一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于针对固态硬盘的掉电测试领域，尤其涉及一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统。
【背景技术】
[0002]近几年来，固态硬盘(Solid State Disk, SSD)的普及越来越广。因其抗震性好、数据存储速度快、功耗低、无噪音及宽温工作范围，备受某些特种行业青睐，如:军用、工控、车载及网络等领域。
[0003]SSD的主流接口为SATA II和SATA III，其带宽分别可达2.5Gbps和6Gbps。在SSD中，采用大容量缓存来提高存取效率。具体地，上位机向SSD发送的数据，SSD首先会将该数据写入其内部的缓存中，再由SSD主控将数据往Flash闪存中搬移。由于SSD中的缓存都是易失性存储器件，当SSD发生异常掉电时，缓存中的数据将无法保存至Flash闪存中，可能导致重要数据的丢失，将会带来巨大的损失。
[0004]现有技术中，有针对SSD的缓存在异常掉电时丢失数据的数据保护设计。比较普遍的设计是:在SSD中加入超级电容来储存电能，发生异常掉电时，通过超级电容储存的电能，支持SSD主控将缓存中的数据继续写入Flash闪存中，部分或全部实现异常掉电的数据保护。但是，针对SSD的缓存在异常掉电时丢失数据的数据保护设计，会受到工作场景的影响，进而影响异常掉电的数据保护；例如:使用超级电容作异常掉电的数据保护时，该超级电容容易受到工作电压、温度、时间等工作环境的影响，从而造成在异常掉电时只能实现对部分数据的保护，甚至不能实现数据保护。
[0005]因此，有必要对SSD进行异常掉电测试，来确定异常掉电时数据保护的有效性和稳定性。现有技术中，针对SSD的异常掉电测试，都是通过手动掉电模拟异常断电的场景。因此，现有技术提供的测试方法，不但耗时耗力，而且无法对异常掉电进行精确控制，进而无法精确判断掉电前后SSD中的数据差异。
【发明内容】
[0006]本发明实施例的目的在于提供一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统，旨在解决采用手动掉电的方式，无法精确判断掉电前后固态硬盘中的数据差异的问题。
[0007]—方面，一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统，所述对固态硬盘进行异常掉电测试的方法包括:
[0008]上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘；
[0009]所述掉电控制装置接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电；
[0010]所述掉电控制装置接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电；
[0011]所述上位机从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据；
[0012]所述上位机对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到校对结果。
[0013]一方面，本发明另一目的在于提供一种对固态硬盘进行异常掉电测试的系统，所述固态硬盘进行异常掉电测试的系统包括:
[0014]上位机、掉电控制装置以及一个或多个固态硬盘；
[0015]所述上位机，与所述固态硬盘连接，用于接收用户的选择测试指令，根据所述选择测试指令从固态硬盘中选择出在测固态硬盘，向在测固态硬盘发送数据以将所述数据写入所述在测固态硬盘，向所述掉电控制装置发送掉电指令或上电指令，从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据，对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到校对结果；
[0016]所述掉电控制装置，分别与所述上位机以及所述固态硬盘连接，用于接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电，接收所述上位机发送的上电指令，接通向所述在测固态硬盘的供电。
[0017]本发明的有益效果是:对在测固态硬盘的异常掉电测试的过程中，上位机向所述掉电控制装置发送掉电指令，掉电控制装置断开向所述在测固态硬盘的供电，以模拟异常掉电的场景；然后，所述上位机从所述在测固态硬盘中读取已成功写入的数据，对所述已成功写入的数据与所述上位机发送的数据进行校对，得到纪录有数据差异的校对结果。从而，异常掉电测试的整个过程均无需人工干预，生成的校对结果也更加精确，更具参考性以及实用性。
【附图说明】
[0018]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本发明实施例一提供的对固态硬盘进行异常掉电测试的方法的实现流程图；
[0020]图2是本发明实施例而提供的对固态硬盘进行异常掉电测试的系统的系统架构图。
【具体实施方式】
[0021]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0022]为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
[0023]实施例一:
[0024]图1示出了本实施例提供的第一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统的实现流程，为了便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
[0025]一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统，所述对固态硬盘进行异常掉电测试的方法包括:
[0026]步骤S11，上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘。
[0027]需要说明的是，所述固态硬盘包括所述在测固态硬盘。
[0028]具体地，当确定对在测固态硬盘进行异常掉电测试时，上位机向在测固态硬盘发送数据；在测固态硬盘通过其缓存存储依次接收到的数据，将缓存中的数据依次写入Flash闪存中。优选的是,所述上位机为:个人计算机(Personal Computer, PC)、笔记本、IPAD等具有向固态硬盘发送/接收数据的终端。优选的是，所述上位机通过SATA总线向在测固态硬盘发送数据。
[0029]作为本发明一实施例，所述上位机向在测固态硬盘发送数据，以将所述数据写入所述在测固态硬盘的步骤之前，所述对固态硬盘进行异常掉电测试的方法包括:
[0030]从至少两个待测的固态硬盘中，选择出所述在测固态硬盘。
[0031]作为本实施例一【具体实施方式】，需要测试的固态硬盘为多个，因此，上位机预先设定好多个固态硬盘的测试顺序，以按照测试顺序依次对单个固态硬盘进行异常掉电测试。因此，在进行异常掉电测试，上位机根据测试顺序，确定所述在测固态硬盘。
[0032]作为本实施例一【具体实施方式】，待测的固态硬盘为多个，从多个固态硬盘中选择出一个或多个在测固态硬盘；同时对选择出的在测固态硬盘进行异常掉电测试。待完成本次对选择出的在测固态硬盘的异常掉电测试后，从多个固态硬盘重新选择一个或多个在测固态硬盘，以对重新选择的在测固态硬盘(可能包括:已完成异常掉电测试的、但仍需重新进行异常掉电测试的固态硬盘)进行测试；以此类推，直到所有的该待测的固态硬盘均完成异常掉电测试。
[0033]步骤S12，所述掉电控制装置接收所述上位机发送的掉电指令，断开向所述在测固态硬盘的供电。