一种用于线切割机床连线测试的系统的制作方法
【专利摘要】本发明属于测试仪器技术领域，提供了一种用于线切割机床连线测试的系统，由信号输入模块、信号输出模块、信号处理模块及测试结果指示模块连接构成；信号处理模块通过信号输出模块发出一串测试信号后，再从信号输入模块读回反馈信号，如果发出的测试信号与读回的反馈信号一致时，则表示线切割机床正常，否则线切割机床有故障，在所有数据口都检测完后，测试结果指示模块点亮相应的发光二极管指示；检测人员只需通过观察测试结果指示模块中各个发光二极管的发光状态，即可判断线切割机床的正常与否；该系统在对线切割机床的检测过程中，根据发光二极管的发光状态可确定接线线序是否正确，提高了工作效率，具有较强的推广与应用价值。
【专利说明】
一种用于线切割机床连线测试的系统
技术领域
[0001]本发明属于测试仪器技术领域，尤其涉及一种用于线切割机床连线测试的系统。
【背景技术】
[0002]对于专业生产线切割数控控制台的厂家而言，控制台与机床的连接线测试比较繁琐，一是因为与之配套的机床厂家各有各的接口定义，接线人员容易接错；二是因为连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，那就测不出来。
【发明内容】
[0003]本发明提供了一种用于线切割机床连线测试的系统，旨在解决控制台与机床的连接线测试比较繁琐，连接接口定义多样，接线人员容易接错，连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，不能测试出故障的问题。
[0004]本发明的目的在于提供一种用于线切割机床连线测试的系统，该系统包括:
[0005]用于向线切割机床输出测试信号的信号输出模块；
[0006]用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号的信号输入模块；
[0007]与所述信号输出模块及信号输入模块相连接，用于输出测试信号至所述信号输出模块，并接收所述信号输入模块采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号的信号处理模块；
[0008]与所述信号处理模块相连接，用于接收所述信号处理模块输出的测试结果指示信号，并根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示的测试结果指示模块。
[0009]进一步，所述信号处理模块采用的是型号为STC89C51的单片机(Ul);所述信号输出模块由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；所述信号输入模块由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。
[0010]进一步，所述单片机(Ul)的端口 P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，所述单片机(Ul)的端口 P3.4-P3.7分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。
[0011]进一步，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口 PO与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，所述锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座Jl相连接。
[0012]进一步，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口 P2 口的8位总线分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 A相连接，所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B与P34芯双排插座J2相连接。
[0013]进一步，所述锁存器(U2)输出端信号的定义为:XA XB XC XD XE和UA UB UC ；
[0014]所述锁存器(U3)输出端信号的定义为:YA YB YC YD YE和VA VB VC ；
[0015]所述锁存器(U4)输出端信号的定义为:取样+、取样一、工件、钼丝、开高频1、开高频 2、+24V X 轴、+24V U 轴；
[0016]所述锁存器(U5)输出端信号的定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。
[0017]进一步，所述三态总线驱动器(U6)的8位数据端口 B的信号定义为:XA XB XC XDXE 和 UA UB UC ；
[0018]所述三态总线驱动器(U7)的8位数据端口 B的信号定义为:YA YB YC YD YE和VA VB VC
[0019]所述三态总线驱动器(U8)的8位数据端口 B的信号定义为:取样+、取样一、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴;
[0020]所述三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B的信号定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。
[0021]进一步，所述测试结果指示模块包括:电阻R1、发光二极管L1、发光二极管L2、电阻R2、电阻R3、发光二极管L3、发光二极管L4、电阻R4、电阻R5、发光二极管L5、发光二极管L6、电阻R6、电阻R7、发光二极管L7、发光二极管L8、电阻R8、电阻R9、发光二极管L9、发光二极管L10、电阻R10、电阻R11、发光二极管L11、发光二极管L12、电阻R12、电阻R13、发光二极管L13、发光二极管L14、电阻R14、电阻R15、发光二极管L15、发光二极管L16、电阻R16 ；
[0022]所述电阻Rl与发光二极管L1、发光二极管L2及电阻R2依次串联构成支路一；
[0023]所述电阻R3与发光二极管L3、发光二极管L4及电阻R4依次串联构成支路二 ；
[0024]所述电阻R5与发光二极管L5、发光二极管L6及电阻R6依次串联构成支路三；
[0025]所述电阻R7与发光二极管L7、发光二极管L8及电阻R8依次串联构成支路四；
[0026]所述电阻R9与发光二极管L9、发光二极管LlO及电阻RlO依次串联构成支路五；
[0027]所述电阻Rll与发光二极管L11、发光二极管L12及电阻R12依次串联构成支路六；
[0028]所述电阻R13与发光二极管L13、发光二极管L14及电阻R14依次串联构成支路七;
[0029]所述电阻R15与发光二极管L15、发光二极管L16及电阻R16依次串联构成支路八；
[0030]所述支路一、支路二、支路三、支路四、支路五、支路六、支路七及支路八并联连接。
[0031]本发明提供的用于线切割机床连线测试的系统，由信号输入模块、信号输出模块、信号处理模块及测试结果指示模块连接构成；信号处理模块通过信号输出模块发出一串测试信号后，再从信号输入模块读回反馈信号，如果发出的测试信号与读回的反馈信号一致时，则表示线切割机床正常，否则线切割机床有故障，在所有数据口都检测完后，测试结果指示模块点亮相应的发光二极管指示；检测人员只需通过观察测试结果指示模块中各个发光二极管的发光状态，即可判断线切割机床的正常与否；该系统在对线切割机床的检测过程中，可根据发光二极管的发光状态确定接线线序是否正确，使得复杂的工作变得简单又直观，极大地提高了工作的效率，具有较强的推广与应用价值。
【附图说明】
[0032]图1是本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的结构框图；
[0033]图2是本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的原理接线图。
[0034]图中:11、信号输入模块；12、信号输出模块；13、信号处理模块；14、测试结果指示模块。
【具体实施方式】
[0035]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定发明。
[0036]图1示出了本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的结构。为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0037]该系统包括:
[0038]信号输出模块12，用于向线切割机床输出测试信号；
[0039]信号输入模块11，用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号；
[0040]信号处理模块13，与信号输出模块12及信号输入模块11相连接，用于输出测试信号至信号输出模块12，并接收信号输入模块11采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号；
[0041 ]测试结果指示模块14，与信号处理模块13相连接，用于接收信号处理模块13输出的测试结果指示信号，根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示。
[0042]如图2所示，在本发明实施例中，信号处理模块13采用的是型号为STC89C51的单片机(Ul);信号输出模块12由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；信号输入模块11由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。
[0043]在本发明实施例中，单片机(Ul)的端口 P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，单片机(Ul)的端口 P3.4-P3.7分别与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。
[0044]在本发明实施例中，单片机(Ul)的8位数据输出端口 PO与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座Jl相连接。
[0045]在本发明实施例中，单片机(Ul)的8位数据输出端口 P2 口的8位总线分别与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 A相连接，三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B与P34芯双排插座J2相连接。
[0046]在本发明实施例中，锁存器(U2)输出端信号的定义为:XA XB XC XD XE和UA UBUC ；
[0047]锁存器(U3)输出端信号的定义为:YA YB YC YD YE和VA VB VC ；
[0048]锁存器(U4)输出端信号的定义为:取样+、取样一、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X 轴、+24V U 轴；
[0049]锁存器(U5)输出端信号的定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。
[0050]在本发明实施例中，三态总线驱动器(U6)的8位数据端口 B的信号定义为:XA XBXC XD XE 和 UA UB UC ；
[0051]三态总线驱动器(U7)的8位数据端口 B的信号定义为:YA YB YC YD YE和VA VBVC
[0052]三态总线驱动器(U8)的8位数据端口 B的信号定义为:取样+、取样一、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴；
[0053]三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B的信号定义为:+24V Y轴、+24VV轴、停机
1、停机2。
[0054]在本发明实施例中，测试结果指示模块14包括:电阻Rl、发光二极管L1、发光二极管L2、电阻R2、电阻R3、发光二极管L3、发光二极管L4、电阻R4、电阻R5、发光二极管L5、发光二极管L6、电阻R6、电阻R7、发光二极管L7、发光二极管L8、电阻R8、电阻R9、发光二极管L9、发光二极管L10、电阻R10、电阻R11、发光二极管L11、发光二极管L12、电阻R12、电阻R13、发光二极管L13、发光二极管L14、电阻R14、电阻R15、发光二极管L15、发光二极管L16、电阻 R16 ；
[0055]电阻Rl与发光二极管L1、发光二极管L2及电阻R2依次串联构成支路一；
[0056]电阻R3与发光二极管L3、发光二极管L4及电阻R4依次串联构成支路二 ；
[0057]电阻R5与发光二极管L5、发光二极管L6及电阻R6依次串联构成支路三；
[0058]电阻R7与发光二极管L7、发光二极管L8及电阻R8依次串联构成支路四；
[0059]电阻R9与发光二极管L9、发光二极管LlO及电阻RlO依次串联构成支路五；
[0060]电阻Rll与发光二极管LI 1、发光二极管L12及电阻R12依次串联构成支路六；
[0061]电阻R13与发光二极管L13、发光二极管L14及电阻R14依次串联构成支路七；
[0062]电阻R15与发光二极管L15、发光二极管L16及电阻R16依次串联构成支路八；
[0063]支路一、支路二、支路三、支路四、支路五、支路六、支路七及支路八并联连接。
[0064]在本发明实施例中，发光二极管L1、发光二极管L2、发光二极管L3、发光二极管L4、发光二极管L5、发光二极管L6、发光二极管L7及发光二极管L8是绿色发光二极管；发光二极管L9、发光二极管L10、发光二极管LI 1、发光二极管L12、发光二极管L13、发光二极管L14、发光二极管L15及发光二极管L16是红色发光二极管；
[0065]发光二极管LI及发光二极管L9指不X轴的5根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0066]发光二极管L2及发光二极管LlO指不Y轴的5根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0067]发光二极管L3及发光二极管Lll指不U轴的3根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0068]发光二极管L4及发光二极管L12指不V轴的3根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0069]发光二极管L5及发光二极管L13指示取样+、取样_、工件、钼丝、4根信号线，正常时输出O，故障时输出I ;
[0070]发光二极管L6及发光二极管L14指示开关高频的2根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0071]发光二极管L7及发光二极管L15指示停机的2根信号线，正常时输出0，故障时输出I ;
[0072]发光二极管L8及发光二极管L16指示指示+24V的4根信号线，正常时输出0，故障时输出I。
[0073]下面结合附图及具体实施例对本发明的应用原理作进一步描述。
[0074]如图1及图2所示，该系统的核心部分是由I片型号为STC89C51的单片机(Ul)、型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)和型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9);单片机(Ul)的PO 口为数据输出端，P2 口为数据输入端，PO 口的8位总线与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的数据口相连接。
[0075]锁存器(U2)输出端信号定义:XA XB XC XD XE和UA UB UC ；
[0076]锁存器(U3)输出端信号定义:YA YB YC YD YE和VA VB VC ；
[0077]锁存器(U4)输出端信号定义:取样+、取样_、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+2狀(父轴)、+24￥(1]轴)；
[0078]锁存器(U5)输出端信号定义:+24V (Y轴)、+24V (V轴)、停机1、停机2
[0079]锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)与P34芯双排插座Jl相连接，并通过P34芯双排插座Jl输出信号；
[0080]P2 口的8位总线与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的A数据口连接；
[0081]三态总线驱动器(U6)的B端信号定义:XA XB XC XD XE和UA UB UC
[0082]三态总线驱动器(U7)的B端信号定义:YA YB YC YD YE和VA VB VC
[0083]三态总线驱动器(U8)的B端信号定义:取样+、取样_、工件、钼丝、开高频1、开高频 2、+24V (X 轴)、+24V (U 轴)；
[0084]三态总线驱动器(U9)的B端信号定义:+24V (Y轴)、+24V (V轴)、停机1、停机2 ;
[0085]三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的B数据口与P34芯双排插座J2相连，并通过P34芯双排插座J2输入信号；
[0086]单片机(Ul)的P3.0-P3.3与U2 U3 U4 U5的锁存端相连接，P3.4-P3.7与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端相连接；P1 口与16只发光二极管相连接，L1-L8是绿灯，L9-L16是红灯，表示如下:
[0087]LI及L9指示X轴的5根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0088]L2及LlO指示Y轴的5根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0089]L3及Lll指示U轴的3根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0090]L4及L12指示V轴的3根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0091]L5及L13指示取样+，取样_，工件，钼丝，4根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0092]L6及L14指示开关高频的2根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0093]L7及L15指示停机的2根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0094]L8及L16指示+24V的4根信号线，正常输出0，故障输出I ;
[0095]P34芯双排插座Jl、P34芯双排插座J2分别接连线的两个插头。
[0096]本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统，由信号输入模块11、信号输出模块12、信号处理模块13及测试结果指示模块14连接构成；信号处理模块13通过信号输出模块12发出一串测试信号后，再从信号输入模块11读回反馈信号，如果发出的测试信号与读回的反馈信号一致时，则表示线切割机床正常，否则线切割机床有故障，在所有数据口都检测完后，测试结果指示模块14点亮相应的发光二极管指示；检测人员只需通过观察测试结果指示模块14中各个发光二极管的发光状态，即可判断线切割机床的正常与否；该系统在对线切割机床的检测过程中，可根据发光二极管的发光状态确定接线线序是否正确，使得复杂的工作变得简单又直观，极大地提高了工作的效率，具有较强的推广与应用价值。
[0097]以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种用于线切割机床连线测试的系统，其特征在于，该系统包括: 用于向线切割机床输出测试信号的信号输出模块； 用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号的信号输入模块； 与所述信号输出模块及信号输入模块相连接，用于输出测试信号至所述信号输出模块，并接收所述信号输入模块采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号的信号处理模块； 与所述信号处理模块相连接，用于接收所述信号处理模块输出的测试结果指示信号，并根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示的测试结果指示模块。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号处理模块采用的是型号为STC89C51的单片机(Ul);所述信号输出模块由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；所述信号输入模块由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述单片机(Ul)的端口P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，所述单片机(Ul)的端口 P3.4-P3.7分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口PO与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，所述锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座Jl相连接。5.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口P2 口的8位总线分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 A相连接，所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B与P34芯双排插座J2相连接。6.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述锁存器(U2)输出端信号的定义为:XAXB XC XD XE 和 UA UB UC ； 所述锁存器(U3)输出端信号的定义为:YA YB YC YD YE和VA VB VC ; 所述锁存器(U4)输出端信号的定义为:取样+、取样_、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X 轴、+24V U 轴； 所述锁存器(U5)输出端信号的定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。7.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述三态总线驱动器(U6)的8位数据端口B的信号定义为:XA XB XC XD XE和UA UB UC ； 所述三态总线驱动器(U7)的8位数据端口 B的信号定义为:YA YB YC YD YE和VA VBVC 所述三态总线驱动器(U8)的8位数据端口 B的信号定义为:取样+、取样_、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴； 所述三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B的信号定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。8.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试结果指示模块包括:电阻RU发光二极管L1、发光二极管L2、电阻R2、电阻R3、发光二极管L3、发光二极管L4、电阻R4、电阻R5、发光二极管L5、发光二极管L6、电阻R6、电阻R7、发光二极管L7、发光二极管L8、电阻R8、电阻R9、发光二极管L9、发光二极管LlO、电阻RlO、电阻Rl 1、发光二极管LI 1、发光二极管L12、电阻R12、电阻R13、发光二极管L13、发光二极管L14、电阻R14、电阻R15、发光二极管L15、发光二极管L16、电阻R16 ； 所述电阻Rl与发光二极管L1、发光二极管L2及电阻R2依次串联构成支路一； 所述电阻R3与发光二极管L3、发光二极管L4及电阻R4依次串联构成支路二 ； 所述电阻R5与发光二极管L5、发光二极管L6及电阻R6依次串联构成支路三； 所述电阻R7与发光二极管L7、发光二极管L8及电阻R8依次串联构成支路四； 所述电阻R9与发光二极管L9、发光二极管LlO及电阻RlO依次串联构成支路五； 所述电阻Rll与发光二极管L11、发光二极管L12及电阻R12依次串联构成支路六； 所述电阻R13与发光二极管L13、发光二极管L14及电阻R14依次串联构成支路七； 所述电阻R15与发光二极管L15、发光二极管L16及电阻R16依次串联构成支路八； 所述支路一、支路二、支路三、支路四、支路五、支路六、支路七及支路八并联连接。
【文档编号】B23H11/00GK105880765SQ201410630914
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2014年11月5日
【发明人】匡小红
【申请人】宁波市镇海匡正电子科技有限公司