的聚焦伺服是使用第一激光本身的反射光进行的。具体地，再生时第一激光的聚焦伺服是通过在第一激光反射光基础上控制上述第一激光调焦机构进行的。顺便提及，再生时用于第一激光的循迹伺服也是通过在第二激光的反射光基础上进行物镜伺服实现的。在这种情况下，也是在再生时，第二激光针对基准面3进行聚焦伺服和循迹伺服以读取记录在基准面3内的地址信息。即，也是在再生时，如同在记录时，物镜的位置是通过在第二激光反射光的基础上针对基准面3实现第二激光的聚焦伺服和循迹伺服得以控制的。综上所述，伺服控制按如下步骤进行。第一激光侧记录时，聚焦伺服是通过使用第二激光的反射光驱动共用物镜并使用调焦机构 (扩束器)使第一激光偏移而进行的。因为物镜是使用第二激光的反射光驱动的，因此循迹伺服是自动进行的。再生时，聚焦伺服是通过使用第一激光的反射光驱动第一激光的调焦机构(扩束器)而进行的。再生时第一激光的循迹伺服也是自动进行的，因为物镜是使用第二激光的反射光驱动的。第二激光侧在记录和再生时，聚焦伺服和循迹伺服是使用第二激光的反射光通过驱动物镜而进行的。
顺便提及的是，每次再生时，可在完成访问预定地址并实际开始再生记录层L后不使用第二激光，即，记录的标记串形成后，物镜的聚焦伺服和循迹伺服可以在第一激光的来自记录层L的反射光基础上进行，并且包含在记录在记录标记串内的数据内的地址可被读取。[2-3 :记录和再生光学系统]图15示出了用于在图13所示体记录介质I上进行记录和再生的记录和再生装置 10的配置。装载在记录和再生装置10中的体记录介质I是由图中的主轴电动机39旋转驱动的。并且记录和再生装置10具有用于使用第一激光和第二激光照射被旋转驱动的记录介质I的光学拾取器OP。光学拾取器OP包括作为用于通过形成记录标记而记录信息并再生记录在记录标记中的信息的第一激光的光源的第一激光二极管11，以及用作作为伺服光的第二激光的光源的第二激光二极管12。在这种情况下，第一激光和第二激光各自有不同的波长(如上所述)。在本实例中，第一激光波长约为405nm (所谓的蓝紫激光)，第二激光波长约为660nm (红色激光)。光学拾取器OP还包括物镜21作为第一激光和第二激光向记录介质I输出的终端。物镜21的NA为O. 85。另外，设置了用于从体记录介质I接收第一激光的反射光的第一光检测器25和用于从体记录介质I接收第二激光的反射光的第二光检测器34。 用于将从第一激光二极管11发出的第一激光导入物镜21并且将第一激光从体记录介质I的反射光(其中，反射光进入物镜21)导入第一光检测器25的光学系统形成于光学拾取器OP内。第一激光的光路如实线所示。从第一激光二极管11发出的第一激光首先通过准直器13转换成准直光,并随后进入偏振光分束器14。偏振光分束器14被形成为传输经由准直器13入射的第一激光。由偏振光分束器14传输的第一激光穿过液晶兀件15和四分之一波片16。设置液晶元件15以修正所谓的离轴象差，例如，诸如彗形象差和散光。已穿过四分之一波片16的第一激光进入由透镜17、18和透镜驱动部分19构成的扩束器。该扩束器具有固定透镜(如透镜17)和可移动透镜(如透镜18)。透镜驱动部分 19在平行于第一激光光轴的方向上驱动透镜18。从而可以对第一激光进行独立聚焦控制。 扩束器(透镜驱动部分19)在记录时基于来自控制器50的指令使第一激光的焦点位置偏移，并且在再生时基于来自第一激光用聚焦伺服电路36的输出信号对第一激光进行聚焦控制。穿过扩束器的第一激光进入二向色镜20。二向色镜20被形成为传输与第一激光处于相同波长范围的光并反射具有其他波长的光。因此，通过扩束器入射的第一激光穿过二向色镜20。已经穿过二向色镜20的第一激光经由物镜21施加至记录介质I。物镜21设置有用于保持物镜21以便能够沿着调焦方向(靠近和远离体记录介质I的方向)和循迹方向 (垂直于调焦方向的方向体记录介质I的半径方向)移动物镜21的致动器22。致动器22 具有分别被供给有来自第二激光用聚焦伺服电路42和循迹伺服电路43的驱动电流的聚焦线圈和循迹线圈。从而致动器22在调焦方向和循迹方向上移动物镜21。再生时，如上所述利用第一激光照射体记录介质1，据此，第一激光的反射光是从体记录介质I (具体是体层5内作为再生对象的记录层L)处获得的。因此获得的第一激光反射光通过物镜21导入二向色镜20并由二向色镜20传输。反射光已经穿过二向色镜20 的第一激光反射光穿过构成扩束器的透镜17和透镜18，随后通过四分之一波片16和液晶兀件15进入偏振光分束器14。在这种情况下，由于四分之一波片16的作用和体记录介质I的反射作用，反射光由此进入偏振光分束器14的第一激光反射光(返回光)在偏振方向上以90度的角度区别于从第一激光二极管11 一侧 进入偏振光分束器14的第一激光(外射光)。结果，第一激光反射光(如上所述进入的反射光)由偏振光分束器14反射。反射光由偏振光分束器14反射的第一激光反射光导入图中的会聚透镜23 —侧。 从而，反射光经由会聚透镜23和柱面透镜24会聚在第一光检测器25的检测面上。此外，用于将从第二激光二极管12发出的第二激光导入物镜21并且将第二激光的从体记录介质I的反射光(其中，反射光进入物镜21)导入第二光检测器34的光学系统形成于光学拾取器OP内。第二激光的光路如虚线所示。如图所示，从第二激光二极管12发出的第二激光通过准直器26转换成准直光，随后进入偏振光分束器27。偏振光分束器27 被形成为传输经由准直光管26入射的第二激光(外射光)。由偏振光分束器27传输的第二激光经由四分之一波片28和透镜29和30进入二向色镜20。如上所述，二向色镜20被形成为传输与第一激光处于相同波长范围的光并反射具有其他波长的光。因此，第二激光由二向色镜20反射并通过如图所示的物镜21施加于体记录介质I。此外，作为根据使用穿过物镜21的第二激光照射体记录介质I而获得的反射光的第二激光反射光(来自基准面3的反射光)由二向色镜20反射、穿过透镜30、29和四分之一波片28,随后进入偏振光分束器27。在上述第一激光的情况下，由于四分之一波片28的作用和体记录介质I的反射作用，作为从体记录介质I 一侧进入的反射光的第二激光反射光 (返回光)在偏振方向上以90度的角度区别于外射光。因此，作为返回光的第二激光反射光由偏振光分束器27反射。并且，作为被反射的反射光的第二激光反射光由反射镜31反射并通过会聚透镜29和柱面透镜33聚集在第二光检测器34的检测面上。尽管未示出，记录和再生装置10具有用于在循迹方向上滑动驱动整个光学拾取器OP的滑动驱动部。通过驱动光学拾取器0P，滑动驱动部可以大范围地移动激光照射位置。记录和再生装置10还包括记录处理部40、第一激光用矩阵电路35、第一激光用聚焦伺服电路36、再生处理部38、第二激光用矩阵电路41、第二激光用聚焦伺服电路42、循迹伺服电路43、地址解码器44以及控制器50。首先，要被记录在体记录介质I上的数据(记录数据)被输入记录处理部40。记录处理部40向输入的记录数据添加错误校正码并将预定的记录调制编码应用到输入数据。 从而记录处理部40获得调制的记录数据串作为要被实际记录在体记录介质I上的二进制数据串“Os”和“Is”。另外，基于所调制的记录数据串执行写策略并产生激光驱动信号。并且，激光驱动信号被供给至第一激光二极管11以驱动第一激光二极管11发出光。记录处理部40根据来自控制器50的指令(控制信号CNT)进行这种处理。第一激光用矩阵电路35包括电流-电压转换电路、矩阵运算/放大电路等，以对应于来自诸如第一光检测器25的多个光接收元件的输出电流。第一激光用矩阵电路35通过矩阵运算处理产生必要的信号。具体地，产生的是对应于再生信号、用于聚焦伺服控制的聚焦误差信号FE等的高频信号(再生信号RF)。在本实例中，存在基于第一激光反射光和第二激光反射光的两种聚焦误差信号FE。为了互相区别这两种聚焦误差信号FE，产生于第一激光用矩阵电路32内的聚焦误差信号FE简称为聚焦误差信号FE-I。产生于第一激光用矩阵电路32内的再生信号RF应用于再生处理部38。此外，聚焦误差信号FE-I应用于第一激光用聚焦伺服电路37。再生处理部38使产生于第一激光用矩阵电路35内的再生信号RF经受再生处理以重建上述记录数据，诸如二进制化处理、用于记录调制码的解码、错误校正处理，并获得再生数据作为对记录数据进行再生的结果。此外，再生时，地址信息是从再生数据中提取的。地址信息应用于控制器50。此外，第一激光用聚焦伺服电路36基于聚焦误差信号FE-I产生聚焦伺服信号并基于产生的聚焦伺服信号驱动控制透镜驱动部分19。从而使得第一激光用聚焦伺服电路 36进行第一激光聚焦伺服控制。记录时，第一激光用聚焦伺服电路36基于根据控制器50 给出的指令(控制信号CNT)的预定偏移(见图14)驱动透镜驱动部分19。此外，再生时，第一激光用聚焦伺服电路36基于第一激光的反射光通过驱动透镜驱动部分19进行第一激光聚焦伺服控制。另外，根据再生时控制器50给出的指令(控制信号CNT)，第一激光用聚焦伺服电路36对透镜驱动部分19进行驱动控制，以便进行形成于体记录介质I内的记录层 L之间的层间转移操作和进入所要求的信息记录表面L的聚焦伺服。同时，对于第二激光一侧，第二激光用矩阵电路41包括电流-电压转换电路、矩阵运算/放大电路等以对应于来自诸如第二光检测器34的多个光接收元件的输出电流。第二激光用矩阵电路41通过矩阵运算处理产生必需信号。具体地，第二激光用矩阵电路41产生聚焦误差信号FE-2、用于伺服控制的循迹误差信号TE和用于地址提取的推挽信号P/P。 聚焦误差信号FE-2应用于第二激光的聚焦伺服电路42。此外，循迹误差信号TE应用于循迹伺服电路43。推挽信号P/P应用于地址解码器44。第二激光用聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2产生聚焦伺服信号并基于产生的聚焦伺服信号驱动致动器22的聚焦线圈。从而第二激光用聚焦伺服电路42对物镜21 进行聚焦伺服控制。如先前所述，对物镜21的聚焦伺服控制在记录和再生时是基于第二激光的反射光进行的。第二激光用聚焦伺服电路42根据来自控制器50的控制信号CNT驱动聚焦线圈，使得牵引至形成于体记录介质I内的基准面3的聚焦伺服得以进行。顺便提及， 像散法、SSD (光斑尺寸检测)法、差动像散法或类似方法可以用于聚焦伺服控制。循迹伺服电路43基于来自第二激光用矩阵电路41的循迹误差信号TE产生循迹伺服信号，并基于循迹伺服信号驱动致动器22的循迹线圈。如上所述，对物镜21的循迹伺服控制在记录和再生时是基于第二激光的反射光进行的。顺便提及，PP (推挽)法、DPP (差动推挽)法或类似方法可用于循迹伺服控制。地址解码器44为输入推挽信号P/P的地址信息进行解码。因为第二激光聚焦在基准面3上，第二激光的反射光具有形成于基准面3内的蜿蜒槽的信息。第二激光用矩阵电路41为地址解码器44提供作为推挽信号P/P的蜿蜒槽的信息。地址解码器44从推挽信号P/P解 码地址信息，并将地址信息供应给控制器50。
控制器50是由例如包括CPU (中央处理器)的微型计算机形成的。存储器部51包括RAM、R0M、闪存等。存储器部51表示用于存储用于由控制器50进行的各种处理的信息的区域。例如，控制器50根据存储在存储器部51内的程序执行处理。并且，控制信号CNT被提供给各个所需部分，以对记录和再生装置10进行总体控制。记录时，控制器50基于对应于上文参考图14所述的每个层位置而设定的偏移值来控制第一激光的聚焦位置(在深度方向上选择记录位置)。即，控制器50通过指示第一激光用聚焦伺服电路36以基于对应于作为记录对象的层位置而设定的偏移值来驱动透镜驱动部分19而在深度方向上选择记录位置。偏移值存储在存储器部51内的ROM、闪存或类似存储器上。各个记录层LO-L (η) 在体记录介质I上的位置是通过设置偏移of-LO至of-L (η)的值而设定的。如上所述，记录时循迹伺服控制是基于第二激光的反射光进行的。因此，记录时控制器50指示循迹伺服电路43基于循迹误差信号TE进行循迹伺服控制。此外，记录时控制器50指示第二激光用聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2进行聚焦伺服控制(对物镜 21的聚焦伺服控制)。另一方面，再生时，控制器50指示第一激光用聚焦伺服电路36将第一激光聚焦在其中记录有待再生数据的记录层L上。S卩，以记录层L为目标的聚焦伺服控制由第一激光进行。此外，再生时控制器50还使循迹伺服电路43基于循 迹误差信号TE进行循迹伺服控制。此外，再生时控制器50使第二激光的聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2进行聚焦伺服控制(关于物镜21的聚焦伺服控制)。[2-4:记录过程]图16示出了这种记录和再生装置10进行记录时的过程。在步骤FlOl中，控制器 50确定作为记录对象的记录层。在图13所示的8层实例中，例如，在记录层L0-L7中选取了 一个记录层。接下来，在步骤F102中，控制器50确定对应于在其中进行记录的记录层L (X)的偏移值of-L U)。当偏移of-LO至of-L (7)的值存储在上述存储器部51内时，例如，对应于目标记录层的偏移值被读取。在步骤F103中，控制器50使第二激光的聚焦控制和循迹控制在基准面3上进行。 具体地，第二激光用聚焦伺服电路42被指示驱动致动器22以安置物镜21，使得第二激光的聚焦位置在基准面3上。另外，完成聚焦控制后，开始循迹伺服电路43的循迹伺服以进行循迹控制。由第二激光进行聚焦和循迹控制后，在接下来的步骤F104中，控制器50将第一激光聚焦控制在作为记录对象的记录层上。具体地，在步骤F102中确定的偏移值of-L (X) 被给予第一激光用聚焦伺服电路36以驱动扩束器(透镜驱动部分19)。因此，第一激光被聚焦在一深度位置处，在该处形成此时被设定为记录对象的记录层L U)。在这种状态下，在步骤F105中开始记录操作。具体地，基于记录数据的激光驱动信号从记录处理部40输出， 并且通过记录数据调制作为记录功率的第一激光从第一激光二极管输出。从而进行记录层 L (X)上的记录(以及记录层的形成)。在这种情况下，上述偏移值设置如下。顺便提及，“R”是从基准面3至记录层LO (如图13所示)的距离。偏移值of-LO……R
偏移值of_Ll......R+A偏移值of_L2......R+A+B偏移值 of_L3......R+A+B+A偏移值of_L4......R+A+B+A+C偏移值of_L5......R+A+B+A+C+A偏移值of_L6......R+A+B+A+C+A+B
偏移值of_L7......R+A+B+A+C+A+B+A利用这些设定，记录层L0-L7以如图13所示的层间隔形成以作为8层记录介质。 即，与上述第一实施方式中图3所示的层间隔配置相似的体记录介质通过记录操作形成。 并且，在再生时杂散光显然未聚焦在这种体记录介质的某个记录层上。因此，层间串扰的影响可以降低甚至消除。另外，在8层的实例中层间隔的种数可以是3种(A、B和C)。因此， 偏移值可被容易地设定。当然不限于8层，当形成4或更多记录层时，与前述第一实施方式相似的层间隔配置均可以采用。即使特别是在20层、32层等实例中层的数量大大增加，偏移值也可被容易地设定，因为层间隔的种类数被最小化。另外，即使记录和再生装置10不存储偏移值，由于基于上述32层记录介质内的AB 块的常规层间隔配置，也可以进行通过简单计算根据作为记录或再生对象的记录层确定偏移值的处理。此外，当考虑到在所谓的原盘状态下体记录介质I内没有形成记录层这一事实时，也可以假设层数量在记录时再进行确定的这一使用模式。在这种情况下，如果采用了如第一实施方式所述的具有最少种类层间隔的常规层间隔配置，记录和再生装置10可以容易地设定适当的偏移值。参考符号说明I 体记录介质2、11覆盖层3 基准面5 体层10 记录和再生装置12 基板21 物镜22致动器37 倾斜伺服电路L0、L1、L2 记录层SP1、SP2、SP3 间隔层
权利要求
1.一种光记录介质， 包括N个记录层(其中N≥4); 彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;并且 包括一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。
2.根据权利要求I所述的光记录介质，其中， 所述记录层的数量为使得作为层间隔的种数的所述M为M > 3，并且 所述光记录介质将从第三层间隔至第M间隔层的各个层间隔的一部分分别作为构成所述块的记录层和与所述记录层相邻的记录层之间的层间隔，所述相邻的记录层不被包括在包括所述记录层的块内。
3.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 所述第一层间隔〈所述第二层间隔〈所述第三层间隔〈……〈所述第M层间隔。
4.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 所述光记录介质具有5至8个记录层，并且所述M=3，并且 所述光记录介质将第三层间隔的一部分作为构成所述块的记录层和与所述记录层相邻的记录层之间的层间隔，所述相邻的记录层不被包括在包括所述记录层的块内。
5.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 所述光记录介质具有9至16个记录层，并且所述M=4，并且 所述光记录介质将第三层间隔的一部分和第四层间隔的一部分分别作为构成所述块的记录层和与所述记录层相邻的记录层之间的层间隔，所述相邻的记录层不被包括在包括所述记录层的块内。
6.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 所述光记录介质具有17至32个记录层，并且所述M=5，并且 所述光记录介质将第三层间隔的一部分、第四层间隔的一部分和第五层间隔的一部分分别作为构成所述块的记录层和与所述记录层相邻的记录层之间的层间隔，所述相邻的记录层不被包括在包括所述记录层的块内。
7.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 当所述记录层的数量为N=2y (y为3以上的整数)时， 所述第M层间隔被设置在第(N/2)记录层和第{ (N/2)+l}记录层之间， 第一记录层至所述第(N/2)记录层以及所述第{ (N/2)+l}记录层至第N记录层均具有至少一个或多个所述块，并且 从所述第一记录层至所述第(N/2)记录层的各个层间隔的设置与从所述第{ (N/2)+l}记录层至所述第N记录层的各个层间隔的设置相同。
8.根据权利要求2所述的光记录介质，其中， 当记录层的数量N为27_%〈27 (y为3以上的整数)时， 当假设N’ =2y、对于M种数的层间隔所述第M层间隔设置在第(N’ /2)记录层和第{ (N’ /2)+1}记录层之间、所述第一记录层至所述第(N’ /2)记录层以及所述第{ (N’ /2)+1}记录层至所述第N’记录层均具有至少一个或多个所述块、并且从所述第一记录层至所述第(N’ /2)记录层的各个层间隔设置与从所述第{ (N’ /2)+1}记录层至所述第N’记录层的各个层间隔设置相同时，N个记录层形成有在从第一记录层至第N’记录层中选取N个连续记录层的情况下的层间隔设置。
9.根据权利要求I所述的光记录介质，其中， 所述第一层间隔至第M层间隔中的最小层间隔为12.4 · λ/NA/tan(asin(NA/n)) 其中，λ为所述光记录介质上的再生光的波长，NA为再生光学系统的数值孔径，并且η为记录层之间的折射率。
10.一种记录装置,包括 光学拾取器，用于利用激光照射光记录介质，所述光记录介质具有通过激光照射记录光记录信息、并且形成有在其中记录所述光记录信息的多个记录层的体层； 聚焦控制部，被配置为将激光的焦点位置控制在所述体层内；以及 控制部，被配置为给予所述聚焦控制部关于焦点位置的指示，从而通过利用所述激光进行记录操作来形成每个记录层，使得N个记录层(其中N > 4)形成在所述体层内，彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;并且所述体层具有一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。
11.一种记录装置的记录方法，所述记录装置包括光学拾取器，用于利用激光照射光记录介质，所述光记录介质具有通过激光照射记录光记录信息、并且形成有在其中记录所述光记录信息的多个记录层的体层；以及聚焦控制部，被配置为将激光的焦点位置控制在所述体层内，所述记录方法包括 在所述聚焦控制部根据每个记录层控制焦点位置之后，利用所述激光执行记录操作，以形成每个记录层，使得N个记录层(其中N ^ 4)形成在所述体层内，彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为Iog2(N)以上的最小整数以下的整数M ;并且所述体层具有一个或多个块，所述一个或多个块包括在所述一个或多个块中顺序形成有第一层间隔、第二层间隔和所述第一层间隔的四个记录层。
全文摘要
为了能够用具有最少种类层间隔的构造消除层间串扰的影响。一种光记录介质包括N个记录层(其中N≥4)；彼此相邻的记录层之间的层间隔的种数为log2(N)以上的最小整数以下的整数M；并且一个或多个AB块包括在该一个或多个AB块中顺序形成有第一层间隔A、第二层间隔B和所述第一层间隔A的四个记录层。此外，当记录层的数量为使得层间隔的种数M为M≥3时，光记录介质将第三层间隔C的一部分作为构成AB块的记录层和与该记录层相邻的记录层之间的层间隔，相邻的记录层不被包括在包括记录层的AB块内。
文档编号G11B7/24GK102714046SQ20108006091
公开日2012年10月3日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年1月13日
发明者小林诚司, 齐藤公博 申请人:索尼公司