技术总结
本发明公开了一种电润湿显示单元坏点的检测方法，包括将一个或多个电容测量芯片的测量引脚的一端接至电润湿结构的上极板透明导电电极，另一端接至下基板透明导电电极，测量电润湿显示单元中一个或多个像素点的电容值；利用多个像素点的电容值计算所述电润湿显示单元的开口率；若开口率超过给定的第一阈值，则判断像素点中存在坏点。一种电润湿显示单元坏点的检测系统，电容测量芯片的测量引脚的一端接至电润湿结构的上极板透明导电电极，另一端接至下基板透明导电电极；所述电容测量芯片与主控芯片连接；主控芯片与计算机设备端连接。在数据支持下可以更准确地了解到像素点的情况，而不单单通过肉眼观察，十分方便直观，广泛应用于显示领域。
技术研发人员：周国富;罗健坤;罗智杰;李娜;曹阳
受保护的技术使用者：深圳市国华光电科技有限公司;华南师范大学;深圳市国华光电研究院
文档号码：201610807630
技术研发日：2016.09.06
技术公布日：2017.01.04