技术特征：
技术总结
本发明提供了一种存储芯片SUBROM检测方法及检测器，涉及存储芯片检测技术领域。所述方法包括：接收到检测启动指令时，向SUBROM写入第一字符串；根据预设时间间隔，对所述SUBROM执行所述第一字符串的读操作，得到第二字符串；根据所述第一字符串和所述第二字符串确定检测结果；根据所述检测结果对应的输出引脚，输出所述检测结果。本发明通过比较对SUBROM写入和读取的字符串确定SUBROM的检测结果，并将检测结果输出使检测结果更加直观，实现了对SUBROM合格性的快速准确检测，可以应用于生产线对SUBROM的批量检测，提高了检测效率。
技术研发人员：李强;杨治学;郭伟;颜培玉;李文冠
受保护的技术使用者：盛瑞传动股份有限公司
技术研发日：2019.01.02
技术公布日：2019.05.10