专利名称：平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种利用气体放电腔体中的气体放电检测平板显示面板电极 线缺陷的检测用的测试面板，具体地说是一种平板显示面板电极线缺陷的检 测用的测试面板。
技术背景目前采用的荫罩式等离子体显示板主要包括前基板、后基板和荫罩。前 基板从玻璃基板起，分别是扫描电极、介质层以及在介质层表面形成的保护 层；后基板从玻璃基板起，分别是与扫描电极垂直的寻址电极，介质层以及 在介质层上形成的保护层；夹在前、后基板中间的荫罩是由导电材料(例如 铁或其合金)加工而成的包含网孔阵列的金属薄网板。前后基板上的电极线一般采用印刷，烘干，曝光，显影，烧结的工艺。 但电极线由于工艺控制的难以把握的影响，容易出现断线和连线等缺陷情况。目前检测前后基板电极线开短路的装置基本都是进口的光学检测装置， 这样的装置精密复杂，不仅价格昂贵，而且检测速度也较慢，同时很多部件 国内难以买到，需要厂商派人前来维护，维护费用高不说，周期还很长，对 于装置维护使用不利。 发明内容本发明的目的是针对现有的荫罩式等离子体前后基板电极线的开短路检 测速度较慢，装置昂贵，维护不方便等问题。提出一种基于气体放电对电极 缺陷进行判定的方法及其检测装置，它可广泛用于具有Ag电极的PDP基板的 生产中。本发明的技术方案是一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其特征是可以由在玻璃la表面依次烧结有电极lb和介质层lc的PDP面板构成；可以是在玻璃或者其它非导电材料la的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极lbp然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层1C构成；可以是采用 整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极lbp然后在这些 金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层lc构成(此时不需要基板la)。测试电极lb或lb,的所用材料可以是银、铝、铜等导电金属及其合金或表面镀有导电材料膜的非金属材料，测试面板的基板la、侧边3、绝缘介质 层lc、绝缘介质层12所用材料可以为玻璃、陶瓷、塑料膜、有机绝缘层、 无机绝缘层、金属材料的表面氧化等非导电的绝缘介质层。所述的测试面板可以是略小于待测面板，测试面板1与待测面板2保持 相对固定的静态检测方式，此时检测仅移动检测头8，也可以是测试面板1 小于待测面板2，检测时固定待测试面板2，同时移动测试面板1和检测头8 的动态扫描的检测方式。本发明的有益效果1、 本发明为快速准确地检出前后基板电极线的断线和连线缺陷点提供了 必备的手段。2、 具有制作工艺简单，成本低的优点。相比于目前进口的光学检测设备价格昂贵，检测较慢，维护困难等缺点， 本发明的优势明显，是一个良好的替代选择。四.
图l 、图2是为本发明具有电极图案的测试面板示意图。 图3是为具有电极图案的待测面板示意图。图4是为本发明的单边介质放电电极线图案缺陷检测装置的意图。 图5是为本发明的双边介质放电电极线图案缺陷检测装置的示意图。 图6是平板显示器面板电极线图案缺陷种类示意图。 图7待测面板引线区电极线分类示意图五. 具体实施例 下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。如图卜3所示。一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其特征是可以由在玻璃la表面依次烧结有电极lb和介质层lc的PDP面板构成；可以是在玻 璃或者其它非导电材料la的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极lbP然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层lc构成；可以是采用整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极lbp然后在这些金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层lc构成(此 时不需要基板la)。测试电极lb或lb,的所用材料可以是银、铝、铜等导电金属及其合金或 表面镀有导电材料膜的非金属材料，测试面板的基板la、侧边3、绝缘介质 层lc、绝缘介质层12所用材料可以为玻璃、陶瓷、塑料膜、有机绝缘层、 无机绝缘层、金属材料的表面氧化等非导电的绝缘介质层。所述的测试面板可以是略小于待测面板，测试面板1与待测面板2保持 相对固定的静态检测方式，此时检测仅移动检测头8，也可以是测试面板1 小于待测面板2，检测时固定待测试面板2，同时移动测试面板1和检测头8 的动态扫描的检测方式。实例一。具体的测试方法是首先将待测面板2上电极线2b的引线区电极线相应 分为A、 B、 C三类，将待测面板2与测试用面板1面向组合，中间保持一 定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电极lb和待测导电电极组2b的一 端加上一定的交流电压，然后依次给A类(或B类或C类)电极线加上适 当的交流电压，在控制系统ll作用下，检测头8在X、 Y方向以适当的光斑 对所检测的面板2进行扫描检测，若某根A (或B或C)类电极线出现出现 不发光区域，则亮暗交接点即是这条电极线的完全断线点13处，若是发现某 根A (或B或C)类测电极线的中间某处发光偏弱，即该电极线的发光线条 有凹陷等，则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处，系统给出提示，通 过CCD进一步确定断线性质，以确定是需修补的不完全断线15还是不影响 显示效果而不需要修补的不完全断线14，并在控制系统11中记录断线点的位置，为后道的切断修补程序提供指令，并在控制系统11中记录断线缺点的 位置，然后用修补机对断线点进行修补；若在两相邻待测电极之间的暗区检 测到发光点，则该发光点即为电极间短路点16或电极边缘不整点17;在控 制系统11中记录短路点16或电极边缘不整点17的位置，最后采用激光进行 切断。实例二。考虑给加压电源5的夹具制备A、 B、 C三类电极线比较困难，则考虑 仅给加压电源5的夹具制备一类电极线，假设为A类(空出B、 C类电极线 的位置)，然后将加压电源5的夹具制备成可左右精确移动的装置，分三次检 测(假设加压电源5的夹具在测试时朝同一个方向移动)，然后将待测面板2 上电极线2b的引线区电极线相应分为A、 B、 C三类，将待测面板2与测试 用面板l面向组合，中间保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电 极lb和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压，在控制系统13作用 下，检测头11在X、 Y方向以适当的光斑对所检测的面板18进行扫描检测， 第--次加压时将加压电源5的夹具的电极线与待测面板上A类电极线相重 叠，若某根A类电极线出现出现不发光区域，则亮暗交接点即是这条电极线 的完全断线点13处，若是发现某根A类测电极线的中间某处发光偏弱，即 该电极线的发光线条有凹陷等，则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处， 系统给出提示，通过CCD进一步确定断线性质，以确定是需修补的不完全 断线15还是不影响显示效果而不需要修补的不完全断线14，并在控制系统 11中记录断线的位置，为后道的切断修补程序提供指令，并在控制系统11 中记录断线缺点的位置，然后用修补机对断线点进行修补；若在两相邻待测 电极之间的暗区检测到发光点，则该发光点即为电极间短路点16或电极边缘 不整点17;在控制系统11中记录短路点16或电极边缘不整点17.的位置， 最后采用激光进行切断。测试完后将电源的夹具上电极线向右移动至待测面 板C类电极线位置，加压检测，原理与给A类电极线加压检测时相同，最后 再电源夹具向右移动至待测面板B类电极线位置，加压检测，同样原理与给 待测面板A类电极线加压检测时相同，这样便可完成整个面板电极线的断连线缺陷的检测。本实施例仅给出了部分具体的应用例子，但对于从事平板显示器的专业 人员而言，还可根据以上启示设计出多种变形产品，这仍被认为涵盖于本发 明之中。
权利要求
1、一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次烧结有电极(1b)和介质层(1c)的PDP面板构成；可以是在玻璃或者其它非导电材料(1a)的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极(1b1)，然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层(1c)构成；可以是采用整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极(1b1)，然后在这些金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层(1c)构成。
2、 根据权利要求1所述的平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其 特征是测试电极(lb)或(lb,)的所用材料可以是银、铝、铜等导电金属及 其合金或表面镀有导电材料膜的非金属材料，测试面板的基板(la)、侧边(3)、 绝缘介质层(lc)、绝缘介质层(12)所用材料可以为玻璃、陶瓷、塑料膜、 有机绝缘层、无机绝缘层、金属材料的表面氧化等非导电的绝缘介质层。
3、 根据权利要求1所述的平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其 特征是它可以是略小于待测面板，测试面板(1)与待测面板(2)保持相对 固定的静态检测方式，此时检测仅移动检测头(S)，也可以是测试面板(1) 小于待测面板(2)，检测时固定待测试面板(2)，同时移动测试面板(1)和 检测头(8)的动态扫描的检测方式。
全文摘要
本发明针对采用Ag、Al电极等电极结构的等离子体显示板，在制程中产出的Ag、Al电极等电极的断线缺陷、连线缺陷，公开了一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次烧结有电极(1b)和介质层(1c)的PDP面板构成；可以是在玻璃或者其它非导电材料(1a)的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极(1b<sub>1</sub>)，然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层(1c)构成；可以是采用整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极(1b<sub>1</sub>)，然后在这些金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层(1c)构成。利用本发明的测试面板能够快速准确地找出前后基板电极线的断线和连线缺陷点，具有制作工艺简单，成本低的优点。
文档编号H01J9/42GK101252071SQ200810024608
公开日2008年8月27日 申请日期2008年3月28日 优先权日2008年3月28日
发明者雄 张, 朱立锋, 青 李, 林青园, 王保平, 程 陈, 黄秋铭 申请人:南京华显高科有限公司