本发明涉及测试技术领域，具体为一种改进型的测试设备。
背景技术
电子产品在生产过程中，需要对其性能件测试，检测产品是否合格，传统的测试方式存在测试局限性，对电子产品需要手动调整位置，测试操作步骤繁琐，且耗费大量人力时间，因此亟需研发一种测试效果好、省时省力、工作效率高的测试装置。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种，用于克服现有技术中的上述缺陷。
根据本发明的一种改进型的测试设备，包括测试主机，所述测试主机内部设有第一滑移腔，所述第一滑移腔左右两侧内壁内相对称设有导移槽，所述第一滑移腔下侧的所述测试主机内设有第二滑移腔，所述第一滑移腔与所述第二滑移腔之间的部分内贯通设有通孔，所述第一滑移腔上侧的所述测试主机内设有传送腔，左右两侧所述导移槽与所述传送腔之间的部分内转动配合连接有穿入所述传送腔内的第一锥状轮，所述转销轴上固设有左右对称设置且分别与左右两侧所述第一锥状轮动力配合连接的第二锥状轮，所述第一滑移腔内滑动配合连接有装固架，所述装固架内设有测试组件，所述第二滑移腔内滑动配合连接有升降台，所述导移槽与所述第二滑移腔之间的部分内间隙配合连接有上下延伸设置的转销杆，所述转销杆顶部延伸末端穿入所述导移槽内且与所述第一锥状轮底部末端动力配合连接，所述转销杆底部延伸末端穿入所述第二滑移腔内且与所述第二滑移腔内底壁转动配合连接，所述导移槽内的所述转销杆上设有第一螺状部，所述第二滑移腔内的所述转销杆上设有第二螺状部，所述第一螺状部上螺纹配合连接有与所述装固架固定配合连接的导移板，所述第二螺状部与所述升降台螺纹配合连接，所述升降台顶部端面内设有与所述通孔相对设置的容放槽，所述容放槽前侧端贯穿所述升降台前侧端面，所述容放槽内底壁内设有沉腔，所述沉腔左侧内壁内互通设有向上延伸设置的推移槽，所述推移槽右侧顶部延伸末端与容放槽左侧端互通设置，所述推移槽内滑动配合连接有推移块，所述推移块内设有穿腔，所述穿腔内滑动配合连接有上下延伸设置的导移杆，所述导移杆上下延伸末端分别与所述推移槽上下内壁固定连接，所述导移杆左侧的所述穿腔内顶压配合连接有弹压片，所述推移块左侧末端固设有斜状部，位于所述通孔左侧的所述第二滑移腔内顶部上固设有斜状块，所述斜状块相对的所述升降台的顶部端面内开设有与所述推移槽左侧末端互通设置的孔腔，所述容放槽后侧内壁内固设有推顶装置，所述测试主机前侧端面内设有与所述第二滑移腔互通的放进口，所述测试主机顶端还设置有光控装置。
进一步的技术方案，所述第一锥状轮上侧的所述传送腔内设有左右延伸设置的转销轴，所述转销轴左侧延伸末端与第一马达动力配合连接，所述第一马达外表面固嵌于所述传送腔左侧内壁内，所述转销轴右侧延伸末端与所述传送腔右侧内壁转动配合连接。
进一步的技术方案，所述测试组件设置在所述装固架底部端面内的回转槽以及转动配合连接设置在所述回转槽内的转销盘，所述回转槽内顶壁内固设有底部末端与所述转销盘顶部端面动力配合连接的第二马达，所述转销盘底部端面内设有调位槽，所述调位槽内滑动配合连接有调位块，所述调位块内螺纹配合连接有左右延伸设置的螺状杆，所述螺状杆左侧延伸末端与第三马达动力配合连接，所述第三马达外表面固嵌于所述调位槽左侧内壁内，所述螺状杆右侧延伸末端与所述调位槽右侧内壁转动配合连接，所述调位块底部端面内固设有第四马达，所述第四马达底部末端动力连接有伸出所述调位块底部端面外的测试头。
进一步的技术方案，所述第一螺状部和所述第二螺状部螺纹方向反向设置。
进一步的技术方案，所述沉腔内滑动配合连接有与所述推移块右侧端固定配合连接的导移板。
进一步的技术方案，所述推顶装置包括推顶板以及动力配合连接设置在所述推顶板后侧末端的油缸。
进一步的技术方案，所述光控装置包括固定安装在所述测试主机顶部端面前侧位置处的灯杆，所述灯杆前侧端面固设有节能灯。
本发明的有益效果是：本发明结构简单，操作方便，通过将需要测试的电子产品安放在容放槽内，此时，通过第一马达控制转销轴转动，由转销轴上的第二锥状轮带动第一锥状轮转动，并由第一锥状轮带动转销杆转动，由转销杆上的第一螺状部带动导移板滑动至导移槽内的最底部位置，同时，由导移板带动装固架滑动至第一滑移腔内的最底部位置，此时，由转销杆上的第二螺状部带动升降台移动至第二滑移腔内最顶部位置，同时，使斜状块经孔腔最大程度穿入推移槽内，此时，由斜状块与斜状部最大程度顶压滑动配合连接，同时，由斜状部带动推移块最大程度克服弹压片顶压力，使推移块右侧末端与需要加工的电子产品顶压配合连接，同时，由于装固架滑动至第一滑移腔内的最底部位置，此时，使装固架带动调位块底部的测试头与需要加工的电子产品顶部端面相抵接，然后通过控制第四马达转动，进而实现高效测试工作，通过第二马达以及第三马达的工作，从而实现测试头的不同方位的调节工作，同时，能实现自动控制锁定以及解锁工作，大大提高测试效率，减少了操作步骤，提高了测试运行的稳定性，进而提高了测试质量。
附图说明
图1是本发明中一种改进型的测试设备整体内部结构示意图；
图2是本发明中装固架的内部结构示意图；
图3是本发明一种改进型的测试设备外部整体结构示意图；
图4是本发明中推顶装置的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合图1-4对本发明进行详细说明。
参照图1-4，根据本发明的实施例的一种改进型的测试设备，包括测试主机6，所述测试主机6内部设有第一滑移腔61，所述第一滑移腔61左右两侧内壁内相对称设有导移槽64，所述第一滑移腔61下侧的所述测试主机6内设有第二滑移腔62，所述第一滑移腔61与所述第二滑移腔62之间的部分内贯通设有通孔66，所述第一滑移腔61上侧的所述测试主机6内设有传送腔63，左右两侧所述导移槽64与所述传送腔63之间的部分内转动配合连接有穿入所述传送腔63内的第一锥状轮631，所述转销轴632上固设有左右对称设置且分别与左右两侧所述第一锥状轮631动力配合连接的第二锥状轮633，所述第一滑移腔61内滑动配合连接有装固架8，所述装固架8内设有测试组件，所述第二滑移腔62内滑动配合连接有升降台621，所述导移槽64与所述第二滑移腔62之间的部分内间隙配合连接有上下延伸设置的转销杆65，所述转销杆65顶部延伸末端穿入所述导移槽64内且与所述第一锥状轮631底部末端动力配合连接，所述转销杆65底部延伸末端穿入所述第二滑移腔62内且与所述第二滑移腔62内底壁转动配合连接，所述导移槽64内的所述转销杆65上设有第一螺状部，所述第二滑移腔62内的所述转销杆65上设有第二螺状部，所述第一螺状部上螺纹配合连接有与所述装固架8固定配合连接的导移板641，所述第二螺状部与所述升降台621螺纹配合连接，所述升降台621顶部端面内设有与所述通孔66相对设置的容放槽622，所述容放槽622前侧端贯穿所述升降台621前侧端面，所述容放槽622内底壁内设有沉腔623，所述沉腔623左侧内壁内互通设有向上延伸设置的推移槽625，所述推移槽625右侧顶部延伸末端与容放槽622左侧端互通设置，所述推移槽625内滑动配合连接有推移块627，所述推移块627内设有穿腔6272，所述穿腔6272内滑动配合连接有上下延伸设置的导移杆6274，所述导移杆6274上下延伸末端分别与所述推移槽625上下内壁固定连接，所述导移杆6274左侧的所述穿腔6272内顶压配合连接有弹压片6273，所述推移块627左侧末端固设有斜状部6271，位于所述通孔66左侧的所述第二滑移腔62内顶部上固设有斜状块628，所述斜状块628相对的所述升降台621的顶部端面内开设有与所述推移槽625左侧末端互通设置的孔腔626，所述容放槽622后侧内壁内固设有推顶装置7，所述测试主机6前侧端面内设有与所述第二滑移腔62互通的放进口67，所述测试主机6顶端还设置有光控装置。
有益地或示例性地，所述第一锥状轮631上侧的所述传送腔63内设有左右延伸设置的转销轴632，所述转销轴632左侧延伸末端与第一马达634动力配合连接，所述第一马达634外表面固嵌于所述传送腔63左侧内壁内，所述转销轴632右侧延伸末端与所述传送腔63右侧内壁转动配合连接，从而实现自动控制所述第一锥状轮631带动所述转销杆65的转动工作，进而实现由转销杆65带动装固架8以及升降台621的移动工作。
有益地或示例性地，所述测试组件设置在所述装固架8底部端面内的回转槽81以及转动配合连接设置在所述回转槽81内的转销盘82，所述回转槽81内顶壁内固设有底部末端与所述转销盘82顶部端面动力配合连接的第二马达811，所述转销盘82底部端面内设有调位槽821，所述调位槽821内滑动配合连接有调位块824，所述调位块824内螺纹配合连接有左右延伸设置的螺状杆822，所述螺状杆822左侧延伸末端与第三马达823动力配合连接，所述第三马达823外表面固嵌于所述调位槽821左侧内壁内，所述螺状杆822右侧延伸末端与所述调位槽821右侧内壁转动配合连接，所述调位块824底部端面内固设有第四马达825，所述第四马达825底部末端动力连接有伸出所述调位块824底部端面外的测试头826，从而实现自动控制多方位的测试工作，提高了工作效率以及质量。
有益地或示例性地，所述第一螺状部和所述第二螺状部螺纹方向反向设置，从而实现装固架8与升降台621相对以及相背的移动工作。
有益地或示例性地，所述沉腔623内滑动配合连接有与所述推移块627右侧端固定配合连接的导移板624。
有益地或示例性地，所述推顶装置7包括推顶板71以及动力配合连接设置在所述推顶板71后侧末端的油缸72。
有益地或示例性地，所述光控装置包括固定安装在所述测试主机6顶部端面前侧位置处的灯杆681，所述灯杆681前侧端面固设有节能灯682，从而提供照明作用。
初始状态时，导移板641位于导移槽64内的最顶部位置，此时，由导移板641带动装固架8内的最顶部位置，同时，升降台621位于第二滑移腔62内的最底部位置，此时，使得升降台621前侧端与放进口67处于相对位置，同时，推移块627受到弹压片6273顶压力，使推移块627带动斜状部6271最大程度位于推移槽625内的最左侧位置，同时，使推移块627完全位于推移槽625内。
当需要测试加工时，首先将需要测试的电子产品安放在容放槽622内，此时，通过第一马达634控制转销轴632转动，由转销轴632上的第二锥状轮633带动第一锥状轮631转动，并由第一锥状轮631带动转销杆65转动，由转销杆65上的第一螺状部带动导移板641滑动至导移槽64内的最底部位置，同时，由导移板641带动装固架8滑动至第一滑移腔61内的最底部位置，此时，由转销杆65上的第二螺状部带动升降台621移动至第二滑移腔62内最顶部位置，同时，使斜状块628经孔腔626最大程度穿入推移槽625内，此时，由斜状块628与斜状部6271最大程度顶压滑动配合连接，同时，由斜状部6271带动推移块627最大程度克服弹压片6273顶压力，使推移块627右侧末端与需要加工的电子产品顶压配合连接，同时，由于装固架8滑动至第一滑移腔61内的最底部位置，此时，使装固架8带动调位块824底部的测试头826与需要加工的电子产品顶部端面相抵接，然后通过控制第四马达825转动，进而实现高效测试工作，通过第二马达811以及第三马达823的工作，当测试完成后，使升降台621移动至初始位置，然后通过推顶装置7将测试完成的电子产品推出。
本发明的有益效果是：本发明结构简单，操作方便，通过将需要测试的电子产品安放在容放槽内，此时，通过第一马达控制转销轴转动，由转销轴上的第二锥状轮带动第一锥状轮转动，并由第一锥状轮带动转销杆转动，由转销杆上的第一螺状部带动导移板滑动至导移槽内的最底部位置，同时，由导移板带动装固架滑动至第一滑移腔内的最底部位置，此时，由转销杆上的第二螺状部带动升降台移动至第二滑移腔内最顶部位置，同时，使斜状块经孔腔最大程度穿入推移槽内，此时，由斜状块与斜状部最大程度顶压滑动配合连接，同时，由斜状部带动推移块最大程度克服弹压片顶压力，使推移块右侧末端与需要加工的电子产品顶压配合连接，同时，由于装固架滑动至第一滑移腔内的最底部位置，此时，使装固架带动调位块底部的测试头与需要加工的电子产品顶部端面相抵接，然后通过控制第四马达转动，进而实现高效测试工作，通过第二马达以及第三马达的工作，从而实现测试头的不同方位的调节工作，同时，能实现自动控制锁定以及解锁工作，大大提高测试效率，减少了操作步骤，提高了测试运行的稳定性，进而提高了测试质量。
本领域的技术人员可以明确，在不脱离本发明的总体精神以及构思的情形下，可以做出对于以上实施例的各种变型。其均落入本发明的保护范围之内。本发明的保护方案以本发明所附的权利要求书为准。