而位于单色亚像素另一侧的探头 可W接收透过单色亚像素的光线，由光谱仪得到该单色亚像素的透射光谱。利用单色亚像 素对特定波段光线的反射率很高的特性，其可W通过对透射光谱中的数据进行计算W得到 包括色度值的检测结果。
[0057] 在现有技术中，出于本领域技术人员的习惯W及检测，在检测单色亚像素的色度 值时经常会将探头和白色点光源对准单色亚像素的中屯、处，并且对每个单色亚像素均只检 测一次，如图2所示的现有技术中一种利用分光光度计检测单色亚像素色度值的方法示意 图。图2中，上述白光与光线均W竖直方向上的单向箭头所示，连接光源模块的白色点光源 (图2中未示出）与探头相互配合，依次对准每一单色亚像素（图2中个为示例）的中 屯、进行检测，并按照如图1所示的原理得到每一单色亚像素的彩膜的色度值。
[005引但是，现有技术通常仅利用分光光度计来进行彩膜色度值的检测且出于精度的考 虑通常只对每一单色亚像素检测一次，而对于彩膜表面形貌的检测通常单独地使用膜厚测 量仪来进行，而膜厚测量仪要经过人工标定来手动完成若干次彩膜膜厚的测量，该一测量 方式不仅需要额外占用测试人员用大量时间和精力，同时还由于人工标定过程存在主观因 素等问题导致测量结果存在很大的误差。
[0059] 针对上述问题，本发明实施例提供了一种检测彩膜表面形貌的方法，图3是该方 法的步骤流程示意图。参见图3,该方法包括：
[0060] 步骤301 ;基于分光光度法对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检 测；
[0061] 步骤302 ;根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述 位置点处的色度值；
[0062] 步骤303 ;根据预先设定的色度值-膜厚关系由每一所述位置点处的色度值计算 每一所述位置点处的彩膜膜厚；
[0063] 步骤304 ;根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌信 息。
[0064] 其中需要说明的是，本发明实施例的彩膜显然是位于彩膜基板的每一个单色亚像 素中的一个层状结构，其表面形貌主要指的是彩膜上表面的形貌，彩膜的表面形貌信息具 体可W包括每一位置点处的膜厚和角段差等。
[00化]举例来说，上述步骤301中所述的分光光度法的检测原理如下所述；首先，该方法 所采用的装置可W包括用于设置在上述彩膜的两侧的光源和光线探测器，且光线探测器可 W连接光谱仪等设备，从而使用该装置对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行 检测，就可W得到包括彩膜在多个位置点处的透射光谱的检测结果。然后，在上述步骤302 中，对每一位置点处的彩膜的透射光谱进行分析，就可W具体得到彩膜在多个位置点处的 色度值大小。其具体的色度值计算过程是本领域技术人员所熟知的，在此不再寶述。
[0066] 接下来，上述步骤303中所设及的"色度值-膜厚关系"具体指的是：对于给定 匀质材料形成的彩膜，其色度值与膜厚之间的函数关系。该一关系预先设定的方式可W是 通过查找对应材料的参考数据资料得到，或者是根据查找到的对应材料的参考数据资料计 算得到，还可W是预先通过实验对材料和厚度均给定的多个彩膜样本进行标定后得到，还 可w是结合现有数据和实验数据进行计算后得到等等，本发明均不作限制。利用上述色度 值-膜厚关系，通过上述步骤302得到的每一位置点处的彩膜的色度值就可W得到该位置 点处彩膜的膜厚。
[0067] 当然，可W通过色度值计算得到膜厚的基础在于；对于多数常见匀质材料而言，其 膜厚与色度值呈大致的一一对应关系。例如，本发明实施例提供一种红色树脂材料的膜厚 T与色度值（X，y)中的X的实验测量数据（其中X和y为CIE 1931色彩空间下的两个导 出参数），如下表1所示：
[0068] 表1红色树脂材料的膜厚与色度值的部分实验测量数据表
[0069]
【主权项】
1. 一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和光线探测器，其特征在于，该 装置还包括： 第一导轨； 可沿第一导轨移动的底座； 固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨； 所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动； 所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素 对齐的多个第一固定点； 所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个 位置点的多个第二固定点。
2. 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多个第二固定点包括用于使所述光 线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素边缘处的位置点的第二固定点，以及用于使所述 光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中心处位置点的第二固定点。
3. 根据权利要求2所述的装置，其特征在于，该装置还包括： 检测单元，用于基于所述第一导轨、所述底座、所述第二导轨以及所述相对设置的光源 和光线探测器对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测； 第一计算单元，用于根据来自所述检测单元的检测结果计算所述单色亚像素的彩膜在 每一所述位置点处的色度值； 第二计算单元，用于根据预先设定的色度值-膜厚关系由所述第一计算单元得到的每 一所述位置点处的色度值计算每一所述位置点处的彩膜膜厚； 第三计算单元，用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜厚获取 所述单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。
4. 根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第三计算单元进一步用于根据所述 第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜厚计算所述彩膜的角段差。
5. 根据权利要求4所述的装置，其特征在于，每一单色亚像素中的所述多个位置点均 以相同方式设置； 所述第四计算单元包括： 第一计算模块，用于计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜膜厚 的平均值； 第二计算模块，用于根据所述第一计算模块得到的彩膜膜厚的平均值计算所有所述颜 色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。
6. 根据权利要求3至5中任意一项所述的装置，其特征在于，该装置还包括： 预检测单元，用于在第一计算单元计算色度值之前，基于所述第一导轨、所述底座、所 述第二导轨以及所述相对设置的光源和光线探测器对彩膜基板中除彩膜图案之外的至少 部分区域进行检测； 所述第一计算单元进一步用于将来自所述预检测单元的所述至少部分区域的检测结 果作为本底成分在来自所述检测单元的每一所述位置点的检测结果中去除，并根据去除后 的检测结果计算彩膜在每一位置点处的色度值。
7. -种检测彩膜表面形貌的方法，其特征在于，包括： 基于分光光度法对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测； 根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色 度值； 根据预先设定的色度值-膜厚关系由每一所述位置点处的色度值计算每一所述位置 点处的彩膜膜厚； 根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。
8. 根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据每一位置点处的彩膜膜厚获取 该单色亚像素的彩膜的表面形貌信息，包括： 根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差。
9. 根据权利要求8所述的方法，其特征在于，每一单色亚像素中的所述多个位置点均 以相同方式设置； 所述根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差，包括： 计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜膜厚的平均值； 根据所述彩膜膜厚的平均值计算所有所述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。
10. 根据权利要求7至9中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据每一所述位置 点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值之前，还包括： 基于分光光度法对彩膜基板上除彩膜图案之外的至少部分区域进行检测； 所述根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处 的色度值，包括： 将所述至少部分区域的检测结果作为本底成分在每一所述位置点的检测结果中去除， 并根据去除后的检测结果计算彩膜在每一所述位置点处的色度值。
【专利摘要】本发明提供了一种检测彩膜表面形貌的方法及装置，其中的装置包括相对设置的光源和光线探测器，还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。本发明可以实现单色亚像素的色度值和表面形貌信息的同时测量。
【IPC分类】G01B11-24, G01J3-46
【公开号】CN104596441
【申请号】CN201510050787
【发明人】郭杨辰, 袁剑峰
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2015年1月30日