扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺的制作方法

文档序号:2430903阅读:247来源:国知局
专利名称:扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺的制作方法
技术领域
本发明涉及陶瓷连接技术,具体为一种三元层状陶瓷铝碳化钛(T13A1C2)扩 散连接新工艺。
技术背景Ti3AlC2是一种新型的三元层状陶瓷材料。材料学报(ActaMaterialia50,3141 (2002))中研究表明它综合了陶瓷和金属的诸多优点,具有高模量、低硬度、高 的电导率和热导率以及易加工等特点,因而Ti3AlC2陶瓷慰艮有希離用在航空、 航天、核工业和电子信息等高技术领域的一种新型结构/功能一体化材料,尤其适 合作为高温结构材料和高温抗氧化涂层。虽然对rl3AlC2陶瓷的合成和性會腿行 广泛深Ai也研究,但是由于不能合成大尺寸的块4材才料或构件,使其在实际应用 受到限制。而焊,术會,将小的、形状简单的试样连接成大尺寸的、形状复杂 的构件,从而显著扩大陶瓷的应用范围。但是,目前为止,国内外还没有关于连 接rl3AlC2陶瓷的皿。只有一篇文章报道了另一种层状陶瓷Ti3SiC2的扩散连接。 在材料研究学报(Journal of Materials Research 17, 52 (2002))中研究了 Ti3SiC2陶 瓷与Ti6A14V的扩散连接。他们连St寻到的接头弯曲3贩为100MPa,是TbSiQ 陶瓷弯曲强度的四分之一。而且此种方法获得的接头只是用于常温结构。发明内容本发明目的在于提供一种扩散连接三元层状陶瓷Ti3AlC2工艺,在不降低三 元层状陶瓷Ti3AlC2高温抗氧化性情况下,又能获得性能优异的连接接头。本发明的技术方案是一种三元层状陶瓷Tl3AlC2扩散连接新工艺。首先,将焊,對牛进行表面处理, Ti3AlC2陶瓷经研磨、抛光、超声清洗后,在磁控溅射仪上直流溅射单质硅下层 Ti3AlC2陶瓷上。以Si为中间层,上下两层为Ti3AlC2陶瓷,组成Ti3AlC2/ Si ATi3AlC2 三明治结构,放在热压炉内、在氩气保护下进行扩散连接。连接工艺条件为焊接温度为1300-1400 °C、焊接压力为2-5MPa、焊接时间120-240 min。升温速率 10-15°C/min,力口载速率2 —5 MPa/min。最后随炉冷却至1100 - 1200 °C后卸载。 连接后界面相为Ti3Al(Si)C2固溶体,避免金属间化合物的生成,获得高强度的连雜头。本发明所用单质Si纯度》99 % (重量),厚度为4^0 ^m。所有连接过程均在氩气保护下进行的。本发明中提到的压力是指单向压力,加载方向垂直于连接表面。本发明的优点是1、 采用本发明获得的接头力学性能(包括高温性能)好,焊^B余应力小。连接后界面生成rl3Ai(soc2固溶体,避免金属间化合物的形成,减小焊麟余应力,避免金属间化合物自身脆性对接头性能的影响,从而获得具有优良性能的焊雜头,接头弯曲5驢可达到T13A1C2陶瓷强度的80%,而且此纟驢可保持到1000 °C,可以满足实际应用的需要,从而扩大了Ti3AlC2陶瓷的应用范围。2、 采用本发明获得的接头不降低Tl3AlC2的高温抗氧化性能,會,满足其作 为高温结构材料的要求。由于连接后在界面生成TVU(Si)Q固溶体,在氧{说程 中生成Al203,具有良好的抗氧化保护性能。


图1为Ti3AlC2/SiATi3AlC2i辦在1400°C、 120min、 5MPa连接后界面背散 射电子像照片。图2为连接后界面相(A)和母材Ti3AlC2 (B)的X射线衍射谱。 图3为连接接头和H3A1C2陶瓷的室温和高温抗弯强度的对比。具体实施方式

实施例1将Ti3AlC2陶瓷研磨、抛光、超声清洗后,禾佣JGP560C14磁控鹏爐流 W"单质硅于下层Tl3AlC2陶瓷上,其厚度约为4nm。以Si为中间层,上下两层 为ri3MC2陶瓷,组成T13A1C2/ Si /Tl3AlC2三明治结构,^A高温热压炉中在氩气 保护下进,瑰接。以10 °C/min的升温速率加热,同时以5 MPa/min的加载速率 加压至5MPa。在1400 。C恒压保温120 min,然后随炉冷却至1200 °C卸载。用 扫描电镜观察连接后界面微观形貌,发现单质Si完全消失了,界面连接良好, 没有气孔或残余焊接线存在。用X射线衍射分析接头界面相组成,界面形成 Ti3Al(Si)C2固溶体。接头室温三点弯曲强度为Ti3AlC2陶瓷三点弯曲强度的80%, 1000°C时接头三点弯曲强度略高于Ti3AlC2陶瓷三点弯曲强度。实施例2将TVUC2陶瓷研磨、抛光、超声清洗后,禾,JGP560C14磁控溅射^t流 溅射单质硅于下层Ti3AlC2陶瓷上,其厚度约为10拜,以Si为中间层,上下两层为ri3AlC2陶瓷,组成ri3AlC2/Si/Tl3AlC2三明治结构,駄高温热压炉中在氩气保护下进t,接。以15 °C/min的升温速率加热,同时以2 MPa/min的加载速 率加压至2MPa。在1400 。C恒压保温180 min,然后随炉冷却至1200 °C卸载。 用扫描电镜观察连接后界面t^见形貌,观察不到单质Si的存在,界面连接良好, 没有气孔或残余焊接线存在。用X射线衍射分析接头界面相组成,界面形成 Ti3Al(Si)C2固溶体。 实施例3将T13A1C2陶瓷研磨、抛光、超声清洗后,禾,JGP560C14磁控M爐流 M单质硅于下层Tl3AlC2陶瓷上,其厚度约为8,,以Si为中间层,上下两层为ri3Aic2陶瓷,乡賊ri3Aic2/ si m3Aic2三明治结构,m高温热压炉中在氩气保护下进fi^接。以10 °C/min的升,率加热,同时以2 MPa/min的加载速率 加压至5MPa。在1300 。C恒压保温240 min,然后随炉冷却至1100 °C卸载。用 扫描电镜观察连接后界面!^见形貌,观察不到单质Si的存在,界面连接良好,没 有气孔或残余焊接线存在。用X射线衍射分析接头界面相组成,界面形成Ti3単)C2固溶体。图1为T13A1C2/ Si Ari3AlQ试样在1400°C、 120 min、 5 MPa连接后界面背 散射电子像照片。由图可见单质Si消失了,界面成型良好,没有气孔和残余焊接 线的存在。图2为连接后界面相和rl3MC2的X射线衍射谱。可见连接后界面只生成rl3Ai(si)c2固溶体,没有发现任何其他反应相。图3是连雜头和h3aic2陶瓷的室温和高温抗弯强度的对比。可见利用本发明方法连接T13A1C2能够获得 性能优良的接头,而且接头强度能够保持到1000°c。由实施例1、实施例2和实施例3可见,利用扩散连接技术會,获得性能优 异、适用于高温结构的焊接结构。
权利要求
1、一种扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺,其特征在于包括下述工艺步骤(1)以Si为中间层,上下两层为Ti3AlC2陶瓷,在热压炉内、氩气保护下,在温度为1300-1400℃、压力为2-5MPa下恒压保温120-240min,连接Ti3AlC2陶瓷;(2)随炉冷却至1100-1200℃后卸载。
2、 按照权利要求1所述的扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺,其特征在于: 所述步骤(l)中,以10-15°C/min的升温速率加热至1300— 1400。C,保温120-240 min。
3、 按照权禾腰求1戶腿的扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺,其特征在于: 所述步骤(1)中,以2 - 5 MPa/min的加载速率加压至2-5 MPa。
4、 按照权禾腰求1戶腿的扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺,其特征在于: 以Si为中间层,其纯度>99%,厚度为4-10^m。
5、 按照权利要求1戶欣的扩散连接三元层状陶瓷铝碳化钛工艺,期寺征在于: 采用磁控溅射仪在Ti3AlC2陶瓷上直流溅射单质硅。
全文摘要
本发明涉及陶瓷连接技术,具体为一种三元层状陶瓷Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>扩散连接新工艺。该工艺的特点是界面生成耐高温的Ti<sub>3</sub>Al(Si)C<sub>2</sub>固溶体,无脆性相生成,解决了三元层状陶瓷Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>连接质量不高的技术问题。在待焊三元层状陶瓷Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>表面溅射单质Si,其厚度在4-10μm之间,组成Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>/Si/Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>三明治结构。将试件置于热压炉内,在氩气保护下扩散连接。工艺条件如下焊接温度为1300-1400℃、焊接压力为2-5MPa、焊接时间120-240min。利用本发明提供的方法得到的扩散焊接接头,界面没有新的反应相生成,避免新的脆性相对接头强度的影响,接头弯曲强度可达到Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>陶瓷强度的80%,而且此强度可保持到1000℃,可以满足实际应用的需要,从而扩大了Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub>陶瓷的应用范围。
文档编号B32B18/00GK101125759SQ20061004748
公开日2008年2月20日 申请日期2006年8月18日 优先权日2006年8月18日
发明者周延春, 尹孝辉, 李美栓 申请人:中国科学院金属研究所
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