一种多指标检测微流控芯片的制作方法

文档序号:13091997阅读:276来源:国知局
一种多指标检测微流控芯片的制作方法与工艺

本实用新型涉及一种多指标检测微流控芯片。



背景技术:

现有的微流控芯片,其流入到反应腔内的支路是水平设置,待检测的样本溶液由进样口流入到反应腔内需要较长的时间,不利于进行快速检测,整体上延长了检测的时间。



技术实现要素:

本实用新型要解决的技术问题是,提供一种多指标检测微流控芯片,有助于样本溶液快速进入到反应腔,整体上减少了检测过程所需的时间。

为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案为:一种多指标检测微流控芯片,它包括底片和置于底片上的盖片,所述盖片上设有进样口,所述底片设有储样腔、若干个反应腔以及若干条连通储样腔与反应腔的支路,其特征在于:所述储样腔处于底片左右侧之间的中心位置处,所述支路包括设于储样腔的一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第一支路,所述第一支路的末端与一反应腔连通,所述支路还包括设于储样腔的另一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第二支路,所述第二支路的末端与一反应腔连通。

作为一种优选,所述支路还包括与第一支路连通并呈至上而下连通的第三支路,所述第三支路的末端与一反应腔连通。

作为一种优选,所述支路还包括与第二支路连通并呈至上而下连通的第四支路,所述第四支路的末端与一反应腔连通。

作为一种优选,所述第三支路的末端的反应腔与第四支路的末端的反应腔呈左右中心对称。

作为一种优选,所述第一支路的末端的反应腔与第二支路的末端的反应腔呈左右中心对称。

作为一种优选,所述底片的底面了架设了一致使底片至上而下呈倾斜状的底托。

作为一种优选,每一所述反应腔连接了一排废通道。

采用以上结构后,本实用新型与现有技术相比,具有以下优点:

储样腔处于底片左右侧之间的中心位置处,支路包括设于储样腔的一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第一支路,第一支路的末端与一反应腔连通,支路还包括设于储样腔的另一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第二支路,第二支路的末端与一反应腔连通。通过设置至上而下倾斜设置的第一支路和第二支路,并且在第一支路的末端和第二支路的末端均设置了一反应腔,实现了由进样口进入到储样腔中的样本溶液能够快速通过第一支路和第二支路进入到各自所对应的反应腔中,整一个过程实现了样本溶液快速进入到反应腔,减少了检测过程所需的时间。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图。

图2是本实用新型的底片的结构示意图。

图3是图1A-A的向视图。

图中所示:1、底片;111、储样腔;112、反应腔;2、盖片;211、进样口;311、第一支路;312、第二支路;313、第三支路;314、第四支路;4、底托;5、排废通道。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。

如图1、图2和图3所示,本实用新型一种多指标检测微流控芯片,它包括底片1和置于底片1上的盖片2,所述盖片2上设有进样口211,所述底片1设有储样腔111、若干个反应腔112以及若干条连通储样腔111与反应腔112的支路,每一所述反应腔112连接了一排废通道5,所述底片1的底面了架设了一致使底片1至上而下呈倾斜状的底托4,所述储样腔111处于底片1左右侧之间的中心位置处,所述支路包括设于储样腔111的一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第一支路311,所述第一支路311的末端与一反应腔112连通,所述支路还包括设于储样腔111的另一侧与之连通并呈至上而下倾斜设置的第二支路312,所述第二支路312的末端与一反应腔112连通,所述第一支路311的末端的反应腔112与第二支路312的末端的反应腔112呈左右中心对称。

所述支路还包括与第一支路311连通并呈至上而下连通的第三支路313,所述第三支路313的末端与一反应腔112连通,所述支路还包括与第二支路312连通并呈至上而下连通的第四支路314,所述第四支路314的末端与一反应腔112连通,所述第三支路313的末端的反应腔112与第四支路314的末端的反应腔112呈左右中心对称。

以上仅就本实用新型的最佳实施例作了说明,但不能理解为是对权利要求的限制。本实用新型不仅限于以上实施例,凡在本实用新型独立权利要求的保护范围内所作的各种变化均在本实用新型的保护范围内。

当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1