小孔径比。
【附图说明】
[0041]图1是图示了用于常规显示器的驱动电路的配置的电路图；
[0042]图2是示意性图示了根据本发明的实施例1的显示器的配置的电路图；
[0043]图3是图示了根据本发明的实施例1的具体像素电路和亮度偏差补偿装置的主要配置的电路图；
[0044]图4是根据本发明的实施例1的亮度偏差补偿方法的顺序的流程图；
[0045]图5是示意性图示了根据本发明的实施例2的显示器的配置的电路图；
[0046]图6是图示了根据本发明的实施例2的具体像素电路和亮度偏差补偿装置的主要配置的电路图；
[0047]图7是根据本发明的实施例2的亮度偏差补偿方法的顺序的流程图；
[0048]图8是图示了用于测量在根据本发明的实施例2的显示器性能降低之前的每个像素电路的驱动晶体管的栅极-源极电压和有机电致发光器件的驱动电压的方法的顺序的流程图；
[0049]图9是图示了用于测量在根据本发明的实施例2的显示器性能降低之后的每个像素电路的驱动晶体管的栅极-源极电压和有机电致发光器件的驱动电压的方法的顺序的流程图。
【具体实施方式】
[0050]以下将参照附图详细描述本发明的优选实施例。
[0051]1.实施例1
[0052]图2是示意性图示了根据本发明的实施例1的显示器的配置的电路图。
[0053]如图2所示，根据实施例1的显示器包括显示单元100、控制器120、栅极驱动器130、数据驱动器150、阳极驱动器170、选择开关115、电流吸收器160、模数转换器142和数模转换器 145。
[0054]显示单元100包括多个栅极线Lgl至Lgn(n为大于等于2的整数)、彼此分别平行设置的多个数据线Ldl至Ldm(m为大于等于2的整数)以及多个阳极线Lal至Lan。多个栅极线Lgl至Lgn和多个阳极线Lal至Lan彼此分别平行设置。另外，多个数据线Ldl至Ldm与多个栅极线Lgl至Lgn和多个阳极线Lal至Lan交叉。
[0055]每个像素电路Px(i，j) (i = I至η，j = I Sm，其中m和η分别是自然数)设置在多个栅极线Lgl至Lgn和多个数据线Ldl至Ldm彼此交叉的每个交叉点。多个像素电路P(i，j)布置成η行Xm列的矩阵形状(m和η分别是自然数)以形成显示单元100。
[0056]以下将描述每个像素电路P(i，j)的详细配置。
[0057]显示单元100的多个像素电路P(i，j)分别通过栅极线Lgl至Lgn连接至栅极驱动器130，通过数据线Ldl至Ldm连接至数据驱动器150，通过阳极线Lal至Lan连接至阳极驱动器170。
[0058]控制器120根据输入图像信号Data产生用于驱动显示单元100的栅极信号和数据信号，并且产生的栅极信号和数据信号分别供应到栅极驱动器130和数据驱动器150。
[0059]栅极驱动器130与栅极线Lgl至Lgn连接，并且根据栅极信号将栅极脉冲以预定顺序供应到每个栅极线Lgl至Lgn。
[0060]数据驱动器150与数据线Ldl至Ldm连接，并且通过数据线Ldl至Ldm将数据信号供应到待驱动的像素以在位于供应有栅极信号的栅极线Lgl至Lgn上的像素电路P(i，j)中发光。
[0061]阳极驱动器170通过阳极线Lal至Lan输出电压VHlgh或Vl?的电压信号到像素电路P(i，j)。电压Vl?是用于使每个像素电路P(i，j)中的有机电致发光器件114在写入处理时处于非发光状态的电压。另外，电压VHlgh是用于使每个像素电路P(i，j)中的有机电致发光器件114处于发光状态的电压。
[0062]然而，如果需要，可以不单独安装阳极驱动器13，并且可以使用同时在多个像素电路P(i，j)的阳极线Lal至Lan上施加阳极电压的所谓的公共阳极代替它。
[0063]选择开关115使以下将描述的像素电路P(i，j)的有机电致发光器件114的阴极侧选择性地连接到电流吸收器160或第二电压源Vss，并且当测量以下描述的本发明的亮度偏差时，每个有机电致发光器件114的阴极与电流吸收器160侧连接上，而当作为典型的显示器操作时，每个有机电致发光器件114的阴极与第二电压源Vss连接上，并且可以在控制器120的控制下执行其操作。
[0064]电流吸收器160的一个端子与选择开关115连接，并且另一个端子通过模数转换器142与控制器120连接。当预定的数据值施加在通过选择开关115连接至像素电路P( i，j)的有机电致发光器件114的阴极的数据线Ldj上时，具有预定值的电流流动。以下将描述电流测量电路140。
[0065]接下来，将详细描述像素电路P(i，j)和亮度偏差补偿设备的配置。图3是图示了根据本发明的实施例1的像素电路和亮度偏差补偿装置的主要配置的电路图。
[0066]如图3所示，根据实施例1的像素电路P(i，j)包括有机电致发光器件114、驱动晶体管112、开关晶体管111和电容器113。
[0067]晶体管111和112的每个包括第一电极、第二电极和栅极电极。
[0068]在每个像素电路P(i，j)中的驱动晶体管112的第一电极与第一电压源VDD和电容器113的另一个端子连接上。在此，第一电压源VDD可以是通过具有单独的阳极驱动器170的显示器中的阳极驱动器170供应的电压源，并且当用作同时供应阳极电压到多个像素电路P(i，j)的阳极线Lal至Lan的所谓的公共阳极时，第一电压源VDD可以是用于公共阳极的电压源。
[0069]另外，驱动晶体管112的第二电极与有机电致发光器件114的阳极连接，并且有机电致发光器件114的阴极通过选择开关115选择性地与第二电压源Vss或电流吸收器160连接。另外，驱动晶体管112的栅极电极与开关晶体管111连接，并且将通过数据线Ldj供应的数据选择性地供应到驱动晶体管112。
[0070]开关晶体管111的栅极电极通过栅极线Lgi与栅极驱动器130连接，并且通过从栅极驱动器130供应的扫描信号(行选择信号)开启第一电极，从而将输入到每个数据线Ldj的图像信号Data输出到驱动晶体管112的栅极电极和电容器113的一个端子。
[0071]选择开关115选择性地将有机电致发光器件114的阴极连接到第二电压源Vss或电流吸收器160，并且当作为典型的显示器操作时，有机电致发光器件114的阴极和第二电压源Vss处于彼此连接的状态，而当测量本发明的亮度偏差时，有机电致发光器件114的阴极和电流吸收器160处于彼此连接的状态。
[0072]如图2所示，在根据实施例1的显示器中，采用所谓的公共阴极，其中η行Xm列的多个像素电路P(i，j)的阴极彼此连接上。公共阴极通过一个选择开关115与一个第二电压源Vss连接上。
[0073]电流测量电路140包括用于将电流测量值转换成数字信号的模数转换器142、控制器120和处理器141，其中来自模数转换器142的数字信号被传输到处理器141。
[0074]此外，电流测量电路140进一步包括存储器144，用于存储电流测量值，如果需要，还可以包括低通滤波器143。
[0075]电流测量电路140通过电流吸收器160和选择开关115选择性地连接至显示单元100的多个像素电路P (i，j)的公共阴极，并且顺序地读出流过多个像素电路P (i，j)的每个的电流。
[0076]另外，处理器141通过数模转换器145与数据线Ldj连接，并且当测量本发明的亮度偏差时，通过数据线Ldj供应预定的数据值。
[0077]此外，处理器141通过输入端子接收图像信号Data以实现以下描述的亮度补偿的补偿。因此，当作为典型的显示器操作时，补偿数据通过数据线Ldj供应到像素电路P(i，j)。
[0078]在图2图示的显示器中，控制器120还执行电流测量电路140的处理器141的功能，但是不限于此，并且所包括的控制器120可以作为单独的部件。
[0079]接下来，在描述实施例1的操作之前，将描述根据实施例1的亮度偏差补偿的概念。
[0080]如上所述，可能存在的由于每个像素电路中包括的驱动晶体管性能降低引起的阈值电压的升高以及由于有机电致发光器件的内阻变化引起的电压变化，是由于有机发光显示器的使用引起的亮度降低的原因。
[0081]本发明的基本概念是有机发光器件的亮度与流过有机发光显示器的每个像素电路的电流量有关，并且由于有机电致发光器件的内阻变化引起的电压的变化被一次全部补偿，使得流过有机发光显示器的每个像素电路的电流量被控制为适用于保持合适的亮度的值，从而能够补偿由于有机发光显示器的长期使用引起的亮度降低。
[0082]另外，在有机发光显示器中，根据多个像素电路的每个的发光频率的差异、有机发光层的材料等，每个像素电路的亮度的降低量可能互不相同。因此，需要针对多个像素电路的每个单独执行通过控制电流量来补偿亮度偏差。
[0083]另外，为了控制流过有机发光显示器的每个像素电路的电流量，在显示器由于显示器的使用而引起性能降低之前，例如，在有机发光显示器用作显示器之前，测量流过每个像素电路的电流值，并且测量的电流值被设置成参考电流值。然后，在显示器由于使用该显示器预定时间而发生性能降低之后测量流过每个像素电路的电流值，并且基于参考电流值补偿性能降低之后的测量值。
[0084]接下来将描述本发明的操作。图4是根据本发明的实施例1的亮度偏差补偿方法的顺序的流程图。
[0085]首先，在选择开关115切换到电流吸收器160侧(步骤Sll)之后，将预定的测试电压Vdata施加在数据线Ldj(步骤S12)上，并且激活选择的栅极线Lgi(步骤S13)。
[0086]在此，可以互相颠倒步骤S12和S13的顺序。也就是说，在激活选择的栅极线Lgi之后，可以在数据线Ldj上施加预定的测试电压Vdata。事实上，两个步骤可以在彼此同步时执行。
[0087]由此，像素电路P(i，j)的开关晶体管111开启，从而施加在栅极线Lgi上的测试电压Vdata输出到驱动晶体管112的栅极电极和电容器113的一个端子上。
[0088]接下来，当从第一电压源VDD施加阳极电压时(步骤S14)，电流通过驱动晶体管112和有机电致发光器件114从第一电压源VDD流到电流吸收器160，并且由电流测量电路140测量该电流，即流过像素电路P ( i，j )的电流，并且测量的电流值存储在存储器144中(步骤S15)。
[0089]例如，当显示单元100具有η行Xm列的多个像素电路时，针对多个像素电路分别执行流过像素电路的电流的测量。因此，在步骤S16中，确定是否剩余待测量的像素电路。
[0090]在步骤S16中，如果确定剩余待测量流过像素电路的电流值的像素电路(步骤S16中的是)，那么流程返回到步骤S12，并且因此重复步骤S12至S16，而在步骤S16中，如果确定不再剩余待测量流过像素电路的电流值的像素电路(步骤S16中的否)，那么流程前进到步骤 SI 7。
[0091]作为用于测量流过η行Xm列的多个像素电路的每个的电流值的方法，可以存在通过行单元顺序测量η