一种液晶显示模组闪烁度的校准方法和装置的制造方法_2

文档序号:9843339阅读:来源:国知局
各项操作描述成顺序的处理,但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外,各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止,但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
[0051]在上下文中所称“主控芯片”,也称为“芯片”,是指可以通过运行预定程序或指令来执行数值计算和/或逻辑计算等预定处理过程的智能电子设备,其可以包括处理器与存储器,由处理器执行在存储器中预存的存续指令来执行预定处理过程,或是由ASIC、FPGA、DSP等硬件执行预定处理过程,或是由上述二者组合来实现。计算机设备包括但不限于服务器、个人电脑、笔记本电脑、平板电脑、智能手机等。
[0052]需要说明的是,所述主控芯片仅为举例,其他现有的或今后可能出现的主控芯片如可适用于本发明,也应包含在本发明保护范围以内,并以引用方式包含于此。
[0053]后面所讨论的方法(其中一些通过流程图示出)可以通过硬件、软件、固件、中间件、微代码、硬件描述语言或者其任意组合来实施。当用软件、固件、中间件或微代码来实施时,用以实施必要任务的程序代码或代码段可以被存储在机器或计算机可读介质(比如存储介质)中。(一个或多个)处理器可以实施必要的任务。
[0054]这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的,并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现,并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。
[0055]应当理解的是,虽然在这里可能使用了术语“第一”、“第二”等等来描述各个单元,但是这些单元不应当受这些术语限制。使用这些术语仅仅是为了将一个单元与另一个单元进行区分。举例来说,在不背离示例性实施例的范围的情况下,第一单元可以被称为第二单元,并且类似地第二单元可以被称为第一单元。这里所使用的术语“和/或”包括其中一个或更多所列出的相关联项目的任意和所有组合。
[0056]应当理解的是,当一个单元被称为“连接”或“耦合”到另一单元时,其可以直接连接或耦合到所述另一单元,或者可以存在中间单元。与此相对,当一个单元被称为“直接连接”或“直接耦合”到另一单元时,则不存在中间单元。应当按照类似的方式来解释被用于描述单元之间的关系的其他词语(例如“处于...之间”相比于“直接处于...之间”,“与...邻近”相比于“与...直接邻近”等等)。
[0057]这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指,否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是,这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在,而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
[0058]还应当提到的是,在一些替换实现方式中,所提到的功能/动作可以按照不同于附图中标示的顺序发生。举例来说,取决于所涉及的功能/动作,相继示出的两幅图实际上可以基本上同时执行或者有时可以按照相反的顺序来执行。
[0059]下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
[0060]实施例一
[0061 ]如图1所示,一种液晶显示模组闪烁度的校准方法,所述方法包括:
[0062]S100,获取液晶显示模组的闪烁度原始值;
[0063]S200,计算液晶显示模组的闪烁度最优值;
[0064]S300,判断闪烁度最优值是否为最优化;
[0065]S400,若计算的闪烁度最优值为最优化,则将最优值烧录到液晶显示模组中;
[ΟΟ??] S500,判断烧录的烧录值是否正确,若正确,则结束。
[0067]本发明中,由于方法包括,SlOO获取液晶显示模组的闪烁度原始值;S200计算液晶显示模组的闪烁度最优值;S300,判断闪烁度最优值是否为最优化;S400,若计算的闪烁度最优值为最优化,则将最优值烧录到液晶显示模组中;S500判断烧录的烧录值是否正确,若正确,则结束。这样,就可以通过闪烁度感应单元测试得到液晶显示模组的闪烁度值,然后将这个数值发送给主控芯片,主控芯片在获取到闪烁度原始值后,就会根据获取的众多闪烁度原始值进行计算得到液晶显示模组的闪烁度最优值,然后,主控芯片就会判断闪烁度最优值是否为最优化,如果为最优化就将计算得到的最优值烧录到液晶显示模组中,之后,主控芯片会从液晶显示模组中检测烧录的闪烁度最优值是否与计算得到最优值相同,若是相同的,则就完成了本次校准,若检测烧录的闪烁度最优值与计算得到最优值不相同,则会进行重新烧录,直到烧录值与计算得到的最优值相同,即可完成本次校准,这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示模组的闪烁度校准,而且在烧录闪烁度最优值后,还进行检测烧录值的步骤,这样就大大降低了烧录出现次品的情况,提高了生产的良品率,提高了总的生产效率,节省人力与培训经费,大大缩减制造成本,另外存在多次步骤检测,提高了制造的稳定性。当然,如果计算的闪烁度最优值不是最优化,则就会返回到S200计算液晶显示模组的闪烁度最优值的步骤中进行继续计算,直到计算出符合最优化的闪烁度最优值。
[0068]另外,本实施例中,在将若计算的闪烁度最优值为最优化,则将最优值烧录到液晶显示模组中S400的步骤之后,还有步骤,检测烧录到液晶显示模组的烧录值,这样就方便S500的判断步骤。
[0069]根据本实施例中的一个示例,在所述获取液晶显示模组的闪烁度原始值SlOO的步骤之前还包括,
[ΟΟΤ?]初始化液晶显示模组;
[0071]确认液晶显示模组工作状态是否正常;
[0072]若液晶显示模组工作状态正常,则将闪烁度感应单元与所述液晶模组进行对焦。
[0073]这样,就可以在对液晶显示模组进行校准之前先对液晶显示模组的工作状态进行确认,看看液晶显示模组是否可以正常工作,避免因液晶显示模组的问题而导致校准的失败,提高校准的效率,确认液晶显示模组的工作状态可以通过测试液晶显示模组的工作电压、电流、亮度等参数来判断。
[0074]根据本实施例中的另一个示例,在所述计算液晶显示模组的闪烁度最优值S102的步骤之后还包括,
[0075]测试液晶显示模组的闪烁度值。
[0076]这样,在计算闪烁度最优值之前,可以再次获取液晶显示模组的闪烁度值,从而通过更多的闪烁度值来进行计算,增加取样样本,提高闪烁度最优值的计算精度。
[0077]根据本实施例中的另一个示例,所述闪烁度原始值通过使用硅光电池检测液晶显示模组表面的亮暗变化获取;并通过运算放大器对闪烁度信号进行放大并通过滤波器对闪烁度信号进行滤波,生成闪烁度模拟信号,通过模数转换器将闪烁度模拟信号转换为直流信号。硅光电池的成本较低,测试准确度较高,使用起来方便,运算放大器和滤波器可以对信号进行处理、进行滤波,产生干净的可用模拟信号,方便信号的使用,然后通过ADC(模数转换器)转换将闪烁度模拟信号转换为直流信号,由主控对数字信号进行处理及运算,用以识别当前闪烁度等级及判断是否为最优化值。
[0078]根据本实施例中的另一个示例,使用ARM芯片作为闪烁度感应单元的主控芯片,所述主控芯片通过GP1 口与液晶显示模组相连;所述主控芯片通过GP1 口与升降平台相连,所述升降平台用于调整闪烁度感应单元与液晶显示模组的距离。这样可以提高数据传输的效率,保证数据传送的稳定性和校准的准确性。其中,GP1为通用输入/输出,或总线扩展器,利用工业标准I2C、SMBus或SPI接口简化了I/O口的扩展。当微控制器或芯片组没有足够的I/O端口,或当系统需要采用远端串行通信或控制时,GP1产品能够提供额外的控制和监视功能。
当前第2页1 2 3 4 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1