专利名称：平面度检测治具的制作方法
技术领域：
本实用新型是关于一种平面度检测治具，特别是一种检测速度快、效率高、人为差错率低的平面度检测治具。
背景技术：
在机械产品制造过程中，经常需要对工件的不同边或不同面是否处在同一平面内进行平面度检测，以确认工件的合格与否。例如，在手机生产制造领域，必须要在手机的内部安装一些屏蔽罩，而这些屏蔽罩大多是冲压件，导致其不良品的最主要原因便是屏蔽罩的各底边不在同一个平面上，因此必须对产品进行必要的平面度检测。这些需检测的各底边中，其中某一边或某几边偏离其它边所在平面的值在一定的偏差范围内为合格产品。以往，这种检测都是把被测工件放在一平面上，用塞规进行检测上述的偏离值，但由于用塞规要一个边一个边的检查，所以速度很慢，效率很低。且极易造成眼睛的疲劳而造成误判。
实用新型内容本实用新型目的在于提供一种能采用CCD进行零间隙检测平面度，且检测速度快、效率高、人为差错率低的平面度检测治具。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的本实用新型平面度检测治具设有透光基准治具，所述透光基准治具横截面的外轮廓与被测工件需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具的底端近端部侧面上设有有色带，该有色带的顶面与该透光基准治具的顶端面平行；该透光基准治具的顶端面中部凸设有定位凸块，该定位凸块的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致。
在上述基础中，其中所述定位凸块的厚度小于或等于被测工件的内腔深度。
所述定位凸块的周侧上形成有定位臂。
所述定位凸块的下端设有定位部；该透光基准治具上设有与该定位部紧密配合的定位孔。
所述定位孔的孔壁上开设有透光槽。
所述有色带为黑色带。
所述平面度检测治具还包括基座，所述透光基准治具凸设在该基座上。
本实用新型与现有技术相比，本实用新型采用了定位凸块把被测工件定位在基准治具上，被测工件的需测面每一边或其中几边接触到基准治具的顶端面上，并且几个边可以同时进行检测，所以大大提高了检测速度，经比较，检测速度比用塞规检测可提高5倍以上，大幅地提高了检测效率，有效地减轻了操作者的劳动强度，尤其是眼睛的疲劳程度，降低了人为误判的机率。另外由于定位凸块的周边设有花型的定位臂，只需对定位臂的侧面进行精密加工，从而降低了制造成本。
随着摄像技术的发展，工业生产中也开始广泛采用CCD(摄像头)进行识别、检测等工作，由于基准治具的侧面上部具有透光性，在被测工件的需测边与有色带之间形成一个可测量距离，可利用CCD对工件进行零间隙的平面度检测，因此采用本实用新型利用CCD检测被测工件的平面度很方便。
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型平面度检测治具的立体示意图。
图2是本实用新型平面度检测治具的主视示意。
图3是本实用新型平面度检测治具的各部件分开状态示意图。
图4是本实用新型平面度检测治具的透光基准治具的立体放大示意图。
图5是本实用新型平面度检测治具的定位基准治具的立体放大示意图。
图6是被测工件放在本实用新型上测量的局部放大剖视示意图。
图7是被测工件放在本实用新型上测量的局部放大主视示意图。
具体实施方式
请参阅图1至图3，本实用新型平面度检测治具包括连接板1、透光基准治具2和凸设在该透光基准治具2上的定位凸块3。其中连接板1上开设有一个可卡入所述透光基准治具2的第二定位孔11，该第二定位孔11的孔壁上设有支撑该透光基准治具2的凸台12，该连接板1可将该透光基准治具2及该定位凸块3固定在平面度检测设备上。
请参阅图3至图5，所述透光基准治具2的横截面的外轮廓与被测工件4的需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具2的底端近端部侧面上设有有色带221，该有色带221防止透光，方便CCD摄像。一般地，该有色带的颜色可以是黑色、深蓝色等；该有色带221的顶面223与该透光基准治具2的顶端面225平行。
该透光基准治具2的顶端面225中部凸设有定位凸块3，该定位凸块3的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致，一般该定位凸块3的厚度小于或等于被测工件4内腔的深度，该定位凸块3可以以粘贴、一体成型等方式凸设在该透光基准治具2的顶端面225的中部，还可以是在所述定位凸块3的下端设有定位部32和该透光基准治具2上设有与该定位部3紧密配合的定位孔226的方式凸设在该透光基准治具2的顶端面225的中部；该定位孔226的孔壁上开设有若干个透光槽224；该定位凸块3的周侧上形成有花型的定位臂31，该定位臂31的侧面抵顶被测工件4的内侧壁，该定位臂31的侧面与被测工件4的内侧壁的配合公差在正负五十丝(0.5毫米)之间。
所述平面度检测治具还包括基座21，所述透光基准治具2凸设在该基座21上。该透光基准治具2可以以粘贴、一体成型等方式凸设在该该基座21上，还可以是所述透光基准治具2的下端设有定位部和该基座21上设有与该定位部紧密配合的定位孔的方式凸设在该基座21上。该基座21具有与该连接板1上的第二定位孔11相配合的外轮廓，该基座21可卡入该连接板1的第二定位孔11内并卡止在该凸台12上。
利用本实用新型的测量过程如图6和图7所示，将被测工件4的需测面的需测边对向与该透光基准治具2的顶端面225的相应边，卡套在所述定位凸块3上，该定位臂31的侧面抵顶被测工件4的内侧壁。被测工件4的全部需测边或部分需测边接触到该透光基准治具2的顶端面225，且该被测工件4的需测面的边沿大致处在该透光基准治具2上的相应侧面220所在的平面内，这样被测工件4的需测边与该透光基准治具2侧面的有色带221的顶面223相隔着透光的该透光基准治具2侧面的上部222，形成一个可测量距离。距离测量设备如CCD只需在该有色带221和被测工件4的每一个需测边间设定检测窗口，便可测得该有色带221的顶面223和被测工件4的需测边的距离值，这些测量出来的距离值和设定的范围值进行比较，便可判断此被测工件是否是合格品。
权利要求1.一种平面度检测治具，其特征在于设有透光基准治具，所述透光基准治具横截面的外轮廓与被测工件需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具的底端近端部侧面上设有有色带，该有色带的顶面与该透光基准治具的顶端面平行；该透光基准治具的顶端面中部凸设有定位凸块，该定位凸块的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致。
2.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于所述定位凸块的厚度小于或等于被测工件的内腔深度。
3.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于所述定位凸块的周侧上形成有定位臂。
4.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于所述定位凸块的下端设有定位部；该透光基准治具上设有与该定位部紧密配合的定位孔。
5.根据权利要求4所述的平面度检测治具，其特征在于所述定位孔的孔壁上开设有透光槽。
6.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于所述有色带为黑色带。
7.根据权利要求1所述的平面度检测治具，其特征在于所述平面度检测治具还包括基座，所述透光基准治具凸设在该基座上。
专利摘要本实用新型是关于一种平面度检测治具，设有透光基准治具，所述透光基准治具横截面的外轮廓与被测工件需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具的底端近端部侧面上设有色带，该有色带的顶面与该透光基准治具的顶端面平行；该透光基准治具的顶端面中部凸设有定位凸块，该定位凸块的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致。采用这种结构后，能采用CCD进行零间隙检测平面度，且检测速度快、效率高、人为差错率低。
文档编号G01B11/30GK2935083SQ200620016829
公开日2007年8月15日 申请日期2006年6月30日 优先权日2006年6月30日
发明者朱成都, 郝东峰, 贺琥, 刘宇 申请人:比亚迪股份有限公司