图像传感器及其驱动方法

文档序号:7706419阅读:108来源:国知局
专利名称:图像传感器及其驱动方法
技术领域
本发明涉及图像传感器及其驱动方法,例如涉及CM0S图像传感器及其驱动方法。
背景技术
作为替代CCD (电荷耦合器件)的图像传感器,开发了CM0S (互补金属氧化物半导体) 图像传感器。CMOS图像传感器能够与逻辑及模拟电路一起一体形成(系统集成)于同一芯 片,因而能够实现低电压以及高性能。另一方面,CMOS图像传感器也存在以下这样的问题 由于对每一像素存储信号进而依次读出,所以与CCD有所不同无法进行全(^ 口 一 a a ) 曝光。
近年来,可通过将纵列并排型A/D变换和数字CDS (相关双重取样)组合在一起,进 行高速摄像和低噪声读取。但即便是纵列并排数字CDS方式的A/D变换,也由于采用微细 工艺,所以电源电压降低的话,便无法使A/D变换所用的D/A变换锯齿形波足够大。由此 会造成S/N比变差。
专利文献1:日本特开2005-303648号公报
专利文献2:日本特开2005-323331号公报

发明内容
本发明提供一种能够抑制电源电压降低造成的S/N比变差的图像传感器。 按照本发明实施方式的图像传感器,包括包含有在半导体基底上呈行列状配置的、 检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条行选择线; 以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,
其中所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括流过与所述入射光相对应 的电流的光电二极管;在第1结点与所述光电二极管的一端连接,对所述第l结点施加电 位的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间,将所述第1结点的电位复位为所述第 1电源的电位的复位晶体管;比较所述第1结点的电位和基准电压,将该比较结果输出给所述复位晶体管的栅极的比较器;与所述比较器的输出端连接,对所述第l结点的电位达 到所述第l电源的电位时产生的所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,输出与该反 转次数相对应的数字值的计数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之一两 者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管。
按照本发明实施方式的图像传感器,包括包含有在半导体基底上呈行列状配置的、 检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条行选择线; 以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,
其中所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括流过与所述入射光相对应 的电流的光电二极管;在第1结点与所述光电二极管的一端连接,对所述第l结点施加电 位的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间,将所述第1结点的电位复位为所述第 1电源的电位的复位晶体管;比较所述第1结点的电位和基准电压,将该比较结果输出给 所述复位晶体管的栅极的比较器;与所述比较器的输出端连接,接收振幅定期反复变化的 时钟,对所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时产生的所述比较器的输出信号的 反转次数进行计数,并对所述反转次数变为规定值前所接收到的时钟数进行计数,输出与 该时钟数相对应的数字值的计数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之一 两者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管。
按照本发明实施方式的图像传感器的驱动方法,该图像传感器包括包含有在半导体 基底上呈行列状配置的、检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像 素连接的多条行选择线;以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,
其中所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括光电二极管;在第1结点 与所述光电二极管的一端连接的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间的复位晶体 管;输入所述第l结点的电位和基准电压,输出与所述复位晶体管的栅极连接的比较器; 与所述比较器的输出端连接的计数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之 一两者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管,
该图像传感器的驱动方法包括
与所述入射光相对应的电荷流过所述光电二极管,
所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时,使所述比较器的输出信号反转, 所述计数器对所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,输出与该反转次数相对应
的数字值,与此同时所述复位晶体管变为导通状态,将所述第l结点的电位复位为所述第
l电源的电位,由此使所述比较器的输出信号复原,当所述比较器的输出信号复原时,所述计数器不让所述数字值增加,所述复位晶体管 变为非导通状态,
输出所述数字值。
按照本发明实施方式的图像传感器的驱动方法,该图像传感器包括包含有在半导体 基底上呈行列状配置的、检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像 素连接的多条行选择线;以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,
其中所述像素或包含多个所述像素的像素模块分别包括光电二极管;在第1结点与 所述光电二极管的一端连接的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间的复位晶体管; 输入所述第l结点的电位和基准电压,输出与所述复位晶体管的栅极连接的比较器;与所 述比较器的输出端连接,接收振幅定期反复变化的时钟的计数器;以及连接于所述计数器 的输出和所述垂直信号线之一两者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管,
该图像传感器的驱动方法包括
与所述入射光相对应的电荷流过所述光电二极管,
所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时,使所述比较器的输出信号反转, 所述计数器对所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,并对该反转次数变为规定
值前的所述时钟数进行测定,与所述比较器的输出信号的反转同时所述复位晶体管变为导
通状态,
随着将所述第1结点的电位复位为所述第1电源的电位,将所述比较器的输出信号复
原,
当所述比较器的输出信号复原时,所述计数器不让所述数字值增加,所述复位晶体管 变为非导通状态,
所述计数器输出与所述反转次数达到规定值之前期间所接收到的时钟数相对应的数字值。
本发明的图像传感器能够抑制电源电压降低造成的S/N比变差。


图1为表示第1实施方式的CMOS图像传感器中某一像素及其周边部分的电路图。 图2为表示第1实施方式的图像传感器其动作的时序图。 图3为表示第1实施方式的图像传感器其动作的时序图。 图4为表示第1实施方式的图像传感器其动作的时序图。图5为表示第2实施方式的图像传感器其动作的时序图。 图6为表示第2实施方式的图像传感器其动作的时序图。 图7为表示第2实施方式的图像传感器其动作的时序图。
(标号说明)
PD…光电二极管、FD…电容器、Trst…复位晶体管、CMP…比较器、CNT…计数器、Tsel… 选择晶体管、Lad…地址线、Lcl…垂直信号线、10…垂直寄存器、20…水平读取电路。
具体实施例方式
下面参照

本发明的实施方式。本发明不限于下面所述的实施方式。 (第l实施方式)
图1示出的图像传感器为CMOS图像传感器。图1中只示出1个像素PIX,但实际上多 个像素PIX在半导体基底(未图示)上呈矩阵状二维配置。该矩阵状排列的多个像素形成 摄像区域。
作为行选择线的地址线Lad与在行方向上排列的多个像素连接。多条地址线Lad与垂 直寄存器10连接。垂直寄存器10构成为按照行地址依次选择某行的地址线Lad,对与该 地址线Lad连接的多个像素施加电压。
垂直信号线Lcl与在列方向上排列的多个像素连接。多条垂直信号线Lcl分别通过开 关SW与输出端子OUT连接。各开关SW与水平读取电路20连接,按照垂直信号线Lcl的 列地址依次开关。
这样,地址线Lad所选定行排列的多个像素的数字数据便可由水平读取电路20依次从 输出端子OUT输出。垂直寄存器10按照地址线Lad的地址依次选择地址线Lad。由此图像 区域内的全部像素PIX可依次从输出端子OUT输出。
垂直寄存器10和水平读取电路20也可以与像素区域一起形成于同一半导体基底上。
像素PIX分别包括光电二极管PD、电容器FD、复位晶体管Trst、比较器CMP、计数器 CNT、以及选择晶体管Tsel。
光电二极管PD的正极与例如作为第2电源的地端连接,其负极与电容器FD的一端连 接。光电二极管PD接受入射光,流过与该入射光相应的电流。举例来说,光电二极管PD 使与入射光的光量(照度、亮度)成正比量的电子从正极流至负极,或者使与它们成正比 量的电流从负极流至正极。也就是说,入射光的光量、强度、亮度、灰度等越大, 一定时间内光电二极管PD流过的电流量也越大。
电容器FD连接于光电二极管PD的负极和地端之间。电容器FD可以是一种对PN结二 极管加上反向偏置得到的耗尽层所形成的浮动扩散型电容。电容器FD能够在无入射光的 状态下保持第1结点Nl的电位。另外,在不需要保持结点Nl电位的情况下,该FD可省 略。另外,也可以通过在PD和FD之间设置读取栅极来使复位信号噪声降低。
光电二极管的负极和电容器FD之间为第1结点Nl的话,光电二极管PD和电容器FD 并联连接于第1结点Nl和地端两者间,构成检测入射光的检测部DET。
复位晶体管Trst连接于第1结点Nl和第1电源两者间,起到将第1结点Nl复位(充 电)为第1电源电位Vdd的作用。
比较器CMP包括与第1结点Nl连接的第1输入部;与基准电压线Lref连接的第2 输入部;以及输出第l结点Nl和基准电压线Lref两者比较结果的输出部。比较器CMP的 输出部与计数器CNT和复位晶体管Trst的栅极共同连接。比较器CMP比较第1结点Nl的 电位和基准电压Vref,输出该比较结果。
计数器CNT举例来说每当比较器CMP的输出信号从高电平电位降至低电平电位对反转 次数进行计数。这种情况下,计数器CNT在比较器CMP的输出信号从低电平电位升至高电 平电位时不对反转次数进行计数。相反,计数器CNT也可以每当比较器CMP的输出信号从 低电平电位升至高电平电位对反转次数进行计数。这种情况下,计数器CNT在比较器CMP 的输出信号从高电平电位降至低电平电位时不对反转次数进行计数。这是因为,这样构成 计数器CNT同样可输出相同的数字信号。
另外,本实施方式中,其前提为基准电压Vref对全部单元给定一固定值。但由于给定 的是例如随入射光量而有所不同的Vref,从而可使动态范围扩展。而且,也可以提供随时 间变化的值。
比较器CMP和计数器CNT构成A/D变换器。
复位晶体管Trst举例来说每当比较器CMP的输出信号从高电平电位降至低电平电位便 变为导通状态,由此将第1结点N1电位复位为第1电源电位Vdd。这种情况下,复位晶体 管Trst在比较器CMP的输出信号从低电平电位升至高电平电位时维持非导通状态,第1 结点N1的电位不复位。
选择晶体管Tsel连接于计数器CNT的输出部和1条垂直信号线Lcl两者间。选择晶体 管Tsel的栅极与1条地址线Lad连接。垂直寄存器10 —旦选择驱动地址线Lad,选择晶 体管Tsel便变为导通状态,计数器CNT的输出数字信号传送给垂直信号线Lcl。水平读取电路20在开关SW导通时,该数字信号便通过开关SW从输出端子OUT输出。
图2的(A)至图2的(C)示出入射光光量较多情形的时序图,图3的(A)至图3 的(C)则示出入射光光量较少情形的时序图。本实施方式中,计数器CNT在规定时间Ts 期间对比较器CMP输出的反转次数进行计数,输出与该反转次数成正比的数字值。
第l结点Nl的电位低于基准电压Vref的情况下,比较器CMP输出低电平电位。由此 复位晶体管Trst呈导通状态,所以第1结点Nl的电位复位为Vdd。 Vdd为高于Vref的电 位,所以比较器CMP输出高电平电位。由此复位晶体管变为非导通状态。即如图2的(A) 所示,第l结点Nl的电位达到基准电位Vref,有可能低于基准电位Vref的话,便回到第 1电源电位Vdd (复位)。
光电二极管PD因入射光而有电子从正极流至负极。因而,入射光入射光电二极管PD 的情况下,电容器FD所保持的电荷通过光电二极管PD释放,所以第1结点Nl的电位降 低。入射光的光量越大,第1结点N1的电位越是在短时间内降低。
第1结点Nl的电位一旦达到基准电位Vref ,便如图2的(B)所示,比较器CMP的输 出从高电平降至低电平。也就是说,比较器CMP的输出信号反转。与此同时,复位晶体管 Trst呈导通状态,将第1结点Nl充电至第1电源电位Vdd。这时所充的电荷存于电容器 FD。第1结点N1的电位升高的结果如图2的(B)所示,比较器CMP的输出信号从高电平 反转至低电平之后紧接着回到原来的高电平(复位)。
令第1结点Nl的电位达到基准电压Vref的时刻至此后第1结点Nl的电位再次达到基 准电压Vref的时刻这一期间(比较器CMP输出信号的反转至此后的反转这一期间)为阶 段(7亍7 7°)期间Tstl或Tst2。
如图2的(C)和图3的(C)所示,计数器CNT在比较器CMP的输出信号反转时使其 反转次数增加。即计数器CNT每隔阶段期间Tstl使数字值增加规定的步长值Dst。举例来 说,将步数设定为8个等级的情况下,步长值Dst为最大输出电压Vmax的8分之一。
计数器CNT计数的反转次数和数字值每当图4所示的计数器复位信号激活便复位。计 数器复位信号每隔规定的期间Ts (Ts>Tstl、 Ts>Tst2)激活。在期间Ts的期间中,计 数器CNT累计反转次数和数字值。
如图2的(A)至图2的(C)所示入射光的光量等相对较大的情况下,光电二极管PD 流过相对较大的电流,所以第1结点N1的电位其降低速度较快。因而,阶段期间Tstl与 阶段期间Tst2相比时间较短,规定期间Ts内含有的阶段期间Tstl和反转次数相对较多。 举例来说,期间Ts内含有的阶段期间Tstl其数目为m的情况下,计数器CNT的数字值为mXDst。另外,m为整数。
与此相反,如图3的(A)至图3的(C)所示入射光的光量等相对较小的情况下,光 电二极管PD流过相对较小的电流,所以第1结点N1的电位其降低速度较慢。因而,阶段 期间Tst2与阶段期间Tstl相比时间较长,规定期间Ts内含有的阶段期间Tst2和反转次 数相对较少。举例来说,期间Ts内含有的阶段期间Tst2其数目为n的情况下,计数器CNT 的数字值为nXDst (nXDst<mXDst)。另外,n为小于m的整数。
这样计数器CNT便可以随入射光的光量输出相应的数字值。
按照本实施方式,由比较器CMP和计数器CNT所组成的A/D变换器可装入到像素PIX 内。由此,可以在像素PIX内将像素PIX的模拟信号变换为数字信号。在像素PIX内执行 A/D变换,所以不需要放大模拟信号用的放大器。因此可以提高S/N比(信号噪声比)。此 外,计数器CNT内也可以加装SRM1或DRAM、闪存等存储器。这种情况下,能够以像素为 单位将数据保存于存储器,而且能够以实时方式实现深度的数字信号处理。
本实施方式中,由比较器CMP和计数器CNT所组成的A/D变换器可装入到像素PIX内。 但也可以将图像区域划分为含有多个像素PIX的多个像素模块,A/D变换器按每一像素模 块设置。这种情况下,最好还是在图像区域内设置A/D变换器。由此,不需要放大器,可 以使S/N比提高。这进一步关系到图像信号处理速度的提高。
按照本实施方式,可按每一像素进行A/D变换,所以可进行纵列A/D变换方式难以实 现的全曝光读取。
(第2实施方式)
第1实施方式中,计数器CNT将规定期间Ts内的计数器输出作为数字值输出。与此有 所不同,第2实施方式中,计数器CNT接收振幅定期反复变化的时钟,对反转次数变为规 定值以前的时间进行测定。即,计数器CNT对反转次数变为规定值之前的时钟数进行计数, 输出与该时钟数相对应的数字值。
图5的(A)和图5的(B)分别与图2的(A)和图2的(B)相同。图6的(A)和图 6的(B)分别与图3的(A)和图3的(B)相同。即,第2实施方式的比较器CMP、复位 晶体管Trst、以及检测部DET的动作与第1实施方式中上述部分的动作相同。因而,第2 实施方式中上述部分的动作说明从略。
计数器CNT如图5的(C)和图6的(C)所示,对比较器CMP的输出信号从高电平反 转至低电平的次数进行计数。另外,计数器CNT接收如图7所示振幅定期反复变化的时钟, 对该时钟的振幅数(下面称为时钟数)进行计数。计数器CNT输出与反转次数达到规定次数Nrev时的时钟数相对应的数字值。
如图5的(A)至图5的(C)所示,入射光的光量较大的情况下,上述反转次数在相 对较短的时间Tsl内达到规定次数Nrev。因此,在时间Tsl期间内计数器CNT所接收的时 钟数较少。计数器CNT可以输出与该时钟数成正比的数字值。
如图6的(A)至图6的(C)所示,入射光的光量较小的情况下,上述反转次数在比 Tsl长的时间Ts2内达到规定次数Nrev。因此,时间Ts2期间内计数器CNT所接收的时钟 数相对较多。计数器CNT输出与该时钟数成正比的数字值。由此,计数器CNT可以输出与 入射光的光量相对应的数字值。
第2实施方式的构成可以与第1实施方式的构成相同。但可以通过将规定次数Nrev 设定为k位(k为整数)的计数器计数一圈的值,来省去计数器复位信号。这种情况下, 上述反转次数变为规定次数Nrev (Nrev= "111…1" (k个位全为l))后,计数器的反转 次数自动复位为"000…0"。
第2实施方式可以获得与第1实施方式同样的效果。
另外,本发明并不限于上述实施方式本身,实施阶段可以在不背离其实质的范围内对 组成部分进行变形来实施。而且,可通过上述实施方式所披露的多个组成部分的适当组合, 来形成种种发明。举例来说,也可以从本实施方式所示的全部组成部分当中去除某几个组 成部分。此外,也可以适当组合不同实施方式中涉及的组成部分。
权利要求
1. 一种图像传感器,包括包含有在半导体基底上呈行列状配置的、检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条行选择线;以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括流过与所述入射光相对应的电流的光电二极管;在第1结点与所述光电二极管的一端连接,对所述第1结点施加电位的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间,将所述第1结点的电位复位为所述第1电源的电位的复位晶体管;比较所述第1结点的电位和基准电压,将其比较结果输出给所述复位晶体管的栅极的比较器;与所述比较器的输出端连接,对所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时产生的所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,输出与该反转次数相对应的数字值的计数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之一两者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管。
2. 如权利要求l所述的图像传感器,其特征在于,所述比较器的输出信号因所述入射光入射至所述光电二极管而反转时,在所述计数器 使所述反转次数增加的同时,所述复位晶体管变为导通状态,将所述第l结点的电位复位 为所述第l电源的电位,所述比较器的输出信号电平通过将所述第1结点的电位复位为所述第1电源的电位而 复原时,所述复位晶体管变为非导通状态。
3. 如权利要求l所述的图像传感器,其特征在于,在所述入射光的光量多、所述光电二极管流过的电荷量多的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数增多,在所述入射光的光量少、所述光电二极管流过的电荷量少的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数减少。
4. 如权利要求2所述的图像传感器,其特征在于,在所述入射光的光量多、所述光电二极管流过的电荷量多的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数增多,在所述入射光的光量少、所述光电二极管流过的电荷量少的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数减少。
5. 如权利要求3所述的图像传感器,其特征在于,所述计数器每隔所述一定时间对所述反转次数计数,该一定时间后将所述反转次数和 所述数字值复位。
6. —种图像传感器,包括包含有在半导体基底上呈行列状配置的、检测入射光的多 个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条行选择线;以及与在列方向 上排列的所述像素连接的多条信号线,所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括-流过与所述入射光相对应的电流的光电二极管;在第1结点与所述光电二极管的一端连接,对所述第1结点施加电位的电容器; 连接于所述第1结点和第1电源之间,将所述第1结点的电位复位为所述第1电源的 电位的复位晶体管;比较所述第1结点的电位和基准电压,将其比较结果输出给所述复位晶体管的栅极的 比较器;与所述比较器的输出端连接,接收振幅定期反复变化的时钟,对所述第l结点的电位 达到所述第l电源的电位时产生的所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,并对所述 反转次数变为规定值前所接收到的时钟数进行计数,输出与该时钟数相对应的数字值的计 数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之一两者间,栅极与所述行选择线之一连 接的选择晶体管。
7. 如权利要求l所述的图像传感器,其特征在于,在所述入射光的光量多、所述光电二极管流过的电荷量多的情况下,所述反转次数达到规定值前的所述时钟数少,在所述入射光的光量少、所述光电二极管流过的电荷量少的情况下,所述反转次数达 到规定值前的所述时钟数多。
8. —种图像传感器的驱动方法,该图像传感器包括包含有在半导体基底上呈行列状 配置的、检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条行 选择线;以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,所述像素或包含多个所述像素的像素模块分别包括光电二极管;在第1结点与所述 光电二极管的一端连接的电容器;连接于所述第l结点和第l电源之间的复位晶体管;输 入所述第l结点的电位和基准电压,输出与所述复位晶体管的栅极连接的比较器;与所述 比较器的输出端连接的计数器;以及连接于所述计数器的输出和所述垂直信号线之一两者 间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管,该图像传感器的驱动方法包括与所述入射光相对应的电荷流过所述光电二极管,所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时,使所述比较器的输出信号反转,所述计数器对所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,输出与该反转次数相对应 的数字值,与此同时所述复位晶体管变为导通状态,将所述第l结点的电位复位为所述第 1电源的电位,由此使所述比较器的输出信号复原,当所述比较器的输出信号复原时,所述计数器不让所述数字值增加,所述复位晶体管 变为非导通状态,输出所述数字值。
9. 如权利要求8所述的图像传感器的驱动方法,其特征在于,在所述入射光的光量多、所述光电二极管流过的电荷量多的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数增多,在所述入射光的光量少、所述光电二极管流过的电荷量少的情况下,所述计数器在一 定时间内计数的所述反转次数减少。
10. 如权利要求9所述的图像传感器的驱动方法,其特征在于,所述计数器每隔所述一定时间对所述反转次数计数,该一定时间后将所述反转次数和所述数字值复位。
11. 一种图像传感器的驱动方法,该图像传感器包括包含有在半导体基底上呈行列 状配置的、检测入射光的多个像素的摄像区域;与在行方向上排列的所述像素连接的多条 行选择线;以及与在列方向上排列的所述像素连接的多条信号线,所述像素或包含有多个所述像素的像素模块分别包括光电二极管;在第1结点与所 述光电二极管的一端连接的电容器;连接于所述第1结点和第1电源之间的复位晶体管; 输入所述第l结点的电位和基准电压,输出与所述复位晶体管的栅极连接的比较器;与所 述比较器的输出端连接,接收振幅定期反复变化的时钟的计数器;以及连接于所述计数器 的输出和所述垂直信号线之一两者间,栅极与所述行选择线之一连接的选择晶体管,该图像传感器的驱动方法包括与所述入射光相对应的电荷流过所述光电二极管,所述第1结点的电位达到所述第1电源的电位时,使所述比较器的输出信号反转, 所述计数器对所述比较器的输出信号的反转次数进行计数,并对该反转次数变为规定值前的所述时钟数进行测定,与所述比较器的输出信号的反转同时所述复位晶体管变为导通状态,通过将所述第1结点的电位复位为所述第1电源的电位,将所述比较器的输出信号复原,当所述比较器的输出信号复原时,所述计数器不让所述数字值增加,所述复位晶体管 变为非导通状态,所述计数器输出与所述反转次数达到规定值之前期间所接收到的时钟数相对应的数字值。
全文摘要
本发明提供一种能够抑制电源电压降低造成的S/N比变差的图像传感器。图像传感器的像素区域包括光电二极管;在第1结点与光电二极管的一端连接,对第1结点施加电位的电容器;连接于第1结点和第1电源之间,将第1结点的电位复位为第1电源的电位的复位晶体管;比较第1结点的电位和基准电压,将该比较结果输出给复位晶体管的栅极的比较器;与比较器的输出端连接,对第1结点的电位达到第1电源的电位时产生的比较器的输出信号的反转次数进行计数,输出与该反转次数相对应的数字值的计数器;以及连接于计数器的输出和垂直信号线其中之一两者间,栅极与行选择线其中之一连接的选择晶体管。
文档编号H04N5/357GK101547318SQ200910129769
公开日2009年9月30日 申请日期2009年3月26日 优先权日2008年3月26日
发明者舟木英之 申请人:株式会社东芝
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