一种引线框架的制作方法

文档序号:6920256阅读:661来源:国知局
专利名称:一种引线框架的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种用于半导体元件的部件,具体涉及一种用于半导体元件封装的引线框架。
背景技术
近些年来,半导体器件的集成度越来越髙,而且其存储量、信号处理速度和功率急速增加,但体积却越来越小。这一趋势加速了半导体器件封装技术的发展,因此,半导体器件封装技术的重要性已经受到了人们的关注。半导体器件的高集成度以及存储器的增加还使得输入和输出接线端子的数量也相应地增加,继而也使得引线的数目相应的增加,这就要求引线的布置也必须精细。
引线框架是半导体封装中的的骨架,它主要由两部分组成载片台和引脚。其中载片台在封装过程中为芯片提供机械支撑,而引脚则是连接芯片到封装外的电学通路。框架的功能是显而易见的,首先它起到了封装电子器件的支撑作用,同时防止树脂在引线间突然涌出,为塑料提供支撑;其次它使芯片连接到基板,提供了芯片到线路板的电及热通道。
目前普遍采用的半导体器件的封装方式为,把与电路图形集成在一起的半导体元件通过粘接剂粘接到由铁镍合金制成的引线框架的载片台上,这就是所谓的芯片键合工艺;用键合线把半导体元件的键合焊接部与引线框架的内引线连接起来,这就是引线接合工艺;然后对接合有半导体元件的引线框架利用诸如环氧树脂模注化合物之类的绝缘模注化合物进行树脂封装,将内引线和半导体元件封住。用这种封装方法,只有引线框架的外引线伸出到模注树脂的外侧。然而在实施树脂封装的过程中,由于树脂封装的热量的产生,以及在一定厚度部分产生的热收縮,从而导致引线框架与树脂之间的结合不够充分,使得树脂容易松脱,降低了半导体元件封装的质量,最终影响半导体元件的正常使用。
为了解决上述的问题,对引线框架结构进行了改进。通过沿着引线框架
3的载片台周边开设单个v型凹槽,通过增大引线框架与树脂的结合面积从 而增大两者之间的结合力,然而在实际应用中发现,虽然通过设置V型凹
槽,增加了树脂与引线框架间在相对平移方向的偏移阻力,但是在与表面垂 直的方向作用不大,因而该结构的改进也不能很好解决两者之间结合不充分 的问题。
发明内容
本实用新型目的是提供一种引线框架,通过结构的改进,提髙了引线框 架与树脂之间的结合力,保证了半导体元件的封装质量。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是 一种引线框架,包括 一框架本体,所述框架本体由至少l个单元构成,每一框架本体单元上设有 载片台,与所述载片台配合设有引脚,所述引脚一端设有焊接部,引脚与载 片台间、相邻单元间分别经连接结构连接,所述载片台四周开设有双V型 凹槽结构。
封装时,先将半导体元件通过粘接剂粘接到引线框架的载片台上,用键 合线把半导体元件的键合焊接部与引线框架的焊接部来,然后对接合有半导 体元件的引线框架利用环氧树脂进行树脂封装,将内引线和半导体元件封 住。由于载片台四周双V型凹槽结构的开设,增大了树脂与载片台之间的 结合面积,提髙了树脂与引线框架之间的结合力,避免了因结合不充分而导 致树脂脱落的情况出现。
优选的技术方案是,所述双V型凹槽结构的截面中,在两个凹槽的相 邻部, 一个凹槽的侧壁部分位于另一凹槽的槽形内,构成倒钩结构。
由于倒钩结构的存在,该凹槽的一部分呈下宽上窄的形状,由此提供了 与结合表面垂直方向的阻力,更好地避免了树脂与引线框架之间的松脱。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有的优点是
1、 由于本实用新型通过在引线框架的载片台四周开设有双V型凹槽结 构,增大了封装树脂与引线框架之间的结合面积,提高了树脂与引线框架之 间的结合力,避免了因结合不充分而导致树脂脱落的问题,保证了半导体元 件的质量。
2、 本实用新型结构简单,成本低廉,适合推广使用。

附图1为本实用新型实施例一中框架本体的一个单元的结构示意图附图2为图1中A-A处局部的剖视示意图。
其中1、框架本体;2、载片台;3、引脚;4、焊接部;5、双V型凹槽结构;6、倒钩结构。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述
实施例一参见附图1、 2所示, 一种引线框架,包括一框架本体1,所述框架本体1由8个单元构成,每一框架本体单元上设有载片台2,与所述载片台2配合设有引脚3,所述引脚3—端设有焊接部4,引脚3与载片台2间、相邻单元间分别经连接结构连接,所述载片台2四周开设有双V型凹槽结构5;所述双V型凹槽结构5的截面中,在两个凹槽的相邻部,一个凹槽的侧壁部分位于另一凹槽的槽形内,构成倒钩结构6。
封装过程中,先将半导体元件粘接到引线框架的载片台上,用金线把半导体元件的键合焊接部与引线框架的焊接部来,然后对接合有半导体元件的引线框架利用树脂进行树脂封装,由于载片台四周双V型凹槽结构的开设,树脂在封装时会进入双V型凹槽中,增加了树脂与引线框架的结合面积,再加上倒钩结构的设置,既提供了平移方向的阻力,又提供了与表面垂直方向的阻力,从而更好地实现了树脂与引线框架和半导体元件的结合。
实施例二 一种引线框架,包括一框架本体,所述框架本体由10个单元构成,每一框架本体单元上设有载片台,与所述载片台配合设有引脚,所
述引脚一端设有焊接部,引脚与载片台间、相邻单元间分别经连接结构连接,所述载片台四周开设有双V型凹槽结构。
权利要求1.一种引线框架,包括一框架本体(1),所述框架本体(1)由至少1个单元构成,每一框架本体单元上设有载片台(2),与所述载片台(2)配合设有引脚(3),所述引脚(3)一端设有焊接部(4),引脚(3)与载片台(2)间、相邻单元间分别经连接结构连接,其特征在于所述载片台(2)四周开设有双V型凹槽结构(5)。
2. 根据权利要求1所述的引线框架,其特征在于所述双V型凹槽结 构(5)的截面中,在两个凹槽的相邻部, 一个凹槽的侧壁部分位于另一凹槽 的槽形内,构成倒钩结构(6)。
专利摘要本实用新型公开了一种引线框架,包括一框架本体,所述框架本体由至少1个单元构成,每一框架本体单元上设有载片台,与所述载片台配合设有引脚,所述引脚一端设有焊接部,引脚与载片台间、相邻单元间分别经连接结构连接,其特征在于所述载片台四周开设有双V型凹槽结构。本实用新型通过在引线框架的载片台四周开设双V型凹槽结构,增大了封装时树脂与引线框架的结合面积,提高了结合力,避免了因结合不充分树脂脱落的问题,保证了半导体元件的质量。
文档编号H01L23/48GK201345362SQ20082023695
公开日2009年11月11日 申请日期2008年12月31日 优先权日2008年12月31日
发明者俊 万 申请人:日立电线(苏州)精工有限公司
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