态硬盘重新选择一个或多个所述在测固态硬盘2，以对重新选择的在测固态硬盘2 (可能包括:已完成异常掉电测试的、但仍需重新进行异常掉电测试的固态硬盘)进行测试；以此类推，直到所有的该待测的固态硬盘均完成异常掉电测试。
[0066]需要说明的是，当在测固态硬盘为多个时，针对每个在测固态硬盘，上位机将掉电前向一个所述在测固态硬盘发送的数据与已成功写入该个所述在测固态硬盘包含的Flash闪存的数据进行数据校对，得出该个在测固态硬盘的校对结果。
[0067]作为本发明一实施例，所述掉电控制装置3包括:处理器31以及开关管32 ；
[0068]所述处理器31，通过GP1接口控制所述开关管32的截止或导通；
[0069]所述开关管32，用于连接所述在测固态硬盘2的电源接口与电源，截止时断开所述电源向所述在测固态硬盘2的电源接口供电，导通时接通所述电源向所述在测固态硬盘2的电源接口供电。
[0070]优选的是，所述开关管32为MOS管或三极管。MOS管或三极管均具有开关作用。
[0071]具体地，处理器31控制向MOS管的栅极输出的电压，以控制MOS管的导通或截止，进而控制电源向在测固态硬盘2供电或不供电。相应地，处理器31控制向三极管的基极输出的电压，以控制三极管的导通或截止，进而控制电源向在测固态硬盘2供电或不供电。
[0072]优选的是，所述处理器31为ARM处理器、单片机或可编程逻辑器件。所述可编程逻辑器件包括:现场可编程门阵列(Field — Programmable Gate Array, FPGA)、复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable Logic Device, CPLD)等。
[0073]优选的是，所述上位机I通过USB总线与所述处理器31连接。
[0074]优选的是，所述上位机I通过SATA总线与所述固态硬盘连接。
[0075]在本发明实施例中，对在测固态硬盘的异常掉电测试的过程中，上位机向所述掉电控制装置发送掉电指令，所述掉电控制装置断开向所述在测固态硬盘的供电，模拟出异常掉电的场景；继而，所述上位机从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据，对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到纪录有数据差异的校对结果。从而，异常掉电测试的整个过程均无需人工干预，生成的校对结果也更加精确，更具参考性以及实用性。
[0076]本领域普通技术人员还可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以在存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，包括R0M/RAM、磁盘、光盘等。
[0077]以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。
【主权项】
1.一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法，其特征在于，所述对固态硬盘进行异常掉电测试的方法包括: 上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘； 掉电控制装置接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电； 所述掉电控制装置接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电； 所述上位机从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据； 所述上位机对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到校对结果O
2.如权利要求1所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的方法，其特征在于，所述掉电控制装置包括:处理器和开关管； 所述掉电控制装置接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电的步骤，具体为: 所述处理器接收所述上位机发送的掉电指令，控制所述开关管截止以断开向所述在测固态硬盘的供电。
3.如权利要求2所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的方法，其特征在于，所述掉电控制装置接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电的步骤，具体为: 所述处理器接收所述上位机发送的上电指令，控制所述开关管导通以接通向所述在测固态硬盘的供电。
4.如权利要求1所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的方法，其特征在于，所述上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘的步骤之前，所述对固态硬盘进行异常掉电测试的方法还包括以下步骤: 从至少两个待测的固态硬盘中，选择出所述在测固态硬盘。
5.一种对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于，所述固态硬盘进行异常掉电测试的系统包括: 上位机、掉电控制装置以及一个或多个固态硬盘； 所述上位机，与所述固态硬盘连接，用于接收用户的选择测试指令，根据所述选择测试指令从固态硬盘中选择出在测固态硬盘，向在测固态硬盘发送数据以将所述数据写入所述在测固态硬盘，向所述掉电控制装置发送掉电指令或上电指令，从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据，对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到校对结果； 所述掉电控制装置，分别与所述上位机以及所述固态硬盘连接，用于接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电，接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电。
6.如权利要求5所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于，所述掉电控制装置包括:处理器以及开关管； 所述处理器，通过GP1接口控制所述开关管的截止或导通； 所述开关管，用于连接所述在测固态硬盘的电源接口与电源，截止时断开所述电源向所述在测固态硬盘的电源接口供电，导通时接通所述电源向所述在测固态硬盘的电源接口供电。
7.如权利要求6所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于，所述开关管为MOS管或三极管。
8.如权利要求6所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于，所述处理器为ARM处理器、单片机或可编程逻辑器件。
9.如权利要求6所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于， 所述上位机通过USB总线与所述处理器连接。
10.如权利要求5所述的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，其特征在于，所述上位机通过SATA总线与所述固态硬盘连接。
【专利摘要】本发明适用于针对固态硬盘的掉电测试领域，提供了一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统；上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘；所述掉电控制装置接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电；所述掉电控制装置接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电；所述上位机从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据；所述上位机对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到校对结果。从而，异常掉电测试的整个过程均无需人工干预，生成的校对结果也更加精确，更具参考性以及实用性。
【IPC分类】G11C29-56
【公开号】CN104658611
【申请号】CN201310603498
【发明人】陈元, 刘建新, 周宇跃
【申请人】深圳市国微电子有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月25日