专利名称：颗粒粒度测试样品池的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种颗粒粒度测试设备配件，具体地说是一种颗粒粒度测试 样品池。
(二)
背景技术：
目前激光粒度仪对粉体材料进行测试时，通常使用的样品池截面为狭窄的
条带形，长宽比在3以上，样品在样品池内呈薄片状，光束从大的工作面垂直 入射，只适用于前向散射的测量，因此测量范围在0.3微米以上。
(三)
发明内容
本发明的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种测试散射角大，精 度高的颗粒粒度测试样品池。可有效解决全方位散射光的探测问题，使测试 最大散射角超过135度，且无死角。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是
颗粒粒度测试样品池，包括能透光的样品池体，样品池体为中空结构， 其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，
在池体的工作面上至少附设有-
上述颗粒粒度测试样品池:
上,
上述颗粒粒度测试样品池， 上述颗粒粒度测试样品池， 上述颗粒粒度测试样品池， 上述颗粒粒度测试样品池， 上述颗粒粒度测试样品池， 上述颗粒粒度测试样品池，
上述颗粒粒度测试样品池:
-个凸透镜。
其偶数个的凸透镜对称设置在平行的工作面
其样品池体的横截面为矩形或平行四边形。
其样品池体的横截面为六边形。
其样品池体为流动池。
其样品池体为带有封底的容器。
其凸透镜为球面透镜或柱面透镜。
其样品池体用光学玻璃或石英玻璃制成。
其样品池体用金属材料制成，其侧壁上开有
通光孔。
使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光 束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器
3检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测，由此获得 全方位颗粒散射的信息。
本发明的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比，所产生的有益效果是
(1) 样品池的结构有利于检测0-135度的散射信息，且无死角，因此激 光粒度仪的测试下限可以扩展至理论极限，可大大提高激光粒度仪的分析精 度。
(2) 该测试样品池的使用可使仪器体积大大縮小。
(3) 样品池横截面积比通常样品池扩大10倍以上，且管道横截面大，
提高了样品流量，利于在线粒度测试。
(四)
附图l为本发明第一个实施例的结构示意附图2为本发明第二个实施例的结构示意附图3为本发明第三个实施例的结构示意图。
(五)
具体实施例方式
下面结合附图1一3对本发明的颗粒粒度测试样品池作以下详细地说明。
实施例l:
如附图1所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用光学玻璃
制成的侧壁透明的样品池体C，壁厚约l毫米左右，边长在10-30mm，样品池 体C是流动池，其横截面为正方形，在池体l的对称工作面上胶合有两个凸透 镜L1、 L2。使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇 聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆 环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由位于透镜焦平面的条带状 阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。 实施例2:
如附图2所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用金属材料 制成的样品池体C，样品池体C的壁厚约1毫米左右，边长在10-30mm，样品 池体C是封底的容器，其横截面为平行四边形，在池体l的对称工作面上胶合 有两个凸透镜L1、 L2。在安装凸透镜L1、 L2的样品池体C的侧壁上和汇聚激 光束入射的侧壁上分别开设有通光孔K1、 K2，使用时，含颗粒样品悬浮液 流过样品池体C，经过处理的汇聚激光束入射样品池体C，侧向散射光与后向散射光分别被凸透镜L1、 L2汇聚在条形阵列探测器上，前向散射光被主 探测器接收，总接受角度在0-135度以上，接收角度内无死角，散射光的角 度分布通过计算机反演得到颗粒的粒度分布。 实施例3:
如附图3所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用石英玻璃 制成的侧壁透明的样品池体C，壁厚约l毫米左右，边长在10-30mm，样品池 体C是流动池，其横截面为六边形，在池体l的对称工作面上胶合有两个凸透 镜L1、 L2。使用时，含颗粒样品悬浮液流过样品池体C，经过处理的汇聚激 光束入射样品池体C，侧向散射光与后向散射光分别被凸透镜L1、 L2汇聚在 条形阵列探测器上，前向散射光被半圆环阵列主探测器接收，由此获得全方 位颗粒散射的信息。
权利要求
1、颗粒粒度测试样品池，包括能透光的样品池体，其特征在于，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。
2、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，偶数个的 凸透镜对称设置在平行的工作面上。
3、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池体 的横截面为矩形或平行四边形。
4、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池体 的横截面为六边形。
5、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池体 为流动池。
6、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池体 为带有封底的容器。
7、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，凸透镜为 球面透镜。
8、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，凸透镜为 柱面透镜。
9、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池体 用光学玻璃或石英玻璃制成。
10、 根据权利要求l所述的颗粒粒度测试样品池，其特征在于，样品池 体用金属材料制成，其侧壁上开有通光孔。
全文摘要
本发明提供一种颗粒粒度测试样品池，属于颗粒粒度测试设备配件领域，其结构包括一能透光的样品池体，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。本发明的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比，其测试的最大散射角为135度，测试范围内无死角；且管道横截面大，流量大，因而利于在线粒度测试，可大大提高激光粒度仪的分析精度。
文档编号G01N21/51GK101435761SQ20081023853
公开日2009年5月20日 申请日期2008年12月18日 优先权日2008年12月18日
发明者任中京 申请人:任中京