一种半导体焊接用铜线的加工方法与流程

文档序号:12347037阅读:750来源:国知局

本发明涉及电工用铜技术领域,尤其涉及一种半导体焊接用铜线的加工方法。



背景技术:

在半导体IC封装中,芯片和引线框架(基板)的连接要靠引线来实现,这种引线大多采用纯金线。然而金是贵金属,随着金价不断上涨,使半导体器件的制造成本不断增加,为此需要寻找其他更适合的金属来替代金线材料。由于铜线具有导电性能好、低成本、最大允许电流高、高温下稳定性高等优点,人们采用铜线替代金线以降低材料成本。但铜线的延伸性及抗氧化性没有金线好,而且铜线的质量对焊接效率及效果影响较大,造成铜线与半导体器件金层或银层结合不好,难结合,拉力不够等问题。

现有技术中,为了改善铜线的性能而采用金和铜的合金材料,但金的含量大于15%,其虽然提高了铜线的延伸性,但可焊性能差,而且成本高。



技术实现要素:

基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种半导体焊接用铜线的加工方法,其加工得到的铜线具有延伸性高、抗氧化性强,可焊性好的优点。

本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,包括如下步骤:

S1、按重量百分含量将Ag 0.01-0.03%,Fe 0.01-0.03%,Ni 0.005-0.01%,P 0.003-0.008%,B 0.001-0.003%,Pd 0.003-0.006%,Nb 0.001-0.003%,余量为纯度≥99.99%的无氧铜混合后,在氮气保护下加入高频炉中进行熔炼,升温至1220-1250℃,保温至熔化完全得到熔液,精炼20-40min后,经定向凝固得到直径为10-15mm的铜杆坯;

S2、将S1中得到的铜杆坯加热到950-980℃后进行热轧加工,得到直径为2-4mm的铜母线,终轧温度为730-750℃,将所述铜母线铣面去除氧化皮后进行截面收缩率为35-45%的冷轧加工,在570-600℃的退火温度下退火处理2-6min,再进行截面收缩率为15-25%的冷轧加工,在530-550℃的退火温度下退火处理1-5min,再进行截面收缩率为5-10%的冷轧加工;

S3、将S2中得到的铜母线进行多道次拉拔,得到直径为0.01-0.05mm的铜线,并在不同道次拉拔之间进行中间连续退火,退火温度为480-510℃,退火速度为130-180rpm,得到所述半导体焊接用铜线。

优选地,S1中,([Fe]+[Ni]):[P]=5-6,[Fe]为Fe在熔液的中的重量百分含量,[Ni]为Ni在熔液的中的重量百分含量,[P]为P在熔液的中的重量百分含量。

优选地,S1中,所述稀土元素为镧La、铈Ce、钇Y、钆Gd中的一种或者多种的组合。

优选地,S1中,升温至1220-1250℃过程中,升温过程中符合T=et-5,T为升温温度,T的单位为℃,t为升温时间,t的单位为min。

优选地,S2中,热轧采用Y250-8型三辊连轧机列,轧制过程中,将所述铜杆坯先轧至直径为7-8mm,再轧至直径为5-6mm,最后轧至直径为2-4mm。

优选地,S2中,先在580℃的退火温度下退火处理4min,再在540℃的退火温度下退火处理3min。

优选地,S3中,在进行中间连续退火时通入氮气和氢气的混合气体,氮气的流量为6-8L/min,氢气的流量为0.5-1L/min。

相较于现有技术,本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,一方面,在高纯氮气保护的条件下,向高纯无氧铜中加入合金进行熔炼,通过控制合理的配比,在铜熔液中引入了合金元素Ag、Fe、Ni、P、Mg、B、Nb和稀土,其中,Ag的加入除了利用本身优异的导电性来提高铜线的电导率以外,还利用Ag对铜的强化作用,从而使铜合金的强度和韧性性能同时得到提高,由此获得好的延伸性能,除此之外,Ag还可使得铜基体处于饱和状态,促使铜基体中的Fe及P的合金元素进一步析出,即增加了铜线合金中第二颗粒析出相的数量,后者除了能提高铜线合金韧性,对铜的电导性能影响较小;Fe、Ni、P三者的同时加入,有利于在铜线材料中形成复合强化相,后者可以大幅度提高铜线材料的强度和延伸性能,但由于Fe、Ni相对P过量将会使得合金的加工性能和导电性能的恶化,而过少将难以达到沉淀强化的目的,因此控制Fe、Ni、P的含量及适宜的比例对于铜线的综合性能改善具有明显的效果;此外,由于稀土元素与铜的原子大小及价电子的差别,因此合金化后对铜线导体的电导率基本没有影响,确保了导电用铜线的导电率,并且稀土元素同时使得熔体晶粒得到细化,从而较好地提高铜线的延伸性能,提高了铜线塑性加工能力,并在一定程度上降低了硬度性能;而B与氧的亲和力虽然不及稀土,但B在铜和铜合金中有比稀土更显著的细化晶粒作用,因此可以更好地提高铜线的力学性能以及导电性能,并且稀土和B复配合金化能够更加有效的发挥净化、微晶化等的作用,使铜中杂质减少,晶格畸变减弱,电子散射几率减少,对于改善铜线合金的塑性加工以及电导性能效果显著;还有,微量Nb、Pd的复配加入可以明显提高铜的抗氧化能力,对铜有脱氧作用,因此所得到铜线合金的防氧化性能显著。

另一方面,为了进一步改善铜线合金的力学和导电性能,本发明中除了对铜线的合金化元素进行选择以外,还对其加工工艺进行了严格的控制,首先在对铜线合金进行熔炼中,选择在高纯氮气保护下进行,使得熔炼过程中不与空气接触,因此能够获含氧和其他气体极少的铜线合金,与此同时,在熔炼过程中还限定合金熔融过程中的升温速率,以适配各合金元素的溶解度规律,从而可以调整铜基体中的溶质分布,对改善合金力学以及导电性具有显著效果;此后采用定向凝固的工艺制成铜杆坯,这种工艺使得铸坯的凝固组织取向一致,表现出比普通上引铜杆更优异的塑性加工性能;还有在对杆坯进行多级轧制,并逐级开展退火处理时,热轧工艺的控制使得铜线合金中的固溶体能够均匀、弥散分布在基体中,再进行多级冷轧工艺时,固溶颗粒的被逐渐压扁、拉长,形成一些短条带状以及部分长线状分布,而热轧和冷轧工艺同时还使得合金中的气孔、微裂纹等铸造缺陷消失,并由粗大的柱状晶变为细小均匀的等轴晶,同时通过对逐级冷轧后的合金分别进行退火处理,可以有效控制铜线合金加工过程中的析出相的尺寸、形态及其分布,因此,经过上述轧制后的铜线合金,其形变强化、固溶强化以及细晶强化效果明显,对于提高铜线的综合性能具有显著的效果,有助于获得一种高塑性的铜线合金制品;最后为了得到合适直径大小的铜线,还对线材进行多道次拉拔并退火,可以进一步将合金转变为细小均匀、致密的再结晶组织,并在惰性气体保护下进行退火时,消除残余应力,降低位错、空位等缺陷,铜线的导电性能亦得到改善,从而解决传统铜线易断裂、易氧化、及不易焊接的影响,并由此加工得到一种适宜半导体焊接用的铜线。

综合上述,本发明从铜线的导电、延伸性、抗氧化性能出发,对生产铜线的合金元素种类含量进行合理设计,明显改善铜线的延伸率、抗氧化以及电阻率,使其综合性能显著提高;与此同时,采用合理的加工工艺来进一步改善铜线的塑性、导电和抗氧化性能,对熔炼,热轧,冷轧,退火,拉拔过程中的温度以及工艺参数进行优化,使得铜线的导电、塑性、焊接等性能都得到良好控制,整个加工方法形成相互配合的整体。

具体实施方式

下面,通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。

实施例1

本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,包括如下步骤:

S1、按重量百分含量将Ag 0.01%,Fe 0.03%,Ni 0.005%,P 0.008%,B 0.001%,Pd 0.006%,Nb 0.001%,La 0.012%,余量为纯度≥99.99%的无氧铜混合后,在氮气保护下加入高频炉中进行熔炼,升温至1220℃,保温至熔化完全得到熔液,精炼40min后,经定向凝固得到直径为10mm的铜杆坯;

S2、将S1中得到的铜杆坯加热到950℃后进行热轧加工,得到直径为4mm的铜母线,终轧温度为730℃,将所述铜母线铣面去除氧化皮后进行截面收缩率为45%的冷轧加工,在570℃的退火温度下退火处理6min,再进行截面收缩率为15%的冷轧加工,在550℃的退火温度下退火处理1min,再进行截面收缩率为10%的冷轧加工;

S3、将S2中得到的铜母线进行多道次拉拔,得到直径为0.01mm的铜线,并在不同道次拉拔之间进行中间连续退火,并通入氮气和氢气的混合气体,氮气的流量为8L/min,氢气的流量为0.5L/min,退火温度为510℃,退火速度为130rpm,得到所述半导体焊接用铜线。

实施例2

本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,包括如下步骤:

S1、按重量百分含量将Ag 0.03%,Fe 0.01%,Ni 0.01%,P 0.003%,B 0.003%,Pd 0.003%,Nb 0.003%,Ce 0.008%,余量为纯度≥99.99%的无氧铜混合后,在氮气保护下加入高频炉中进行熔炼,升温至1250℃,保温至熔化完全得到熔液,精炼20min后,经定向凝固得到直径为15mm的铜杆坯;

S2、将S1中得到的铜杆坯加热到980℃后进行热轧加工,得到直径为2mm的铜母线,终轧温度为750℃,将所述铜母线铣面去除氧化皮后进行截面收缩率为35%的冷轧加工,在600℃的退火温度下退火处理2min,再进行截面收缩率为25%的冷轧加工,在530℃的退火温度下退火处理5min,再进行截面收缩率为5%的冷轧加工;

S3、将S2中得到的铜母线进行多道次拉拔,得到直径为0.05mm的铜线,并在不同道次拉拔之间进行中间连续退火,并通入氮气和氢气的混合气体,氮气的流量为6L/min,氢气的流量为1L/min,退火温度为480℃,退火速度为180rpm,得到所述半导体焊接用铜线。

实施例3

本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,包括如下步骤:

S1、按重量百分含量将Ag 0.02%,Fe 0.02%,Ni 0.007%,P 0.005%,B 0.002%,Pd 0.004%,Nb 0.002%,Y 0.001%,余量为纯度≥99.99%的无氧铜混合后,在氮气保护下加入高频炉中进行熔炼,升温至1230℃,保温至熔化完全得到熔液,精炼30min后,经定向凝固得到直径为12mm的铜杆坯;

S2、将S1中得到的铜杆坯加热到960℃后进行热轧加工,得到直径为3mm的铜母线,终轧温度为740℃,将所述铜母线铣面去除氧化皮后进行截面收缩率为40%的冷轧加工,在580℃的退火温度下退火处理4min,再进行截面收缩率为20%的冷轧加工,在540℃的退火温度下退火处理3min,再进行截面收缩率为7%的冷轧加工;

S3、将S2中得到的铜母线进行多道次拉拔,得到直径为0.03mm的铜线,并在不同道次拉拔之间进行中间连续退火,并通入氮气和氢气的混合气体,氮气的流量为7L/min,氢气的流量为0.7L/min,退火温度为500℃,退火速度为150rpm,得到所述半导体焊接用铜线。

实施例4

本发明提出的一种半导体焊接用铜线的加工方法,包括如下步骤:

S1、按重量百分含量将Ag 0.02%,Fe 0.02%,Ni 0.008%,P 0.006%,B 0.002%,Pd 0.005%,Nb 0.002%,稀土元素0.0011%,余量为纯度≥99.99%的无氧铜混合后,所述稀土元素为Y和Gd,在氮气保护下加入高频炉中进行熔炼,升温至1240℃,保温至熔化完全得到熔液,精炼35min后,经定向凝固得到直径为13mm的铜杆坯;

S2、将S1中得到的铜杆坯加热到970℃后进行热轧加工,得到直径为3mm的铜母线,终轧温度为745℃,将所述铜母线铣面去除氧化皮后进行截面收缩率为42%的冷轧加工,在590℃的退火温度下退火处理3min,再进行截面收缩率为18%的冷轧加工,在545℃的退火温度下退火处理4min,再进行截面收缩率为8%的冷轧加工;

S3、将S2中得到的铜母线进行多道次拉拔,得到直径为0.02mm的铜线,并在不同道次拉拔之间进行中间连续退火,并通入氮气和氢气的混合气体,氮气的流量为7L/min,氢气的流量为0.8L/min,退火温度为490℃,退火速度为160rpm,得到所述半导体焊接用铜线。

对上述实施例1-4中得到的半导体焊接用铜线进行测试,其半硬态测试结果满足抗拉强度≥200MPa,屈服强度≥160MPa,伸长率≥15%,电阻率为0.01691-0.01719Ωmm2/m(电导率≥98%IACS)。

以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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