检测彩膜表面形貌的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及显示技术领域，具体设及一种检测彩膜表面形貌的方法及装置。
【背景技术】
[0002] 现有技术中，分光光度计可W用于对单色亚像素的色度值检测。如图1所示，该分 光光度计包括白色点光源、用于控制白色点光源的发光与移动的光源模块、探头W及与探 头相连的光谱仪，其色度值检测原理如下所述；将分光光度计的白色点光源置于单色亚像 素的一侧，并在另一侧W探头接收透过单色亚像素的光线，从而得到该单色亚像素的透射 光谱，根据透射光谱中的数据经过计算即可得到与每一单色亚像素对应的色度值。
[0003] 然而，现有技术在测量色度值时通常对准单色亚像素的中屯、点，并没有包含每一 单色亚像素表面形貌的信息。而为了获取每一单色亚像素表面形貌的信息，现有技术通常 需要采用膜厚测量仪来进行实际测量。但该一测量方式不仅需要额外占用测试人员用大 量时间和精力，同时还由于人工标定过程存在主观因素等问题导致测量结果存在很大的误 差。
【发明内容】
[0004] 针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种检测彩膜表面形貌的方法及装置，可W 实现单色亚像素的色度值和表面形貌信息的同时测量。
[0005] 第一方面，本发明提供了一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和 光线探测器；
[0006] 该装置还包括：
[0007] 第一导轨；
[000引可沿第一导轨移动的底座；
[0009] 固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；
[0010] 所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；
[0011] 所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚 像素对齐的多个第一固定点；
[0012] 所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中 多个位置点的多个第二固定点。
[0013] 可选地，所述多个第二固定点包括用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单 色亚像素边缘处的位置点的第二固定点，W及用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一 单色亚像素中屯、处位置点的第二固定点。
[0014] 可选地，该装置还包括：
[0015] 检测单元，用于基于所述第一导轨、所述底座、所述第二导轨W及所述相对设置的 光源和光线探测器对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测；
[0016] 第一计算单元，用于根据来自所述检测单元的检测结果计算所述单色亚像素的彩 膜在每一所述位置点处的色度值；
[0017] 第二计算单元，用于根据预先设定的色度值-膜厚关系由所述第一计算单元得到 的每一所述位置点处的色度值计算每一所述位置点处的彩膜膜厚；
[0018] 第=计算单元，用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜厚 获取所述单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。
[0019] 可选地，所述第=计算单元进一步用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位 置点处的彩膜膜厚计算所述彩膜的角段差。
[0020] 可选地，每一单色亚像素中的所述多个位置点均W相同方式设置；
[0021] 所述第四计算单元包括：
[0022] 第一计算模块，用于计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜 膜厚的平均值；
[0023] 第二计算模块，用于根据所述第一计算模块得到的彩膜膜厚的平均值计算所有所 述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。
[0024] 可选地，该装置还包括：
[0025] 预检测单元，用于在第一计算单元计算色度值之前，基于所述第一导轨、所述底 座、所述第二导轨W及所述相对设置的光源和光线探测器对彩膜基板中除彩膜图案之外的 至少部分区域进行检测；
[0026] 所述第一计算单元进一步用于将来自所述预检测单元的所述至少部分区域的检 测结果作为本底成分在来自所述检测单元的每一所述位置点的检测结果中去除，并根据去 除后的检测结果计算彩膜在每一位置点处的色度值。
[0027] 第二方面，本发明还提供了一种检测彩膜表面形貌的方法，包括：
[002引基于分光光度法对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测；
[0029] 根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处 的色度值；
[0030] 根据预先设定的色度值-膜厚关系由每一所述位置点处的色度值计算每一所述 位置点处的彩膜膜厚；
[0031] 根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。
[0032] 可选地，所述根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌 信息，包括：
[0033] 根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差。
[0034] 可选地，每一单色亚像素中的所述多个位置点均W相同方式设置；
[0035] 所述根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差，包括：
[0036] 计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜膜厚的平均值；
[0037] 根据所述彩膜膜厚的平均值计算所有所述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段 差。
[003引可选地，所述根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所 述位置点处的色度值之前，还包括：
[0039] 基于分光光度法对彩膜基板上除彩膜图案之外的至少部分区域进行检测；
[0040] 所述根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置 点处的色度值，包括：
[0041] 将所述至少部分区域的检测结果作为本底成分在每一所述位置点的检测结果中 去除，并根据去除后的检测结果计算彩膜在每一所述位置点处的色度值。
[0042] 由上述技术方案可知，基于本发明提供的检测彩膜表面形貌的装置，可W通过底 座在第一导轨上的移动可W实现第二导轨与每一单色亚像素的对准，而光线探测器在第二 导轨上的移动可W实现光线探测器与单色亚像素中多个位置点的对准。从而，本发明即可 利用该装置对同一单色亚像素中多个位置点的检测结果得到其色度值W及表面形貌信息。
[0043] 基于本发明提供的检测彩膜表面形貌的方法，可W通过对每一单色亚像素中多个 位置点的检测得到与每一位置点对应的色度值和膜厚数据，因而基于该些数据可W更准确 地计算得到每一单色亚像素的色度值和表面形貌信息。
[0044] 相比于现有技术而言，本发明不需要单独采用膜厚测量仪来进行彩膜表面形貌的 实际测量，节省成本；同时由于本发明将人工测量转变为仪器测量，因而可W消除人工操作 带来的测量误差。而且，该样的设置也使色度值可W根据多个位置点的检测结果综合得出， 具有更高的准确性。
[0045] 当然，实施本发明的任一产品或方法并不一定需要同时达到W上所述的所有优 点。
【附图说明】
[0046] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发 明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W根 据该些附图获得其他的附图。
[0047] 图1是现有技术中一种利用分光光度计检测单色亚像素色度值的方法的示意图；
[0048] 图2是现有技术中一种利用分光光度计检测单色亚像素色度值的方法示意图；
[0049] 图3是本发明一个实施例中一种检测彩膜表面形貌的方法的步骤流程示意图；
[0050] 图4是本发明一个实施例中一种计算彩膜的角段差的步骤流程示意图；
[0化1] 图5是本发明一个实施例中一种检测彩膜表面形貌的装置的正视结构示意图； [0052] 图6是本发明一个实施例中一种检测彩膜表面形貌的装置的侧视结构示意图； [0化3] 图7是本发明一个较佳实施例中一种检测彩膜表面形貌的原理示意图。
【具体实施方式】
[0054] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例 中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是 本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员 在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0055] 为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面首先对现有技术中利用分光光度计检 测单色亚像素的色度值的方法作一简单介绍。
[0化6] 图1是现有技术中一种利用分光光度计检测单色亚像素色度值的原理示意图。其 中需要说明的是，除非有特殊说明，本文中的单色亚像素均是指排布在彩膜基板上的亚像 素区域，每一单色亚像素中均形成有单一颜色的彩膜（或称彩色滤光片）。参见图1，与光 源模块连接的白色点光源可W向单色亚像素发射出白光，