应用于NVM高压放电通路的可校准控制电路的制作方法

文档序号:12736642阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种应用于NVM高压放电通路的可校准控制电路,其特征在于:所述电路包含3个PMOS及12个NMOS,第二及第三PMOS串联之后与第一PMOS并联,并联的源端接电源,第一PMOS的漏极与第三PMOS的栅极连接引出偏置电压BIAS,第二PMOS的栅极为HVEN2_B信号;

第一至第十NMOS逐个串联,第一NMOS的漏极与第三PMOS的漏极相接,第十NMOS的源极接地,第一PMOS的栅极与第一至第十NMOS的栅极全部并联形成DISENNEG信号;

第三NMOS的源极与第十二NMOS的漏极连接,第五NMOS的源极与第十二NMOS的源极连接,第十二NMOS的栅极为信号BDAC<4>;

第六NMOS的源极与第十一NMOS的漏极连接,第九NMOS的源极与第十一NMOS的源极连接,第十一NMOS的栅极为信号BDAC<3>。

2.如权利要求1所述的应用于NVM高压放电通路的可校准控制电路,其特征在于:所述第一PMOS其栅极W/L为30~45,第二PMOS的栅极W/L为0.42μm/0.12μm,第三PMOS采用W/L倒比管,其W大于1μm,W/L为0.2~0.4,,第一至第十NMOS采用W/L倒比管,W为0.42μm是最小尺寸,W/L为0.2~0.4,第十一及第十二NMOS为控制管,W/L为在10±5%;沟道长度L为工艺节点特征尺寸,最小涉及规则要求的尺寸。

3.如权利要求1所述的应用于NVM高压放电通路的可校准控制电路,其特征在于:通过MOS管的电流采用不同的栅极宽长比来控制,其公式为:

<mrow> <msub> <mi>I</mi> <mrow> <mi>D</mi> <mi>S</mi> </mrow> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <mn>1</mn> <mn>2</mn> </mfrac> <msub> <mi>&mu;C</mi> <mrow> <mi>O</mi> <mi>X</mi> </mrow> </msub> <mfrac> <mi>W</mi> <mi>L</mi> </mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>V</mi> <mrow> <mi>G</mi> <mi>S</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>V</mi> <mrow> <mi>t</mi> <mi>h</mi> </mrow> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <mo>.</mo> </mrow>

4.如权利要求3所述的应用于NVM高压放电通路的可校准控制电路,其特征在于:或者通过调节VGS来控制通过MOS管的电流,对应的就是电流源的偏置电位,不同的高压模式,所对应的高压节点的负载不同,需要在一定的时间内释放,需要不同的电流泄放能力;VGS电位控制放电通路的能力;不同的高压模式,由不同的逻辑功能来控制BDAC<4:3>,从而到达不同的高压模式下,不同的BIAS电位。

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