专利名称：面板测试治具的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种面板测试治具，特别是关于一种可适应于不同尺寸的面板进行 点亮测试的面板测试治具。
背景技术：
近年来，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显 示器(Liquid Crystal Display，LCD)已逐渐成为市场的主流。现有习知的液晶显示面板在用ACF胶热压合面板的FPC之后会进行液晶显示面板 的点亮测试作业，以检测液晶显示面板的电路及显示状况。请参照图1、图2和图3，图1是 现有的面板测试治具的立体图，图2是现有的面板测试治具的探针座的示意图，图3是现有 的面板测试治具的探针连接测试电路板与待测面板的电路板的示意图。现有的面板测试治 具100包含底座110、上盖160、测试电路板180、探针座150以及探针152。该底座110具 有面板放置槽130和面板的电路板放置槽140，上盖160盖合后可夹持面板170的电路板 171，并使面板的电路板171、探针152以及测试电路板180点连接，用于面板170的点亮测 试，如图3所示。如图1所示，现有的面板测试治具对于不同尺寸或规格的产品不能共用， 更换产品后治具无法使用从而造成大量的浪费。另外，目前的探针152为内部具有弹簧153 并可两端伸缩的结构，这种探针的价格较高，大量地使用探针152使得面板测试治具的成 本较高。因此，设计出一种低成本并可适用不同尺寸的产品的测试治具是非常有意义的。
发明内容
鉴于于此，本发明提供一种面板测试治具，所述面板测试治具包含基座、测试电路 板、夹持组件、第一卡槽、探针组件以及第二卡槽。该基座具有放置槽，该测试电路板设置于 该放置槽中，用以提供面板的测试信号。该夹持组件包括上盖板和下盖板，该上盖板具有一 抵压元件，该上盖板枢接于下盖板的一侧边，该下盖板可拆卸地设置于该测试电路板上。该 第一卡槽具有第一凹槽，用于容置该面板的电路板，该第一卡槽可拆卸地设置于该测试电 路板上。该探针组件包括探针座和探针，该探针组件设置于该测试电路板上并位于该下盖 板和该第一卡槽之间。该第二卡槽具有第二凹槽，用于容置该面板，该第二卡槽可拆卸地设 置于该放置槽中。所述夹持组件进一步包含卡勾和卡扣部，该卡勾和该卡扣部配合用以扣合该上盖 板和该下盖板。所述探针为几字形或E字形。所述探针为金属薄片。所述第一卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的该面板的电路板。所述第二卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的该面板。所述探针组件具有预留的探针，用以配合不同尺寸的该面板的电路板。所述第二卡槽具有让位槽。
所述测试电路板和第一卡槽的厚度之和等于该放置槽的深度。所述第二卡槽的厚度等于该放置槽的深度。本发明的面板测试治具成本低廉并可适应于不同尺寸的面板进行点亮测试。关于 本发明的优点与精神可以由以下的
及具体实施方式
详述得到进一步的了解。
图1是现有的面板测试治具立体图。图2是现有的面板测试治具的探针座的示意3是图1中探针连接测试电路板和面板的电路板的示意图。图4是本发明面板测试治具的立体图。图5a和图5b是本发明面板测试治具的探针示意图。图6是图4中第一卡槽的立体图。图7是图4中第二卡槽的立体图。图8是待测面板的示意图。
具体实施例方式请参照图4，图4是本发明面板测试治具的立体图。如图4所示，面板测试治具200 包含基座210、测试电路板220、夹持组件230、第一卡槽240、探针组件250以及第二卡槽 260。基座210具有放置槽211，测试电路板220设置于该放置槽211中，用以提供面板270 的测试电信号。夹持组件230包括上盖板232和下盖板231，上盖板232上具有一抵压元件 233，上盖板232枢接于下盖板231的一侧边，下盖板231可拆卸地设置于测试电路板220 上。第一卡槽240具有第一凹槽241，用于容置面板270的电路板272，第一卡槽240可拆 卸地设置于测试电路板220上。探针组件250包括探针座251和探针252，探针组件250设 置于测试电路板220上并位于下盖板231和第一卡槽240之间。第二卡槽260具有第二凹 槽261，用于容置面板270，第二卡槽260可拆卸地设置于放置槽211中。进行面板270点 亮测试时，先将面板270放置于第二卡槽260的第二凹槽261中，将面板的电路板272放置 于第一卡槽240具有第一凹槽241内，面板的电路板272的前端覆盖探针组件250，再盖合 上盖板232和下盖板231，抵压元件233抵压面板的电路板272使面板的电路板272、探针 252以及测试电路板220电性连接，进行点亮测试。如图4所示，上盖板232和下盖板231 的盖合可以通过卡勾234和卡扣部235的配合来实现。本发明的第一卡槽240、第二卡槽 260可通过螺丝固定，但不以此为限。请参照图4、图5a和图5b，图5a和图5b是本发明面板测试治具的探针示意图。 由于现有两端伸缩式的探针的成本较高，为减少成本并实现原有探针可伸缩具有缓冲的特 点，本发明设计的探针252采用冲压制程形成的具备韧性的金属薄片来代替，其形状可为 如图5a和图5b所示的几字形或E字形。本发明几字形或E字形探针252在测试治具200 下压测试时受压发生弹性形变，当测试完成后打开上盖板232，探针252恢复几字形或E字 形，E字形相较于几字形在探针两弯折段的中间增加一突出的横条，这样探针两弯折段到中 间横条的距离是原来两弯折段之间距离的一半，可增强探针252的恢复力并延长其使用寿 命。采用新设计的探针252的测试治具200的成本大幅降低。另外，本发明的探针座251内设置多根探针252，其中一部分探针252为备用探针，例如有的产品测试时需要5根探针， 而有的产品测试时可能需要8根探针，为了不同的产品可共用，本发明面板测试治具的探 针组件250预留部分备用探针252，通过改变上盖板232上的抵压元件的宽度，可对应于不 同数目的探针252，实现不同产品的共用。请同时参照图4、图6、图7和图8。图6是图4中第一卡槽的立体图，图 7是图4 中第二卡槽的立体图，图8是待测面板的示意图。众所周知，不同产品的面板270尺寸和形 状规格各不相同，不同的面板270其上的电路板272形状、宽度等也不相同，即使是相同的 面板270其上的电路板272也可能会有不同尺寸和规格。为了适应不同的产品需要，本发 明面板测试治具的第一卡槽240可以设计为不同的尺寸和规格，第二卡槽260也可以设计 为不同的尺寸和规格，使第一卡槽240和第二卡槽260可以满足容置不同尺寸的面板270 和其上的电路板272。例如，当待测面板270的电路板272宽度变宽时，可拆下原来的第一 卡槽240换上一个新的第一卡槽240，其具有更大宽度的第一凹槽241以适应新的电路板 272。相同的，当待测面板270的尺寸有变化，可拆下原第二卡槽260，换上一个与新面板270 相适合的第二卡槽260，本发明通过可更换不同尺寸(或形状)的第一卡槽或第二卡槽来 满足不同产品的需要，实现面板测试治具共用。同时，本发明面板测试治具200的第二卡槽 260还可包含让位槽262，便于操作人员取出或放置面板270。另外，测试电路板220和第 一卡槽240的厚度之和等于该放置槽211的深度，由于第二卡槽260直接放置于放置槽211 内，因此第二卡槽260的厚度可等于该放置槽的深度。本发明的面板测试治具成本低廉并可适应于不同尺寸的面板进行点亮测试。根据 以上具体实施方式
的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭 露的具体实施方式
来对本发明加以限制。
权利要求
一种面板测试治具，其特征在于，包含基座，具有放置槽；测试电路板，设置于该放置槽中，用以提供面板的测试信号；夹持组件，包括上盖板和下盖板，该上盖板具有一抵压元件，该上盖板枢接于下盖板的一侧边，该下盖板可拆卸地设置于该测试电路板上；第一卡槽，具有第一凹槽，用于容置该面板的电路板，该第一卡槽可拆卸地设置于该测试电路板上；探针组件，包括探针座和探针，该探针组件设置于该测试电路板上并位于该下盖板和该第一卡槽之间；以及第二卡槽，具有第二凹槽，用于容置该面板，该第二卡槽可拆卸地设置于该放置槽中。
2.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述夹持组件进一步包含卡勾和 卡扣部，该卡勾和该卡扣部配合用以扣合该上盖板和该下盖板。
3.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述探针为几字形或E字形。
4.如权利要求3所述的面板测试治具，其特征在于所述探针为金属薄片。
5.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述第一卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的该面板的电路板。
6.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述第二卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的该面板。
7.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述探针组件具有预留的探针，用 以配合不同尺寸的该面板的电路板。
8.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述第二卡槽具有让位槽。
9.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述测试电路板和第一卡槽的厚 度之和等于该放置槽的深度。
10.如权利要求1所述的面板测试治具，其特征在于所述第二卡槽的厚度等于该放置 槽的深度。
全文摘要
本发明是关于一种面板测试治具，包含基座、测试电路板、夹持组件、第一卡槽、探针组件以及第二卡槽。基座具有放置槽，测试电路板设置于放置槽中。夹持组件包括上盖板和下盖板，上盖板具有一抵压元件，上盖板枢接于下盖板的一侧边，下盖板可拆卸地设置于测试电路板上。第一卡槽用于容置面板的电路板，可拆卸地设置于测试电路板上。探针组件设置于测试电路板上并位于下盖板和第一卡槽之间。第二卡槽用于容置面板，可拆卸地设置于放置槽中。本发明通过可更换不同尺寸(或形状)的第一卡槽或第二卡槽来满足不同面板产品的需要，实现面板测试治具共用。
文档编号G02F1/13GK101840082SQ20101015819
公开日2010年9月22日 申请日期2010年3月24日 优先权日2010年3月24日
发明者刘玉涛, 许翔, 黄木通 申请人:友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司