技术总结
本申请涉及一种半导体装置和时序校准方法。当与初始训练相同的处理被执行以处理信号的所述时序中的波动时，利用所述相关存储器的半导体装置的所述性能退化。延迟调节电路调节写入数据的到存储器装置延迟量。控制电路设定所述延迟调节电路的延迟量。存储单元存储延迟量。控制电路基于当在所述存储单元中存储的延迟量或者基于该延迟量的量被设定在所述延迟调节电路上时获得的写入数据的写入结果，来校正在所述存储单元中存储的所述延迟量。
技术研发人员：萤原孝征
受保护的技术使用者：瑞萨电子株式会社
技术研发日：2018.03.30
技术公布日：2018.10.23