专利名称：测试连接器的制作方法
测试连接器方法
技术领域：
本发明涉及一种测试连接器，尤其是一种可电性连接晶片模组至印刷电路 板的测试连接器。背景技术：
为了保证在实际工作环境下能够安全、可靠地运行，晶片模组于使用前通 常需要在测试连接器中进行性能检测。与本发明相关的测试连接器如中国专利公告第2718814号和第2736968号专 利所揭露的，请参阅图1及图2所示，其包括本体部80、与本体部80中央的插接 部804相对应的上安装部81与下安装部82、枢接在上安装部81上的锁扣部86、驱 动锁扣部86的驱动部84及置于上安装部81上及驱动部84内的配合部85。其中， 插接部804与上安装部81及下安装部82对应设有若干插孔，其内设有若干导电端 子(未图示)。锁扣部86设有可枢接在上安装部81上的枢轴862及可卡扣晶片^t块 的卡勾860。驱动部8躬殳有可沿本体部80的卡槽802上下移动的卡持部842,本体 部80的四个角上可设有弹簧用来支持驱动部84，当驱动部84下压时，驱动锁扣 部86处于开启位置，可将晶片模块置于测试连接器中，然后靠弹簧弹力使驱动 部84上移，驱动锁扣部86处于关闭位置以锁扣晶片模块。配合部85上设有由两 相对底边850及与850相邻的两相对底边852围成的与晶片模块大小相对应的框 体，可卡持住晶片模块的周边将其固定在测试连接器中，如此，晶片模块的上 下左右及前后均可很好定位，以利于测试晶片模块。但是，上述测试连接器至少存在以下不足此类型测试连接器采用连杆机 构来驱动锁扣部从而锁紧晶片模组，结构比较复杂，零件较多，不便于制造和 使用。鉴于上述弊端，确有必要设计一种新式的测试连接器以解决上述技术问题。
发明内容本发明要解决的技术问题是提供一种零件少且构造简单的测试连接器。 为此，本发明提供一种可电性连接晶片模组至印刷电路板的测试连接器， 其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接 于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于 绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置，以 及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件，其中，锁固件朝向盖体 内侧设有至少两个枢轴，盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。相对于与本发明相关的技术，本发明测试连接器至少具有以下优点锁固件藉由其两侧的枢轴在盖体内侧的凹槽中移动从而实现置于浮板上的晶片模组 的导通与断开。这种结构的测试连接器零件少，构造简单，且能实现晶片模组 与印刷电路板之间电性连接的稳定性。
图l是与本发明相关的技术中测试连接器的立体分解图。 图2是与本发明相关的技术中测试连接器的驱动部与其它部分的立体分解图。图3是本发明测试连接器的立体分解图。图4是图3所示测试连接器中锁固件与连接锁固件的弹簧尚未组设于盖体中 的立体分解图。图5是图3所示测试连接器中锁固件与连接锁固件的弹簧组设于盖体中的立 体组合图。图6是本发明测试连接器处于断开位置时且装设有晶片模组的立体组合图。 图7是图6所示测试连接器沿VII-VII方向的剖视图。图8是本发明测试连接器处于导通位置时且装设有晶片模組的立体组合图。 图9是图8所示测试连接器沿IX-K方向的剖视图。
具体实施方式
请参阅图3至图9所示，本发明测试连接器l，可电性连接晶片模组10至印刷 电路板(未图示)，其包括容设有若干导电端子(未图示)的绝缘基座2、组设 于绝缘基座2上的浮板3、可动连接于绝缘基座2上且可相对绝缘基座2于断开位 置和导通位置之间转换的盖体4、置于绝缘基座2和盖体4之间且可驱动盖体4自 断开位置向导通位置回复的弹性装置5，以及伴随盖体4于断开位置和导通位置 之间转换的锁固件6。请参图3所示，绝缘基座2包括底壁20、自底壁20四角处朝上延伸的支撑部 (未图示)、以及自底壁20向上延伸的主体部22。弹性装置5组设于支撑部上。 主体部22于其中央位置处设有导电区222 ，贯穿主体部22的导电区222设有若干 呈矩阵排列的端子槽220，导电端子对应收容于端子槽220中。导电端子一端向 下延伸出绝缘基座2的底壁20以与印刷电路板上相应的导电元件(未图示)电性 连接，另一端向上延伸并于顶端形成接触部(未图示)以与晶片模组10上相应 的导电元件(未图示)对接。主体部22还设有位于导电区222周侧的第一侧壁221 和第二側壁223，第一侧壁221自其顶端朝下凹设有收容槽2210及向外凸伸的定 位块2212，第二侧壁223向上延伸设有凸块2231。导电区222的四角处朝上延伸 设有突起2221。浮板3置于绝缘基座2导电区222上端，其包括底边30和自底边30向上延伸的 若干侧边32，底边30和侧边32共同围设成一个承载空间302，以承载晶片模组IO 于其中。浮板3侧边32向下延伸设有若干卡扣于绝缘基座2相应设有的收容槽 2210的锁扣钩321 ，且浮板3底边30设有若干收容绝缘基座2相应设有的突起2221 的孔洞，从而既可将浮板3可动组接于绝缘基座2上，又可防止浮板3自绝缘基座 2上脱落。请参图3至图5所示，盖体4是由绝缘材料制成的中空框架结构，其包括第一 側边41和与第一側边41相邻设置的笫二侧边42。第一侧边41和第二侧边42围设 成一个收容空间40，且第一侧边41与笫二侧边42相连接的对角处向下延伸设有 收容弹性装置5的收容孔(未图示)，该弹性装置5可驱动盖体4相对于绝纟彖基座2于断开位置和导通位置间移动。第一侧边41内侧凹设有深度不同的凹槽(未标 示)，该凹槽包括第一凹槽411及与第一凹槽411相贯通的第二凹槽412和第三凹 槽413,且这第一、第二、第三凹槽411、 412、 413的内壁各自组成三个轮廓曲线。锁固件6容设于盖体4的收容空间40中，其包括相对的第 一锁固件61和第二 锁固件62。第一锁固件61和第二锁固件62均设有位于中间位置的本体部60及位 于本体部60两端的延伸部64。延伸部64朝向第一侧边41设有若干枢轴(未标示)， 该枢轴包括第一枢轴641、第二枢轴642和第三枢轴643，且第一、第二、第三枢 轴641、 642、 643分别容设于盖体4内侧的第一、第二、第三凹槽411、 412、 413 中并可随着盖体4于断开位置和导通位置间移动即在第一、第二、第三凹槽411、 412、 413中的轮廓曲线中移动。 一对弹簧69的两端分别卡持在第一锁固件61和 第二锁固件62的延伸部64上，且弹簧69的下端抵压着定位块2212的上端。第一 锁固件61和第二锁固件62的本体部60朝向盖体4的收容空间40中央位置设有锁 扣部66,锁扣部66包括位于中间位置的固持块660及位于固持块660两端的卡勾 661。 2个按压块9分别扣持在锁扣部66上，其包括贯穿按压块9用以卡持卡勾661 的卡槽92、用以固持固持块660的固持槽94，以及容设有弹性件96的卡持槽98， 该卡持槽98形状与弹性件96大致相同且与固持槽94相连通，按压块9的表面90是 光滑设置的。组装时，先将弹性件96容置于卡持槽98中与按压块9一起固持于第 一锁固件 61和第二锁固件62上，将弹簧69的两端卡扣在第一锁固件61和第二锁固件62的 延伸部64上，接着将锁固件连同弹簧69、按压块9容设于盖体4的收容空间40中， 此时第一锁固件61和第二锁固件62的第一枢轴641、第二枢轴642和第三枢轴643 分别容设在盖体4内側的第一凹槽411、笫二凹槽412和第三凹槽413中，将浮板3 置于导电区222的上表面，再将弹性装置5固持于绝緣基座2上，接着将盖体4盖 设在绝缘基座2上，此时盖体4四角处的收容孔收容着弹性装置5。请参图6至图9所示，使用时，首先将测试连接器l组设于印刷电路板上，按压盖体4带动第一锁固件61和第二锁固件62在盖体4内的凹槽中旋转至垂直方 向，此为该测试连接器l的断开位置，将晶片模组10置于浮板3的承栽空间302上； 此时，导电端子的接触部尚未露出浮板3，晶片模组10与印刷电路板之间没有形 成电性导通。然后，松开盖体4，连接第一锁固件61和第二锁固件62的弹簧69带 动第一、第二锁固件61、 62由垂直方向向水平方向转动，同时位于锁固件6—端 的按压块9下压置于浮板3上的晶片模组10，使得浮板3和置于浮板3上的晶片模 组10—同下沉，这个位置为该测试连接器l的导通位置；此时，导电端子的接触 部开始穿过浮板3上的承载空间302与晶片模组IO上相对应的导电元件对接，从 而实现晶片模组10和印刷电路板之间的电性连接。此种结构的测试连接器l零件 少，构造简单，且能实现晶片模组10与印刷电路板之间电性连接的稳定性。需要指出的是，在本发明中，第一、第二锁固件61、 62朝向盖体4内侧设有 2个枢轴，其也可根据实际需要设置为至少2个，对应枢轴的凹槽也可设置为至 少2个；第一、第二、第三枢轴641、 642、 643的长度不一致，其也可根据实际 需要设置为相同；第一、第二、第三凹槽411、 412、 413的深度不相同，其也可 设置为相同。应当指出，以上所描述的仅仅是本发明测试连接器的一种实施方式，对于 本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下做出的其它改进和 变形也应当视为本发明的保护范围。
权利要求
1. 一种测试连接器，可电性连接晶片模组至印刷电路板，其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置，以及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件，其特征在于所述锁固件朝向盖体内侧设有至少两个枢轴，盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。
2. 根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于所述锁固件包括位于 盖体两端的第一锁固件和第二锁固件。
3. 根据权利要求2所述的测试连接器，其特征在于所述测试连接器还包 括连接着第一锁固件和第二锁固件的一对弹簧。
4. 根据权利要求3所述的测试连接器，其特征在于所述第一锁固件和第 二锁固件朝向盖体中央位置设有锁扣部，所述测试连接器相应设有扣持于锁扣 部上的按压块。
5. 根据权利要求4所述的测试连接器，其特征在于所述锁扣部与按压块 之间设有弹性件。
6. 根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于所述至少两个枢轴的 长度不一致，容设相应枢轴的凹槽深度也不相同。
7. 根据权利要求1或3所述的测试连接器，其特征在于所述浮板的下端 设有若干锁扣钩，所述绝缘基座相应设有扣持锁扣钩的收容槽。
全文摘要
本发明涉及一种测试连接器，可电性连接晶片模组至印刷电路板，其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置，以及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件，其中，锁固件朝向盖体内侧设有至少两个枢轴，盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。锁固件藉由其两侧的枢轴在盖体内侧的凹槽中移动从而实现置于浮板上的晶片模组的导通与断开。这种结构的测试连接器零件少，构造简单，且能实现晶片模组与印刷电路板之间电性连接的稳定性。
文档编号H01R12/71GK101237105SQ20071001969
公开日2008年8月6日 申请日期2007年2月2日 优先权日2007年2月2日
发明者许修源, 陈铭佑 申请人:富士康(昆山)电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司