一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法与流程

本发明涉及阵列基板栅极驱动线路，尤其涉及一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法。

背景技术：

随着电子商品市场的发展日渐蓬勃，对于液晶显示器面板的需求量也越来越大。此需求是因为许多电子产品采用液晶显示器(LCD)，例如电视屏幕、电脑屏幕、手机屏幕等。现在的液晶显示设备已经由a-Si TFT-LCD过渡为LTPS TFT-LCD，由于LTPS技术具有电子迁移率高的优势，非常适合用于制作高分辨率显示器件。但目前的LTPS制程要超过10道，远比a-Si的复杂程度高，成本也相应提高，因此，阵列基板制成后，获取整个面板的工作状态就显得非常重要，且由于栅极驱动线路(Gate On Array)的设计广泛应用，在阵列基板制成后如何测得GOA的输出非常重要。

液晶显示面板在点亮前，通常要经过很多检测步骤，但即使经过多重检测的液晶显示面板，仍然会出现无法点亮的情况。此时就需要对液晶显示面板的阵列基板进行破坏性检测，量测GOA的输出波形，以发现问题所在，并避免同样的问题再次发生。

现有技术中，如图1所示，对无法点亮的液晶显示面板中的阵列基板进行检测的方法主要是通过电引线10将显示区13周围GOA单元中的栅极线11与测试垫12电连接，通过测试垫12量测栅极线11的输出波形。这种测试方法，由于栅极线11与测试垫12是通过电引线10直接连接在一起的，因而在阵列基板制程过程中，GOA容易受到静电的影响，甚至出现静电炸伤；而且在液晶显示面板的显示过程中，由于GOA与测试垫电连接，使得屏幕容易受到额外负载影响导致画面显示异常。因此，采用何种线路对GOA进行测试，同时又能避免阵列基板制程中静电对栅极驱动线路的影响和显示过程中额外负载的影响，就成为亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

针对上述现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法。

本发明提出的测试阵列基板的栅极线的线路，包括：测试垫；第一开光单元，所述栅极线通过所述第一开关单元与所述测试垫连接，所述第一开关单元的一端与控制端连接；通过向控制端施加电压来控制所述第一开关单元的导通和截止，在所述第一开关单元截止时，所述栅极线正常工作；在所述第一开关单元导通时，通过所述测试垫对所述栅极线的输出信号进行测试。

本发明的测试阵列基板的栅极线的线路，栅极线和测试垫之间设置了第一开关单元，当第一开关单元处于截止时，栅极线与测试垫始终是电隔绝的。在液晶显示面板的正常显示过程中，只要保证第一开关单元处于截止状态，即可保证栅极线与测试垫的电隔绝，从而就能避免屏幕受到额外负载影响导致画面显示异常，保证了液晶显示面板的显示品质。同时，由于栅极线通过第一开关单元与测试垫连接，这样，在阵列基板制程过程中，栅极线所属的GOA区就不会受到测试垫处产生的静电影响，避免了GOA区由于静电而产生的炸伤。

作为对本发明的进一步改进，所述第一开关单元包括第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的第一端与所述栅极线连接，所述第一薄膜晶体管的第二端与所述测试垫连接，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述控制端连接，其中，所述第一端为所述第一薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第二端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

薄膜晶体管属于常见的电子器件，当使用薄膜晶体管作为开关单元时，不仅能够实现所需要的功能，而且拥有较低的成本，并且，由薄膜晶体管的性质决定，在线路制作过程中，不必严格区分薄膜晶体管的源极和漏极，进一步提高了线路板的生产效率。

作为对本发明的进一步改进，所述第一开关单元还包括第二开关单元，所述第一薄膜晶体管的栅极通过所述第二开关单元与所述控制端连接。

通过第二开关单元控制第一薄膜晶体管的截止和导通，相对于直接通过第一薄膜晶体管的栅极来控制其截止和导通，使得控制更方便、灵活。

作为对第二开关单元的进一步改进，所述第二开关单元是第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的第三端与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，所述第二薄膜晶体管的栅极和第四端相连并与所述控制端连接，其中，所述第三端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第四端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

作为对第二开关单元的进一步改进，所述第二开关单元包含多个级联的第二薄膜晶体管，其中，每个第二薄膜晶体管的栅极和第四端连接并依次与相邻的第二薄膜晶体管的第三端连接，位于首端的第二薄膜晶体管的第三端与所述第一薄膜晶体管的栅极连接，位于尾端的第二薄膜晶体管的栅极和第四端相连并与所述控制端连接，其中，所述第三端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，所述第四端为所述第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端。

通过多个级联的第二薄膜晶体管同样可以控制第一薄膜晶体管的截止和导通，此处提供了一种不同的控制连接方式。

作为对本发明的线路的进一步改进，所述控制端通过电引线与阵列基板上的驱动电线中的第一电压输出端连接，在第一电压的作用下，所述第一开关单元截止。

由于控制端直接与阵列基板上的第一电压输出端连接，而且在液晶显示面板正常显示过程中，第一电压输出端上一直存在第一电压，这样，就能保证第一开关单元处于截止状态，保证了栅极线与测试垫电隔绝，避免了屏幕受到额外负载影响导致画面显示异常，保证了液晶显示面板的显示品质。而且，当控制端直接与阵列基板上的驱动电线中的第一电压输出端连接时，就不再需要从外部引入第一电压，而且可以选择最靠近薄膜晶体管的第一电压输出端，从而减小了连接线的长度，方便了线路的设计，节省了布线空间。

本发明同时提出了一种测试阵列基板的栅极线的方法，使用上述线路对栅极线进行测试，包括以下步骤：

向所述第一开关单元的控制端施加第一电压，所述第一开关单元截止，所述栅极线正常工作；

当所述阵列基板工作异常时，向所述第一开关单元的控制端施加第二电压，在所述第二电压的作用下，所述第一开关单元导通，通过所述测试垫对所述栅极线的输出信号进行测试。

在第一电压的作用下，栅极线与测试垫电隔绝，这样就不会影响液晶显示面板的正常显示。当显示异常时，通过向控制端施加第二电压，使得第一开关单元导通，即测试垫与栅极线导通，便可通过测试垫来检测栅极线的输出信号。

作为对本方法的进一步改进，通过电引线将所述控制端与所述第一电压输出端连接，从而向所述控制端施加第一电压。

进一步，所述第一电压输出端由阵列基板上的驱动电线提供。这样，就不再需要从外部引入第一电压。

进一步，切断所述控制端与所述第一电压输出端之间的连接，向第一控制端接入外置的第二电压。在一个优选的实施例中，采用激光击穿的方式断开控制端与第一电压输出端之间的连接。激光击穿可以迅速方便、精准地切断控制端与第一电压输出端之间的连接，从而不会对周边线路产生影响。

总之，本发明提出的检测阵列基板的栅极线的线路，由于栅极线与测试垫之间设置了第一开关单元，在不测试栅极线的情况下，能够保证栅极线与测试垫始终是电隔绝的，这样，在阵列基板制程过程中，栅极线所属的GOA区就不会受到测试垫处产生的静电影响，避免了GOA区静电炸伤，同时，在液晶显示面板的显示过程中，由于栅极线与测试垫电绝缘，从而避免了屏幕受到额外负载影响导致画面显示异常，保证了液晶显示面板的显示品质。同时，当液晶显示面板不能点亮时，通过向第一开关单元引入外置的第二电压，就能使得测试垫与栅极线相连，从而通过测试垫对栅极线进行检测，以便更好地找到问题原因所在，避免同样的问题再次发生，方便了后期提高产品的品质。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中：

图1为现有技术中，测试阵列基板的栅极线的线路示意图；

图2为本发明提出的测试阵列基板的栅极线的线路示意图；

图3为本发明的第二个实施例的线路示意图；

图4为图2或线路的第一薄膜晶体管处布线结构示意图；

图5显示了本发明提出的测试阵列基板的栅极线的方法的示意图。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。

具体实施方式

以下将结合附图对本发明的内容作出详细的说明，下文中的“上”“下”“左”“右”均为相对于图示方向，不应理解为对本发明的限制。

如图2所示，本发明提出的测试阵列基板的栅极线的线路中，栅极线211通过第一开关单元20与测试垫22连接，第一开关单元20的一端与控制端26连接。通过向控制端26施加电压来控制第一开关单元20的导通和截止，当第一开关单元20截止时，栅极线211能够正常工作，当第一开关单元20导通时，通过测试垫22引出栅极线211上的信号，以便对栅极线211的输出信号进行检测。

实施例一：

图2为本发明实施例一提出的测试阵列基板的栅极线的线路示意图，从图2中可以看出，在阵列基板的显示区30的两侧周围设置有很多线路，这些线路包括多个GOA单元21，每个GOA单元21中都有一根栅极线211，当然，在对栅极线211进行测试时，由于这些GOA单元21都由相同的电路构成，并不需要对每一个GOA单元21中的栅极线211均进行测试，一般会选取2至4根栅极线211进行测试，所使用的测试垫22的数量与选取测试的栅极线的数量相对应。

在图2中，在GOA单元21与测试垫22之间设置的第一开关单元20包括第一薄膜晶体管，第一薄膜晶体管的栅极23与控制端26连接，第一端24和第二端25分别与GOA单元21中的栅极线211和测试垫22连接，这里的第一端24为第一薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，第二端25为第一薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端，即如果第一端24为源极，则第二端25为漏极，如果第一端24为漏极，则第二端25为源极。

通过向控制端26即栅极23施加电压，能够控制第一端24和第二端25的导通和截止。当向控制端26施加第一电压时，第一端24和第二端25处于截止状态，使得栅极线211和测试垫22处于电隔绝状态。在液晶显示面板正常显示时，只要保证向控制端26施加第一电压，便可使得栅极线211和测试垫22处于电隔绝，从而栅极线211可以正常工作，同时能避免屏幕受到额外负载影响导致画面显示异常，保证了液晶显示面板的显示品质。在阵列基板的制程过程中，由于栅极线211与测试垫之间设置有第一薄膜晶体管，栅极线所属的GOA区就不会受到测试垫处产生的静电影响，避免了GOA区由于静电而产生的炸伤。

在本实施例中，优选地，控制端26通过电引线与阵列基板上的驱动电路中的第一电压输出端连接，这样，在液晶面板正常工作时，由于第一电压输出端始终输出第一电压，从而能保证控制端26始终被施加第一电压，从而保证了栅极线211与测试垫22的电隔绝，使得栅极线211可以正常工作。当控制端26直接与阵列基板上的驱动电路中的第一电压输出端连接时，就不需要外部引入第一电压，而且可以选择最靠近控制端26的第一电压输出端，从而减小了连接线的长度，方便了线路的设计，节省了布线空间。

当液晶显示面板不能点亮时，就需要向控制端26引入第二电压，在第二电压的作用下，第一端24和第二端25处于导通状态，使得栅极线211和测试垫22处于导通状态，从而通过测试垫22检测栅极线211输出的信号。在本实施例中，由外部引入第二电压，在引入第二电压之前，断开控制端26与第一电压输出端之间的电引线，优选地，采用激光击穿的方式断开该电引线，以避免对周边线路产生影响。然后，向控制端26引入外部第二电压，在第二电压的作用下，测试垫22与栅极线211导通，通过测试垫22检测栅极线211输出的信号。

当本实施例中的第一薄膜晶体管为N型薄膜晶体管时，第一电压为低电平信号，优选地，低电平信号为-10V至-4V；当第一薄膜晶体管为P型薄膜晶体管时，第一电压为高电平信号，优选地，高电平信号为4V至10V。

实施例二：

图3a为本发明实施例二提出的测试阵列基板的栅极线的线路示意图，与实施例一不同的是，在本实施例中，第一开关单元20’还包括第二开关单元40，第一薄膜晶体管的栅极23通过第二开关单元40与控制端26相连。本实施例中的第二开关单元40包含第二薄膜晶体管，第二薄膜晶体管的第三端44与第一薄膜晶体管的栅极23连接，第二薄膜晶体管的第四端45与栅极43相连后共同与控制端26连接。这里的第三端44为第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，第四端45为第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端，即如果第三端44为源极，则第四端45为漏极，如果第三端44为漏极，则第四端45为源极。在这里，第二薄膜晶体管与第一薄膜晶体管是相同类型的薄膜晶体管，即第二薄膜晶体管和第一薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管或均为N型薄膜晶体管。

当向控制端26施加第一电压时，第二薄膜晶体管的第三端44和第四端45截止，从而使得第一薄膜晶体管的栅极23与控制端26电隔绝，第一薄膜晶体管截止即第一端24与第二端25截止，栅极线211与测试垫22电隔绝。当向控制端26施加第二电压时，第二薄膜晶体管的第三端44和第四端45导通，从而使得第一薄膜晶体管的栅极23与控制端26电连接，第一薄膜晶体管导通即第一端24与第二端25导通，栅极线211与测试垫22电连接。

实施例三：

图3b为本发明实施例三的测试阵列基板的栅极线的线路示意图，与实施例二不同的是，在本实施例中，第二开关单元40’包含多个级联的第二薄膜晶体管，图3b中示意出了由两个第二薄膜晶体管级联而成的第二开关单元40’。

在图3b中，第二开关单元40’中的每个第二薄膜晶体管的栅极和第四端连接并依次与相邻的第二薄膜晶体管的漏极连接，其中，位于首端的第二薄膜晶体管的第三端44’与第一薄膜晶体管的栅极23连接，位于尾端的第二薄膜晶体管的栅极43”与第四端45”相连并与控制端26连接，这里的第三端44’为第二薄膜晶体管的源极或漏极中的一端，第四端45”为第二薄膜晶体管的源极或漏极中的另一端，即如果第三端44’为源极，则第四端45”为漏极，如果第三端44’为漏极，则第四端45’为源极。。

通过向控制端26施加电压，控制第二开关单元40’的导通和截止，从而控制第一薄膜晶体管的导通和截止。当向控制端26施加第一电压时，第二开关单元40’截止，即第一薄膜晶体管的栅极23与控制端26电隔绝，从而使得第一薄膜晶体管截止即第一端24与第二端25截止，栅极线211与测试垫22电隔绝；当向控制端26施加第二电压时，第二开关单元40’导通，从而使得第一薄膜晶体管导通即第一端24与第二端25导通，栅极线211与测试垫22电连接。

图3c中示意出了当第二开关单元由3个第二薄膜晶体管级联时的连接示意图，图3c更清楚地示意出第二开干单元中的第二薄膜晶体管的级联关系。从图3c中可以看出，每个第二薄膜晶体管的栅极和第四端连接并依次与相邻的第二薄膜晶体管的第三端连接，其中，位于首端的第二薄膜晶体管的第三端44’与第一薄膜晶体管的栅极23连接，位于尾端的第二薄膜晶体管的栅极43”与第四端45”相连并与控制端26连接。

通过向控制端26施加电压，控制第二开关单元的导通和截止，从而控制第一薄膜晶体管的第一端24和第二端25导通和截止，达到控制栅极线211与测试垫22的电隔绝和电连接。

实施例四：

图4为实施例一中第一薄膜晶体管处的布线结构示意图，栅极线211和测试垫22分别与第一薄膜晶体管的源极和漏极电连接，控制端26通过电引线70与第一电压输出端80连接。

图5显示了提供外置第二电压的示意图，当液晶显示面板无法点亮时，需要通过测试垫量测栅极线的输出波形，由于控制端26与第一电压输出端80之间通过电引线70连接，因此，在引入外置第二电压之前，需要切断控制端26与第一电压输出端之间的电引线70。优选地，采用激光击穿的方式断开电引线70，以避免对周边线路产生影响。然后，向控制端26引入外部第二电压60，在第二电压60的作用下，测试垫22与栅极线211导通，通过测试垫22检测栅极线211输出的信号，从而找出液晶显示面板无法点亮的原因，避免同样的问题再次发生，方便了后续提高产品的品质。

最后说明的是，以上实施例仅用于说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。