基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置的制作方法

文档序号:24377014发布日期:2021-03-23 11:11阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,包括光源(1)、相位掩膜板(4)、ase光源(72)和光谱仪(73),其特征在于,还包括:

放大模块,包括两个光放大器(5),两个所述光放大器(5)分别对所述相位掩模板输出的±1级衍射光进行放大处理,获取两束放大光;

相位调制模块,包括两个电光相位调制器(6),两个所述电光相位调制器(6)分别位于对应所述光放大器(5)的输出侧;

控制模块(3),根据所述光谱仪(73)的反馈信息,控制所述相位调制模块调制两束所述放大光的相位,获取两束调制光;

两束所述调制光在待刻写光纤上形成干涉区。

2.根据权利要求1所述的基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,其特征在于,还包括光纤夹具(71)和移动模块;

所述移动模块包括电动位移台(8),所述光纤夹具(71)连接到所述电动位移台(8)上,所述控制模块(3)根据所述光谱仪(73)的反馈信息控制所述电动位移台(8)移动。

3.根据权利要求1所述的基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,其特征在于,还包括:

0级衍射光吸收板(9),位于所述相位调制模块的输出侧,且所述0级衍射光吸收板(9)覆盖所述相位调制模块输出的0级衍射光的范围。

4.根据权利要求3所述的基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,其特征在于,所述0级衍射光吸收板(9)上设有水杨酸酯类涂层。

5.根据权利要求1所述的基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,其特征在于,所述光源(1)和所述相位掩膜板(4)之间设有光束整形模块,所述光束整形模块包括扩束镜(21)、二维光阑(22)和匀化镜(23)。

6.根据权利要求5所述的基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,其特征在于,所述光束整形模块和所述相位掩膜板(4)之间设有聚焦镜(24)。


技术总结
本实用新型公开一种基于相位掩模板的双光束干涉刻写光纤光栅装置,涉及光纤技术领域,包括光源、相位掩膜板、ASE光源和光谱仪,还包括:放大模块,包括两个光放大器,两个所述光放大器分别对所述相位掩模板输出的±1级衍射光进行放大处理,获取两束放大光;相位调制模块,包括两个电光相位调制器,两个所述电光相位调制器分别位于对应所述光放大器的输出侧;控制模块,根据所述光谱仪的反馈信息,控制所述相位调制模块调制两束所述放大光的相位,获取两束调制光;两束所述调制光在待刻写光纤上形成干涉区。本实用新型可以自由调节所刻写的光纤光栅周期,减少对相位掩模板的依赖。

技术研发人员:魏韦;应国梁
受保护的技术使用者:南京聚科光电技术有限公司
技术研发日:2020.08.12
技术公布日:2021.03.23
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