光拾取装置的制作方法

文档序号:6772070阅读:94来源:国知局
专利名称:光拾取装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种利用激光对记录在光盘上的信号进行读取动作或者在光盘上进行信号的记录动作的光拾取装置。
背景技术
正在普及一种光拾取装置,该光拾取装置能够通过使从该光拾取装置照射的激光照射在光盘的信号记录层上,从而进行信号的读取动作、信号的记录动作。利用光拾取装置对记录在信号记录层上的信号进行的读取动作是通过以下方式来进行的,通过使从激光二极管放射的激光照射在信号记录层上,利用光检测器检测自该信号记录层反射的激光的变化,从而利用光拾取装置进行读取动作。为了利用激光读取记录在信号记录层上的信号,需要正确地进行使激光会聚在信号记录层上的聚焦控制动作及使激光追踪呈旋涡状设在信号记录层上的信号轨迹的循道控制动作。虽然存在多种用于实现该聚焦控制动作的方法,但是通常采用利用了像散的产生的像散法。此外,虽然也存在多种循道控制方法,但是通常采用使用主光束和两个副光束的三光束法。此外,最近为了正确地进行聚焦控制动作而采用不仅使用主光束也使用副光束的差动像散法。用于该聚焦控制动作的像散法、差动像散法及用于循道控制动作的三光束法由下述方式构成,即,设置组装有用于分别供两个副光束照射的两个副光束用受光部和用于供主光束照射的主光束用受光部的光检测器,且利用从该光检测器获得的信号生成聚焦错误信号或者循道错误信号,从而进行各控制动作。光拾取装置包括偏振元件,该偏振元件利用透过或者反射动作向物镜方向引导从激光二极管放射的激光、并且利用反射或者透过动作向光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光,作为该偏振元件通常使用被称作半透半反镜、偏振光分束器的光学零件。然后,利用由被称作1/4波片的光学零件产生的偏振光的偏振方向的偏振动作、即从直线偏振光向圆偏振光的转变动作及从圆偏振光向直线偏振光的转变动作,从而进行由上述偏振元件产生的激光的分离动作。此外,最近,正在制造信号记录层不是一层而是多层的例如设有两层信号记录层的双层式的光盘,也正在制造能够对记录在设有多个信号记录层的光盘的各信号记录层上的信号进行读取动作的光拾取装置。图2及图4是用于读取记录在规定为Blu-ray格式的光盘D的信号记录层LO或者Ll上的信号的光拾取装置的光学结构图,图2是使用半透半反镜作为偏振元件的例子的图,图4是使用偏振光分束器作为偏振元件的例子的图。以图4所示的使用偏振光分束器的光拾取装置为例,对以往的问题点进行说明。在图4中,附图标记1是表示用于放射例如作为波长405nm的蓝紫色光的激光的激光二极管,附图标记2是表示供从上述激光二极管1放射的激光入射的衍射光栅,该衍射光栅2包括衍射光栅部加和1/2波片2b,该衍射光栅部加用于将激光分离成作为0级光的主光束、作为+1级光及-1级光的两个副光束,该1/2波片2b用于将入射的激光转变成 S方向的直线偏振光。附图标记3是表示供透过上述衍射光栅2的激光入射的偏振光分束器,在该偏振光分束器3上设有控制膜3a,该控制膜3a用于反射转变为S偏振光的激光的大部分且使向 P方向偏振的激光透过。附图标记4是表示设于在上述偏振光分束器3的控制膜3a处反射的激光入射的位置上的1/4波片,该1/4波片4用于使入射的激光从直线偏振光向圆偏振光转变或者相反地从圆偏振光向直线偏振光转变。附图标记5是表示准直透镜,其用于供透过上述1/4 波片4的激光入射并且将入射的激光转变为平行光,利用像差修正用马达6使该准直透镜5 向光轴方向位移。利用上述准直透镜5的朝向光轴方向的位移动作,能够修正基于设在光盘D的信号记录层L0、Ll和光盘面之间的保护层的厚度而产生的球面像差。附图标记7是表示设于透过上述准直透镜5的激光入射的位置上的反射镜,其用于将入射的激光的出射方向改变90 °,使该激光向物镜8的方向反射,上述物镜8是为了使该激光在光盘D的信号记录层LO或者Ll上会聚而设置的。在该结构中,从上述激光二极管1放射的激光在经由衍射光栅2、偏振光分束器3、 1/4波片4、准直透镜5及反射镜7而入射到物镜8后,利用该物镜8的会聚动作在光盘D 的信号记录层LO或者Ll上作为激光光斑照射,照射在该信号记录层LO或者Ll上的激光作为返回光向物镜8侧反射。自光盘D的信号记录层LO或者Ll反射的返回光经由物镜8、反射镜7、准直透镜 5及1/4波片4而入射到偏振光分束器3的控制膜3a。利用由上述1/4波片4产生的相位改变动作将这样入射到偏振光分束器3的控制膜3a的返回光改变成P方向的直线偏振光。 从而,该返回光没有在上述控制膜3a处反射,而是作为控制用激光透过该控制膜3a。附图标记9是表示用于供透过上述偏振光分束器3的控制膜3a的控制用激光入射的传感器透镜,其用于向控制用激光附加像散而将该激光照射在设于被称作PDIC的光检测器10的受光部上。在上述光检测器10上设有后述的四分割传感器等,其用于进行聚焦错误信号的产生动作和循道错误信号的产生动作,该聚焦错误信号的产生动作用于进行信号产生动作及利用像散法进行的聚焦控制动作,该信号产生动作伴随着利用主光束的照射动作对记录在光盘D的信号记录层LO及Ll上的信号进行的读取动作,该循道错误信号的产生动作用于利用两个副光束的照射动作来进行循道控制动作。作为设于上述光检测器10的受光部,如图7所示包括主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2,该主光束受光部MD用于供作为0级光的主光束 M照射并且用于信号读取动作、聚焦控制动作,该前副光束用受光部SDl用于供作为+1级光的前副光束Sl照射并且用于循道控制动作,该后副光束用受光部SD2用于供作为-1级光的后副光束S2照射并且用于循道控制动作。在上述光检测器10中,如上所述将主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2设在同一直线上,该排列方向与循道控制方向、即在使在物镜8处会聚产生的光斑向光盘D的径向位移时分别照射在主光束用受光部MD、前副光束用受光部 SDl及后副光束用受光部SD2上的主光束M、前副光束Sl及后副光束S2位移的方向相一致。
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此外,如图所示地分别用四分割的传感器构成上述主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2。然后,对与照射在用于构成上述主光束用受光部 MD的全部传感器A、B、C、D上的主光束的光量相对应的信号进行加法运算,从而作为读取信号读取被记录在光盘D上的信号。然后,对从四分割传感器中的构成上述主光束用受光部MD的处于对角关系的传感器上获得的信号进行加法运算,并且从该加法运算信号中减去对从处于另一对角关系的传感器上获得的信号进行加法运算而得到的加法运算信号,从而产生聚焦错误信号,利用该聚焦错误信号进行聚焦控制动作,该聚焦控制动作是被称作像散法的聚焦控制方法,省略该说明。对于该像散法,对从分别构成前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2的四分割传感器中的处于对角关系的传感器上获得的信号进行加法运算,并且从该加法运算信号中减去对从处于另一对角关系的传感器上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而产生副聚焦错误信号,由这些副聚焦错误信号和从用于构成上述主光束用受光部MD的四分割传感器获得的主聚焦错误信号运算产生聚焦错误信号,从而进行聚焦控制动作。该聚焦控制动作是被称为差动像散法的控制方法。接下来,对利用上述的差动像散法的聚焦控制动作进行说明。如上所述地使用由主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2产生的主聚焦错误信号及副聚焦错误信号进行该聚焦控制动作。对从四分割传感器中的构成上述主光束用受光部MD的两个传感器A、C上获得的信号进行加法运算并且从该加法运算信号中减去对从两个传感器B、D上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而获得主聚焦错误信号。然后,对从四分割传感器中的构成前副光束用受光部SDl的两个传感器I、K上获得的信号进行加法运算并且从该加法运算信号中减去对从两个传感器J、L上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而获得第1控制信号,此外,对从四分割传感器中的构成后副光束用受光部SD2的两个传感器E、G上获得的信号进行加法运算并且从该加法运算信号中减去对从两个传感器F、H上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而获得第2控制信号,通过对这样获得的第1控制信号及第2控制信号进行运算处理从而获得副聚焦错误信号。在从主光束用受光部MD获得的主聚焦错误信号中减去从前副光束用受光部SDl 及后副光束用受光部SD2获得的副聚焦错误信号,从而获得差动像散法中的聚焦错误信号。接下来,参照图6所示的各传感器部的附图标记对该聚焦错误信号的产生动作进行说明。当主聚焦错误信号为MFE时,表示为MFE= (A+C)-(B+D),当副聚焦信号为SFE时, 表示为 SFE = [ (E+G) - (F+H) ] + [ (I+K) - (J+L)]。然后,基于差动推挽信号DPP进行该差动像散法中的聚焦控制动作,由DPP = MFE-kXSFE而获得该DPP信号。这里,k是基于主光束的光强度和副光束的光强度决定的常数。正在开发这样组装有主光束和副光束的用于进行聚焦控制动作的光拾取装置,接下来对该结构的光拾取装置中的循道控制动作进行说明。
利用向前副光束用受光部SDl照射前副光束Sl的照射动作及向后副光束用受光部SD2照射后副光束S2的照射动作,从而进行上述循道控制动作。例如,对从构成前副光束用受光部SDl的四分割传感器中的位于上侧的两个传感器I、J上获得的信号进行加法运算并且从该加法运算信号中减去对从处于下侧的两个传感器L、K上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而获得第1控制信号,此外,对从构成后副光束用受光部SD2的四分割传感器中的位于上侧的两个传感器E、F上获得的信号进行加法运算并且从该加法运算信号中减去对从处于下侧的两个传感器H、G上获得的信号进行加法运算而得到的信号,从而获得第2控制信号,对这样获得的第1控制信号和第2控制信号进行运算处理,从而产生循道错误信号,由于该动作是公知内容,省略该说明。此外,在上述的循道控制动作之外,最近,为了提高精度而采用被称作所谓的差动推挽的方式,该差动推挽的方式不仅利用由副光束Si、S2获得的循道错误信号进行循道控制动作,还利用从供主光束M照射的主光束用受光部MD上获得的循道错误信号进行循道控制动作。在从主光束用受光部MD获得的主循道错误信号中减去从前副光束用受光部SDl 及后副光束用受光部SD2获得的副循道错误信号,从而获得该方式中的循道错误信号。参照图示传感器部的附图标记进行说明。当主循道错误信号为MTE 时,表示为MTE = (A+B)-(C+D),当副循道错误信号为STE时,表示为STE = [(E+F)-(G+H)] + [(I+J)-(L+K)]。然后,基于差动推挽信号DPP而进行该差动推挽方式中的循道控制动作,由DPP = MTE-kXSTE获得该DPP信号。这里,k是基于主光束的光强度和副光束的光强度决定的常数。正在开发这样地组装了副光束和主光束的进行循道控制动作的光拾取装置。如上所述地利用从主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2获得的信号产生聚焦错误信号及循道错误信号,基于该聚焦错误信号及循道错误信号而进行聚焦控制动作及循道控制动作,该聚焦控制动作是通过使物镜8相对于光盘D的信号面在垂直方向上位移来进行的,循道控制动作是通过使物镜8在光盘D的径向上位移来进行的。如上所述地构成光拾取装置,接下来对在对记录在一侧的信号记录层上的信号进行读取动作的状态下、由自另一侧的信号记录层反射的返回光、即杂散光产生的问题进行说明。图7是表示上述的主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2和杂散光的关系的图,用虚线表示的环P的内侧的部分是杂散光束的照射部分。由该图可明显看出,杂散光束扩散到较广范围地照射在设于光检测器10的主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2上。利用衍射光栅2产生作为主光束的0级光及作为副光束的+1级光及-1级光,通常将该光量比,即一个副光束与主光束的光量比设定为1 15左右。从而,例如在对记录在信号记录层LO上的信号进行读取动作时,自信号记录层L 1作为杂散光被反射的副光束的光量充分小于作为杂散光被反射的主光束的光量,因此能够忽视副光束对聚焦控制动作等带来的影响。
此外,照射在主光束用受光部MD上的主光束M、即自信号记录层LO反射的主光束 M的光量充分大于自信号记录层Ll反射的杂散光束的光量,因此不会对由主光束用受光部 MD进行的信号产生动作、即对记录在信号记录层LO上的信号进行读取的读取动作及聚焦错误信号的产生动作等带来不良影响。另一方面,将为了产生聚焦错误信号而如上所述地照射在前副光束用受光部SDl 及后副光束用受光部SD2上的前副光束Sl及后副光束S2的光量设定为小于主光束M的光量。为此,通常将为了放大从前副光束用受光部SDl及后副光束SD2获得的信号而设置的放大器的增益设定为高于为了放大从主光束用受光部MD获得的信号而设置的放大器的增益。结果,由自信号记录层Ll反射的主光束M产生的杂散光照射在前副光束用受光部 SDl及后副光束用受光部SD2上,从而增大了上述前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2所受到的影响。即,产生如下问题由于与杂散光的光强度相对应的信号作用在从前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2获得的聚焦错误信号上,因此不能获得正确的聚焦错误信号,结果使聚焦控制动作变得不稳定。同样地在利用从前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2获得的信号产生循道错误信号并使用该循道错误信号进行循道控制动作的情况下,也受到由杂散光产生的影响,因此产生了不能正确地进行循道控制动作的问题。作为用于解决由该杂散光产生的问题的方法,正在开发将光检测器的形状设计为可以排除由杂散光产生的影响的形状的技术(参照专利文献1)。此外,正在开发利用具有偏振选择性的全息图元件的技术(参照专利文献2)。专利文献1 日本特开平2009-176367号公报专利文献2 日本特开平2009-76187号公报发明要解决的问题记载在专利文献1中的技术是通过使组装在光检测器中的主光束用受光部的面积大于副光束用受光部的面积来解决由杂散光产生的问题的,但是存在由于需要对主光束用受光部及副光束用受光部进行精度良好地加工制造、因此难以制造的问题。此外,记载在专利文献2中的技术是利用被区域分割的全息图元件来解决由杂散光产生的问题的,但是在该技术中存在如下问题,由于使用了昂贵的全息图元件,因此升高成本,且需要用于对全息图元件进行位置调整的调整机构。

发明内容
本发明的目的在于提供一种能够解决上述问题的光拾取装置。用于解决问题的方案本发明的光拾取装置包括物镜,其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上;衍射光栅,其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束;光检测器,其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上,该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号,并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部,该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号,并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部;偏振元件,其用于向物镜方向弓丨导从激光二极管放射的激光,并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光;1/4波片,其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光,并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光,该光拾取装置的特征在于,在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分中形成无偏振区域,并且设定透过了该 1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率,从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。此外,本发明的光拾取装置包括物镜,其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上;衍射光栅,其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束;光检测器,其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上,该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号,并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部,该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号,并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部;偏振元件,其用于向物镜方向引导从激光二极管放射的激光,并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光;1/4波片,其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光,并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光,该光拾取装置的特征在于,在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分上形成使偏振角度不同的不同偏振区域,并且设定透过了该1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率,从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。本发明的特征在于,由半透半反镜或偏振光分束器构成偏振元件。此外,本发明的特征在于,以通过光轴中心的狭缝状形成无偏振区域或者不同偏振区域,上述无偏振区域或者不同偏振区域形成在1/4波片上。本发明的特征在于,使利用狭缝状的无偏振区域或者不同偏振区域降低杂散光的照射强度的方向与设于光检测器的第1及第2副光束用受光部和主光束用受光部的配置方
向一致。此外,本发明的特征在于,在狭缝状的无偏振区域或者不同偏振区域的中央部上设有偏振区域。此外,本发明的特征在于,以使降低照射强度的杂散光的宽度宽于第1及第2副光束用受光部和主光束用受光部的与配置方向垂直的方向的宽度的方式设定狭缝的宽度。发明的效果本发明的光拾取装置,在1/4波片的透过激光的区域的一部分上形成无偏振区域、不同偏振区域,并且设定透过该1/4波片的返回光的由偏振元件产生的朝向光检测器的分离光量,从而通过抑制由作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光产生的影响,解决由杂散光产生的问题,因此具有能够以低价制造光拾取装置的优点。


图1是表示用于构成本发明的光拾取装置的1/4波片的俯视图。图2是作为本发明的实施例的光拾取装置的概略图。图3是用于说明本发明的光拾取装置的实施例中的光检测器和激光的关系的图。图4是作为本发明的实施例的光拾取装置的概略图。图5是表示用于构成本发明的光拾取装置的1/4波片的俯视图。图6是用于说明本发明的光拾取装置的实施例中的光检测器和激光的关系的图。图7是用于说明以往的光拾取装置中的光检测器和激光的关系的图。
具体实施例方式本发明提供一种光拾取装置,其以使激光会聚在设于光盘的多个信号记录层上而产生激光光斑的方式构成,该光拾取装置能够抑制由自不进行信号的读取动作的其他信号记录层反射的激光、即杂散光产生的影响。实施例1图2是本发明的光拾取装置的实施例的概略图,是表示在以对记录在设于规定为 Blu-ray格式的双层式的光盘D的信号记录层LO或者Ll上的信号进行读取的方式构成的光拾取装置中实施本发明的具体例的图。在该图中,对于与图4所示的实施例中作用相同的零件,在图2及图4中对该零件标注相同的附图标记。在图2中,附图标记11是表示供透过衍射光栅2的激光入射的半透半反镜,其用于反射被转变成S偏振光的激光的大部分,且使向P方向偏振的激光透过。在该结构中,从上述激光二极管1放射的激光经由衍射光栅2、半透半反镜11、1/4 波片4、准直透镜5及反射镜7入射到物镜8,之后利用该物镜8的会聚动作而在光盘D的信号记录层LO或者Ll上作为激光光斑照射,照射在上述信号记录层LO或Ll上的激光作为返回光向物镜8侧反射。自光盘D的信号记录层LO或者Ll反射的返回光经由物镜8、反射镜7、准直透镜 5及1/4波片4入射到半透半反镜11。利用由上述1/4波片4产生的相位改变动作而使这样入射到半透半反镜11的返回光改变为P方向的直线偏振光。从而,该返回光没有在上述半透半反镜11处反射而是作为控制用激光透过该半透半反镜11。附图表示12是表示供透过上述半透半反镜11的控制用激光入射的变形透镜,其用于在控制用激光中附加并调整像散且对像差进行修正后将该控制用激光照射到设在被称作PDIC的光检测器10上的受光部。在上述光检测器10中,与图4的实施例相同地设有四分割传感器等,且进行下述动作聚焦错误信号的产生动作,其用于进行与利用主光束的照射动作对记录在光盘D的信号记录层L0、L1上的信号进行的读取动作相伴随的信号产生动作及利用像散法进行的聚焦控制动作;循道错误信号的产生动作,其用于利用两个副光束的照射动作来进行循道控制动作。与上述图4所示的实施例相同地进行用于产生上述各种信号的控制动作,因此省略其说明。如上所述地构成本发明的光拾取装置,接下来对该结构的光拾取装置的信号读取动作进行说明。当进行用于对记录在信号记录层LO上的信号进行读取动作的操作时,从激光二极管驱动电路(未图示)对激光二极管1供给用于获得预先设定的激光输出功率的驱动信号,从而从该激光二极管1放射出期望的输出功率的激光。使从上述激光二极管1放射的激光入射到衍射光栅2,利用组装在该衍射光栅2上的衍射光栅部加将上述激光分离为主光束和副光束,并且利用1/2波片2b将激光转变为 S方向的直线偏振光。使透过上述衍射光栅2的激光入射到半透半反镜11,利用该半透半反镜11反射较多的激光。在上述半透半反镜11处反射的激光入射到1/4波片4,利用1/4波片4使上述激光从直线偏振光转变成圆偏振光之后入射到准直透镜5。利用上述准直透镜5将入射到该准直透镜5的激光转变为平行光而入射到反射镜7。入射到上述反射镜7的激光在被该反射镜7反射后入射到物镜8。这样使激光经由上述光学路径入射到上述物镜8,因此可以进行由该物镜8进行的会聚动作。利用由上述物镜8进行的会聚动作在光盘D的信号记录层LO上产生激光光斑,同时自该信号记录层 LO作为返回光反射激光。在该信号记录层LO处反射的返回光从光盘D侧入射到物镜8,入射到上述物镜8 的返回光经由上述反射镜7、准直透镜5及1/4波片4入射到半透半反镜11。利用1/4波片4将入射到上述半透半反镜11的返回光转变为P方向的直线偏振光,因此该返回光没有在半透半反镜11处反射而是全部作为控制用激光透过半透半反镜11。透过了上述物镜11的作为自信号记录层LO反射的返回光的控制用激光入射到变形透镜12,利用该变形透镜12对该控制用激光附加并调整像散,而使该控制用激光照射在设于光检测器10的受光部上。使该控制用激光照射到光检测器10的受光部的结果,能够从组装在该光检测器10的受光部上的四分割传感器等提取出基于主光束及副光束的照射光斑的位置变化、形状变化的检测信号。能够通过从该检测信号产生聚焦错误信号、循道错误信号来控制物镜8的朝向聚焦方向的位移动作及朝向循道方向的位移动作,进行在信号记录层LO上产生期望的形状的激光光斑的聚焦控制动作、使激光光斑追踪设在信号记录层LO上的信号轨迹的循道控制动作。能够通过进行光拾取装置中的聚焦控制动作及循道控制动作来对记录在光盘D 的信号记录层LO上的信号进行读取动作,能够通过以公知方法对从光检测器10产生的RF 信号进行解调来将由该读取动作获得的再现信号作为信息数据获得。如上所述地对记录在信号记录层LO上的信号进行读取动作,也能够同样地对记录在信号记录层Ll上的信号进行读取动作。如上所述地对记录在图2所示的光拾取装置中的信号记录层LO或者Ll上的信号进行读取动作,但是存在下述问题如上所述,自不进行信号的读取动作侧的信号记录层反射的返回光作为杂散光照射到设于光检测器10的受光部而对聚焦控制动作等带来不良影响。本发明的特征在于,为了解决上述问题,如图1所示地在1/4波片4上呈狭缝状地设置不进行偏振动作的无偏振区域4A,并且设定由半透半反镜11产生的朝向光检测器10 方向的分离光量比率。上述无偏振区域4A如图所示地通过激光透过的光束LL的光轴中心LC,如图3所
11示将用于降低杂散光的照射强度的区域的方向形成为与彼此配置在同一直线上的用于接收作为+1级光的前副光束Sl的第1副光束用受光部SD1、用于接收主光束M的主光束用受光部MD及用于接收作为-1级光的后副光束S2的第2副光束用受光部SD2的配置方向相一致。此外,以使用于降低照射强度的宽度宽于组装在上述光检测器10上的第1副光束用受光部SD1、主光束用受光部MD及第2副光束用受光部SD2的与它们的配置方向垂直的方向上的宽度的方式构成无偏振区域4A的宽度。然后,在该结构中,将由半透半反镜11产生的朝向光检测器10方向的分离光量比率例如设定为相对于透过了设于1/4波片4的偏振区域4B的返回光为80%透过、20%反射,相对于透过了无偏振区域4A的返回光为20%透过、80%反射。如上所述地构成本发明的光拾取装置,接下来对组装有上述结构的1/4波片4和半透半反镜11的光拾取装置的杂散光抑制动作进行说明。在该结构的光拾取装置中,照射在信号记录层上的激光及自信号记录层反射的返回光如上所述地往返透过1/4波片4。往返透过上述1/4波片4的激光中的透过偏振区域 4B的激光如上所述地转变为P方向的直线偏振光而入射到半透半反镜11,透过无偏振区域 4A的激光作为S方向的直线偏振光入射到半透半反镜11。当该激光入射到半透半反镜11时,P方向的直线偏振光的80%透过该半透半反镜 11,S方向的直线偏振光的20%透过该半透半反镜11。即,透过设于1/4波片4的无偏振区域4A的激光中的透过半透半反镜11的激光的光量大幅下降。从而,在如上所述地组装有设有无偏振区域4A的1/4波片4及设定了分离光量比率的半透半反镜11的光拾取装置中,自进行信号的读取动作侧的信号记录层反射的主光束M、前副光束Sl及后副光束S2,如图3所示地分别照射在主光束用受光部MD、前副光束用受光部SDl及后副光束用受光部SD2上。另外,作为自不进行信号的读取动作侧的信号记录层反射的主光束的杂散光照射的杂散光区域成为图3的用虚线P所表示的范围。从而,在上述实施例中,由于降低了照射在第1副光束用受光部SD1、主光束用受光部MD及第2副光束用受光部SD2上的杂散光的照射强度,因此不会对聚焦错误信号及循道错误信号的产生动作带来不良影响。从而,能够无阻碍地进行聚焦控制动作及循道控制动作,因此能够正确地进行信号的读取动作。此外,在上述结构中,考虑组装在光检测器10上的第1副光束用受光部SD1、主光束用受光部MD及第2副光束用受光部SD2的照射范围及各信号的产生动作而设定以狭缝状构成的无偏振区域4A的宽度。另外,在上述结构中,考虑包含在从光盘读取的信号中的抖动值等而设定以狭缝状构成的无偏振区域4A的宽度W及半透半反镜11的分离光量比率。此外,虽然本实施例是对使用半透半反镜11作为向物镜8方向引导从激光二极管 1放射的激光并且向光检测器10方向引导自光盘反射的激光的偏振元件的情况进行说明, 但是本发明也能够实施于组装有图4所示的偏振光分束器3的光拾取装置。此外,虽然在本实施例中将1/4波片4设在偏振元件和准直透镜5之间,但是也能够将1/4波片4设在准直透镜5和物镜8之间,例如设在物镜8和反射镜7之间。在将1/4 波片设于物镜8附近时,能够通过使1/4波片4与物镜8连动来应对透镜移位,因此能够提
1高光拾取装置的特性。实施例2实施例1所示的无偏振区域4A以狭缝状形成,因此使透过光束LL的中心部的激光的朝向光检测器10的照射强度白白地降低。实施例2提供一种改良了上述问题点的1/4波片4,其特征在于,如图5所示在无偏振区域4A的中央部上设有偏振区域4C。图6是表示利用该结构的1/4波片4降低了照射强度的杂散光的区域的图,杂散光照射在虚线P所示的区域中。由该图可明显看出,利用无偏振区域4A降低照射强度的杂散光的区域被限定为第1副光束用受光部SDl及第2副光束用受光部SD2,照射在主光束用受光部MD上的杂散光的照射强度没有降低。然而,照射在主光束用受光部MD上的主光束M的光量与杂散光的光量相比格外的大,因此不受杂散光的影响而不会对信号的产生动作带来任何影响。若采用上述实施例2的1/4波片4,则使照射在第1副光束用受光部SDl及第2副光束用受光部SD2上的杂散光的强度降低,因此能够正确地进行聚焦错误信号及循道错误信号的产生动作。此外,在上述实施例2的1/4波片4的中央部上设有偏振区域,因此不会产生照射在设于光检测器10的主光束用受光部MD、第1副光束用受光部SDl及第2副光束用受光部 SD2上的返回光的光量不足的问题。另外,在本实施例中,考虑包含在从光盘读取的信号中的抖动值等而对设于1/4 波片4的无偏振区域4A的宽度W、设在无偏振区域4A的中央部上的偏振区域4C的宽度H 及半透半反镜11的分离光量比率进行设定。实施例3虽然在实施例1及实施例2中,为了解决由杂散光产生的问题而在1/4波片4上形成狭缝状的无偏振区域4A,但是也能够通过形成偏振角度与偏振区域4B的偏振角度不同的不同偏振区域来解决由杂散光产生的问题。即,作为该不同偏振区域的形状,与实施例 1、实施例2的区域形状相同即可。利用该结构也可以使杂散光的偏振角度与用于信号的读取动作的激光的偏振角度不同,因此能够通过设定由偏振元件产生的光量的分离比率来解决由杂散光产生的问题。采用上述结构,具有能够通过调整设定由不同偏振区域产生的偏振角度来自由地选定光量的截止率,且越使该偏振角度接近偏振区域4B的角度则越能够抑制去路的旁瓣 (side lobe)的产生的特点,因此在欲抑制抖动(jitter)的情况下是有利的。虽然上述内容是对将本发明用在对记录在Blu-ray格式的光盘上的信号进行读取动作的光拾取装置的情况进行说明,但是本发明也能够应用于不同格式的光拾取装置。 此外,虽然本发明是对包括两个信号记录层的光盘进行说明,但是也能够应用于对记录在设有更多的信号记录层的光盘上的信号进行读取动作的光拾取装置。
权利要求
1.一种光拾取装置,包括物镜,其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上;衍射光栅,其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束;光检测器,其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上,该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号,并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部,该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号,并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部;偏振元件,其用于向物镜方向引导从激光二极管放射的激光,并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光;1/4波片,其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光,并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光,该光拾取装置的特征在于,在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分中形成无偏振区域,并且设定透过了该 1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率,从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。
2.一种光拾取装置,包括物镜,其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上;衍射光栅,其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束;光检测器,其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上,该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号,并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部,该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号,并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部;偏振元件,其用于向物镜方向引导从激光二极管放射的激光,并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光;1/4波片,其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光,并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光,该光拾取装置的特征在于,在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分上形成使偏振角度不同的不同偏振区域, 并且设定透过了该1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率,从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。
3.根据权利要求1或2所述的光拾取装置,其特征在于,由半透半反镜构成偏振元件。
4.根据权利要求1或2所述的光拾取装置,其特征在于, 由偏振光分束器构成偏振元件。
5.根据权利要求1所述的光拾取装置,其特征在于,形成在1/4波片上的无偏振区域是以通过光轴中心的狭缝状形成的。
6.根据权利要求5所述的光拾取装置,其特征在于,使利用狭缝状的无偏振区域降低杂散光的照射强度的方向与设于光检测器的第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的配置方向一致。
7.根据权利要求6所述的光拾取装置,其特征在于, 将偏振区域设在狭缝状的无偏振区域的中央部上。
8.根据权利要求6所述的光拾取装置,其特征在于,以使降低照射强度的杂散光的宽度宽于第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的与配置方向垂直的方向的宽度的方式设定狭缝的宽度。
9.根据权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,形成在1/4波片上的不同偏振区域是以通过光轴中心的狭缝状形成的。
10.根据权利要求9所述的光拾取装置,其特征在于,使利用狭缝状的无偏振区域降低杂散光的照射强度的方向与设于光检测器的第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的配置方向一致。
11.根据权利要求10所述的光拾取装置,其特征在于, 在狭缝状的不同偏振区域的中央部上设有偏振区域。
12.根据权利要求10所述的光拾取装置,其特征在于,以使降低照射强度的杂散光的宽度宽于第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的与配置方向垂直的方向的宽度的方式设定狭缝的宽度。
全文摘要
本发明提供一种能够在对记录在设有多个信号记录层的光盘上的信号进行读取动作的光拾取装置中解决由发散光导致的问题的光拾取装置。该光拾取装置包括半透半反镜(11),其用于向物镜(8)引导从激光二极管(1)放射的激光并且向光检测器(10)方向引导自光盘(D)反射的返回光;1/4波片(4),其设在该半透半反镜(11)和物镜(8)之间,在上述1/4波片(4)的透过激光的一部分区域中形成无偏振区域,并且通过设定透过该1/4波片的返回光的由半透半反镜(11)产生的朝向光检测器(10)方向的分离光量比率,从而降低杂散光朝向副光束用受光部的照射强度。
文档编号G11B7/1353GK102385879SQ20111025097
公开日2012年3月21日 申请日期2011年8月26日 优先权日2010年8月26日
发明者古清水有希, 市川弘幸 申请人:三洋光学设计株式会社, 三洋电机株式会社
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