压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及到液晶模组检测领域，特别是涉及到一种压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法。
【背景技术】
[0002]液晶模组用粒子检测方法为利用各向异性导电薄膜的粘结力在其薄膜表面预压接部件的部件材料，利用高温、高压的工具实施压接，在此压接过程中产生的异性导电薄膜内粒子破裂，以影像提取并检查，并检查连接有无缺陷，并加以分别处理。
[0003]现有技术的液晶模组用粒子检测方法，通过两个照相机配合拍摄压痕图像，成本较高，检测效率低。
【发明内容】
[0004]本发明的主要目的为提供一种可以节约检测设备成本、检测效率高的压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法。
[0005]为了实现上述发明目的，本发明提出一种压痕采集装置，包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；
[0006]所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机。
[0007]进一步地，所述压痕采集装置还包括照明光源，突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面。
[0008]进一步地，所述压痕采集装置还包括第三镜筒和照明光源，所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面；
[0009]所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器，另一端连接所述第二镜筒。
[0010]进一步地，所述照明光源为LED光源。
[0011]本发明还提供一种液晶模组用粒子检测系统，包括压痕采集装置、图像数据分析装置、PLC控制装置和输料装置；
[0012]所述压痕采集装置采集压痕影像并转换为数字信号输送至所述图像数据分析装置；图像数据分析装置根据所述数字信号判断目标物体是否合格，并生成对应的控制命令发送至所述PLC控制装置；PLC控制装置根据所述控制命令控制输料装置将目标物料输送至指定工位；
[0013]所述压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机。
[0014]进一步地，所述的液晶模组用粒子检测系统还包括检测台装置，该检测台装置下方设置所述压痕采集装置，所述物镜对准所述检测台装置上的检测工位。
[0015]进一步地，所述压痕采集装置还包括照明光源，突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面。
[0016]进一步地，所述压痕采集装置还包括第三镜筒和照明光源，所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面；
[0017]所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器，另一端连接所述第二镜筒。
[0018]进一步地，所述照明光源为LED光源。
[0019]本发明还提供一种液晶模组用粒子检测系统的检测方法，包括:
[0020]图像数据分析装置获取设置于检测台装置下方的压痕采集装置采集并转化成数字信号的目标物料的压痕影像信息；其中，压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机；
[0021]根据压痕影像信息判断目标物料是否合格，并生成对应的控制信号发送给PLC控制装置；
[0022]通过PLC控制装置根据所述控制信号控制输料装置将目标物料输送至对应的工位。
[0023]本发明的压痕采集装置，以及含有压痕采集装置的液晶模组用粒子检测系统和检测方法，通过线性相机扫描目标物料的压痕信息，所以只需要一个线性相机即可，节约检测设备的成本，降低检测设备的体积；而且线性相机采集目标物料的压痕影像速度快，提高检测效率；压痕影像更加清晰，提高判断结果的准确性。
【附图说明】
[0024]图1本发明一实施例的压痕采集装置的结构示意图；
[0025]图2本发明一实施例的液晶模组用粒子检测系统的结构示意框图；
[0026]图3本发明一实施例的液晶模组用粒子检测系统的检测方法的流程示意图。
[0027]本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
【具体实施方式】
[0028]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0029]参照图1，本发明实施例提供一种压痕采集装置10，包括物镜11、第一镜筒12、DIC滤波器13、第二镜筒15和线性相机16 ;所述物镜11设置于所述第一镜筒12的一端，第一镜筒12的另一端设置所述DIC滤波器13，DIC滤波器13还设置于所述第二镜筒15的一端，第二镜筒15的另一端设置所述线性相机16。本实施例中，物镜的放大倍数一般为3.5倍?30倍，线性相机16的扫描速度一般为10m/s?50m/s。
[0030]本实施例的压痕采集装置10，上述物镜11将目标物料50的反射光进行折射扩散至指定倍数，并且进入到上述第一镜筒12内，然后透过DIC滤波器13 (差分干涩滤波器，Differential Interference Filter)，将透过物镜11且进入线性相机16扫描区域的光线进行滤波处理，DIC滤波器13将放大后的压痕视觉立体化，提高后续步骤采集到的压痕影像具有立体化，从而提高判断结果的准确性；然后将经过DIC滤波器13处理后的光线通过第二镜头被线性相机16接收。通过线性相机16扫描目标物料50的压痕信息，只需要一个线性相机16即可，无需两个或两个以上相机进行采集压痕影像，节约压痕采集装置10的成本，降低压痕采集装置10的体积；而且线性相机16采集目标物料50的压痕影像速度快，提高检测效率；压痕影像更加清晰，提高判断结果的准确性。
[0031]本实施例中，上述压痕采集装置10还包括照明光源14，突出设置于所述第一镜筒12或第二镜筒15的外侧面，照明光源14主要用于给线性相机16提供良好的扫描环境，使拍摄的压痕影像更加的清晰，以提高后续检测的准确性。照明光源14直接设置于第一镜筒12或第二镜筒15的外侧面，只需要生产时设置好照明光源14的出光角度即可，使用方便，使压痕采集装置10在采集压痕影像时无需使用外部光源，提高使用的便利性。
[0032]本实施例中，上述压痕采集装置10还包括第三镜筒17和照明光源14，所述照明光源14突出设置于所述第三镜筒17的外侧面；上述第三镜筒17的一端连接所述DIC滤波器13，另一端连接所述第二镜筒15。第三镜头的设置，可以加长压痕采集装置10的长度，方便控制线性相机16进行调焦等操作，而将照明光源14设置于第三镜筒17的外侧，同样只需要生产时设置好照明光源14的出光角度即可，使用方便，使压痕采集装置10在采集压痕影像时无需使用外部光源，提高使用的便利性。
[0033]本实施例中，上述照明光源14为LED光源，LED光源能耗低，使用寿命长，可以通过多颗LED灯珠的布置，提供光强度较为均匀的光照。
[0034]本实施例的压痕采集装置10，相对于现有技术的设备，减少了一个照相机的设置，可以大大的减小压痕采集装置10的生产成本，减小压痕采集装置10的体积，节约空间；采集压痕影像快速，提尚检测效率。
[0035]参照图1和2，本发明实施例中还提供一种液晶模组用粒子检测系统，包括压痕采集装置10、图像数据分析装置20、PLC控制装置30和输料装置40 ;所述压痕采集装置10采集压痕影像并转换为数字信号输送至所述图像数据分析装置20 ;图像数据分析装置20根据所述数字信号判断目标物体是否合格，并生成对应的控制命令发送至所述PLC控制装置30 ；PLC控制装置30根据所述控制命令控制输料装置40将目标物料50输送至指定工位；所述压痕采集装置10包括物镜11、第一镜筒12、DIC滤波器13、第二镜筒15和线性相机16 ;所述物镜11设置于所述第一镜筒12的一端，第一镜筒12的另一端设置所述DIC滤波器13，DIC滤波器13还设置于所述第二镜筒15的一端，第二镜筒15的另一端设置所述线性相机16。本实施例中，物镜的放大倍数一般为3.5倍?30倍，线性相机16的扫描速度一般为 10m/s ?50m/s。
[0036]本实施例的液晶模组用粒子检测系统终中的压痕采集装置10，上述物镜11将目标物料50的反射光进行折射扩散至指定倍数，并且进入到上述第一镜筒12内，然后透过DIC滤波器13 (差分干湿滤波器，Differential Interference Filter)，将透过物镜11且进入线性相机16扫描区域的光线进行滤波处理，DIC滤波器13将放大后的压痕视觉立体化，提高后续步骤采集到的压痕影像具有立体化，从而提高判断结果的准确性；然后将经过DIC滤波器13处理后的光线通过第二镜头被线性相机16接收。通过线性相机16扫描目标物料50的压痕信息，只需要一个线性相机16即可，无需两个或两个以上相机进行采集压痕影像，节约压痕采集装置10的成本，降低压痕采集装置10的体积；而且线性相机16采集目标物料50的压痕影像速度快，提高检测效率；