显示装置及显示面板的检测方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示装置及显示面板的检测方法。

背景技术：

目前，随着电视机、手机以及各种显示设备的广泛普及，显示屏的需求量日益增加。显示屏量产的过程中，生产的良率至关重要，即使是目前十分成熟的液晶显示技术，生产线上仍然存在许多影响生产良率的不良因素，而其他仍处于成长阶段的新型显示技术，生产良率的不良因素则更多。

显示屏在生产过程中，为了达到效率最大化，中间会有许多检测环节，以及时去除不良品，防止占用后续的生产资源。其中，在显示屏成盒(Cell)后，会有假压测试(Cell Test)的检测站点，主要通过简单的画面来检测显示屏的显示品质。如图1所示，为了方便检测，显示屏形成薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列一侧的玻璃上会设计有一系列的测试点(Test Pad)100，在这些测试点100上输入对应的信号就可以产生简单的画面，以进行Cell Test。

如图1所示，现有技术中，Cell Test信号通过探针200接触测试点100一一接触输入到屏幕内部的。在生产工厂，Cell Test是通过机器自动实现的。当显示屏进入机台时，机台先通过标记(Mark)识别确定显示屏进行并确定其测试点100的位置。然后，将机器手臂上的探针200接触测试点100，并施加一定的压力使探针200与测试点100紧密接触，以便于信号的稳定传输，其中，探针200与底座300之间有弹簧，以防止压力过大扎破屏幕，最后通过机台自带的波形发生器向测试点100输送对应的信号，驱动显示屏进行测试画面的显示，完成Cell Test。

上述现有技术存在许多缺陷：首先，由于需要不停地检测屏幕，探针200需要频繁地重复下压和弹起的机械性操作，很容易造成探针200的老化，弹簧的失效。弹簧失效后，探针200不能弹性下压，很容易损伤屏幕，影响显示屏的生成良率。另外，这种方法在进行手机显示屏等小尺寸显示屏的Cell Test时，由于显示屏本身面积小，测试点100的面积和所用探针200直径都需要随之变小，由于探针200直径很小，不仅导致了探针200的电阻率以及制作工艺精度要求都很高，设备成本高昂，而且探针200检查与更换难度大，耗时长，机台效率低下。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种显示装置，能够减少探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。

本发明的目的还在于提供一种显示面板的检测方法，能够减少探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。

为实现上述目的，本发明提供了一种显示装置，包括：显示面板、设于显示面板上的多个测试信号产生电路；

每一个测试信号产生电路内均设有光电二极管，并接入公共电压、以及接地端；

通过提供不同的强度的光线照射所述光电二极管，改变光电二极管的导通性能，使测试信号产生电路向显示面板输入不同的测试信号，驱动所述显示面板显示测试画面。

所述测试信号产生电路还包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第一电容、第二电容、第三电容以及MOS管；

所述第一电阻一端接入公共电压，另一端与所述光电二极管的负极电性连接；所述第二电阻一端接入公共电压，另一端与所述MOS管的漏极电性连接；所述第三电阻一端与所述光电二极管的正极电性连接，另一端接入接地端；所述第四电阻一端与所述MOS管的栅极电性连接，另一端接入接地端；所述第五电阻一端与所述MOS管的源极电性连接，另一端接入接地端；所述第一电容一端与所述光电二极管的正极电性连接，另一端与所述MOS管的栅极电性连接；所述第二电容一端与所述MOS管的源极电性连接，另一端接入接地端；所述第三电容一端与所述光电二极管的负极电性连接，另一端接入接地端；

所述MOS管的漏极向显示面板输出测试信号。

所述测试信号产生电路接入的公共电压为公共正电压或公共负电压。

所述显示面板上还设有公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点；

所述显示装置通过电压提供设备为测试信号产生电路提供公共正电压、公共负电压、以及接地端；

所述电压提供设备上设有对应所述公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点的探针，通过使对应的探针与所述公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点分别接触，为测试信号产生电路提供公共正电压、公共负电压、以及接地端。

所述测试信号为恒压电位信号、扫描方向控制信号、或数据信号。

本发明还提供一种显示面板的检测方法，包括如下步骤：

步骤1、提供一显示面板、以及设于显示面板上的多个测试信号产生电路；每一个测试信号产生电路内均设有光电二极管；

步骤2、将公共电压、以及接地端接入测试信号产生电路；

步骤3、提供不同的强度的光线照射所述光电二极管，改变光电二极管的导通性能，使测试信号产生电路向显示面板输入不同的测试信号，驱动所述显示面板显示测试画面；

步骤4、根据所述显示面板显示的测试画面确定所述显示面板的显示品质。

所述测试信号产生电路还包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第一电容、第二电容、第三电容以及MOS管；

所述第一电阻一端接入公共电压，另一端与所述光电二极管的负极电性连接；所述第二电阻一端接入公共电压，另一端与所述MOS管的漏极电性连接；所述第三电阻一端与所述光电二极管的正极电性连接，另一端接入接地端；所述第四电阻一端与所述MOS管的栅极电性连接，另一端接入接地端；所述第五电阻一端与所述MOS管的源极电性连接，另一端接入接地端；所述第一电容一端与所述光电二极管的正极电性连接，另一端与所述MOS管的栅极电性连接；所述第二电容一端与所述MOS管的源极电性连接，另一端接入接地端；所述第三电容一端与所述光电二极管的负极电性连接，另一端接入接地端；

所述MOS管的漏极向显示面板输出测试信号。

所述步骤2中测试信号产生电路接入的公共电压为公共正电压或公共负电压。

所述显示面板上还设有公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点；

所述步骤2还包括：提供一电压提供设备，所述电压提供设备上设有对应所述公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点的探针，通过使对应的探针与所述公共正电压接入点、公共负电压接入点、以及接地点分别接触，为测试信号产生电路提供公共正电压、公共负电压、以及接地端。

所述测试信号为恒压电位信号、扫描方向控制信号、或数据信号。

本发明的有益效果：本发明提供一种显示装置，其将显示面板上的假压测试点替换为测试信号产生电路，并在测试信号产生电路中设置光电二极管，再通过光照设备向测试信号产生电路中的光电二极管提供不同的强度的光线，进而改变光电二极管的导通性能，使得测试信号产生电路向显示面板输入不同的测试信号，以驱动显示面板显示测试画面，该显示装置通过光信号来控制测试信号的输入，能够减少假压测试时需要的探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。本发明还提供一种显示面板的检测方法，能够减少探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为现有的显示装置的结构图；

图2为本发明的显示装置的结构图；

图3及图4为本发明的显示装置中测试信号产生电路的电路图；

图5为本发明的显示面板的检测方法的流程图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图2，并结合图3与图4，本发明提供一种显示装置，包括：显示面板1、设于显示面板1上的多个测试信号产生电路2。

如图3或图4所示，每一个测试信号产生电路2内均设有光电二极管D1，并接入公共电压、以及接地端GND。

具体地，所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共正电压V+或公共负电压V-。

测试时，通过提供不同的强度的光线照射所述光电二极管D1，改变光电二极管D1的导通性能，使测试信号产生电路2向显示面板1输入不同的测试信号，驱动所述显示面板1显示测试画面，最终根据各个测试画面确定显示面板1的显示品质。

需要说明的是，如图3或图4所示，在本发明的优选实施例中，所述测试信号产生电路2包括分压电路、以及与分压电路电性连接的放大电路两部分，其中，所述分压电路包括：第一电阻R1、光电二极管D1、第五电阻R5，放大电路包括：第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3以及金属氧化物半导体(Metal Oxide Semiconductor，MOS)管M1；

其中，所述第一电阻R1一端接入公共电压，另一端与所述光电二极管D1的负极电性连接；所述第二电阻R2一端接入公共电压，另一端与所述MOS管M1的漏极电性连接；所述第三电阻R3一端与所述光电二极管D1的正极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第四电阻R4一端与所述MOS管M1的栅极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第五电阻R5一端与所述MOS管M1的源极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第一电容C1一端与所述光电二极管D1的正极电性连接，另一端与所述MOS管M1的栅极电性连接；所述第二电容C2一端与所述MOS管M1的源极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第三电容C3一端与所述光电二极管D1的负极电性连接，另一端接入接地端GND；所述MOS管M1的漏极向显示面板1输出测试电压。

所述测试信号产生电路2的工作原理为：当一定强度的光照射到光电二极管D1时，光电二极管D1的导通性能发生变化，从而在MOS管M1的栅极产生一个控制电压，该控制电压控制MOS管M1导通，放大电路从MOS管M1的漏极向显示面板输出对应的测试信号。可以看出，我们只需控制照射光的强度，就可以产生需要的电压，当照射光的强度按一定规律改变，也就可以产生出我们需要的逻辑信号，即测试信号。

具体地，所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共正电压V+或公共负电压V-，其中，如图3所示，当所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共正电压V+时，该测试信号产生电路2中的MOS管M1为N型MOS管，如图4所示，当所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共负电压V-时，该测试信号产生电路2中的MOS管M1为P型MOS管。

进一步地，所述测试信号为恒压电位信号、扫描方向控制信号、或数据信号，在本发明的优选实施例中，当所述测试信号产生电路2为如图3所示的接入的公共正电压V+的电路时，其输出的测试信号为：恒压正电位信号VGH、反向扫描控制信号D2U、或偶数列数据信号Data-even，当所述测试信号产生电路2为如图4所示的接入的公共负电压V-的电路时，其输出的测试信号为：恒压负电位信号VGL、正向扫描控制信号U2D、或奇数列数据信号Data-odd，各个测试信号产生电路分别输出的恒压电位信号、扫描方向控制信号、以及数据信号共同作用，驱动显示面板1显示测试画面。

值得一提的，所述显示面板1上还设有公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33，所述显示装置通过电压提供设备为测试信号产生电路2提供公共正电压V+、公共负电压V-、以及接地端GND，具体为：所述电压提供设备上设有对应所述公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33的探针，通过使对应的探针与所述公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33分别接触，为测试信号产生电路2提供公共正电压V+、公共负电压V-、以及接地端GND。

具体地，所述电压提供设备和提供不同强度的光线的光源均集成在用于进行假压测试的测试机台上。

可以理解的是，测试信号产生电路2可以有多种方案，实际应用时会有不同的选择，本发明的测试信号产生电路2并不局限上述如图3或图4所示的电路，其还可以为其他包括光电二极管D1的电路，只要能够在不同照射强度的光信号控制下产生测试信号即可，本发明对此不做限制。

本发明的显示装置只需3根探针来输入两个公共电压和一个接地端，测试信号则通过一系列的光信号来控制，可以大大减少假压测试机台探针的数量，从而减少机台与显示面板的机械性接触，避免显示面板被探针损伤，提升测试良率，降低探针的制作成本，降低测试成本，减少探针的维护更换时间，提升机测试效率。

此外，本发明的显示装置可用于液晶显示面板、或有机发光二极管显示面板的假压测试。

请参阅图5，本发明还提供一种显示面板的检测方法，包括如下步骤：

步骤1、提供一显示面板1、设于显示面板1上的多个测试信号产生电路2；每一个测试信号产生电路2内均设有光电二极管D1。

步骤2、将公共电压、以及接地端GND接入测试信号产生电路2。

步骤3、提供不同的强度的光线照射所述光电二极管D1，改变光电二极管D1的导通性能，使测试信号产生电路2向显示面板1输入不同的测试信号，驱动所述显示面板1显示测试画面。

步骤4、根据所述显示面板1显示的测试画面确定所述显示面板1的显示品质。

需要说明的是，如图3或图4所示，在本发明的优选实施例中，所述测试信号产生电路2包括分压电路、以及与分压电路电性连接的放大电路两部分，其中，所述分压电路包括：第一电阻R1、光电二极管D1、第五电阻R5，放大电路包括：第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3以及MOS管M1；

其中，所述第一电阻R1一端接入公共电压，另一端与所述光电二极管D1的负极电性连接；所述第二电阻R2一端接入公共电压，另一端与所述MOS管M1的漏极电性连接；所述第三电阻R3一端与所述光电二极管D1的正极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第四电阻R4一端与所述MOS管M1的栅极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第五电阻R5一端与所述MOS管M1的源极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第一电容C1一端与所述光电二极管D1的正极电性连接，另一端与所述MOS管M1的栅极电性连接；所述第二电容C2一端与所述MOS管M1的源极电性连接，另一端接入接地端GND；所述第三电容C3一端与所述光电二极管D1的负极电性连接，另一端接入接地端GND；所述MOS管M1的漏极向显示面板1输出测试电压。

所述测试信号产生电路2的工作原理为：当一定强度的光照射到光电二极管D1时，光电二极管D1的导通性能发生变化，从而在MOS管M1的栅极产生一个控制电压，该控制电压控制MOS管M1导通，放大电路从MOS管M1的漏极向显示面板输出对应的测试信号。可以看出，我们只需控制照射光的强度，就可以产生需要的电压，当照射光的强度按一定规律改变，也就可以产生出我们需要的逻辑信号，即测试信号。

具体地，所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共正电压V+或公共负电压V-，其中，如图3所示，当所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共正电压V+时，该测试信号产生电路2中的MOS管M1为N型MOS管，如图4所示，当所述测试信号产生电路2接入的公共电压为公共负电压V-时，该测试信号产生电路2中的MOS管M1为P型MOS管。

进一步地，所述测试信号为恒压电位信号、扫描方向控制信号、或数据信号，在本发明的优选实施例中，当所述测试信号产生电路2为如图3所示的接入的公共正电压V+的电路时，其输出的测试信号为：恒压正电位信号VGH、反向扫描控制信号D2U、或偶数列数据信号Data-even，当所述测试信号产生电路2为如图4所示的接入的公共负电压V-的电路时，其输出的测试信号为：恒压负电位信号VGL、正向扫描控制信号U2D、或奇数列数据信号Data-odd，各个测试信号产生电路2分别输出的恒压电位信号、扫描方向控制信号、以及数据信号共同作用，驱动显示面板1显示测试画面。

值得一提的，所述显示面板1上还设有公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33；所述步骤2还包括：提供一电压提供设备，所述电压提供设备上设有对应所述公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33的探针，通过使对应的探针与所述公共正电压接入点31、公共负电压接入点32、以及接地点33分别接触，为测试信号产生电路2提供公共正电压V+、公共负电压V-、以及接地端GND。

具体地，所述电压提供设备和提供不同强度的光线的光源均集成在用于进行假压测试的测试机台上。

可以理解的是，测试信号产生电路2可以有多种方案，实际应用时会有不同的选择，本发明的测试信号产生电路2并不局限上述如图3或图4所示的电路，其还可以为其他包括光电二极管D1的电路，只要能够在不同照射强度的光信号控制下产生测试信号即可，本发明对此不做限制。

本发明的显示面板的检测方法只需3根探针来输入两个公共电压和一个接地端，测试信号则通过一系列的光信号来控制，可以大大减少假压测试机台探针的数量，从而减少机台与显示面板的机械性接触，避免显示面板被探针损伤，提升测试良率，降低探针的制作成本，降低测试成本，减少探针的维护更换时间，提升机测试效率。

进一步地，本发明的显示面板的检测方法可用于液晶显示面板、或有机发光二极管显示面板的假压测试。

综上所述，本发明提供一种显示装置，其将显示面板上的假压测试点替换为测试信号产生电路，并在测试信号产生电路中设置光电二极管，再通过光照设备向测试信号产生电路中的光电二极管提供不同的强度的光线，进而改变光电二极管的导通性能，使得测试信号产生电路向显示面板输入不同的测试信号，以驱动显示面板显示测试画面，该显示装置通过光信号来控制测试信号的输入，能够减少假压测试时需要的探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。本发明还提供一种显示面板的检测方法，能够减少探针数量，提升假压测试的效率和假压测试的良率，降低假压测试成本。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。