专利名称：：带形薄膜的卷绕状态的评估方法以及带形薄膜的卷绕方法
技术领域：
：本发明涉及一种卷绕状态评估方法；一种带形薄膜卷绕方法，其中卷绕条件是根据前述评估方法的结果来进行控制的；以及采用前述卷绕方法所卷绕的一种带形薄膜。带形薄膜的实例包括切割成小宽度的带形薄膜，如在输运电子部件时所使用的承载带上的封^^市O
背景技术：
：在输运芯片式电子器件如IC器件时，通常使用通过对塑料板进行压纹以标准间隔连续地形成多个凹陷来形成的承载带。在将芯片式的电子器件插入这些凹陷中之后，通过用封盖带将该承载带的上表面热密封来密封这些电子部件，然后将它们卷绕到芯轴上以便输运。所使用的用于密封的封盖带通常是从宽的原始卷切割成为窄的带形薄膜的形式，然后卷绕到芯轴之上以进入市场。然而，如果该带形薄膜卷绕不良，那么在输运或存储过程中的环境温度和湿度会致使该卷绕变得畸形，并且在极端情况下，导致卷绕松脱而使之无法使用。不良卷绕的可能原因包括该带形薄膜自身的问题，如该带形薄膜的厚度不均勻(存在厚度变化)，以及卷绕方法的问题，如卷绕过程中的张力设定不当。用于改进带形薄膜卷绕方法的手段的实例包括一种方法，其中在将该带形薄膜卷绕到芯轴上的过程中使得卷绕电动机的转矩是可变的，以使它在改变张力的同时可以连续地进行卷绕(专利文件1)；一种在卷绕过程中使用接触滚轮的方法，以便根据卷绕直径来移动该接触滚轮的支承部分(专利文件2)；以及一种在卷绕过程中使用压迫滚轮的方法，以便在该卷绕过程的开始以及该卷绕过程的结束时控制压力负荷(专利文件3)。专利文件1JP2002-274707A专利文件2JP2OO5-2O63OlA专利文件3JP2006-225135A
发明内容本发明要解决的问题然而，确定带形薄膜是否被适当地卷绕必须根据几种基于感官评估的不确定的方法，如由一位经验丰富的工人来视觉观察或者通过直接手动接触来发现卷绕到芯轴上的带形薄膜的边缘表面的状态。此外，即使通过视觉观测与触摸而判断为卷绕成无问题的状态时，仍存在一些情况，其中带形薄膜在输运或存储过程中会发生松弛和卷绕松脱。因此，对于需要客观并且定量地确定卷绕到芯轴上的带形薄膜的卷绕状态是否良好、而无需依赖基于视觉与触觉的主观评估的有效手段存在一种需求。本发明是考虑上述情况而做出的，并且它提供了一种评估带形薄膜卷绕状态的方法，该方法使其能够客观精确地确定卷绕在芯轴上的带形薄膜的卷绕状态；一种带形薄膜卷绕方法，该方法通过根据基于前述评估方法的评估结果来控制卷绕条件而能够防止输运和存储过程中发生卷绕状态畸变和卷绕松脱；以及一种采用前述卷绕方法所卷绕的带形薄膜。解决问题的方法作为对实现上述目的的方法进行辛勤研究的结果，发明人发现卷绕状态是否良好的客观确定可以通过以下方式做出，即在平行于该芯轴的旋转轴线的方向上朝着卷绕到芯轴上的带形薄膜生成超声波、接收反射波或者透射波，由此确定由该带形薄膜所引起的超声波衰减率，以及分析在带形薄膜中衰减率的分布。这就是说，本发明提供了一种对卷绕在芯轴上的带形薄膜的卷绕状态进行评估的方法，该方法的特征在于包括以下步骤在平行于该芯轴旋转轴线的方向上朝着该带形薄膜生成超声波、并且接收反射或者透射波，以确定该带形薄膜中的超声波衰减率；以及根据该带形薄膜中衰减率的分布来评估该带形薄膜卷绕状态。根据这种评估带形薄膜卷绕状态的方法，有可能客观地并且定量地确定卷绕到芯轴上的带形薄膜的卷绕状态是否良好，而无需依赖于视觉或触觉。此外，通过根据所获得的评估结果来控制卷绕条件，可以提供一种卷绕具有良好卷绕状态的带形薄膜的方法、以及一种具有良好卷绕状态的带形薄膜。发明的效果本发明使得能够高度精确并客观的确定卷绕到芯轴上的带形薄膜的卷绕状态是否良好。此外，由于该评估方法的结果可以用来优化卷绕条件，本发明还提供了一种卷绕具有良好卷绕状态的带形薄膜的方法、以及一种具有良好卷绕状态的带形薄膜。[图1]根据本发明所述的超声探伤装置的测量方法的示意图。[图2]—种从测量值中导出超声波衰减率的方法的示意图。1芯轴2带形薄膜3水4测量水箱5探针6超声探伤装置7计算机8超声衰减率测量系统10带形薄膜的半径11芯轴半径12评估范围具体实施例方式以下，将利用附图对本发明的实施方案进行说明。在所有附图中，相同的结构元件将被赋予相同的附图标记，并且将省略其说明。<评估带形薄膜卷绕状态的方法的概述>图1是说明本实施方案的评估带形薄膜卷绕状态的方法的一个概念图。如图1所示，根据本实施方案的评估带形薄膜卷绕状态的方法是按以下方式来进行的将卷绕到芯轴1上的带形薄膜2浸入到装有水3的测量水箱4之中，并使用超声衰减率测量系统8，该测量系统包括超声探针5，连接到该超声探针5上的超声探伤装置6，以及用于处理并显示该超声探针5的位置数据和由该超声探伤装置6输出的超声衰减率数据的计算机7。<带形薄膜>带形薄膜2是通过将通常用于工业目的树脂模制为薄膜并切割为窄的宽度而形成的。这类树脂的实例包括聚酯，如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、以及聚对苯二甲酸乙二醇酯与聚萘二甲酸乙二醇酯的混合物；聚烯烃，如聚丙烯和聚乙烯；聚氯乙烯树脂和苯乙烯树脂。该带形薄膜2可以是由上述树脂构成的单层结构薄膜，或者是采用前述薄膜作为基底，然后在此基底上叠层或者整合由烯烃树脂、苯乙烯树脂或它们的混合物所构成的密封层所形成的多层结构薄膜。虽然该带形薄膜2的厚度并不受具体限制，但是它应该是至少0.03mm至多2mm，优选0.Imm或更小，并且更优选为0.08mm或更小。至少0.03mm的厚度是优选的，因为这使得在将带形薄膜2卷绕到芯轴1上或者将该带形薄膜2从卷绕状态中拉出时发生膜带撕裂之类故障的可能性更小。另一方面，为易于处理起见并考虑到主要的用途，带形薄膜2的厚度应该是最多2mm。虽然该带形薄膜2的宽度并不受具体限制，但是它总体上应该是至少Imm最多50mm，优选IOmm或更小。该宽度应该优选为至少1mm，以使之在输运或存储过程中更少可能发生卷绕松脱。另一方面，为易于处理起见并考虑到主要的用途，该带形薄膜2的宽度应该是50mm或更小。关于切割该带形薄膜2的方法，在下刀片与上刀片之间切割薄膜的剪切式切割法是适用的，但是本发明并不局限于此，可以使用不同的切割方法。<芯轴>对于芯轴1，它适合于使用由纸材料或塑料材料构成的芯轴。为了有能力承受在卷绕带形薄膜2时施加于该芯轴1上的应力，优选使用塑料材料。此外，为了提高该芯轴1强度的目的，一种结合了玻璃纤维的树脂可以用作其材料。<超声衰减率测量系统>超声衰减率测量系统8可以是通常在无损检测中所使用的任何系统，并且不限于本实施方案中所示出的系统。图1所示的超声衰减率测量系统8包括超声探针5，连接到到该超声探针5上的超声探伤装置6，以及其上连接的计算机7。图1中示出的超声衰减率测量系统8是一种单探针法，其中，单探针5生成超声脉冲并接收反射的超声脉冲。本发明不仅可使用单探针法也可以使用双探针法，其中超声脉冲被分开地产生和接收。在双探针法的情况下，可以使用脉冲反射法亦或用脉冲透射法。图1所示的超声衰减率测量系统8使用浸水探伤法，其中样品被浸在水3之中。换言之，图1所示的超声衰减率测量系统8测量超声衰减率的方式是将带形薄膜2浸入注满测量水箱4的水3中，使用单探针5朝向浸入水中的带形薄膜2生成超声脉冲并接收反射波。除水3之外，注入该测量水箱4中的介质可以是油脂，例如常用于超声探伤的油脂。该探针5在与该芯轴1的旋转轴线方向平行的方向上、朝向作为样品的带形薄膜2生成超声波，并接收所反射的超声脉冲。在此，表述“平行”是指与旋转轴线大致平行的一个方向，而无需使它完美地平行。因此，例如，只要该脉冲是在与该旋转轴线成约士10°的倾角的范围之内，测量就是可能的。该探针5的位置可以由超声探伤装置6或者计算机7来控制，并且探针5的位置信息始终可以在计算机7上见到。对于由该探针5所生成的超声脉冲的控制以及对所接收的超声脉冲的处理是由超声探伤装置6来执行的。超声探伤装置6根据该探针5所生成的超声脉冲与该探针5所接收的超声脉冲来计算该超声衰减率，并且将计算结果发送给计算机7。该计算机7结合从超声探伤装置6接收的超声衰减率数据来处理该探针5的位置信息，并且显示该带形薄膜2上的超声衰减率分布。<超声衰减率测量方法>测量卷绕到芯轴1上的带形薄膜2的超声衰减率的方法可以是任何常用的方法，并且它不受具体限制。在此，将说明一种使用图1所示超声衰减率测量系统8的测量方法。测量水箱4装有水3，然后将作为样品的带形薄膜2完全浸入测量水箱4之中。由于残留在带形薄膜2与水3之间的界面上的任何空气将产生噪声，所以应该将其完全去除。测量超声衰减率的方式是在平行于该芯轴1的旋转轴线的方向上从探针5朝向卷绕到该芯轴1上的带形薄膜2生成超声脉冲，然后在该探针5处接收反射波。超声衰减率是根据所生成的超声脉冲强度与所接收的超声脉冲强度之间的差值来计算的，这利用事实上探针5所生成的超声脉冲将会被样品带形薄膜2中的声衰减部分所衰减，典型地这是由于存在卷绕过程中所捕获的空气。因为衰减率通常随着离开该芯轴1的距离而变化，呈以该芯轴1为中心的同心分布，通过仅在该带形薄膜2的径向上对探针5简单地进行线性扫描来研究局部的超声衰减率分布情况，这有可能粗略地做出与在全范围内对该带形薄膜2进行测量时相同的评估。因此，当需要快速、简便地测量出超声衰减率时，仅在径向上测量带形薄膜2就是足够的。然而，由于存在局部气穴的异常情况，优选在该带形薄膜2的整体上扫描探针5并且在该带形薄膜2的全范围上测量超声衰减率分布情况以便对卷绕状态做出精确评估。随后，计算机7结合在该位置上的超声衰减率来处理探针5的位置信息，并且显示带形薄膜2的超声衰减率分布。<带形薄膜卷绕状态的评估方法>带形薄膜卷绕状态的评估的方法是例如按照图2所示来进行的。图2(A)示出了卷绕在芯轴1上的带形薄膜2的全范围超声衰减率分布。在该附图中，超声衰减率被划分以下五个等级1)小于10%；2)大于等于10%并小于30%；3)大于等于30%并小于50%；4)大于等于50%并小于70%；以及5)大于等于70%，以便能够在视觉上理解超声衰减率的分布。通过根据需要使得每个分区的宽度更窄可以更精确地理解该超声衰减率分布。此外，同样是优选的是添加颜色分级、图案或者等高线以使得该超声衰减中的变化更易于看见。如该附图所示，超声衰减率通常围绕该芯轴1呈同心分布。但是，存在以下少见的情况，其中无论卷绕条件如何而形成局部声衰减部分，也就是，局部气穴。这类局部发生的卷绕异常可以通过分析带形薄膜2在全范围上的超声衰减率分布而发现。图2(B)是示出超声衰减率在该带形薄膜2的径向上(评估范围12)相对于离开该芯轴1的距离的分布的示图。在此，离开该芯轴1的距离是由关于从卷绕到该芯轴1上的带形薄膜2的半径10中减去该芯轴1的半径11的长度的比例(％)来表示的。带形薄膜2的卷绕问题如卷绕松脱的一个原因是，表现一定超声衰减率的面积不是大到足以到达该带形薄膜2的径向上所必须被覆盖的比例。本发明所依据的发现是，如果在从卷绕在芯轴1上的带形薄膜2的半径10中减去的芯轴1的半径11的长度的至少50%的范围上该超声衰减率是30%或更小，则卷绕问题，如卷绕松脱，将不会发生。然而，由于卷绕状态受到该带形薄膜2的运输与存储条件的影响，所以优选地应根据需要来修正以上值<带形薄膜卷绕方法>通过在该带形薄膜卷绕状态的上述评估结果的基础上调整不同的卷绕条件，可以提供一种卷绕带形薄膜而不引起卷绕问题如卷绕松脱的方法。应考虑的卷绕条件的一个典型实例是在卷绕过程中施加在该带形薄膜上的卷绕张力。此外，在带形薄膜2被接触滚轮或压迫滚轮压靠在芯轴1上的卷绕模式中，还应该考虑由带形薄膜2施加的压力。至于将该带形薄膜2卷绕到该芯轴1上的方法，优选模式是将同时被切割成多个薄带的带形薄膜2同时卷绕到支承着多个芯轴1的多个卷绕轴上。在此模式下，这些卷绕轴应该是摩擦控制的，以便能够分别地控制各个带形薄膜2上的卷绕张力。该卷绕张力被设定为能够实现一种超声衰减率分布，其中考虑卷绕状态的评估结果，将不会发生带形薄膜2的卷绕问题，如卷绕松脱。通常，该卷绕张力被设置为使得在从卷绕在该芯轴1上的带形薄膜2的半径10中减去该芯轴1的半径11的长度的至少50%的范围上的超声衰减率是30%或更小。只要能够实现不发生卷绕问题(如卷绕松脱)的超声衰减率分布，这些卷绕条件能够以任何方式来设定，无论是以从进行卷绕开始以恒定的梯度来变化的方式、还是以依据卷绕半径进行适当调整的方式。此外，在将该带形薄膜2卷绕到芯轴1上时，如果该带形薄膜2是被压迫滚轮或类似物压靠在该芯轴1上，则考虑到卷绕状态的评估结果，该压力应设置为以便能够实现不会导致带形薄膜2的卷绕问题(如卷绕松脱)的超声衰减率分布。典型地，该压力被设置为使得在从卷绕在芯轴1上的带形薄膜2的半径10中所减去的该芯轴1的半径11的长度的至少50%的范围上，超声衰减率为30%或更小。无论是以从进行卷绕开始保持压力恒定的方式、还是以依据卷绕半径进行适当调整的方式，只要能够实现不发生卷绕问题(如卷绕松脱)的超声衰减率分布，该压力条件就能够以任何方式来设置。<功能和效果>以下，将参照图1和图2说明本实施方案的带形薄膜卷绕状态评估方法的功能和效果。根据本实施方案的带形薄膜卷绕状态的评估方法包括在平行于芯轴旋转轴线的方向上朝向该带形薄膜生成超声波并且接收反射波或透射波以确定该带形薄膜2中超声波衰减率的步骤；和根据该带形薄膜2中的衰减率分布来评估该带形薄膜2卷绕状态的步马聚ο由于这种结构，有可能以量化的方式客观地确定卷绕到芯轴上的带形薄膜2的卷绕状态是否良好，而无需依赖于视觉或触觉。此外，优选地该衰减率的分布是卷绕到该芯轴上的带形薄膜2在径向上的分布。在这种情况下，由于超声衰减率围绕芯轴1大致呈同心分布，通过简单地研究在该带形薄膜2的径向上线性地超声衰减率分布可以实现大致等效于在该带形薄膜2的全范围上进行测量所做出的评估，从而使得能够进行快速方便的评估。此外，可以实现使卷绕条件根据上述评估方法的评估结果而得到控制的一种卷绕带形薄膜2的方法。具体地讲，优选将卷绕条件控制为使得在从卷绕在该芯轴1上的带形薄膜2的半径10中减去该芯轴1的半径11的长度的至少50%的范围上，超声衰减率为30%或更小。根据这一卷绕方法，卷绕该带形薄膜2的方式可以使得在输运和存储过程中不发生卷绕异常，如卷绕松脱。此外，该带形薄膜2应该具有至少1mm、最多50mm的宽度。在此情况下，如带撕裂一类的麻烦不太可能发生，并且该带形薄膜易于操作。此外，该带形薄膜2的厚度优选为至少0.03mm、最多2mm。在此情况下，在运输或存储过程中卷绕松脱不太可能发生，并且该带形薄膜易于操作。此外，如果带形薄膜2是叠层膜，那么可以特别有利地使用该卷绕方法。总体上讲，叠层膜是通过依次沉积多层树脂膜而形成的，所以难以使膜的厚度一致，并且与具有单层结构的膜相比更可能发生气穴等等，而这些气穴是卷绕松脱以及类似情况的原因。根据这种卷绕方法，通过对卷绕状态进行量化并精确地进行评估，并根据评估结果来设置最佳卷绕条件，甚至可以对在厚度上具有较小变化且易受卷绕异常影响的叠层膜进行卷绕而不会发生问题(如卷绕松脱)。此外，叠层膜式的带形薄膜2作为承载带的封盖带是尤其有用的。虽然卷绕异常(如卷绕松脱)会导致用于承载带的封盖带不可使用，但是通过使用上述卷绕方法可以防止这类问题。此外，由于上述带形薄膜卷绕方法，卷绕的带形薄膜可以被有利地使用。通过此带形薄膜，在输运和存储过程中卷绕异常(如卷绕松脱)的发生率是低的。尽管以上本发明的实施方案是参照的，但这些只是本发明的几个简单实例，除上述之外的不同结构也是可能的。例如，虽然上述实施方案使用了利用单探针的浸水式探伤方法，但是还可以使用分别生成和接收超声脉冲的双探针法，并且样品未浸入水中的直接接触法也是可能的。无论使用哪类方法，都能够以与上述实施方案中相同的方式对超声衰减率进行测量，从而实现相同的功能与效果。实例以下将参照多个实例来进一步说明本发明，但本发明并不局限于此。<超声衰减率的测量>超声衰减率使用日本Krautkramer制造的超声探伤装置SDS5500(超声探伤仪HIS3HF)以及配备有Φ12.7mm探针的超声衰减率测量系统来测量的。测量水箱装有水，将卷绕到芯轴上的带形薄膜完全浸入其中，并且探针在该带形薄膜的径向上进行扫描，以研究超声衰减率的分布。该带形薄膜被卷绕成使得超声衰减率为30%或更小的区域满足下面指出的比例。实例1将440mm宽的原始卷切成大约5mm宽的带形薄膜，该原始卷的形成方式是，将16μm厚的聚对苯二甲酸乙二醇酯基底与38μm厚的聚乙烯树脂层、8μm厚的苯乙烯树脂层进行叠层，然后以50m/min的卷绕速度将其卷绕到半径46.5mm的芯轴上。在卷绕该带形薄膜时，将卷绕张力调整为使得从卷绕过程的开始到结束在50gf到70gf的范围中提高设定值，从而使得带形薄膜被卷绕成为超声衰减率为30%或更小的范围占69%。实例2与实例1相同，除以下事实之外在卷绕过程中对该带形薄膜上的卷绕张力在40gf到65gf的范围中进行调整，使得带形薄膜被卷绕为超声衰减率为30%或更小的范围占50%。实例3与实例1相同，除以下事实之外使用大约9mm宽的带形薄膜2，并且在卷绕过程中对该带形薄膜上的卷绕张力在130gf到160gf的范围内进行调整，使得带形薄膜被卷绕为超声衰减率为30%或更小的范围占60%。对比实例1与实例1相同，除以下事实之外在卷绕过程中将该带形薄膜上的卷绕张力调整为，从卷绕过程的开始到结束在55gf到70gf的范围内降低设定值，使得带形薄膜被卷绕为超声衰减率为30%或更小的范围占25%。对比实例2与实例1相同，除以下事实之外在卷绕过程中对该带形薄膜上的卷绕张力在IOgf到20gf的范围中进行调整，使得带形薄膜被卷绕为超声衰减率为30%或更小的范围占0%。〈卷绕状态的评估〉随后，对如以上指明的方式所卷绕的带形薄膜的卷绕状态进行视觉评估。将这些带形薄膜置于高温或低温环境中以模拟多种输运和存储环境之后，进行这些带形薄膜卷绕状态的评估。高温环境测试将卷绕在芯轴上的带形薄膜放置在由约7mm厚的纸板构成的盒子中，盒子内部尺寸为长约220mmX宽约220mmX高约180mm，并且将盒子在设为60°C的烤箱中放置2小时。将盒子从烤箱中取出之后，将其在温度23°C、湿度50%的环境中放置至少24小时，此后，从盒子中取出带形薄膜，并用眼睛对它的卷绕状态进行评估。低温环境测试将带形薄膜在设为15°C的冰箱中以暴露状态放置1小时，并且用眼睛对冰箱内的卷绕状态进行评估。卷绕状态的评估结果在以下表1中示出。[表1]<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>表1中，符号含义如下。〇(良好)眼睛观察无松弛或卷绕松脱。X(不良)眼睛观察到松弛或卷绕松脱。〈试验的分析〉如表1中清楚地可见，卷绕状态与超声衰减率之间存在一定的相关性，并且根据这一关系，可以将带形薄膜的卷绕状态(常规上依赖于人的感觉)进行量化以便能够做出客观、精确的评估。确切地讲，如果在从卷绕在芯轴1上的带形薄膜2的半径10中减去该芯轴1的半径11的长度的至少50%的范围上超声衰减率是30%或更小，就不会发生卷绕异常(如卷绕松脱)。以上已参照实例对本发明进行说明。这些仅仅是实例，并且本领域的普通技术人员将认识到不同的修改是可能的，并且此类修改也落在本发明的范围之内。工业实用性根据本发明的评估带形薄膜的方法使其能够做出明确的定量和客观的测定，这不依赖于基于技术工人经验的感官评估的不确定方法，因此可以有利地用在要求高精度评估卷绕状态的承载带的封盖带上。类似地，由于通过根据所述评估的结果控制卷绕条件来卷绕带形薄膜的方法能够抑制输运和存储过程中卷绕异常(如卷绕松脱)的发生，它可以有利地用在特别是用于承载带的封盖带上。权利要求一种对卷绕到芯轴上的带形薄膜的卷绕状态进行评估的方法，该方法的特征在于包括以下步骤在平行于该芯轴的旋转轴线的方向上、朝向该带形薄膜生成超声波，并且接收反射波或透射波，以确定该带形薄膜中的超声波的衰减率；以及根据在该带形薄膜中衰减率分布来评估该带形薄膜的卷绕状态。2.如权利要求1所述的对带形薄膜的卷绕状态进行评估的方法，其特征在于，所述衰减率的分布是卷绕到芯轴上的所述带形薄膜在径向上的分布。3.一种卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，基于如权利要求1所述的对带形薄膜的卷绕状态进行评估的方法的评估结果来控制该带形薄膜的卷绕条件。4.如权利要求3所述的卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，所述卷绕条件被控制为使得在从卷绕在该芯轴上的带形薄膜的半径中所减去的该芯轴的半径的长度的至少50%的范围上该超声衰减率为30%或更小。5.如权利要求3所述的卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，所述带形薄膜的宽度是至少1mm、并且最多50mm。6.如权利要求3所述的卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，所述带形薄膜的厚度是至少0.03mm、并且最多2mm。7.如权利要求3所述的卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，所述带形薄膜是叠层膜。8.如权利要求7所述的卷绕带形薄膜的方法，其特征在于，所述带形薄膜是用于承载带的封盖带。9.一种带形薄膜，通过如权利要求3所述的卷绕带形薄膜的方法卷绕而成。全文摘要一种带形薄膜卷绕状态的评估方法包括以下步骤在平行于芯轴(1)的旋转轴线的方向上对该带形薄膜(2)发送超声波、并且接收其反射波或透射波，以确定该带形薄膜(2)的超声波衰减率；以及从该带形薄膜(2)中的衰减率分布状态来评估该带形薄膜(2)的卷绕状态。该方法能够通过给出数值表示来客观地评判该带形薄膜的卷绕状态而无需依赖于感官评估。文档编号B65H26/00GK101802604SQ200880108019公开日2010年8月11日申请日期2008年3月19日优先权日2007年10月1日发明者德永久次,日向野正德申请人:电气化学工业株式会社