1.一种电润湿显示单元坏点的检测方法，所述电润湿单元包括上极板透明导电电极、水、油墨、疏水层和下基板透明导电电极，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：
将一个或多个电容测量芯片的测量引脚的一端接至电润湿结构的上极板透明导电电极，另一端接至下基板透明导电电极，测量电润湿显示单元中一个或多个像素点的电容值；
利用多个像素点的电容值计算所述电润湿显示单元的开口率；
如果计算的开口率超过给定的第一阈值，则判断所述一个或多个像素点中存在坏点。
2.根据权利要求1所述的电润湿显示单元坏点的检测方法，其特征在于，通过以下公式计算所述开口率：
（C1-C2）/（C3-C2）×100%，
其中C1、C2、C3分别为所测像素点的电容值、正常像素点的电容值以及油墨完全没有覆盖时测得的像素点的电容值。
3.根据权利要求1所述的电润湿显示单元坏点的检测方法，其特征在于，当所测像素点的电容值为零，则判定相应像素点处的透明导电电极断开。
4.根据权利要求1所述的电润湿显示单元坏点的检测方法，其特征在于，通过时钟触发模式触发电容测量。
5.一种电润湿显示单元坏点的检测系统，所述电润湿单元包括上极板透明导电电极、水、油墨、疏水层和下基板透明导电电极，其特征在于，所述检测系统包括主控芯片、PC端和一个或多个电容测量芯片，其中，
所述电容测量芯片的测量引脚的一端接至电润湿结构的上极板透明导电电极，另一端接至下基板透明导电电极；
所述电容测量芯片与主控芯片连接；
所述主控芯片与计算机设备端连接。
6.根据权利要求5所述的电润湿显示单元坏点的检测系统，其特征在于：所述主控芯片包括FPGA。
7.根据权利要求5所述的电润湿显示单元坏点的检测系统，其特征在于：所述电容测量芯片的数量为待测像素点数的1/3。