光记录再现方法及光记录再现装置的制作方法

文档序号:6770804阅读:147来源:国知局
专利名称:光记录再现方法及光记录再现装置的制作方法
技术领域
本发明涉及光记录再现方法及光记录再现装置,用于针对具有多个记录层的多层光盘的信息记录面进行数据的记录及/或进行再现。
背景技术
近年来,与蓝光光盘(BD)等大容量光盘对应的光记录再现装置得到普及。在BD用光记录再现装置中,基于如下原因必须考虑球面像差的影响即与DVD用光记录再现装置相比,照射到光盘的信息记录面的激光光束的光斑直径小、激光光束的波长短、物镜的数值孔径(NA)大等。因此,在BD用光记录再现装置中需要控制球面像差量(例如,参照专利文献I)。专利文献I公开了用于控制球面像差量以使循轨误差信号的振幅值达到最大的方法。另外,基于更加大容量化的要求,具有多个记录层的多层BD得到普及。在向多层 BD记录或者再现数据时,产生进行从某个记录层向另一个记录层的层间跳跃的处理,但是针对各个记录层的最佳球面像差量因层间距离而异。因此,提出了有关对于各个记录层的最佳球面像差量的控制方法的方案(例如,参照专利文献2和3)。专利文献2公开了如下这样的方法根据通过使物镜沿聚焦方向移位而检测到的聚焦误差信号的S字波形,计算各个记录层之间的球面像差偏移量。另外,专利文献3公开了如下这样的方法求出通过使物镜沿聚焦方向移位而检测到的聚焦误差信号的S字波形的振幅达到最大的球面像差量,将向该球面像差量乘以校正系数得到的值作为各个记录层的最佳球面像差量。在先技术文献专利文献专利文献I :日本特开2004-095106号公报(第0053、0060、0075、0083段,图4和图8)专利文献2 :日本特开2003 - 077142号公报(第0023、0024段,图4)专利文献3 :日本特开2006 - 079703号公报(第0068 0073段,图6)

发明内容
发明要解决的问题在专利文献2记载的方法中,在进行从某个记录层向另一个记录层的层间跳跃之前,加上计算出的球面像差偏置量来进行层间跳跃,然后再次在层间跳跃目的地的记录层中将球面像差量控制为最佳值,因而存在多层光盘的起动时间变长的问题。另外,球面像差量的值不仅根据各个记录层的层间距离而变化,而且也根据多层光盘的记录层的厚度误差而变化,因而在专利文献3记载的方法中存在校正系数不一定最佳的问题。本发明正是为了解决上述现有技术的问题而提出的,其目的在于,提供一种能够在多层光盘中在短时间内进行最佳的球面像差量的控制的光记录再现方法及光记录再现装直。用于解决问题的手段本发明的光记录再现方法的一个方式的特征在于,包括以下步骤照射受光步骤,使物镜沿聚焦方向移位,同时使激光通过所述物镜而作为会聚点照射至具有k个记录层的多层光盘的任意一个记录层,由受光兀件接收来自该多层光盘的反射光,其中,k为2以上的整数;信号处理步骤,根据从所述受光元件输出的所述反射光的受光信号,生成所述会聚点的球面像差量控制信号;以及球面像差量控制步骤,根据所述球面像差量的控制信号,控制球面像差量,所述信号处理步骤包括以下步骤取得在使所述物镜沿聚焦方向移位的步骤中检测到的聚焦误差信号的振幅信息;根据所述振幅信息中的、在刚刚离开所述多层光盘的任意第s记录层的对焦位置之后检测到的聚焦误差信号的振幅值、与在即将通过任意第t记录层的对焦位置之前检测到的聚焦误差信号的振幅值之比,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量,其中,s为满足KsSk的整数,t为满足KtSk的整数,且t辛s ;根据计算出的所述最佳球面像差量,生成所述球面像差量的控制信号。另外,本发明的光记录再现装置的一个方式的特征在于,该光记录再现装置具有照射受光部,其使物镜沿聚焦方向移位,同时使激光通过所述物镜而作为会聚点照射至具有k个记录层的多层光盘的任意一个记录层,由受光元件接收来自该多层光盘的反射光,其中,k为2以上的整数;信号处理部,其根据从所述受光元件输出的所述反射光的受光信号,生成所述会聚点的球面像差量控制信号;以及球面像差量控制部,其根据所述球面像差量的控制信号,控制球面像差量,所述信号处理部取得在使所述物镜沿聚焦方向移位时检测到的聚焦误差信号的振幅信息,根据所述振幅信息中的、在刚刚离开所述多层光盘的任意第s记录层的对焦位置之后检测到的聚焦误差信号的振幅值、与在即将通过任意第t记录层的对焦位置之前检测到的聚焦误差信号的振幅值之比,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量,其中,s为满足I < s < k的整数,t为满足I < t < k的整数,且t幸s,根据计算出的所述最佳球面像差量,生成所述球面像差量的控制信号。发明效果根据本发明,具有使在对多层光盘进行记录及/或再现的装置中能够在短时间内进行多层光盘的最佳的球面像差量的控制的效果。


图I是简要表示实施方式I 4的光记录再现装置(即能够执行实施方式I 4的光记录再现方法的装置)的结构的图。图2是简要表示双层BD的结构的一例的局部剖开立体图。图3的(a)是表示在双层BD中,在从第I记录层向第2记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图,(b)是表示在双层BD中,在从第2记录层向第I记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。图4的(81)、(&2)、(131)、62)、((1)、(02)是表示在将球面像差量设定为SAn时,在进行从第I记录层向第2记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的S字波形中波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值的振幅比FE1/FE2、和SAn与SAo (对第2记录层的最佳的球面像差量)之差(SAn - SAo)的关系的测定结果的图。
图5的(&1)、(&2)、(131)、62)、((31)、((32)是表示在将球面像差量设定为SAn时,在进行从第2记录层向第I记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的S字波形中波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值的振幅比FE3/FE4、和SAm (对第I记录层的最佳的球面像差量)与SAn之差(SAm-SAn)的关系的测定结果的图。图6是表示实施方式I的光记录再现装置的从多层光盘插入到数据记录或者再现的处理的一例的流程图。图7是表示实施方式I的光记录再现装置的第I层间跳跃处理流程的一例的流程图。图8是表示实施方式I的光记录再现装置的第2层间跳跃处理流程的一例的流程图。 图9的(a)是表示在双层BD中,在使物镜向离开多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图,(b)是表示在双层BD中,在使物镜向接近多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。图10的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)是表示在将球面像差量设定为SAn时,在使物镜向离开多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的S字波形中波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值的振幅比FE1/FE2、和SAn与SAo (对第2记录层的最佳的球面像差量)之差(SAn - SAo)的关系的测定结果的图。图11的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)是表示在将球面像差量设定为SAn时,在使物镜向接近多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的S字波形中波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值的振幅比FE3/FE4、和SAm (对第I记录层的最佳的球面像差量)与SAn之差(SAm — SAn)的关系的测定结果的图。图12是表示实施方式2的光记录再现装置的从多层光盘插入到数据记录或者再现的处理的一例的流程图。图13是表示实施方式2的光记录再现装置的物镜移位处理流程的一例的流程图。图14是表示实施方式2的光记录再现装置的第3层间跳跃处理流程的一例的流程图。图15是表示实施方式2的光记录再现装置的第4层间跳跃处理流程的一例的流程图。图16是简要表示具有k个(k > 3)记录层的多层BD的结构的一例的局部剖开立体图。图17的(a)是表示在具有k个(k ^ 3)记录层的多层BD中,在从第s记录层向第t记录层(I ( s<t ( k)的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图,(b)是表示在具有k个记录层的多层BD中,在从第t记录层向第s记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。图18的(a)是表示在具有k个(k > 3)记录层的多层BD中,在使物镜向离开多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图,(b)是表示在具有k个记录层的多层BD中,在使物镜向接近多层光盘的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。
具体实施例方式实施方式1图1是简要表示实施方式I的光记录再现装置(即能够执行实施方式I的光记录再现方法的装置)10的结构的图。实施方式I的光记录再现装置10构成为包含于记录再现装置中,该记录再现装置在多层光盘40的信息记录面上进行数据的记录及/或对数据进行再现。光记录再现装置10例如在安装了多层光盘40时,在记录动作的中途以及再现动作的中途,根据多层光盘40的信息记录面上的保护层的变化等控制球面像差量。另外,多层光盘40通常划分为只能进行再现(读出)的“再现专用型”、能够进行仅一次性写入的“追记型”、以及能够进行写入及删除的“改写型”这三种类型,实施方式I的光记录再现装置能够向这些任何一种类型的光盘进行记录及再现。如图I所示,实施方式I的光记录再现装置10具有照射受光部I,其包括光拾取器11和激光驱动部22 ;信号处理部2,其进行针对来自光拾取器11的检测信号的处理或者基于检测信号的处理;以及球面像差量控制部3,其根据由信号处理部2生成及检测(测定)到的信号,使光拾取器11控制球面像差量。照射受光部I的光拾取器11通过多层光盘40的信息记录面(也称为“记录层”)上的保护层(未图示),向信息记录面照射激光形成会聚点,并接受来自该多层光盘40的信息记录面的反射光。信号处理部2根据照射受光部I的光拾取器11接收到的反射光的受光信号,生成球面像差量的控制信号。其中,“球面像差量”例如相当于通过以能够移动地方式支撑球面像差量控制元件15的机构(未图示)而实现的球面像差量控制元件15的位置,由球面像差量控制装置15a控制球面像差量控制元件15的位置。“球面像差量控制装置”例如由以能够移动地方式支撑球面像差量控制元件15的机构、以及对该机构提供驱动力的驱动部等构成。但是,球面像差量控制装置不限于这种结构。如图I所示,光拾取器11具有由激光驱动部22进行驱动控制的半导体激光器12、准直透镜13、分离器14、球面像差量控制元件15、全反射用反射镜16、物镜17、物镜致动器
18、检测透镜19、受光元件20、以及前置放大器21。在进行数据再现时,从半导体激光器12出射的、具有进行数据再现所需要的输出值(再现功率)的激光,经由准直透镜13、分离器
14、球面像差量控制元件15、全反射用反射镜16以及物镜17被会聚照射到多层光盘40的信息记录面。来自多层光盘40的信息记录面的反射光经由物镜17被会聚照射到多层光盘40的信息记录面。来自多层光盘40的信息记录面的反射光在通过物镜17、全反射用反射镜16、球面像差量控制元件15后,被分离器14弯折,再经由检测透镜19被受光元件20接收。例如,受光元件20具有多个受光面,各个受光面将接手到的光信号变换为电信号进行输出。另外,当进行记录或者再现时,在多层光盘40中产生进行从某个记录层向另一个记录层的层间跳跃的处理。从第I记录层向第2记录层的层间跳跃是指如下这样的处理通过使物镜17沿聚焦方向移位,使照射到多层光盘40的信息记录面的激光的会聚点的对焦位置从第I记录层移动到第2记录层。另外,如图I所示,信号处理部2具有再现信号生成部23、伺服信号生成部24、再现信号振幅检测部25、均衡器26、再现抖动检测部27、聚焦误差信号振幅检测部28、循轨误差信号振幅检测部29、中央控制部30以及存储部31。伺服信号生成部24具有聚焦误差信号生成部24a和循轨误差信号生成部24b。另外,在图I中,存储部31被设于中央控制部30内,但也可以是位于中央控制部30的外部的结构。由受光元件20转换后的电信号经由前置放大器21被输入到再现信号生成部23和伺服信号生成部24。再现信号生成部23根据来自前置放大器21的信号生成再现信号,将所生成的再现信号输出给再现信号振幅检测部25和均衡器26。均衡器26对所输入的再现信号进行整形,并输出给再现抖动检测部27。再现抖动检测部27检测抖动值,该抖动值是根据再现信号和由未图示的PLL (PhaseLocked Loop,锁相环)生成的时钟之间的相位误差的绝对值求出的指标。伺服信号生成部24的聚焦误差信号生成部24a和循轨误差信号生成部24b分别生成通过使物镜17沿聚焦方向移位而检测到的聚焦误差信号、和通过使物镜17沿循轨方向移位而检测到的循轨误差信号。由聚焦误差信号生成部24a生成的聚焦误差信号被输入到聚焦误差信号检测部28,由循轨误差信号生成部24b生成的循轨误差信号被输入到循轨误差信号振幅检测部29。由再现信号振幅检测部25、再现抖动检测部27、聚焦误差信号振幅检测部28及循轨误差信号振幅检测部29检测到的振幅信息被提供给中央控制部30,中央控制部30根据被提 供的信息确定球面像差量,并将所确定的球面像差量分别发送给球面像差量控制部32。另 夕卜,关于聚焦误差信号生成部24a生成聚焦误差信号的方法,能够采用公知的方法例如像散法、刀锋法(knife-edge method)、光斑尺寸检测法(spot-sizedetection method)等。关于循轨误差信号生成部24b生成循轨误差信号的方法,能够采用公知的方法例如推挽法或 DPP (Differential Push-Pull,差分推挽)法、DPD (Differential Phase Detection,差分相位检测)法等。另外,如图I所示,球面像差量控制部3具有球面像差量控制部32。球面像差量控制部32通过驱动光拾取器11的球面像差量控制元件15来控制球面像差量。光记录再现装置10例如在安装了多层光盘40时,在记录动作的中途以及再现动作的中途,根据多层光盘40的信息记录面上的保护层的变化等进行球面像差量的控制,但是对进行该控制的时机没有限制。图2是简要表示图I所示的多层光盘40的一例、即具有两个记录层(记录层的层数k = 2)的双层BD的结构的局部剖开立体图。图2所示的双层BD具有第I记录层40a(LI)和第2记录层40b (L2)和表面40c,从物镜17侧观察时里侧的记录层是第I记录层40a,近前侧的记录层是第2记录层40b。如作为光束50而示出的那样,图2示例了物镜17对焦于第I记录层40a的情况。在后面的实施方式I中说明向双层BD进行记录或者再现的情况。图3 (a)是表示在双层BD中,在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃时PJ检测到的聚焦误差信号的波形(S字波形)的图,图3 (b)是表示在从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃时PJ检测到的聚焦误差信号的波形(S字波形)的一例的图。另外,在本申请中,将顺序产生在彼此相反的方向上具有(相反极性的)峰值的两个波峰波形的S字状的波形或者反转后的S字状的波形称为“S字波形”。并且,将构成S字波形的两个波峰波形中的一方(S字波形的一半)称为“波峰向上波形”,将另一方(S字波形的另一半)称为“波峰向下波形”。如图3 Ca)所示,在物镜17离开第I记录层LI的对焦位置时(此时,会聚点离开第I记录层LI ),由聚焦误差信号生成部24a生成的聚焦误差信号呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在物镜17即将到达第2记录层L2的对焦位置之前(此时是会聚点即将到达第2记录层L2之前),聚焦误差信号呈现S字波形中的波峰向上波形。将S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FElJf S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2。如图3 (b)所示,在物镜17离开第2记录层L2的对焦位置时(此时,会聚点离开第2记录层L2),由聚焦误差信号生成部24a生成的聚焦误差信号呈现S字波形中的波峰向上波形。并且,在物镜17即将到达第I记录层LI的对焦位置之前(此时是会聚点即将到达第I记录层LI之前),聚焦误差信号呈现S字波形中的波峰向下波形。将S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4,将S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3。另外,振幅值FEl和FE2是指如下这样的波形的振幅例如在图3 (a)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不进行层间跳跃时的基准电压值Vr的变化量,并与图3 (a)所示的阈值AVtl或者AVt2进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在从层间跳跃开始到结束的期间PJ中,电压相对于基准值的变化量(绝对值)第一次达到阈值以上的波峰向下波形的振幅值为FE1,第二次达到阈值以上时的振幅值为 FE2。其中,阈值AVtl或者Λ Vt2能够任意设定,但是需要恰当选定阈值,使得在对焦位置移动时呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于两次。同样,振幅值FE3和FE4是指如下这样的波形的振幅例如在图3 (b)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不进行层间跳跃时的基准电压值Vr的变化量,并与图3(b)所示的阈值AVt3或者Λ Vt4进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在从层间跳跃开始到结束的期间PJ中,电压相对于基准值的变化量(绝对值)第一次达到阈值以上时的振幅值为FE4,第二次达到阈值以上时的振幅值为FE3。其中,阈值AVt3或者AVt4能够任意设定,但是需要恰当选定阈值,使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于两次。在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形、以及在从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形,均不限于如图3 (a)和(b)所示的波形。图4 W(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)是表示当在双层BD中将球面像差量(SA)设定为SAn时,在进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形(图3 (a))中的振幅比FE1/FE2 (图4的(al)、(bl)、(cl))及振幅比FE2/FEl (图4的(a2)、(b2)、(c2))的测定结果的图。另外,图4的(al)和(a2)表示再现专用型双层BD的情况,图4的(bl)和(b2)表示追记型双层BD的情况,图4的(cl)和(c2)表示改写型双层BD的情况。在图中,横轴表示振幅比FE1/FE2或者FE2/FE1,纵轴表示球面像差量SAn和对第2记录层L2为最佳的球面像差量SAo之差(SAn — SAo)。根据图4的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2),在将S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比设为X、设(SAn — SAo)为y、设al和bl为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)。y = al · X + bl 式(I)图5的(&1)、(&2)、(131)、62)、((31)、(02)是表示当在双层BD中将球面像差量(SA)设定为SAn时,在进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形(图3 (b))中的振幅比FE3/FE4 (图5的(al)、(bl)、(cl))及振幅比FE4/FE3 (图5的(a2)、(b2)、(c2))的图。另外,图5的(al)和(a2)表示再现专用型双层BD的情况,图5的(bl)和(b2)表示追记型双层BD的情况,图5的(Cl)和(c2)表示改写型双层BD的情况。在图中,横轴表示振幅比FE3/FE4或者FE4/FE3,纵轴表示对第I记录层LI为最佳的球面像差量SAm与SAn之差(SAm — SAn)。根据图5的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2),在将S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比设为X、设(SAm - SAn)为y、设a2和b2为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)。y = a2. x + b2 式(2)在图4 ^(al),(a2),(bl),(b2),(cl),(c2)和图 5 的(al )、(a2)、(bl )、(b2)、(cl)、(c2)中,式(I)及式(2)中的常数al、bl、a2和b2是预先确定的。但是,观察这些附图可知,根据多层光盘40的类型、即多层光盘40是再现专用型、追记型或者改写型中的哪种类型,常数al、bl、a2和b2取不同的值。因此,必须根据多层光盘40的类型确定常数al、bl、a2 和 b2。
另外,S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比和球面像差量之差(SAn-SAo)的关系,不限于如式(I)所示的一次近似式。同样,另外,S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比和球面像差量之差(SAm-SAn)的关系,不限于如式(2)所示的一次近似式。在图 4 的(&1)、(&2)、(131)、62)、((31)、(02)和图 5 的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)中,优选基于近似的值与测定值之误差为最小的近似式。但是,下面使用式(I)和式(2)的一次近似式来说明光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。下面,参照图6 图8详细说明实施方式I的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。图6是表示实施方式I的光记录再现装置10的从多层光盘40插入到数据记录或者再现的处理的一例的流程图。在进行记录再现所使用的光盘40被插入到光记录再现装置10中后(步骤SI),包含于照射受光部I中的未图示的装置进行光盘40的判别(步骤S2)。光盘40的判别例如包括如下步骤判别光盘40是BD、DVD、⑶中的哪一种;判别光盘40是再现专用型、追记型、改写型中的哪种类型;判别光盘40的记录层的层数。关于所插入的光盘40的判别方法,能够采用公知的方法,可以采用任何方法。然后,信号处理部2进行用于使承载了光盘40的旋转台(未图示)旋转的控制(步骤 S3)。然后,信号处理部2将聚焦伺服(聚焦误差信号生成部24a和物镜致动器18等)设为开启(ON)(步骤S4)。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为开启(ON)(步骤S5)。然后,信号处理部2进行第I记录层LI中的增益及偏置调整(步骤S6)。该调整是根据从图I所示的伺服信号生成部24和再现信号生成部23等输出的信号来进行的。也可以根据需要在步骤S3的光盘40刚刚旋转之后或者步骤S4的刚刚设为聚焦伺服ON之后进行该调整。然后,信号处理部2的中央控制部30进行通过步骤S2而判别出的光盘40的记录层的层数是否大于I的判定(步骤S7)。信号处理部2的中央控制部30在判定为光盘40的记录层的层数不大于I的情况下,经由未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示,转入步骤S7的第I记录层LI处的球面像差量控制处理。球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18执行第I记录层LI中的球面像差量(SA)的控制(步骤S8)。SA控制处理(步骤S8)是由光拾取器11、再现信号振幅检测部25、再现抖动检测部27、循轨误差信号振幅检测部29、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行的步骤。作为SA控制处理方法的一例,控制为使由循轨误差信号振幅检测部29检测到循轨误差信号振幅值达到最大。或者,控制为使由再现信号振幅检测部25检测到再现信号振幅值达到最大。或者,控制为使由再现抖动检测部27检测到再现抖动值达到最小。通过第I记录层LI中的SA控制处理(步骤S8)而得到的最佳的SA控制量相当于SAm。然后,使通过照射受光部I开始数据的记录或者再现(步骤S20)。另外,在步骤S7中,信号处理部2的中央控制部30在判定为光盘40的记录层的 层数大于I的情况下,经由未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示,使进入步骤S9的处理。在步骤S9中,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为关闭(OFF)(步骤S9)。然后,信号处理部2使光拾取器11的球面像差量控制元件15、物镜17、物镜致动器18执行第I层间跳跃处理(步骤S10)。第I层间跳跃处理流程(步骤S10)是由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a、中央控制部30、球面像差量控制部32等执行的步骤,有关处理方法的详细情况将在后面使用图7的流程图进行说明。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为ON (步骤S11)。然后,信号处理部2进行第2记录层L2中的增益及偏置调整(步骤S12)。该调整是根据从图I所示的伺服信号生成部24和再现信号生成部23等输出的信号来进行的。也可以根据需要在步骤SlO的第I层间跳跃处理流程之后进行该调整。然后,信号处理部2进行是否已计算出第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的判定(步骤S13)。在将于后面叙述的第I层间跳跃处理(步骤S10)中,根据图3 (a)中的振幅值FEl与振幅值FE2的振幅比FE1/FE2,计算第2记录层L2的最佳球面像差量SAo,但是在未计算出该第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的情况下,球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18执行第2记录层L2中的球面像差量(SA)的控制(步骤S14)。在第2记录层L2中进行的SA控制的处理(步骤S14),与在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S8)相同。通过第2记录层L2的SA控制处理(步骤S14)而得到的最佳SA控制量相当于SAo。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为OFF (步骤S15)。然后,信号处理部2使光拾取器11的球面像差量控制元件15、物镜17、物镜致动器18执行第2层间跳跃处理(步骤S16)。第2层间跳跃处理流程(步骤S16)是由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a、中央控制部30以及球面像差量控制部32等执行的步骤,有关处理方法的详细情况将在后面使用图8的流程图进行说明。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为ON (步骤S17)。
然后,信号处理部2进行是否已计算出第I记录层LI的最佳球面像差量SAm的判定(步骤S18)。在将于后面叙述的第I层间跳跃处理(步骤S16)中,根据图3 (b)中的振幅值FE3与振幅值FE4的振幅比,计算第I记录层LI的最佳球面像差量SAm,但是在未计算出该第I记录层LI的最佳球面像差量SAm的情况下,球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18执行第I记录层LI中的球面像差量(SA)的控制(步骤S19)。在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S19),与在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S8)相同。通过第I记录层LI的SA控制处理(步骤S19)而得到的最佳SA控制量相当于SAm。
然后,未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示,使通过照射受光部I开始数据的记录或者再现(步骤S20 )。图7是表示实施方式I的光记录再现装置10的第I层间跳跃处理流程的一例的流程图。图7表示图6的步骤SlO的第I层间跳跃处理流程的详细情况。如图7所示,球面像差量控制部3在第I层间跳跃处理流程开始后(步骤SlOO),将球面像差量(SA)设定为SAn (步骤S101)。该SAn可以是在标准光盘中预先求出的适合于第2记录层L2的球面像差量,也可以是适合于第I记录层LI的球面像差量与适合于第2记录层L2的球面像差量之间的值。通过这样设定,能够稳定地进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃。然后,信号处理部2将i设定为O (步骤S102)。将i设为O的处理(步骤S102)由中央控制部30等执行。然后,照射受光部I进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)。层间跳跃(步骤S103)由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a和中央控制部30等执行。然后,信号处理部2测定在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)时检测到聚焦误差信号中的振幅值FEl和FE2,并进行所测定到的振幅值FEl和FE2中的任意一方或者双方是否为图3(a)所示的阈值以上的判定(步骤S104)。如果步骤S104的判定结果为是,则计算振幅值FEl与FE2之比FE1/FE2 (步骤S105)。如果步骤S104的判定结果为否,则进行i是否为η以上的判定(步骤S107)。在步骤S104的判定结果为是的情况下,信号处理部2根据由步骤S104测定到的振幅值FEl和FE2,计算振幅比FE1/FE2 (步骤S105)。计算振幅比FE1/FE2的步骤(步骤S105)由中央控制部30执行。然后,球面像差量控制部3根据在步骤S105中计算出的振幅比FE1/FE2,将球面像差量(SA)设定为SAo (步骤S106)。将球面像差量设定为SAo的步骤(步骤S106)由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。然后,第I层间跳跃处理流程结束(步骤S111)。另一方面,在步骤S104的判定结果为否的情况下,信号处理部2进行i是否为η以上的判定(步骤S107)。在步骤S107的判定结果为是的情况下,表示即使进行η次从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103),振幅值FEl和FE2中的任意一方或者双方也不是阈值以上,在没有计算出第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的状态下,第I层间跳跃处理流程结束(步骤S111)。
在步骤S107的判定结果为否的情况下,信号处理部2进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S108)。这是在步骤S104判定为振幅值FEl和FE2中的任意一方或者双方不是阈值以上,而再次进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)的处理。然后,球面像差量控制部3变更球面像差量(SA)。与此同时,信号处理部2将变更后的值设为SAn (步骤S109)。或者,信号处理部2减小图3 (a)中的阈值。变更球面像差量(SA)并将变更后的值设为SAn的处理、或者减小阈值的处理(步骤S109),由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。其中,变更球面像差量(SA)(步骤S109)的理由是,因为在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)时检测到的聚焦误差信号(图3 Ca 中,振幅值FEl或FE2中的任意一方均没有达到阈值。即,因为进行了层间跳跃时的球面像差量SAn是更接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值、或者是更接近适合于第2记录层L2的球面像差 量的值。因此,如果是接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值,则向使接近适合于第2记录层L2的球面像差量的方向变更,如果是接近适合于第2记录层L2的球面像差量的值,则向使接近适合于第I记录层LI的球面像差量的方向变更。另外,变更量能够自由设定。另外,在步骤S109中,也可以减小图3 Ca)中的阈值。这是针对在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)时检测到的聚焦误差信号(图3 Ca 中,振幅值FEl和FE2均没有达到阈值的情况下的有效的处理。但是,当再次进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)时,需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于两次。然后,信号处理部2将i的值加I (步骤SI 10)。将i的值加I的处理(步骤SI 10)由中央控制部30等执行。在进行了步骤SllO的处理后,再次进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S103)。根据S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值FEl与FE2之比,将球面像差量(SA)设定为SAo的步骤(步骤S106),包括这样的步骤在下面的一次函数式(一次近似直线)中,y = al. x + bl 式(I)在设X为振幅比FE1/FE2、设y为SAn与SAo之差(SAn — SAo)时,根据振幅比FEl/FE2近似计算(SAn — SAo)即SAo。由此,能够在短时间内进行对在进行层间跳跃后对焦的第2记录层L2为最佳的球面像差量的控制。图8是表示实施方式I的光记录再现装置10的第2层间跳跃处理流程的一例的流程图。图8表示图6的步骤S16的第2层间跳跃处理流程的详细情况。如图8所示,球面像差量控制部3在第2层间跳跃处理流程开始后(步骤S160),将球面像差量(SA)设定为SAn (步骤S161)。该SAn可以是在标准光盘中预先求出的适合于第I记录层LI的球面像差量,也可以是适合于第I记录层LI的球面像差量与通过步骤SlO计算出的适合于第2记录层L2的球面像差量SAo之间的值。通过这样设定,能够稳定地进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃。然后,信号处理部2将i设定为O (步骤S162)。将i设为O的处理(步骤S162)由中央控制部30等执行。
然后,照射受光部I进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)。层间跳跃(步骤S163)由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a和中央控制部30等执行。然后,信号处理部2测定在从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)时检测到的聚焦误差信号中的振幅值FE3和FE4,并进行所测定到的振幅值FE3和FE4中的任意一方或者双方是否为图3 (b)所示的阈值以上的判定(步骤S164)。如果步骤S164的判定结果为是,则计算振幅值FE3与FE4之比FE4/FE3(步骤S165)。如果步骤S164的判定结果为否,则进行i是否为η以上的判定(步骤S167)。在步骤S164的判定结果为是的情况下,信号处理部2根据通过步骤S164而测定到的振幅值FE3和FE4,计算振幅比FE4/FE3(步骤S165)。计算振幅比FE4/FE3的步骤(步骤S165)由中央控制部30执行。然后,球面像差量控制部3根据在步骤S165中计算出的振幅比FE4/FE3,将球面像差量(SA)设定为SAm (步骤S166)。将球面像差量(SA)设定为SAm的步骤(步骤S166)由 光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。然后,第2层间跳跃处理流程结束(步骤S171)。另一方面,在步骤S164的判定结果为否的情况下,信号处理部2进行i是否为η以上的判定(步骤S167)。在步骤S167的判定结果为是的情况下,表示即使进行η次从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163),振幅值FE3和FE4中的任意一方或者双方也不是阈值以上,在没有计算出第I记录层LI的最佳球面像差量SAm的状态下,第2层间跳跃处理流程结束(步骤S171)。在步骤S167的判定结果为否的情况下,信号处理部2进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S168)。这是在步骤S164判定为振幅值FE3和FE4中的任意一方或者双方不是阈值以上,而再次进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)的处理。然后,球面像差量控制部3变更球面像差量(SA)。与此同时,信号处理部2将变更后的值设为SAn (步骤S169)。或者,减小图3 (b)中的阈值。变更球面像差量(SA)并将变更后的值设为SAn的处理、或者减小阈值的处理(步骤S169),由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。其中,变更球面像差量(SA)(步骤S169)的理由是,因为在从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)时检测到的聚焦误差信号(图3 (b))中,振幅值FE3或FE4中的任意一方均没有达到阈值。即,因为进行了层间跳跃时的球面像差量SAn是更接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值、或者是更接近通过步骤SlO计算出的适合于第2记录层L2的球面像差量SAo的值。因此,如果是接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值,则向使接近SAo的方向变更,如果是接近SAo的值,则向使接近适合于第I记录层LI的球面像差量的方向变更。另外,变更量能够自由设定。另外,在步骤S169中,也可以减小图3 (b)中的阈值。这是针对在从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)时检测到的聚焦误差信号(图3 (b))中,振幅值FE3和FE4均没有达到阈值的情况下的有效的处理。但是,当再次进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)时,需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于两次。然后,信号处理部2将i的值加I (步骤S170)。将i的值加I的处理(步骤S170)由中央控制部30等执行。在进行了步骤S170的处理后,再次进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S163)。根据S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值FE3与FE4之比FE3/FE4,将球面像差量(SA)设定为SAm的步骤(步骤S166),包括如下的计算SAm的步骤在下面的一次函数式(一次近似直线)中,y = a2. x + b2 式(2)在设X为振幅比FE4/FE3、设y为SAm与SAn之差(SAm — SAn)时,根据振幅比FE4/FE3近似计算(SAm — SAn)即SAm。由此,能够在短时间内进行对在进行层间跳跃后对焦的 第I记录层LI为最佳的球面像差量的控制。如以上说明的那样,根据实施方式I的光记录再现装置10及光记录再现方法,在对光盘40进行记录以及/或者再现的装置中,能够在短时间内进行对于双层BD的第I记录层LI及第2记录层L2为最佳的球面像差量的控制。另外,在上述说明中,在图7的步骤S105及S106中,作为振幅值FEl与FE2之比是采用了振幅比FE1/FE2,但也可以采用振幅比FE2/FE1。同样,在图8的步骤S165及S166中,作为振幅值FE3与FE4之比是采用了振幅比FE4/FE3,但也可以采用振幅比FE3/FE4。另外,在图3 (b)中,将从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃表述为“从第2记录层向第I记录层进行层间跳跃”,而从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃也能够一般化为“从第I记录层向第2记录层进行层间跳跃”。即,在于从第I记录层LI向第2记录层L2进行层间跳跃以及从第2记录层L2向第I记录层LI进行层间跳跃时检测到的聚焦误差信号中,能够根据图3中的达到阈值以上的两个波形的振幅值之比计算出层间跳跃目的地的最佳的球面像差量。实施方式2在实施方式I中说明了在双层BD中,根据在从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的两个振幅值之比,计算出层间跳跃目的地的最佳的球面像差量的方法。层间跳跃是通过使物镜17沿聚焦方向移位,使照射到多层光盘40的信息记录面上的激光的会聚点的位置移动的处理。不限于层间跳跃,包括多层光盘40的判别时或聚焦伺服ON时等在内,通过使物镜17沿聚焦方向移位,能够计算出球面像差量的最佳值。实施方式2的光记录再现装置的结构与在图I中说明的实施方式I的光记录再现装置的结构相同。因此,在说明实施方式2时也参照图I和图2。图9 (a)是表示如下的聚焦误差信号的波形的一例的图,即在多层光盘40被插入到光记录再现装置中后,以使物镜17通过多层光盘40的所有记录层的对焦位置的方式,使物镜17向与多层光盘40垂直且离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例,图9 (b)是表示在使物镜17向与多层光盘40垂直且接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。在图9 (a)中,在使物镜17向离开多层光盘40的方向(图I中的向下方向)移动时,在即将通过第I记录层LI的对焦位置(图9 (a)中用带圆圈的LI示出的点)之前,呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过对焦位置之后,呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在即将通过第2记录层L2的对焦位置(图9 Ca)中用带圆圈的L2示出的点)之前,呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过对焦位置之后,呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在即将通过表面之前,呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过之后呈现S字波形中的波峰向下波形。将刚刚通过第I记录层LI的对焦位置之后呈现的S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE1,将即将通过第2记录层L2的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2。在图9 (b)中,在使物镜17向接近多层光盘40的方向(图I中的向上方向)移动时,在即将通过表面之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过之后呈现S字波形中的波峰向上波形。并且,在即将通过第2记录层L2的对焦位置(图9 (b)中用带圆圈的L2示出的点)之前,呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过对焦位置之后,呈现S字波形 中的波峰向上波形。并且,在即将通过第I记录层LI的对焦位置(图9 (b)中用带圆圈的LI示出的点)之前,呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过对焦位置之后呈现S字波形中的波峰向上波形。将刚刚通过第2记录层L2的对焦位置之后呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4,将即将通过第I记录层LI的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3。另外,振幅值FEl和FE2是在图9 (a)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVt5或者AVt6进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。S卩,在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动的期间,在电压相对于基准值的变化量第二次达到阈值以上时的振幅值为FE1,在第三次达到阈值以上时的振幅值为FE2。阈值AVt5或者AVt6能够任意设定,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于4次。同样,振幅值FE3和FE4是在图9 (b)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVt7或者AVtS进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动的期间,在电压相对于基准值的变化量第二次达到阈值以上时的振幅值为FE4,在第三次达到阈值以上时的振幅值为FE3。关于阈值能够任意设定阈值AVt7或者AVt8,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于4次。在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形、以及在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形,均不限于如图9 (a)和(b)所示的波形。图10的(&1)、(&2)、(131)、62)、(。1)、(。2)是表示当在双层80中将球面像差量设定为SAn时,在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形(图9 Ca))中的、S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅值FEl和FE2的振幅比 FE1/FE2 (图 10 的(al)、(bl)、(cl))及振幅比 FE2/FE1 (图 10 的(a2)、(b2)、(c2))的图。另外,图10的(al)和(a2)表示再现专用型双层BD的情况,图10的(bl)和(b2)表示追记型双层BD的情况,图10的(Cl)和(c2)表示改写型双层BD的情况。横轴表示S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅值FEl和FE2的振幅比FE1/FE2,纵轴表示SAn与对于第2记录层L2为最佳的球面像差量SAo之差(SAn — SAo)。根据图10的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2),在将S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比设为X、设(SAn — SAo)为y、设a3和b3为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)。y = a3. x + b3 式(3)图11的(&1)、(&2)、(131)、62)、(。1)、(。2)是表示当在双层80中将球面像差量设定为SAn时,在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形(图9 (b))中的、S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅值FE3和FE4的振幅比 FE3/FE4 (图 11 的(al)、(bl)、(cl))及振幅比 FE4/FE3 (图 11 的(a2)、(b2)、(c2))的图。另外,图11的(al)和(a2)表示再现专用型双层BD的情况,图11的(bl)和(b2)表示追记型双层BD的情况,图11的(Cl)和(c2)表示改写型双层BD的情况。横轴表示S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅值FE3和FE4的振幅比,纵轴表示对于第I记录层LI为最佳的球面像差量SAm与SAn之差(SAm — SAn)。根据图11的(al)、(a2)、 (bl)、(b2)、(Cl)、(c2),在将S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比设为X、设(SAm — SAn)为y、设a4和b4为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)。y = a4. x + b4 式(4)在图10 的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)和图 11 的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)中,式(3)及式(4)中的a3、b3、a4和b4是预先确定的。但是,观察这些附图可知,根据多层光盘40的类型、即多层光盘40是再现专用型、追记型或者改写型中的哪种类型,a3、b3、a4和b4不同。因此,必须根据多层光盘40的类型确定a3、b3、a4和b4。另外,S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比和球面像差量之差(SAn - SAo)的关系,不限于如式(3)所示的一次近似式。同样,另外,S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅比和球面像差量之差(SAm — SAn)的关系,不限于如式(4)所示的一次近似式。在图 10 的(81)、(&2)、(131)、62)、((1)、(02)和图 11 的(al)、(a2)、(bl)、(b2)、(cl)、(c2)中,优选近似值与测定值之误差为最小的近似式。但是,下面使用式
(3)和式(4)的一次近似式来说明光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。下面,参照图12 图15详细说明实施方式2的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。图12是表示实施方式2的光记录再现装置10的从多层光盘40插入到数据记录或者再现的处理的一例的流程图。在进行记录再现所使用的光盘40被插入到光记录再现装置10中后(步骤S21),信号处理部2使物镜17及物镜致动器18执行物镜移位处理(步骤S22)。物镜移位处理流程(步骤S22)是由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a、中央控制部30等执行的步骤,关于处理方法的详细情况将在后面使用图13的流程图进行说明。然后,包含于照射受光部I中的未图示的装置进行光盘40的判别(步骤S23)。光盘40的判别例如包括如下步骤判别光盘40是BD、DVD、⑶中的哪一种;判别是再现专用型、追记型、改写型中的哪种类型;判别光盘40的记录层的层数。关于所插入的光盘40的判别方法,是公知的方法,可以采用任何方法。
然后,信号处理部2进行用于使光盘40旋转的控制,使旋转台(未图示)旋转(步骤S24)。然后,信号处理部2将聚焦伺服(聚焦误差信号生成部24a和物镜致动器18等)设为ON (步骤S25)。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为ON (步骤S26)。然后,信号处理部2进行第I记录层LI的增益及偏置调整(步骤S27)。该调整是根据从图I所示的伺服信号生成部24和再现信号生成部23等输出的信号来进行的。也可以根据需要在步骤S24的光盘40刚刚旋转之后或者步骤S25的刚刚设为聚焦伺服ON之后进行该调整。
然后,信号处理部2的中央控制部30进行通过步骤S23而判别的光盘40的记录层的层数是否大于I的判定(步骤S28)。信号处理部2的中央控制部30在判定为光盘40的记录层的层数不大于I的情况下,经由未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示,使转入步骤S29的第I记录层LI的球面像差量控制处理。球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18在第I记录层LI中执行球面像差量(SA)的控制(步骤S29 )。SA控制处理(步骤S29 )是由光拾取器11、再现信号振幅检测部25、再现抖动检测部27、循轨误差信号振幅检测部29、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行的步骤。作为SA控制处理方法的一例,控制成为使由循轨误差信号振幅检测部29检测到的循轨误差信号振幅值达到最大。或者,控制成为使由再现信号振幅检测部25检测到的再现信号振幅值达到最大。或者,控制成为使由再现抖动检测部27检测到的再现抖动值达到最小。通过第I记录层LI中的SA控制处理(步骤S29)而得到的最佳SA控制量相当于SAm。然后,使通过照射受光部I开始数据的记录或者再现(步骤S41)。另外,在步骤S28中,信号处理部2的中央控制部30在判定为光盘40的记录层的层数大于I的情况下,经由未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为OFF (步骤S30)。然后,信号处理部2使光拾取器11的球面像差量控制元件15、物镜17、物镜致动器18执行第3层间跳跃处理(步骤S31)。第3层间跳跃处理流程(步骤S31)是由光拾取器
11、聚焦误差信号生成部24a、中央控制部30、球面像差量控制部32等执行的步骤,有关处理方法的详细情况将在后面使用图14的流程图进行说明。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为ON (步骤S32)。然后,信号处理部2进行第2记录层L2的增益及偏置调整(步骤S33)。该调整是根据从图I所示的伺服信号生成部24和再现信号生成部23等输出的信号来进行的。也可以根据需要在步骤S31的第3层间跳跃处理流程之后进行该调整。然后,信号处理部2进行是否已计算出第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的判定(步骤S34)。在将于后面叙述的物镜移位处理(步骤S22)中,根据图9 (a)中的振幅值FEl与FE2的振幅比FE1/FE2,计算第2记录层L2的最佳球面像差量SAo,但是在未计算出该第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的情况下,球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18在第2记录层L2中执行球面像差量(SA)的控制(步骤S35)。在第2记录层L2中进行的SA控制的处理(步骤S35),与在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S29)相同。通过第2记录层L2的SA控制处理(步骤S35)而得到的最佳的SA控制量相当于SAo。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设为OFF (步骤S36)。然后,信号处理部2使光拾取器11的球面像差量控制元件15、物镜17、物镜致动器18执行第4层间跳跃处理(步骤S37)。第4层间跳跃处理流程(步骤S37)是由光拾取器
11、聚焦误差信号生成部24a、中央控制部30、以及球面像差量控制部32等执行的步骤,有关处理方法的详细情况将在后面使用图15的流程图进行说明。然后,信号处理部2将循轨伺服(循轨误差信号生成部24b和物镜致动器18等)设 为ON (步骤S38)。然后,信号处理部2进行是否已计算出第I记录层LI的最佳球面像差量SAm的判定(步骤S39)。在将于后面叙述的物镜移位处理(步骤S22)中,根据图9 (b)中的振幅值FE3与FE4的振幅比,计算第I记录层LI的最佳球面像差量SAm,但是在未计算出该第I记录层LI的最佳球面像差量SAm的情况下,球面像差量控制部3使光拾取器11的球面像差量控制元件15和物镜致动器18在第I记录层LI中执行球面像差量(SA)的控制(步骤S40)。在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S40),与在第I记录层LI中进行的SA控制的处理(步骤S29)相同。通过第I记录层LI的SA控制处理(步骤S40)而得到的最佳SA控制量相当于SAm。然后,未图示的装置(接口)向照射受光部I发送指示,使通过照射受光部I开始数据的记录或者再现(步骤S41)。图13是表示实施方式2的光记录再现装置10的物镜移位处理流程的一例的流程图。图13表示图12的步骤S22的物镜移位处理流程的详细情况。如图13所示,球面像差量控制部3在物镜移位处理流程开始后(步骤S220),将球面像差量(SA)设定为SAn (步骤S221)。该SAn能够任意设定。然后,信号处理部2将i设定为O (步骤S222)。将i设为O的处理(步骤S222)由中央控制部30等执行。然后,照射受光部I使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动(步骤S223)。使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223),由物镜
17、物镜致动器18、聚焦误差信号生成部24a和中央控制部30等执行。然后,信号处理部2在使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223)中,测定在使物镜17向离开光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的两个振幅值FEl和FE2,并进行所测定到的振幅值FEl和FE2中的任意一方或者双方是否为图9 (a)所示的阈值以上的判定(步骤S224)。如果步骤S224的判定结果为是,则信号处理部2在使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223)中,测定在使物镜17向接近光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的两个振幅值FE3和FE4,并进行所测定到的振幅值FE3和FE4中的任意一方或者双方是否为图9 (b)所示的阈值以上的判定(步骤S225)。
在步骤S225的判定结果为是的情况下,通过步骤S224而测定到的振幅值FEl和FE2、以及通过步骤S225而测定到的振幅值FE3和FE4全部为阈值以上,信号处理部2进入到计算振幅比FE1/FE2和振幅比FE4/FE3的处理(步骤S226)。计算振幅比FE1/FE2和振幅比FE4/FE3的步骤(步骤S226)由中央控制部30执行。然后,球面像差量控制部3根据在步骤S226中计算出的振幅比FE1/FE2,计算第2记录层L2的最佳球面像差量(步骤S227)。然后,球面像差量控制部3根据在步骤S226中计算出的振幅比FE4/FE3,将球面像差量(SA)设定为SAm即第I记录层LI的最佳球面像差量(步骤S228)。将球面像差量设定为SAm的步骤(步骤S228),由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。然后,物镜移位处理流程结束(步骤S232 )。另一方面,在步骤S224的判定结果或者步骤S225的判定结果中的至少一方为否的情况下,信号处理部2进行i是否为η以上的判定(步骤S229)。在步骤S229的判定结果 为是的情况下,表示即使进行η次使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223),振幅值FE1、FE2、FE3、FE4中的任意一方也不是阈值以上,在没有计算出第I记录层LI的最佳球面像差量SAm和第2记录层L2的最佳球面像差量SAo的状态下,物镜移位处理流程结束(步骤S232)。在步骤S229的判定结果为否的情况下,球面像差量控制部3变更球面像差量(SA)0与此同时,信号处理部2将变更后的值设为SAn(步骤S230)。或者,信号处理部2减小图9 (a)及图9 (b)中的阈值。变更球面像差量并将变更后的值设为SAn的处理、或者减小阈值的处理(步骤S230),由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。其中,变更球面像差量(步骤S230)的理由是,因为在使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动(步骤S223)时检测到的聚焦误差信号(图9 (a)及(b))中,振幅值FE1、FE2、FE3、FE4中的任意一方均没有达到阈值。即,因为进行了层间跳跃时的球面像差量SAn是更接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值、或者是更接近适合于第2记录层L2的球面像差量的值。因此,如果是接近适合于第I记录层LI的球面像差量的值,则向使接近适合于第2记录层L2的球面像差量的方向变更,如果是接近适合于第2记录层L2的球面像差量的值,则向使接近适合于第I记录层LI的球面像差量的方向变更。另外,变更量可以任意设定。另外,在步骤S230中,也可以减小图9 (a)及(b)中的阈值。这是针对在使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动(步骤S223)时检测到的聚焦误差信号(图9(a)及(b))中,所有振幅值FE1、FE2、FE3、FE4均没有达到阈值的情况下的有效的处理。但是,当再次进行使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223)时,需要恰当选定阈值,使得在使物镜17向离开光盘40的方向移动时呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于4次,而且在使物镜17向接近光盘40的方向移动时呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于4次。然后,信号处理部2将i的值加I (步骤S231)。将i的值加I的处理(步骤S231)由中央控制部30等执行。在进行了步骤S231的处理后,再次进行使物镜17向接近光盘40或者离开光盘40的方向移动的处理(步骤S223)。
根据S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值FEl与FE2之比即振幅比FE1/FE2计算SAo的步骤(步骤S227),意味着在下面的一次函数式(一次近似直线)中,y = a3. x + b3 式(3)在设X为振幅比FE1/FE2、设y为SAn与SAo之差的绝对值| SAn — SAo |时,根据振幅比FE1/FE2近似计算I SAn 一 SAo |即SAo。由此,能够在短时间内进行对于第2记录层L2为最佳的球面像差量的控制。同样,根据S字波形中的波峰向下波形与波峰向上波形的振幅值FE3与FE4之比即振幅比FE4/FE3,将球面像差量(SA)设定为SAm的步骤(步骤S228),包括计算SAm的步骤即在下面的一次函数式(一次近似直线)中,y = a4. x + b4 式(4)在设X为振幅比FE4/FE3、设y为SAm与SAn之差(SAm — SAn)时,根据振幅比FE4/FE3近似计算(SAm — SAn)即SAm。由此,能够在短时间内进行对于第I记录层LI为最佳的球面像差量的控制。另外,图13的物镜移位处理流程是在图12中光盘40刚刚被插入后进行的,但只要是在将聚焦伺服设为ON (步骤S25)之前,则可以在任何时候进行。图14是表示实施方式2的光记录再现装置10的第3层间跳跃处理流程的一例的流程图。图14表示图12的步骤S31的第3层间跳跃处理流程的详细情况。如图14所示,球面像差量控制部3在第3层间跳跃处理流程开始后(步骤S310),将球面像差量(SA)设定为SAn (步骤S311)。优选该SAn是在图12的步骤S22的物镜移位处理流程中计算出的、对于第I记录层LI为最佳的球面像差量SAm与对于第2记录层L2为最佳的球面像差量SAo之间的值。通过这样设定,能够稳定地进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃。然后,照射受光部I进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃(步骤S312)。层间跳跃(步骤S312)由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a和中央控制部30等执行。然后,球面像差量控制部3将球面像差量(SA)设定为第2记录层L2的最佳值SAo(步骤S313)。将球面像差量(SA)设定为SAo的步骤(步骤S313),由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。然后,第3层间跳跃处理流程结束(步骤S314)。图14的第3层间跳跃处理流程是进行从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃的处理。该处理用于进行在图12中的第2记录层L2的增益及偏置调整等。图15是表示实施方式2的光记录再现装置10的第4层间跳跃处理流程的一例的流程图。图15表示图12的步骤S37的第4层间跳跃处理流程的详细情况。如图15所示,球面像差量控制部3在第4层间跳跃处理流程开始后(步骤S370),将球面像差量(SA)设定为SAn (步骤S371)。优选该SAn是在图12的步骤S22的物镜移位处理流程中计算出的、对于第I记录层LI为最佳的球面像差量SAm与对于第2记录层L2为最佳的球面像差量SAo之间的值。通过这样设定,能够稳定地进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃。然后,照射受光部I进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃(步骤S372)。层间跳跃(步骤S372)由光拾取器11、聚焦误差信号生成部24a和中央控制部30等执行。然后,球面像差量控制部3将球面像差量(SA)设定为第I记录层LI的最佳值SAm(步骤S373)。将球面像差量设定为SAm的步骤(步骤S373)由光拾取器11、中央控制部30和球面像差量控制部32等执行。然后,第3层间跳跃处理流程结束(步骤S374)。图15的第2层间跳跃处理流程是进行从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃的处理。该处理用于使之后的处理即图12中的步骤S14的数据记录或者再现从第I记录层LI开始。即,在开始步骤S14的数据记录或者再现之前,需要使照射到光盘40的信息记录面的激光的会聚点的对焦位置移动到第I记录层LI。 如以上说明的那样,根据实施方式I的光记录再现装置10及光记录再现方法,在对光盘40进行记录以及/或者再现的装置中,能够在短时间内进行对于双层BD的第I记录层LI及第2记录层L2为最佳的球面像差量的控制。另外,在上述说明中,在图13的步骤S226及S227中,作为振幅值FEl与FE2之比是采用了振幅比FE1/FE2,但也可以采用振幅比FE2/FE1。同样,在图13的步骤S226及S228中,作为振幅值FE3与FE4之比是采用了振幅比FE4/FE3,但也可以采用振幅比FE3/FE4来取代。实施方式3在实施方式I和2中说明了计算多层光盘40为双层BD时的最佳的球面像差量的方法。在实施方式3中叙述计算记录层的层数为k个(k > 3)的多层BD的最佳球面像差量的方法。实施方式3的光记录再现装置的结构与图I所示的实施方式I和2的光记录再现装置的结构相同。因此,在说明实施方式3时也参照图I。图16是简要表示在图I所示的多层光盘40中,具有k个(k为3以上的整数)记录层的多层BD的结构的一例的局部剖开立体图。图16示出了第I记录层40a (LI)和第k记录层40k (Lk)和表面40c。从物镜17侧观察时最里侧的记录层是第I记录层,最近前侧的记录层是第k记录层。图16示出了通过物镜17的激光50对焦于第k记录层40k的情况。图17 (a)是表示在具有k个记录层的多层BD中,在从第s记录层Ls向第t记录层Lt (I <s〈t Sk)的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图,图17 (b)是表示在从第t记录层Lt向第s记录层Ls (I < s〈t < k)的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形的一例的图。在从第s记录层Ls向第t记录层Lt的层间跳跃时或者从第t记录层Lt向第s记录层Ls的层间跳跃时,在跨越多个记录层的情况下(在第t记录层Lt与第s记录层Ls之间有其它记录层的情况),如图17 (a)及(b)所示,在这些多个记录层中,在物镜17通过各个记录层的对焦位置时呈现S字波形。如果第s记录层Ls和第t记录层Lt是相邻的、即s + I = t,则将成为与在双层BD中从第I记录层LI向第2记录层L2的层间跳跃或者从第2记录层L2向第I记录层LI的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号(图3)的波形相同的形状,仅形成为S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形。
在图17 (a)中,在物镜17离开第s记录层Ls的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向下波形。将该S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FEls。并且,在物镜17即将到达第(s + I)记录层L Cs + I)的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在物镜17离开第(s + I)记录层L Cs + I)的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向下波形。将该S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2 (s + 1),将S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FEl Cs + I)。并且,在物镜17即将到达第(t - I)记录层L (t 一 I)的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在物镜17离开第(t - I)记录层L (t - I)的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向下波形。将该S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2 (t-Ι),将S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FEl (t-Ι)。并且,在物镜17即将到达第t记录层Lt的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形。将该S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2t。在图17 (b)中,在物镜17离开第t记录层Lt的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向上波形。将该S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4t。并且,在物镜17即将到达第(t - I)记录层L (t - I)的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在物镜17离开第(t - I)记录层L (t - I)的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向上波形。将该S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3 (t — 1),将S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4 (t - I)。并且,在物镜17即将到达第(s + I)记录层L (s + I)的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在物镜17离开第(s + I)记录层L Cs + I)的对焦位置时呈现S字波形中的波峰向上波形。将该S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3 Cs + I),将S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4 (s + I)。并且,在物镜17即将到达第s记录层Ls的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形。将该S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3s。另外,振幅值FEls、FE2 (s + I), FEl (s + I)、...、FE2 (t — I), FEl (t — I)、FE2t是在图17 (a)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不进行层间跳跃时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVt9或者Λ VtlO进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在从层间跳跃开始到结束的期间PJ中,电压相对于基准值的变化量第一次达到阈值以上时的振幅值为FEls,第二次达到阈值以上时的振幅值为FE2(s +1),第二次达到阈值以上时的振幅值为FEl (s + I)。以后相同地,在第[2 *(t — s — O]次达到阈值以上时的振幅值为FE2 (t - 1),在第[2 · (t — s) — I]次达到阈值以上时的振幅值为FEl (t — 1),在第[2 · (t — s)]次达到阈值以上时的振幅值为FE2t。其中,阈值能够任意设定,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于[2 · (t — s)]次(或者[2 · 11 — s I ]次)。同样,振幅值 FE3s、FE4 (s + 1)、FE3 (s + 1)、FE4 (t — 1)、FE3 (t — l)、FE4t是在图17 (b)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不进行层间跳跃时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVtll或者AVtl2进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在从层间跳跃开始到结束的期间PJ中,电压相对于基准值的变化量第一次达到阈值以上时的振幅值为FE4t,第二次达到阈值以上时的振幅值为FE3 (t -1),第二次达到阈值以上时的振幅值为FE4 (t — I)。以后相同地,在第[2 *(t — s — O]次达到阈值以上时的振幅值为FE3 Cs + 1),在第[2 · (t — s) — I]次达到阈值以上时
23的振幅值为FE4 Cs + 1),在第[2 · (t — s)]次达到阈值以上时的振幅值为FE3s。其中,阈值能够任意设定,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于[2 · (t — s)]次(或者[2 · 11 — s I ]次)。在从第s记录层Ls向第t记录层Lt的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形、以及在从第t记录层Lt向第s记录层Ls的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形,均不限于如图17 (a)和(b)所示的波形。在具有k个(k彡3)记录层的多层BD (图16)中,在将球面像差量设定为SAn时,在从第s记录层向第t记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形(图17 (a))中,对于满足s < p〈q < t的任意的P和q,在将图17 Ca)所示的S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比FElp/FE2q设为X、设(SAn — SAq)为y、设aq和bq为常数时,x与I的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)y = aq. x + bq 式(5)其中,FElp表示刚刚通过第P记录层的对焦位置后呈现的波形的振幅值,FE2q表示即将通过第q记录层的对焦位置之前呈现的波形的振幅值,SAq表示第q记录层的最佳
球面像差量。同样,在将球面像差量设定为SAn时,在从第t记录层向第s记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的波形(图17 (b))中,对于满足s < p〈q < t的任意的P和q,在将图17 (b)所示的S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比FE4q/FE3p设为X、设(SAp — SAn)为y、设ap和bp为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)y = ap. x + bp 式(6)其中,FE3p表示即将通过第P记录层的对焦位置之前呈现的波形的振幅值,FE4q表示刚刚通过第q记录层的对焦位置后呈现的波形的振幅值,SAp表示第P记录层的最佳
球面像差量。式(5)和式(6)中的常数aq、bq、ap和bp是预先确定的。但是,根据多层光盘40的类型、即多层光盘是再现专用型、追记型或者改写型中的哪种类型,常数aq、bq、ap和bp不同。因此,必须根据多层光盘的类型确定常数aq、bq、ap和bp的值。另外,S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比和差值(SAn — SAq)的关系,不限于如式(5)所示的一次近似式,同样S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比和差值(SAn - SAp)的关系,不限于如式(6)所示的一次近似式。但是,下面使用式(5)和式(6)的一次近似式来说明光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。 实施方式3的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)大致与图6 图8所示的实施方式I的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)相同。但是,与图6中进行第I记录层LI和第2记录层L2的增益及偏置调整(步骤S6及S12)、以及球面像差量控制(步骤S16或者S19、及SlO或者S14)时相同地,需要针对k个(k > 3)记录层全部进行增益及偏置调整以及球面像差量控制。并且,对于满足I < s〈t < k的s和t、以及满足s^p<q^t的任意的P和q,根据在从第s记录层向第t记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号,计算第q记录层的最佳球面像差量SAq的处理,与图7所示的处理大致相同。另外,根据在从第t记录层向第s记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号,计算第P记录层的最佳球面像差量SAp的处理,与图8所示的处理大致相同。如以上说明的那样,根据实施方式3的光记录再现装置及光记录再现方法,在对多层光盘40进行记录以及/或者再现的装置中,能够在短时间内进行对于具有k个(k> 3)记录层的多层BD的所有记录层为最佳的球面像差量的控制。 另外,在上述说明中,作为在从第s记录层向第t记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的振幅值之比是采用了振幅比FElp/FE2q,但也可以采用振幅比FE2q/FElp来取代。同样,作为在从第t记录层向第s记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的振幅值之比是采用了振幅比FE4q/FE3p,但也可以采用振幅比FE3p/FE4q来取代。另外,将从第t记录层Lt向第s记录层Ls的层间跳跃表述为“从第t记录层向第s记录层进行层间跳跃”,根据上述说明,从第t记录层Lt向第s记录层Ls的层间跳跃也能够一般化为“从第S记录层向第t记录层进行层间跳跃”。即,在从第s记录层Ls向第t记录层Lt的层间跳跃以及从第t记录层Lt向第s记录层Ls的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号中,能够根据图17中的达到阈值以上的波形中任意两个波形的振幅值之比,计算出在进行层间跳跃时通过的记录层的最佳球面像差量。实施方式4在实施方式3中说明了这样的方法,即在具有k个(k> 3)记录层的多层BD中,对于满足I < s〈t < t的整数s和t,根据在从第s记录层向第t记录层的层间跳跃时检测到的聚焦误差信号的两个振幅值之比,计算出在进行层间跳跃时通过的记录层的最佳球面像差量。与实施方式2相同地,不限于层间跳跃,包括多层光盘判别时和/或聚焦伺服ON时等在内,通过使物镜17沿聚焦方向移位,能够计算出球面像差量的最佳值。实施方式4的光记录再现装置的结构与图I所示的实施方式I的光记录再现装置的结构相同。因此,在说明实施方式4时也参照图I。并且,实施方式4的多层光盘与图16所示的实施方式3的多层光盘相同。因此,在说明实施方式4时也参照图16。图18 Ca)是表示聚焦误差信号的一例的图,即在具有k个(k > 3)记录层的多层光盘(例如双层BD)被插入到实施方式4的光记录再现装置中后,以使物镜17通过多层光盘40的所有记录层的对焦位置的方式,在使物镜17向与多层光盘40的表面垂直且离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的一例,图18 (b)是表不在使物镜17向与多层光盘40垂直且接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的一例的图。另外,j表示满足I彡j彡k的整数。在图18(a)中,在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时,在即将通过第I记录层LI的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过第I记录层LI的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在即将通过第j记录层Lj的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过第j记录层Lj的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在即将通过第k记录层Lk的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过第k记录层Lk的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向下波形。并且,在即将通过表面之前呈现S字波形中的波峰向上波形,在刚刚通过表面后呈现S字波形中的波峰向下波形。将在刚刚通过第I记录层LI的对焦位置后呈现的S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE11,以后相同地,将在即将通过第j记录层Lj的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2j,将在刚刚通过第j记录层Lj的对焦位置后呈现的S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FEl j,以后相同地,将在即将通过第k记录层Lk的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE2k。在图18 (b)中,在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时,在即将通过表面之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过表面后呈现S字波形中的波峰向上波形。并且,在即将通过第k记录层Lk的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过第k记录层Lk的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向上波形。并且,在即将通过第j记录层Lj的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过第j记录层Lj的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向上波形。并且,在即将通过第I记录层LI的对焦位置之前呈现S字波形中的波峰向下波形,在刚刚通过第I记录层LI的对焦位置后呈现S字波形中的波峰向上波形。将在刚刚通过第k记录层Lk的对焦位置后呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4k,以后相同地,将在即将通过第j记录层Lj的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向下波形的振幅值设为FE3j,将在刚刚通过第j记录层Lj的对焦位置后呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE4j,以后相同地,将在即将通过第I记录层LI的对焦位置之前呈现的S字波形中的波峰向上波形的振幅值设为FE31。另外,振幅值FE11、…、FE2j、FElj、...、FE2k是在图18 (a)所示的波形中,以某个米样间隔测定电压相对于不使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVtl3或者AVtl4进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形的振幅。即,在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动的期间中,电压相对于基准值的变化量第二次达到阈值以上时的振幅值为FE11。以后相同地,在第(2. j — I)次达到阈值以上时的振幅值为FE2j,在第(2 · j)次达到阈值以上时的振幅值为FElj。同样,在第(2 · k — I)次达到阈值以上时的振幅值为FE2k。其中,阈值能够任意设定,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于(2 · k)次。同样,振幅值FE31、...、FE4j、FE3j、...、FE4k是在图18 (b)所示的波形中,以某个采样间隔测定电压相对于不使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时的基准电压值Vr的变化量,并与阈值AVtl5或者AVtl6进行比较,当电压值的变化量达到阈值以上时的波形。即,在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动的期间中,电压相对于基准值的变化量第二次达到阈值以上时的振幅值为FE4k。以后相同地,在第[2 · (k-j + 1)-1]次达到阈值以上时的振幅值为FE3j,在第[2 · (k-j + I)]次达到阈值以上时的振幅值为FE4j。同样,在第(2*k — I)次达到阈值以上时的振幅值为FE31。其中,阈值能够任意设定,但是需要恰当选定阈值使得呈现出达到阈值以上的波形的次数不多于(2. k)次。在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形、以及在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形,均不限于如图18 (a)和(b)所示的波形。在具有k个(k ^ 3)记录层的多层光盘40 (图16)中,在将球面像差量设定为SAn时,在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形(图18(a))中,对于满足s < v〈w < t的任意的整数V和W,在将图18 (a)所示的S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比FElv/FE2w设为X、设(SAn — SAw)为y、设aw和bw为常数时,X与I的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)y = aw. x + bw 式(7)
其中,FElv表示刚刚通过第V记录层的对焦位置后呈现的波形的振幅值,FE2w表示即将通过第w记录层的对焦位置之前呈现的波形的振幅值,SAw表示第w记录层的最佳
球面像差量。同样,在将球面像差量设定为SAn时,在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的波形(图18 (b))中,对于满足s < v〈w < t的任意的V和W,在将图18 (b)所示的S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比FE4w/FE3v设为X、设(SAv - SAn)为y、设av和bv为常数时,x与y的关系能够近似表示为下面的一次函数式(一次近似直线)y = av. x + bv 式(8)其中,FE3v表示即将通过第V记录层的对焦位置之前呈现的波形的振幅值,FE4w表示刚刚通过第w记录层的对焦位置后呈现的波形的振幅值,SAv表示第V记录层的最佳
球面像差量。式(7)和式(8)中的常数aw、bw、av和bv是预先确定的。但是,根据多层光盘40的类型、即多层光盘是再现专用型、追记型或者改写型中的哪种类型,常数aw、bw、av和bv不同。因此,必须根据多层光盘的类型确定常数aw、bw、av和bv的值。另外,S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比和差值(SAn — SAw)的关系,不限于如式(7 )所示的一次近似式,同样S字波形中的波峰向下波形和波峰向上波形的振幅比和差值(SAv - SAn)的关系,不限于如式(8)所示的一次近似式。但是,下面使用式(7)和式(8)的一次近似式来说明光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)。实施方式4的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)大致与图12 图15所示的实施方式2的光记录再现装置10的动作(光记录再现方法)相同。但是,与图12中进行第I记录层LI和第2记录层L2的增益及偏置调整(步骤S27及S33)以及球面像差量控制(步骤S22或者S40、及S22或者S35)时相同地,需要针对k个(k ^ 3)记录层全部进行增益及偏置调整以及球面像差量控制。并且,对于满足I < v〈w < k的任意的整数V和w,根据在使物镜17向接近多层光盘40或者离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号,计算第V记录层的最佳球面像差量SAv及第w记录层的最佳球面像差量SAw的处理,与图13所示的处理大致相同。如以上说明的那样,根据实施方式4的光记录再现装置及光记录再现方法,在对多层光盘40进行记录以及/或者再现的装置中,能够在短时间内进行相对于具有k个(k ^ 3)记录层的多层光盘的所有记录层为最佳的球面像差量控制。另外,在上述说明中,作为在使物镜17向离开多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的振幅值之比是采用了振幅比FElv/FE2w,但也可以采用振幅比FE2w/FElv来取代。同样,作为在使物镜17向接近多层光盘40的方向移动时检测到的聚焦误差信号的振幅值之比是采用了振幅比FE4w/FE3v,但也可以采用振幅比FE3v/FE4w来取代。标号说明I照射受光部;2信号处理部;3球面像差量控制部;10光记录再现装置;11光拾取器;12半导体激光器;13准直透镜;14分离器;15球面像差量控制元件;15a球面像差量控制装置;16全反射用反射镜;17物镜;18物镜致动器;19检测透镜;20受光元件;21前置放大器;22激光驱动部;23再现信号生成部;24伺服信号生成部;24a聚焦误差信号生成
27部;24b循轨误差信号生成部;25再现信号振幅检测部;26均衡器;27再现抖动检测部;28聚焦误差信号振幅检测部;29循轨误差信号振幅检测部;30中央控制部;31存储部;32球面像差量控制部;40多层光盘。
权利要求
1.一种光记录再现方法,其特征在于,该光记录再现方法包括以下步骤 照射受光步骤,使物镜沿聚焦方向移位,同时使激光通过所述物镜而作为会聚点照射至具有k个记录层的多层光盘的任意一个记录层,由受光元件接收来自该多层光盘的反射光,其中,k为2以上的整数; 信号处理步骤,根据从所述受光元件输出的所述反射光的受光信号,生成所述会聚点的球面像差量控制信号;以及 球面像差量控制步骤,根据所述球面像差量的控制信号,控制球面像差量, 所述信号处理步骤包括以下步骤 取得在使所述物镜沿聚焦方向移位的步骤中检测到的聚焦误差信号的振幅信息; 根据所述振幅信息中的、在刚刚离开所述多层光盘的任意第s记录层的对焦位置之后检测到的聚焦误差信号的振幅值、与在即将通过任意第t记录层的对焦位置之前检测到的聚焦误差信号的振幅值之比,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量,其中,s为满足I ^ s ^ k的整数,t为满足I < t < k的整数,且t关s ; 根据计算出的所述最佳球面像差量,生成所述球面像差量的控制信号。
2.根据权利要求I所述的光记录再现方法,其特征在于,在所述信号处理步骤中,在设使所述物镜沿聚焦方向移位时的球面像差量为SAn、设针对所述第t记录层的最佳球面像差量为SAt时,根据在所述振幅值之比与(SAn - SAt)之间成立的关系式,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量。
3.根据权利要求2所述的光记录再现方法,其特征在于, 所述多层光盘是再现专用型、追记型或者改写型中的任意一种, 所述关系式是分别针对所述再现专用型、追记型或者改写型的各多层光盘而预先确定的。
4.根据权利要求2所述的光记录再现方法,其特征在于, 在使所述物镜沿聚焦方向移位的步骤中包括以下步骤 使所述物镜从所述第s记录层的对焦位置向所述第t记录层的对焦位置移动, 使所述物镜向接近所述多层光盘的方向或者离开所述多层光盘的方向移动,以便使所述物镜通过所述多层光盘的所述k个记录层的对焦位置。
5.根据权利要求4所述的光记录再现方法,其特征在于, 所述检测到的聚焦误差信号的振幅信息是所述聚焦误差信号的振幅值超过预先设定的阈值时的振幅值, 把所述阈值设定为在使所述物镜从所述第s记录层的对焦位置向所述第t记录层的对焦位置移动的情况下,所述聚焦误差信号的振幅值超过所述阈值的次数为(2 · |t — s| )次, 把所述阈值设定为在使所述物镜向接近所述多层光盘的方向或者离开所述多层光盘的方向移动,以便使所述物镜通过所述多层光盘的所述k个记录层的对焦位置的情况下,所述聚焦误差信号的振幅值超过所述阈值的次数在使所述物镜向所述离开的方向移动时为(2. k)次,所述物镜向所述接近的方向移动时为(2. k)次。
6.一种光记录再现装置,其特征在于,该光记录再现装置具有 照射受光部,其使物镜沿聚焦方向移位,同时使激光通过所述物镜而作为会聚点照射至具有k个记录层的多层光盘的任意一个记录层,由受光元件接收来自该多层光盘的反射光,其中,k为2以上的整数; 信号处理部,其根据从所述受光元件输出的所述反射光的受光信号,生成所述会聚点的球面像差量控制信号;以及 球面像差量控制部,其根据所述球面像差量的控制信号,控制球面像差量, 所述信号处理部 取得在使所述物镜沿聚焦方向移位时检测到的聚焦误差信号的振幅信息, 根据所述振幅信息中的、在刚刚离开所述多层光盘的任意第s记录层的对焦位置之后检测到的聚焦误差信号的振幅值、与在即将通过任意第t记录层的对焦位置之前检测到的聚焦误差信号的振幅值之比,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量,其中,s为满足I彡s彡k的整数,t为满足I彡t彡k的整数,且t关s, 根据计算出的所述最佳球面像差量,生成所述球面像差量的控制信号。
7.根据权利要求6所述的光记录再现装置,其特征在于,在设使所述物镜沿聚焦方向移位时的球面像差量为SAn、设针对所述第t记录层的最佳球面像差量为SAt时,所述信号处理部根据在所述振幅值之比与(SAn-SAt)之间成立的关系式,计算针对所述第t记录层的最佳球面像差量。
8.根据权利要求7所述的光记录再现装置,其特征在于, 所述多层光盘是再现专用型、追记型或者改写型中的任意一种, 所述关系式是分别针对所述再现专用型、追记型或者改写型的各多层光盘而预先确定的。
9.根据权利要求6所述的光记录再现装置,其特征在于, 所述物镜向聚焦方向的移位是通过以下而执行的 使所述物镜从所述第s记录层的对焦位置向所述第t记录层的对焦位置移动, 使所述物镜向接近所述多层光盘的方向或者离开所述多层光盘的方向移动,以便使所述物镜通过所述多层光盘的所述k个记录层的对焦位置。
10.根据权利要求9所述的光记录再现装置,其特征在于, 所述检测到的聚焦误差信号的振幅信息是所述聚焦误差信号的振幅值超过预先设定的阈值时的振幅值, 把所述阈值设定为在使所述物镜从所述第s记录层的对焦位置向所述第t记录层的对焦位置移动的情况下,所述聚焦误差信号的振幅值超过所述阈值的次数为(2 · |t — s| )次, 把所述阈值设定为在使所述物镜向接近所述多层光盘的方向或者离开所述多层光盘的方向移动,以便使所述物镜通过所述多层光盘的所述k个记录层的对焦位置的情况下,所述聚焦误差信号的振幅值超过所述阈值的次数在使所述物镜向所述离开的方向移动时为(2 · k)次,在使所述物镜向所述接近的方向移动时为(2 · k)次。
全文摘要
一种光记录再现方法及光记录再现装置,其是能够在多层光盘中在短时间内进行球面像差量的优化控制的方法及装置,在某个球面像差量SAn时,在使物镜沿聚焦方向移位时,测定在物镜刚刚离开任意第1记录层的对焦位置之后检测到的聚焦误差信号的振幅值FE1、和在物镜即将通过第1记录层以外的任意第2记录层的对焦位置之前检测到的聚焦误差信号的振幅值FE2,计算振幅值FE1与FE2的振幅比FE1/FE2,用振幅比FE1/FE2的近似式表示球面像差量SAn与针对第2记录层的最佳球面像差量SAo之差(SAn-SAo),根据该近似式计算最佳球面像差量SAo,将球面像差量设定为SAo。
文档编号G11B7/1392GK102947884SQ20108006727
公开日2013年2月27日 申请日期2010年12月15日 优先权日2010年6月9日
发明者金武佑介, 岸上智, 的崎俊哉, 竹下伸夫 申请人:三菱电机株式会社
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