液晶盒测试系统及测试方法与流程

文档序号:14248391阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明公开一种液晶盒测试系统及测试方法,液晶盒测试系统包括主控系统以及与所述主控系统连接的进料装置、定位系统、发光装置、探针测试装置、画面获取装置、第一机械手、第二机械手、第三机械手。本发明对液晶盒采用自动化测试,采用定位装置自动将探针与测试点对位,并且有定位判定装置对定位是否合格进行判断,定位更加准确、可靠,解决了人工对位错位造成液晶盒损坏的问题;节省人力,消除了员工的视觉疲劳,并且大大提高了测试效率,解决了液晶盒测试产能不足的问题;本发明中的探针测试装置可拆卸,因而能够根据不同型号的液晶盒更换对应的探针,非常实用。

技术研发人员:向勇;骆志锋
受保护的技术使用者:深圳同兴达科技股份有限公司
技术研发日:2017.11.13
技术公布日:2018.04.20
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