存储器的检测方法和存储器的检测装置与流程

文档序号:32970082发布日期:2023-01-17 20:12阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种存储器的检测方法,其特征在于,包括:所述存储器包括多个第一存储单元、多个第二存储单元、多条相互分立的位线、多条相互分立的互补位线以及多条相互分立的字线,每一所述互补位线与一所述位线对应,所述第一存储单元与相应的一所述位线以及一所述字线连接,且所述第二存储单元与相应的一所述互补位线以及一所述字线连接;所述存储器还包括多个感测放大器,每一所述感测放大器与一所述位线以及一所述互补位线电耦合;向每一所述第一存储单元和所述第二存储单元写入存储数据,其中,每条所述位线连接的所述第一存储单元与其对应的所述互补位线连接的所述第二存储单元内的所述存储数据相同;在写入所述存储数据之后,进行读取操作,所述读取操作包括:依次选通所有所述字线进行读取,以通过所述位线、所述互补位线以及所述感测放大器读取每一所述第一存储单元和所述第二存储单元内的真实数据;基于所述真实数据与所述存储数据的差异,获取测试结果;基于每一所述第一存储单元和所述第二存储单元对应的所述测试结果,获取所述位线或所述互补位线与所述字线的漏电位置。2.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,向所述第一存储单元和所述第二存储单元写入所述存储数据的方式包括:向所有所述第一存储单元和所述第二存储单元写入相同的所述存储数据。3.根据权利要求2所述的存储器的检测方法,其特征在于,向每一所述第一存储单元和所述第二存储单元写入的所述存储数据都为逻辑低电平。4.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,向所述第一存储单元写入所述存储数据的方式还包括:向与相邻的所述位线连接的若干所述第一存储单元写入不同的所述存储数据。5.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,向所述第二存储单元写入所述存储数据的方式还包括:向与相邻的所述互补位线连接的若干所述第二存储单元写入不同的所述存储数据。6.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,在选通一所述字线之后,还包括:对所述位线和对应的所述互补位线进行预充电,所述预充电后的所述位线和对应的所述互补位线电平相同。7.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,在进行所述读取操作之前,还包括:对所有所述第一存储单元和所述第二存储单元进行自动刷新操作。8.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,在向每一所述第一存储单元和所述第二存储单元写入所述存储数据之前,还包括:对所述第一存储单元和所述第二存储单元进行初始化操作,以激活所述第一存储单元和所述第二存储单元。9.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,所述基于每一所述第一存储单元和所述第二存储单元对应的所述测试结果,获取所述位线或所述互补位线与所述字线的漏电位置的步骤,具体包括:与同一所述位线连接的所有所述第一存储单元的所述存储数据和所述真实数据不同,且与对应的所述互补位线连接的所述第二存储单元中有一唯一所述第二存储单元的所述
存储数据和所述真实数据不同,所述测试结果为与所述唯一的所述第二存储单元连接的所述互补位线和所述字线漏电。10.根据权利要求1所述的存储器的检测方法,其特征在于,所述基于每一所述第一存储单元和所述第二存储单元对应的所述测试结果,获取所述位线或所述互补位线与所述字线的漏电位置的步骤,具体包括:与同一所述互补位线连接的所有所述第二存储单元的所述存储数据和所述真实数据不同,且与对应的所述位线连接的所述第一存储单元中有一唯一所述第一存储单元的所述存储数据和所述真实数据不同,所述测试结果为与所述唯一的所述第一存储单元连接的所述位线和所述字线漏电。11.一种存储器的检测装置,其特征在于,包括:存储器,所述存储器包括多个第一存储单元、多个第二存储单元、多条相互分立的位线、多条相互分立的互补位线以及多条相互分立的字线,每一所述互补位线与一所述位线对应,所述第一存储单元与相应的一所述位线以及一所述字线连接,且所述第二存储单元与相应的一所述互补位线以及一所述字线连接;所述存储器还包括多个感测放大器,每一所述感测放大器与一所述位线以及一所述互补位线电耦合;写入装置,用于向所述第一存储单元和所述第二存储单元写入存储数据;读取装置,所述读取装置用于依次选通所有所述字线进行读取,以通过所述位线、所述互补位线以及所述感测放大器读取每一所述第一存储单元和所述第二存储单元内的真实数据;指令装置,用于控制所述写入装置向每条所述位线连接的所述第一存储单元与其对应的所述互补位线连接的所述第二存储单元内写入的所述存储数据相同;报错装置,所述报错装置基于所述真实数据与所述存储数据的差异,获取测试结果,并基于每一所述第一存储单元和所述第二存储单元对应的所述测试结果,获取所述位线或所述互补位线与所述字线的漏电位置。12.根据权利要求11所述的存储器的检测装置,其特征在于,还包括:指令译码器,用于根据所述指令装置发出的指令调整所述写入装置向所述第一存储单元和所述第二存储单元写入的所述存储数据的类型。13.根据权利要求11所述的存储器的检测装置,其特征在于,还包括:预充电装置,所述预充电装置用于对所述位线和对应的所述互补位线进行预充电,使得在选通一所述字线之后,所述位线预充电后的电平与对应的所述互补位线预充电后的电平相同。14.根据权利要求11所述的存储器的检测装置,其特征在于,还包括:自动刷新装置,用于定时对所述第一存储单元和所述第二存储单元进行自动刷新操作。15.根据权利要求11所述的存储器的检测装置,其特征在于,还包括:所述报错装置还包括判断装置,所述判断装置用于根据所述测试结果判断所述位线或所述互补位线与所述字线的漏电位置。

技术总结
本发明实施例提供一种存储器的检测方法及其检测装置,检测方法包括:存储器包括第一存储单元、第二存储单元、位线、互补位线以及字线;存储器还包括多个感测放大器,每一感测放大器与一位线以及一互补位线电耦合;向每一第一存储单元和第二存储单元写入存储数据,其中,每条位线连接的第一存储单元与其对应的互补位线连接的第二存储单元内的存储数据相同;读取操作包括:依次选通所有字线进行读取,以通过位线、互补位线以及感测放大器读取每一第一存储单元和第二存储单元内的真实数据;基于真实数据与存储数据的差异,获取测试结果;基于测试结果获取位线或互补位线与字线的漏电位置。本发明实施例有利于更快速的检测出漏电位置。位置。位置。


技术研发人员:刘星 骆晓东
受保护的技术使用者:长鑫存储技术有限公司
技术研发日:2021.07.12
技术公布日:2023/1/16
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