显示面板和显示面板的制备方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示面板的制备方法。

背景技术：

如今，薄膜封装作为显示面板的主要封装方式，由于受多种因素的影响，薄膜封装位置精度的不稳定性较高，因此在生产的过程中，需要对薄膜封装的边界进行检测，以便对薄膜封装的位置进行调整。然而，目前薄膜封装的边界的检测方法中，主要包括两种：显微镜定点拍照和扫描电子显微镜测量，其中，第一种是线上的半定量检测方法，可粗略判断薄膜封装的边界相对于目标位置的偏差，但存在检测结果精准度低的问题；第二种是线下的定量检测方法，可得到精准的检测结果，但存在需要破坏产品的问题。

因此，如何在不破坏显示面板的情况下获得薄膜封装的边界的精准的检测结果成为亟待解决的问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明实施例致力于提供一种显示面板和显示面板的制备方法，以解决现有技术中无法在不破坏显示面板的情况下获得薄膜封装的边界的精准的检测结果的问题。

本发明一方面提供了一种显示面板，包括：基材层、以及位于基材层同一侧的检测发光层和薄膜封装层；其中，检测发光层包括至少一个标注组，每一标注组包括沿预设方向连续排列的多个发光单元；薄膜封装层部分覆盖至少一个标注组。

在本发明的一个实施例中，相邻的两个发光单元在基材层上的正投影面积相同或不同，和/或，相邻的两个发光单元的发光颜色相同或不同。

在本发明的一个实施例中，每一标注组包括有多个像素单元，每个像素单元包括至少三个不同颜色的子像素单元，每一子像素单元为一发光单元。

在本发明的一个实施例中，至少一个标注组位于薄膜封装层覆盖区域内的部分包括有至少一个像素单元，且位于薄膜封装层覆盖区域外的部分也包括有至少一个像素单元。

在本发明的一个实施例中，检测发光层包括n个标注组，分别为第一标注组、第二标注组、…、和第n标注组，其中，第二标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第一预设距离d1；其中，第三标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第二预设距离d2；……其中，第n标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第n-1预设距离dn-1；且第一预设距离d1、第二预设距离d2、…、第n-1预设距离dn-1呈单调变化，且不超过一个发光单元沿预设方向的尺寸。

在本发明的一个实施例中，每一标注组包括有多个像素单元，每个像素单元包括至少三个不同颜色的子像素单元，每一子像素单元为一发光单元；优选地，同一颜色的发光单元在基材层上的正投影呈尺寸规格相同；优选地，各标注组中不同颜色的子像素单元按照相同的顺序排布。

在本发明的一个实施例中，显示面板进一步包括包含多个膜层的有机发光层，其中，有机发光层层叠在薄膜封装层和基材层之间，检测发光层属于有机发光层中的一个膜层。

本发明另一方面提供了一种显示面板的制备方法，包括：提供基材层；在基材层上制备检测发光层，检测发光层包括至少一个标注组，每一标注组包括沿预设方向连续排列的多个发光单元；至少一个标注组中包括标准组，标准组的多个发光单元中至少一个完整的发光单元位于薄膜封装层的理论覆盖区域内部；在检测发光层上方制备薄膜封装层；根据位于薄膜封装层的封装区域内部的发光单元的发光情况判断薄膜封装层的封装边界相对于理论封装边界的偏移距离。

在本发明的一个实施例中，检测发光层包括多个标注组；其中，多个标注组中包括标准组与对照组，标准组中至少一个完整的发光单元位于薄膜封装层的封装区域内部，对照组与标准组相比分别向基材层的边界平移了预设距离，其中，对照组所对应的预设距离单调变化，且不超过一个发光单元沿预设方向的尺寸；其中，每一标注组的发光单元的发光颜色为同一颜色，标准组中包括有整数个发光单元；其中，每一标注组包括有多个像素单元，每个像素单元包括至少三个不同颜色的子像素单元，每一子像素单元为一发光单元，标准组中至少一个完整的像素单元位于薄膜封装层的封装区域内部，至少一个完整的像素单元位于薄膜封装层的封装区域外部。

在本发明的一个实施例中，发光情况包括：发光单元是否发光、发光亮度情况、色坐标情况及发光单元的个数和/或尺寸规格情况。

本发明实施例在显示面板上设置检测发光层，通过检测发光层中的发光单元的发光情况来精准确定薄膜封装层的边界与基材层的边界的间距与理论间距的偏移情况，进而采用简单的工艺即可更精准地获取显示面板的封装效果的检测结果。

附图说明

图1是根据本发明一个实施例的显示面板的示意性结构图。

图2是根据本发明另一个实施例的显示面板的示意性结构图。

图3是根据本发明又一个实施例的检测发光层的示意性结构图。

图4是根据本发明再一个实施例的显示面板的示意性结构图。

图5a是根据本发明一个实施例的发光单元为子像素单元的标注组的示意图。图5b是根据本发明一个实施例的发光单元为子像素单元的多组标注组的示意图。

图6是根据本发明一个实施例的显示面板的制备方法的示意性流程图。

上述附图中的附图标记如下：薄膜封装层1，第一边界11，第三边界12，检测发光层2，第一发光单元21，第二发光单元22，第三发光单元23，基材层3，第二边界31，第四边界32，方向4，像素单元5，第一子像素单元51，第二子像素单元52，第三子像素单元53。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在可能的情况下，附图中的各个部分提到的相同或相似的部分将采用相同的附图标记。

图1是根据本发明一个实施例的显示面板的示意性结构图。

如图1所示，显示面板可以包括：基材层3、以及位于基材层3同一侧的检测发光层2和薄膜封装层1。检测发光层2可以包括至少一个标注组，每一标注组包括沿预设方向连续排列的多个发光单元。在具体的实施例中，预设方向以沿垂直于基材层3的边界并朝向薄膜封装层1的边界的方向4进行说明，对此不做限定。薄膜封装层1部分覆盖至少一个标注组。例如，薄膜封装层1在基材层3上的正投影部分覆盖多个发光单元在基材层3上的正投影。

具体地，显示面板的显示屏可以包括层叠设置的薄膜封装层1、检测发光层2和基材层3。在这里，薄膜封装层1和检测发光层2可以是直接接触的，当然，在不影响辨别检测发光层2的发光成像的情况下，检测发光层2和基材层3也可以是之间还设置有其它功能层的，即检测发光层2的蒸镀可以在薄膜封装前的任何工艺阶段进行的蒸镀，这里对于薄膜封装层1和检测发光层2之间的位置关系不做限定。例如，检测发光层2可以在aa区域(像素显示区域)蒸镀时一起蒸镀，即检测发光层2可以是像素显示区域的一层。类似地，检测发光层2和基材层3可以是直接接触的，也可以是之间还设置有其它功能层，这里对检测发光层2和基材层3之间的位置关系也不做限定。

检测发光层2，可以是在激发条件下吸收能量并将该能量转化为光辐射的膜层。在这里，检测发光层2可以由发光材料构成。具体地，该发光材料可以为无机发光材料，例如，碱土金属的硫化物等；该发光材料也可以为有机发光材料，例如，恶二唑及其衍生物类、三唑及其衍生物类等，这里对于发光材料的具体种类不做限定。为了确保显示面板具有柔性，该发光材料可以优选为有机发光材料，从而使得检测发光层2可以分散显示面板在弯折时的部分应力。对于激发检测发光层2发光的条件，可以是光、高能粒子、外电场等，这里对于具体的激发条件不做限定。

具体地，由于检测发光层2可以用于检测薄膜封装层1的第一边界11与理论封装边界的偏移情况，因此，检测发光层2和薄膜封装层1可以存在重叠区域和非重叠区域，即薄膜封装层1可以部分覆盖检测发光层2。再换句话说，可以是薄膜封装层1在基材层3上的正投影部分覆盖标注组的多个发光单元在基材层3上的正投影，其中，重叠区域可以如图1中的d区域所示，未重叠的区域可以如图1中的c区域所示。进一步地，当在预设的激发条件下激发检测发光层2发光成像时，用户可以观察到c区域的检测发光层2的发光强度和d区域的检测发光层2的发光强度是不同的，进而用户可以断定薄膜封装层1的第一边界11的位置，还可以断定第一边界11与检测发光层2中的标注组的重叠位置。

具体地，没有被薄膜封装层1封装的区域可能会接触水氧，进而造成失效，从而使得没有被薄膜封装层1封装的区域发光亮度低。

关于基材层3的类型，可以为玻璃基材、柔性基材等，这里对于基材层3的类型不做具体限定。

应当理解，标注组的多个发光单元是彼此相互接触排列的，即标注组是由沿着预设方向连续排列的多个发光单元构成的。

除此之外，还应当理解，多个发光单元的发光颜色可以为同一种，也可以为至少三个不同颜色。进一步地，当多个发光单元由至少三种发光颜色的发光单元构成时，发光单元的排列是有规律的，不同颜色的发光单元按照相同的顺序排布，如rgbrgbrgb…。在这里，当标注组的多个发光单元的发光颜色为同一颜色时，未被薄膜封装层1封装的区域可能会接触水氧，进而造成失效，从而使得没有被薄膜封装层1封装的区域发光亮度低，可以根据多个发光单元发光亮度的不同来区分封装边界的位置；当标注组的多个发光单元的发光颜色为至少三种颜色时，可以根据封装区域内发光单元的个数与尺寸规格判断封装边界。

为了便于描述，可以将相邻的两个发光单元分别称为第一发光单元21与第二发光单元22。在这里，第一发光单元21与第二发光单元22可以采用不同的发光材料，进而使得第一发光单元21与第二发光单元22的发光颜色可以不同；也可以采用相同的发光材料，使得第一发光单元21与第二发光单元22的发光颜色相同。关于第一发光单元21和第二发光单元22的形状和尺寸规格，第一发光单元21和第二发光单元22可以形状相同，例如可以均为圆形或矩形等；第一发光单元21和第二发光单元22也可以形状不同，例如一个为圆形，另一个为矩形，这里对于第一发光单元21和第二发光单元22的形状不做限定。当第一发光单元21和第二发光单元22形状相同时，第一发光单元21和第二发光单元22的尺寸规则可以相同，也可以不同，这里对此也不做限定。

应当理解，第一边界11与第二边界31之间的间距的精准度与标注组的这些发光单元的尺寸规格相关，当发光单元的尺寸越小时，第一边界11与第二边界31之间的间距的精准度越高。

本发明实施例在显示面板上设置检测发光层2，通过检测发光层2中的发光单元的发光情况来精准确定薄膜封装层的边界与基材层的边界的间距与理论间距的偏移情况，进而采用简单的工艺即可更精准地获取显示面板的封装效果的检测结果。

图2是根据本发明另一个实施例的显示面板的示意性结构图。

在本发明的另一个实施例中，多个发光单元在预设激发条件下的发光颜色包括三种。

如图2所示，标注组的发光单元的种类可以包括三种，分别是第一发光单元21、第二发光单元22和第三发光单元23，且排列是有规律的，沿垂直于第二边界31的方向4彼此交替排列，进一步地，第一发光单元21、第二发光单元22和第三发光单元23在预设激发条件下的发光颜色不同。具体地，涉及三种发光单元的第一边界11与第二边界31之间的间距的确定方法与上述图1的实施例的确定方法原理相同，为了避免重复，这里不再赘述。

另外，第三发光单元23的详细特征和功能可以参考上述图1的实施例关于第一发光单元21和第二发光单元22的描述，为了避免重复，这里也不再赘述。

图5a是根据本发明一个实施例的发光单元为子像素单元的标注组的示意图。图5b是根据本发明一个实施例的发光单元为子像素单元的多组标注组的示意图。

类似地，在本发明的另一个实施例中，如图5所示，每一标注组可以包括有多个像素单元5，每个像素单元5可以包括至少三个不同颜色的子像素单元，例如，第一子像素单元51、第二子像素单元52和第三子像素单元53，每一子像素单元为一个发光单元。

具体地，在本发明的一个实施例中，如图5a所示，至少一个标注组位于薄膜封装层1覆盖区域内的部分包括有至少一个像素单元5，且位于薄膜封装层1覆盖区域外的部分也包括有至少一个像素单元5。

本发明实施例在显示面板上设置检测发光层，通过检测发光层中的发光单元的发光情况来精准确定薄膜封装层的边界与基材层的边界的间距与理论间距的偏移情况，进而采用简单的工艺即可更精准地获取显示面板的封装效果的检测结果。

在本发明的一个实施例中，检测发光层2包括n个标注组，分别为第一标注组、第二标注组、…、和第n标注组，其中，第二标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第一预设距离d1；其中，第三标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第二预设距离d2；……其中，第n标注组相对于第一标注组沿预设方向平移了第n-1预设距离dn-1；且第一预设距离d1、第二预设距离d2、…、第n-1预设距离dn-1呈单调变化，且不超过一个发光单元沿预设方向的尺寸。

具体地，如图5b所示，每一标注组包括有多个像素单元5，每个像素单元5包括至少三个不同颜色的子像素单元，例如，第一子像素单元51、第二子像素单元52和第三子像素单元53，每一子像素单元为一发光单元。优选地，同一颜色的发光单元在基材层3上的正投影呈尺寸规格相同。优选地，各标注组中不同颜色的子像素单元按照相同的顺序排布。当标注组中包含多种颜色的发光单元时，通过优选限定发光单元在基材层上的正投影呈尺寸规格相同和/或各标注组中不同颜色的子像素单元按照相同的顺序排布，更有利于不同标注组的发光情况进行对比，以及根据对比结果判定封装偏移结果。

在具体检测薄膜封装层1的边界时，步骤可以包括：获取检测发光层2在预设激发条件下的成像；根据成像确定多个标注组中哪一个的相邻两个发光单元的交界与薄膜封装层1的第一边界11重合，该标注组可以称为重叠标注组；根据重叠标注组确定基材层3的第二边界31与薄膜封装层1的第一边界11之间的完整的发光单元的个数，这里的完整的发光单元是指一整个发光单元；以及根据完整的发光单元的个数和多个发光单元的尺寸规格确定基材层3的第二边界31与薄膜封装层1的第一边界11的间距。

为了描述地更清楚，下面以一个具体的例子描述一下检测发光层2包括多个标注组的情况。

在本发明的另一个实施例中，如图3所示，多个标注组的组数为三组，分别为第一标注组、第二标注组和第三标注组，每个发光单元呈尺寸规格相同的正方形；其中，第二标注组相对于第一标注组向基材层3的边界平移了二分之一正方形的边长；其中，第三标注组相对于第一标注组向基材层3的边界平移了三分之一正方形的边长。

具体地，如图3所示，每个标注组均包括多个颜色不同的第一发光单元21、第二发光单元22和第三发光单元23。这三种不同颜色的发光单元可以对应不同的子像素单元，即如图5b所示。且该发光单元呈正方形，尺寸规格为a*a。当第一边界11与第一标注组中的相邻发光单元的交界重合时，如图3中的111位置所示，此时可以将第一边界11所处的位置称为理论封装边界，理论封装边界与第二边界31之间的间距可以称为理论间距。为了确定理论间距的具体数值，也可以根据第一边界11和第二边界31之间的第一发光单元21、第二发光单元22和第三发光单元23的总个数以及发光单元的尺寸规格a*a进行确定，如图3所示，该理论间距为8a。当第一边界11与第二标注组中的相邻发光单元的交界重合时，如图3中的112位置所示，此时可以确定第一边界112位置相对于理论封装边界111沿上述方向4移动了(1/2)*a，此时，第一边界112和第二边界31之间的间距为8a与(1/2)*a的和，即8.5a。当第一边界11与第三标注组中的发光单元的交界重合时，如图3中的113位置所示，此时可以确定第一边界113位置相对于理论封装边界111沿上述方向4移动了(2/3)*a，此时，第一边界113和第二边界31之间的间距为8a与(2/3)*a的和。

应当理解，为了确定第一边界11与第二边界31之间的间距更精准，可以再多设置几组标注组，例如，第四标注组，相对于第一标注组向第二边界31的方向平移了(1/4)*a；第五标注组，相对于第一标注组向第二边界31的方向平移了(1/5)*a，等等。

通过设置平移预设距离的多组标注组，从而实现了确定第一边界11与第二边界31之间的间距更精准，例如，可以具体精确到(1/2)*a、(2/3)*a等，而不是现有技术中的估算。

在本发明的另一个实施例中，显示面板进一步包括包含多个膜层的有机发光层，其中，有机发光层层叠在薄膜封装层1和基材层3之间，检测发光层2属于有机发光层中的一个膜层。具体地，为了便于蒸镀，检测发光层2可以在aa区域(像素显示区域)蒸镀时一起蒸镀，即检测发光层2可以是像素显示区域的一层。在这里，像素显示区域可以包括显示驱动层和有机发光层，进一步地，检测发光层2可以形成在有机发光层之上。

在本发明的另一个实施例中，每个发光单元的尺寸规格相同。具体地，发光单元可以呈正方形。为了方便检测发光层2的蒸镀掩膜版的制作，为了确认第一边界11与第二边界31之间的间距简单快捷，每个发光单元的尺寸规格可以优选为相同。

在本发明的另一个实施例中，为了便于观察检测发光层2的成像，可以优选使用光学显微镜的荧光模式观察检测发光层2的成像，相应地，光学显微镜的荧光模式的光源为紫外线。

在本发明的另一个实施例中，检测发光层2由有机发光材料组成。

具体地，为了确保显示面板的柔性，该发光材料可以优选为有机发光材料，进而该检测发光层2可以分散弯折显示面板时的应力。

图4是根据本发明再一个实施例的显示面板的示意性结构图。

在本发明的另一个实施例中，如图4所示，显示面板的显示屏可以呈矩形，相应地，基材层3和薄膜封装层1可以呈矩形，此时，薄膜封装层1的边界可以分为相互垂直的两类，为了便于描述，薄膜封装层1的两类边界可以分别称为第一边界11和第三边界12，类似地，基材层3的两类边界可以分别称为第二边界31和第四边界32。在这里，检测发光层2可以用于检测第一边界11和第二边界31之间的间距，还可以用于检测第三边界12和第四边界32之间的间距。

相应地，检测发光层2的标注组可以分为两类，一类是多个发光单元沿垂直于第二边界31排列的，一类是多个发光单元沿垂直于第四边界32排列的。在这里，标注组的结构可以为前述实施例中的任意一种结构，这里对于标注组的结构类型不做限定。

另外，检测发光层2的两类标注组可以是同时蒸镀的，即位于检测发光层2的同一层，也可以是分开蒸镀的，即位于检测发光层2的不同的层。为了节省蒸镀时间，可以优选为位于同一层。

上面描述了根据本发明实施例的显示面板，下面结合图6描述根据本发明实施例的薄膜封装层1的边界的检测方法。

下面结合图6描述一下本发明实施例提供的一种显示面板的制备方法。

图6是根据本发明一个实施例的显示面板的制备方法的示意性流程图。

如图6所示，该显示面板的制备方法包括：

步骤610：提供基材层。

步骤620：在基材层上制备检测发光层。

具体地，检测发光层包括至少一个标注组，每一标注组包括沿预设方向连续排列的多个发光单元。至少一个标注组中包括标准组，标准组的多个发光单元中至少一个完整的发光单元位于薄膜封装层的理论覆盖区域内部。

步骤630：在检测发光层上方制备薄膜封装层。

步骤640：根据位于薄膜封装层的封装区域内部的发光单元的发光情况判断薄膜封装层的封装边界相对于理论封装边界的偏移距离。

本发明实施例在显示面板上设置检测发光层，通过检测发光层中的发光单元的发光情况来精准确定薄膜封装层的边界与基材层的边界的间距与理论间距的偏移情况，进而采用简单的工艺即可更精准地获取显示面板的封装效果的检测结果。

在本发明的一个实施例中，检测发光层包括多个标注组；其中，多个标注组中包括标准组与对照组，标准组中至少一个完整的发光单元位于薄膜封装层的封装区域内部，对照组与标准组相比分别向基材层的边界平移了预设距离，其中，对照组所对应的预设距离单调变化，且不超过一个发光单元沿预设方向的尺寸；其中，每一标注组的发光单元的发光颜色为同一颜色，标准组中包括有整数个发光单元；其中，每一标注组包括有多个像素单元5，如图5b所示，每个像素单元5包括至少三个不同颜色的子像素单元，每一子像素单元为一发光单元，标准组中至少一个完整的像素单元位于薄膜封装层的封装区域内部，至少一个完整的像素单元位于薄膜封装层的封装区域外部。

在本发明的一个实施例中，发光情况包括：发光单元是否发光、发光亮度情况、色坐标情况及发光单元的个数和/或尺寸规格情况。

显示面板的制备方法部分的技术细节可以参考显示面板的实施例及薄膜封装层的边界的检测方法的实施例，为了避免重复，这里不再赘述。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本发明的保护范围之内。