本发明涉及晶体生长技术领域,尤其涉及一种利用还原气体提高aln单晶纯度的方法。
背景技术:
aln单晶因其晶格常数和热膨胀系数与高al组分algan非常接近,能够显著提高外延层晶格质量,减少缺陷密度,从而提高器件的内量子效率,目前已经成为外延生长algan制作深紫外器件的最佳衬底,包括深紫外led和深紫外探测器。同时,aln单晶具有很多优点,包括高击穿场强、高热导率、高硬度、电学性能优异等,这使得其在高温高频功率电子器件中也能扮演重要的角色。要得到高质量的aln单晶,目前国际上成功实现大尺寸aln单晶的生长方法是物理气相输运法(pvt法)。pvt生长aln的设备主要有石墨炉感应加热系统和钨炉电阻加热系统,其基本原理都是aln源粉在坩埚底部高温处升华,通过输运在坩埚顶部低温处结晶。相应地,在石墨感应炉内,sic籽晶异质外延aln,或者在钨电阻炉内,同质外延生长aln单晶,多代淘汰得到高质量的aln单晶,这条路线的核心在于如何提高晶体质量;二是在钨电阻炉内,自发形核得到一个尺寸较小但质量很高的aln单晶籽晶,进而同质外延得到aln单晶,这条路线的核心在于如何扩大晶体尺寸。
目前,国际上已有研究小组能够通过pvt方法得到位错密度较低的2英寸高质量aln单晶,但其中杂质含量高,主要包括o、c、si,以o杂质为主。pvt法中aln的生长温度高达2000℃,在这种高温环境中,源粉中和气氛中的杂质将进行分解,非常活跃,容易发生反应,主要形成alxoy和alon,进一步会并入aln晶格。这些过程所引入的杂质会在aln能带中引入缺陷能级,引起严重的光吸收,对光电器件制备不利。如何提高aln籽晶的纯度已经成为aln单晶衬底研制中的主要任务之一。
技术实现要素:
为了克服上述问题,本发明提供一种利用还原气体提高aln单晶纯度的方法,能够有效降低aln晶体中杂质含量从而提高其纯度,制备得到的aln单晶纯度高。
该制备方法区别于现有技术的核心是:在物理气相输运方法(pvt方法)中的粉体纯化和单晶生长阶段,分步通入微量活性气体,利用活性气体在高温下(1500℃及以上)具有较强的还原性的特性,在升温粉体提纯阶段和高温单晶生长阶段,活性气体与杂质元素发生反应,生成活性气体相应的氧化物(如氢元素还原氧元素得到水分子),这些氧化物在高温下不易沉积并入晶格,而是随着气流离开坩埚,从而达到去除主要杂质o元素的目的。活性气体包括但不限于甲烷、氨气、氢气、乙炔等及其混合气体,甲烷、乙炔、氨气在反应室的高温下会发生裂解,皆会生成氢气,氢气进一步起到还原氧元素的作用。采用此方法生长高纯度aln单晶,需要根据pvt设备不同加热方式及不同生长阶段,调整具体的轻掺活性气氛组成、浓度和最优温度,以保证在粉体提纯和单晶生长阶段,环境气氛、坩埚表面、加热及保温材料表面、粉体内部及升华气体中杂质元素的有效去除,同时微量的活性气体又不会对热区材料和原料粉体造成不良影响。在整个过程中,本方法适用的温度范围1500–2500℃,活性气氛占总气氛的质量浓度比例为10~10000ppm。
本发明提供的技术方案是:
一种利用还原气体提高aln单晶纯度的方法,在物理气相输运方法(pvt方法)中的粉体提纯和单晶生长阶段,分步通入微量活性气体(气氛)进行轻掺;该活性气体在高温下(1500℃及以上)有较强的还原性;在升温粉体提纯阶段和高温单晶生长阶段,活性气体在高温下与杂质元素发生还原反应,从而去除杂质元素,生长得到高纯度aln晶体;温度范围为1500–2500℃;活性气氛占总气氛的质量浓度比例为10~10000ppm。
本发明提供的制备aln单晶的方法具体包括如下步骤:
1)炉体充抽换气:
放置装有原料(高纯aln源粉)的坩埚到炉体并封闭炉体,对炉体环境进行抽真空到1torr,并充高纯氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次抽真空达到10-4torr;
2)炉体充气保压:
停止对炉体抽真空后,向炉体中通入高纯氮气或一定比例(范围为0.1~0.9)的高纯氮气/高纯氩气的混合气体,形成环境气氛,并使腔体总压强保持稳定,压强范围为10~900torr;
3)炉体升温:
选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行升温,并保持压强稳定;
4)通入微量活性气体:
在温度升至>1300℃后,打开微量流量计向炉体中持续通入微量活性气体,活性气体根据炉体内部材料进行选择,包括但不限于甲烷、氨气、氢气、乙炔等中的一种或是其中多种的混合气体,轻掺活性气体的质量浓度控制在10~10000ppm;
5)粉体纯化/晶体生长阶段:
根据生长目的的不同,将温度升高并稳定到设定值,其中粉体纯化温度1500–2000℃,纯化时间根据粉源质量和生长需要进行调整,建议时间范围1-48小时;晶体生长温度1800–2500℃,生长时间可根据生长需要确定,一般可为4-96小时;
6)降温过程:
粉体纯化/晶体生长完成之后,开始选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行降温。当温度下降到<1300℃后,关闭微量流量计停止通入微量活性气体;
7)开炉取样:
炉体降到室温后,抽真空到1torr,随后充氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次充氮气到常压。然后开炉取出坩埚。
通过上述步骤,即制备得到高纯度aln晶体。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明提供一种利用还原气体提高aln单晶纯度的方法,是一种有效降低aln晶体中杂质含量提高其纯度的处理技术方案,提高aln单晶衬底纯度。其优点是:第一,通过轻掺活性气体,可以在源粉处理时和生长时,降低源粉中杂质含量及生长过程中引入晶体的杂质含量;第二,不需要较长的生长周期,仅需一次生长即可得到高纯度的aln单晶衬底,充分减少了时间和成本。
在粉体提纯阶段和高温单晶生长阶段中通入微量的活性气氛,即可以有效降低粉体提纯阶段和高温单晶生长阶段的杂质元素含量,同时安全性和实用性较好。通过这种技术手段,可以使aln单晶中杂质含量出现明显下降,从而提高了aln衬底的光学质量,扩展aln晶体应用。
附图说明
图1是本发明实施例采用轻掺活性气氛技术制备高纯度aln单晶所用炉体的基本结构;
其中,1为炉体外壳,密封性好,可以保证真空度、气体压强及气氛纯度;2为炉体内的气氛,实验中以高纯氮气或高纯氮气氩气混合为主;3为加热和保温部分,对于石墨感应加热系统,3为石墨坩埚和石墨保温层,对于钨电阻加热系统,3为保温钨钼屏;4为碳化钽坩埚或钨坩埚;5为高纯aln粉体;6为气体入口,能够输入高纯氮气、高纯氩气及微量活性气体;7为气体出口,由干泵和分子泵进行抽气,通过真空阀来调控。
图2是本发明实施例采用轻掺活性气氛技术制备高纯度aln单晶的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图,通过实施例进一步描述本发明,但不以任何方式限制本发明的范围。
图1是本发明实施例采用轻掺活性气氛技术制备高纯度aln单晶所用炉体的基本结构。坩埚内为反应区,加热体为坩埚提供超过2000摄氏度的高温,保温层保证高温持续并形成一定的温度梯度,满足晶体生长温场分布的要求。坩埚及外层加热保温区不是完全密封的,气流可以于缝隙处通过。干泵和分子泵可以抽真空并且保持一定的真空度,同时在通入氮气时,真空泵工作,使炉内气体得以更换,并保证压强稳定。在实验过程中,氮气保持通入维持压强,微量活性气体在特定阶段内持续通入。
图2是本发明实施例采用轻掺活性气氛技术制备高纯度aln单晶的流程框图。
实施例一石墨炉纯化aln粉体(采用甲烷或乙炔)
1)炉体充抽换气:
放置装有高纯aln源粉的碳化钽坩埚到炉体并封闭炉体,对炉体环境进行抽真空到1torr,并充高纯氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次抽真空达到10-4torr;
2)炉体充气保压:
停止对炉体抽真空后,向炉体中通入高纯氮气或比例范围为0.1~0.9的高纯氮气/高纯氩气的混合气体,形成环境气氛,并使腔体总压强保持稳定,压强范围为10~900torr;
3)炉体升温:
选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行升温,并保持压强稳定;
4)通入微量活性气体:
在温度升至>1300℃后,打开微量流量计向炉体中持续通入微量活性气体,活性气体包括但不限于甲烷、乙炔中的一种或是其中多种的混合气体,轻掺活性气体的质量浓度控制在10~10000ppm;
5)粉体纯化:
将温度升高并稳定到设定值,粉体纯化温度1500–2000℃,纯化时间根据粉源质量和生长需要进行调整,建议时间范围1-48小时;
6)降温过程:
粉体纯化完成之后,开始选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行降温。当温度下降到<1300℃后,关闭微量流量计停止微量活性气体通入;
7)开炉取样:
炉体降到室温后,抽真空到1torr,随后充氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次充氮气到常压。然后开炉取出坩埚。
实施例二石墨炉生长aln单晶(采用甲烷或乙炔)
1)炉体充抽换气:
放置装有aln烧结体的碳化钽坩埚到石墨炉体并封闭炉体,对炉体环境进行抽真空到1torr,并充高纯氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次抽真空达到10-4torr;
2)炉体充气保压:
停止对炉体抽真空后,向炉体中通入高纯氮气或比例范围为0.1~0.9的高纯氮气/高纯氩气的混合气体,形成环境气氛,并使腔体总压强保持稳定,压强范围为10~900torr;
3)炉体升温:
选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行升温,并保持压强稳定;
4)通入微量活性气体:
在温度升至>1300℃后,打开微量流量计向炉体中持续通入微量活性气体,活性气体包括但不限于甲烷、氨气、氢气、乙炔等中的一种或是其中多种的混合气体,轻掺活性气体的质量浓度控制在10~10000ppm;
5)晶体生长:
将温度升高并稳定到设定值,晶体生长温度1800–2500℃,生长时间根据生长需要进行调整,建议时间范围4-96小时;
6)降温过程:
晶体生长完成之后,开始选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行降温。当温度下降到<1300℃后,关闭微量流量计停止微量活性气体通入;
7)开炉取样:
炉体降到室温后,抽真空到1torr,随后充氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次充氮气到常压。然后开炉取出坩埚。
实施例三钨炉生长aln单晶(采用氨气或氢气)
1)炉体充抽换气:
放置装有aln烧结体的钨坩埚到钨炉体并封闭炉体,对炉体环境进行抽真空到1torr,并充高纯氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次抽真空达到10-4torr;
2)炉体充气保压:
停止对炉体抽真空后,向炉体中通入高纯氮气或比例范围为0.1~0.9的高纯氮气/高纯氩气的混合气体,形成环境气氛,并使腔体总压强保持稳定,压强范围为10~900torr;
3)炉体升温:
选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行升温,并保持压强稳定;
4)通入微量活性气体:
在温度升至>1300℃后,打开微量流量计向炉体中持续通入微量活性气体,活性气体包括氨气、氢气中的一种或是其混合气体,轻掺活性气体的质量浓度控制在10~10000ppm;
5)晶体生长:
将温度升高并稳定到设定值,晶体生长温度1800–2500℃,生长时间根据生长需要进行调整,建议时间范围4-96小时;
6)降温过程:
晶体生长完成之后,开始选择合适的温度梯度(1~20℃/min)进行降温。当温度下降到<1300℃后,关闭微量流量计停止微量活性气体通入;
7)开炉取样:
炉体降到室温后,抽真空到1torr,随后充氮气到500torr,如此充抽置换腔体内气氛3~5次,最后1次充氮气到常压。然后开炉取出坩埚。
需要注意的是,公布实施例的目的在于帮助进一步理解本发明,但是本领域的技术人员可以理解:在不脱离本发明及所附权利要求的精神和范围内,各种替换和修改都是可能的。因此,本发明不应局限于实施例所公开的内容,本发明要求保护的范围以权利要求书界定的范围为准。