一种阵列基板、其检测方法及显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板、其检测方法及显示装置。

背景技术：

随着显示技术的飞速发展，高开口率高级超维场转换(High Aperture Advanced Super Dimensional Switching，简称HADS)型液晶显示技术因具有高开口率、宽视角、高画质与较快的响应速度等特性，受到了广泛的关注。HADS显示面板在显示时通常采用栅极驱动电路向显示面板中的栅线输入驱动信号，以使与栅线电连接的薄膜晶体管开启，完成数据信号输入，实现显示功能。现有的栅极驱动电路一般集成在显示面板的阵列基板上，并且栅极驱动电路通常由多个级联的移位寄存器构成，其中各级移位寄存器的驱动信号输出端分别通过走线与对应的栅线电性连接，实现依次向显示面板上的各行栅线输入驱动信号。并且各级移位寄存器的驱动信号输出端还分别对应连接下一级移位寄存器的输入信号端，以向下一级移位寄存器提供输入信号。

一般当栅极驱动电路的某级移位寄存器输出的驱动信号异常时，会造成连续多级移位寄存器输出异常。为了解决移位寄存器输出的驱动信号异常的问题，通常需要对移位寄存器输出的驱动信号进行测试。然而在HADS显示面板中，由于HADS显示面板的工艺结构的问题，没有预留驱动信号测试端子，因此，一般常采用翘脚测试，即将待测试的移位寄存器对应的栅线与其它膜层分开，使栅线裸露出来，然后对裸露的栅线进行测试。但是，在对栅线进行翘脚测试的过程中非常容易使栅线受损，例如被割伤，导致与栅线连接的薄膜晶体管不能正常接收驱动信号，从而导致屏幕不能正常点亮，以及无法正常测试驱动信号。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种阵列基板、其检测方法及显示装置，用于解决现有的通过对栅线进行翘脚测试，导致的屏幕不能正常点亮，以及无法正常测试驱动信号的问题。

因此，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括：具有显示区域和非显示区域的衬底基板；所述非显示区域包括：由多个级联的移位寄存器组成的栅极驱动电路，以及与各级所述移位寄存器的驱动信号输出端一一对应连接的驱动信号走线；所述显示区域包括与各级所述移位寄存器一一对应的栅线；其中，各所述驱动信号走线与对应的栅线电性连接；所述非显示区域还包括：至少一条测试线以及与所述测试线一一对应的连接端子；

所述测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置且相互绝缘，并且所述测试线的一端与对应的连接端子电性连接；其中，所述连接端子用于与外部的检测电路板上的检测端子对应电性连接。

较佳地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，还包括：与所述测试线的另一端电性连接的修复电路。

较佳地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述测试线的延伸方向与所述驱动信号走线的延伸方向垂直。

较佳地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，还包括：位于所述衬底基板具有所述驱动信号走线的一侧且与各所述驱动信号走线相互绝缘的源漏电极层；

所述测试线与所述源漏电极层同层同材质。

较佳地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述栅极驱动电路包括：分别位于所述栅线两端的第一栅极驱动子电路和第二栅极驱动子电路；

所述测试线包括：第一子测试线和第二子测试线；其中，在垂直于所述衬底基板的方向上，所述第一子测试线位于所述第一栅极驱动子电路与所述栅线之间，所述第二子测试线位于所述第二栅极驱动子电路与所述栅线之间。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述任一种阵列基板。

较佳地，在本发明实施例提供的上述显示装置中，还包括：至少具有与所述连接端子一一对应的检测端子的检测电路板。

较佳地，在本发明实施例提供的上述显示装置中，所述检测电路板为柔性电路板或印刷电路板。

相应地，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种阵列基板的检测方法，包括：

将需要检测的驱动信号走线与所述测试线短路；

将检测探针与所述测试线对应连接的外部的检测端子导通，检测所述测试线上的驱动信号。

较佳地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在检测与所述测试线的一端电性连接的外部检测端子之后，还包括：

将短路后的驱动信号走线与对应的移位寄存器的驱动信号输出端断路；

通过所述测试线向断路后的驱动信号走线输入对应的驱动信号。

本发明实施例提供的阵列基板、其检测方法及显示装置，由于栅极驱动电路中移位寄存器输出的驱动信号通过对应连接的驱动信号走线提供给对应的栅线，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。

附图说明

图1为本发明实施例提供的阵列基板的俯视示意图之一；

图2为本发明实施例提供的阵列基板的俯视示意图之二；

图3为本发明实施例提供的阵列基板的俯视示意图之三；

图4为图1所示的阵列基板沿A-A’方向的剖视示意图；

图5为本发明实施例提供的检测方法的流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板、其检测方法及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。需要说明的是，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

附图中各层薄膜厚度、大小和形状以及线条的粗细均不反映阵列基板中各元件的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例提供了一种阵列基板，如图1至图3所示，包括：具有显示区域AA和非显示区域BB的衬底基板100；非显示区域BB包括：由多个级联的移位寄存器(图1至图3中均未示出)组成的栅极驱动电路110，以及与各级移位寄存器的驱动信号输出端Output_n(n＝1、2、3…N)一一对应连接的驱动信号走线120；显示区域AA包括与各级移位寄存器一一对应的栅线130；其中，各驱动信号走线120与对应的栅线130电性连接；非显示区域还包括：至少一条测试线140以及与测试线140一一对应的连接端子150；

测试线140与至少一条驱动信号走线120交叠设置且相互绝缘，并且测试线140的一端与对应的连接端子150电性连接；其中，连接端子150用于与外部的检测电路板(图1至图3中均未示出)上的检测端子对应电性连接。

本发明实施例提供的上述阵列基板，由于栅极驱动电路中移位寄存器输出的驱动信号通过对应连接的驱动信号走线提供给对应的栅线，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。

需要说明的是，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，当非显示区域包括一条测试线时，可以针对阵列基板上的一条驱动信号走线上的驱动信号进行测试；当非显示区域包括多条测试线时，可以分别针对阵列基板上的多条不同的驱动信号走线上的驱动信号进行测试。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1和图2所示，栅极驱动电路110位于栅线130的同一端。

一般对于大型显示器，由于显示屏尺寸大、布线长度长等问题可能导致驱动信号出现延迟的现象，因此通常采用双边设置栅极驱动电路的结构，即在阵列基板的栅线两端均设置栅极驱动电路。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图3所示，栅极驱动电路110包括：分别位于栅线130两端的第一栅极驱动子电路111和第二栅极驱动子电路112；

测试线140包括：第一子测试线141和第二子测试线142；其中，在垂直于衬底基板100的方向上，第一子测试线141位于第一栅极驱动子电路111与栅线130之间，第二子测试线142位于第二栅极驱动子电路112与栅线130之间。

一般地，当检测得到的驱动信号走线上的驱动信号不满足该行栅线对应的驱动信号时，可以通过对该驱动信号走线输入对应的驱动信号以对该行栅线输入正确的驱动信号，从而可以使阵列基板上的像素正常显示。因此在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1至图3所示，还包括：与测试线140的另一端电性连接的修复电路160。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，修复电路用于在检测到驱动信号线上的驱动信号与该行栅线对应的驱动信号不同时，在将需要检测的驱动信号走线与对应的移位寄存器的驱动信号输出端断路后，通过测试线向该驱动信号走线提供对应的驱动信号。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，测试线的延伸方向与驱动信号走线的延伸方向之间的夹角可以为除0°之外的任意角度，在此不作限定。

较佳地，为了降低由于测试线较长导致的驱动信号的传输延时，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1至图3所示，测试线140的延伸方向与驱动信号走线120的延伸方向垂直。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图4所示，还包括：位于衬底基板100具有驱动信号走线120的一侧且与各驱动信号走线120相互绝缘的源漏电极层；

测试线140与源漏电极层同层同材质。这样可以不用增加额外制作测试线的工艺，只需要在制作阵列基板时在形成源漏电极层时改变原有的构图图形，即可通过一次构图工艺形成源漏电极层和测试线的图形，可以简化制备工艺，节省生产成本。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，测试线的材料可以为金属材料。当然，测试线还可以为其它导电材料，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图4所示，还包括：位于测试线140所在层与各驱动信号走线120所在层之间的第一绝缘层170。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图4所示，还包括：位于测试线140背离衬底基板100一侧的第二绝缘层180。

为了避免水分对测试线的影响，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，第二绝缘层的材料可以为具有防水功能的材料，例如为PVX材料，当然也可以为其它具有防水功能的材料，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，各栅线与各驱动信号走线同层同材质。这样可以通过一次构图工艺形成各栅线和各驱动信号走线的图形，可以简化制备工艺，节省生产成本。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述任一种阵列基板的检测方法，如图5所示，包括：

S501、将需要检测的驱动信号走线与测试线短路；

S502、将检测探针与测试线对应连接的外部的检测端子导通，检测测试线上的驱动信号。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，将需要检测的驱动信号走线与测试线短路，具体包括：

通过激光将需要检测的驱动信号走线与测试线在驱动信号走线与测试线交叠处进行熔接短路。

进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在检测与测试线的一端电性连接的外部检测端子之后，还包括：

将短路后的驱动信号走线与对应的移位寄存器的驱动信号输出端断路；

通过测试线向断路后的驱动信号走线输入对应的驱动信号。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述任一种阵列基板。该显示装置解决问题的原理与前述阵列基板相似，因此该显示装置的实施可以参见前述阵列基板的实施，重复之处在此不再赘述。

进一歩地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示装置中，还包括：至少具有与连接端子一一对应的检测端子的检测电路板。这样在检测某一条驱动信号走线上的驱动信号时，将测试线与该驱动信号走线在其交叠处短路，以将驱动信号上的驱动信号通过测试线传输到检测电路板的检测端子，最后通过检测探针与检测电路板上的检测端子电性导通，对该驱动信号走线上的驱动信号进行检测，从而可以避免对栅线进行翘脚测试时对栅线带来的损伤的问题。

具体地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示装置中，检测电路板可以为柔性电路板。

或者，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示装置中，检测电路板可以为印刷电路板。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示装置中，当检测电路板为印刷电路板时，还包括：用于电性连接连接端子与检测端子的柔性电路板。当然，连接端子与检测端子也可以是通过其它方式电性连接，在此不作限定。

当然，在具体实施时，显示装置的阵列基板中还包括：公共电极线、公共电极反馈信号线等其它信号线，由于这些信号线的设置以及与柔性电路板或印刷电路板的电性连接关系均与现有技术相同，在此不作赘述。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示装置中，该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示装置的实施可以参见上述阵列基板的实施例，重复之处不再赘述。

本发明实施例提供的上述阵列基板、其检测方法及显示装置，由于栅极驱动电路中移位寄存器输出的驱动信号通过对应连接的驱动信号走线提供给对应的栅线，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。