专利名称：热分析仪炉体冷却结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种热分析仪炉体冷却结构，特别是涉及一种差示扫描量热仪、 同步热分析仪、热重分析仪、差热分析仪的炉体冷却结构。
背景技术：
目前，市场上销售及使用的热分析仪器如差示扫描量热仪、同步热分析仪、热重分析仪、差热分析仪，其炉体的冷却装置大多采用水冷的方式。这种水冷的方式在使用过程中存在漏水的风险；而且经过长期使用后，冷却装置的管路会产生大量水垢，存在管路清垢的问题。热分析仪炉体水冷的方式在一些水资源较稀缺的地方，也给仪器的使用带来诸多不便。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种热分析仪炉体冷却结构，克服现有技术中冷却装置采用水冷所带来的各种缺陷，采用风冷的冷却方式，达到冷却热分析仪炉体的目的。为实现上述目的，本发明是通过以下的技术方案来实现的一种热分析仪炉体冷却结构，包括炉体，其特征是，所述炉体外部环绕设置有冷却装置，所述冷却装置一端与风道连通，所述风道包含一与外界相通的进风口，所述冷却装置另一端和一与外界相通的排风口连通。所述排风口位于所述炉体顶部。所述进风口处设有一风扇。所述风扇与信号处理装置连接。所述信号处理装置包括微电脑及与所述微电脑进行信号传递的温度传感器。微电脑根据温度传感器测得的温度信号控制风扇转速和进风量。所述温度传感器设在所述冷却装置内部。本发明的有益效果是本实用新型的热分析仪炉体冷却结构将整个冷却装置设在仪器内部，与传统的外置式炉体相比，降低了操作人员被烫伤的可能性，提高了仪器一体化水平，可避免对环境温度的影响。相对水冷，风冷的冷却方式使用方便，利用风资源成本低，维护成本低。炉体和冷却装置独立的安装在仪器内部，随着测量过程中炉体温度的升高，冷却装置的温度变化小，最大限度的降低对控制测量装置的影响，保证测量精度和重复性。
图1为本实用新型结构示意图；图中，1、炉体；2、冷却装置；3、风道；4、进风口 ；5、出风口。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步的描述。如图1所示，本实用新型的热分析仪可以为差示扫描量热仪，或同步热分析仪，或热重分析仪，或差热分析仪，其炉体冷却结构均包括炉体1、冷却装置2、独立的风道3、信号处理装置(图中未示出)、风扇(图中未示出)。炉体1设在冷却装置2内部，冷却装置2与风道3连接，外部的冷却风由进风口 4经过风道3进入仪器内部，经冷却装置2带走冷却装置2内炉体1的多余热量，再从位于热分析仪仪器顶部、环绕炉体1外部的出风口 5排出。进风口 4设在仪器外部，并安装一风扇，风扇的运行由信号处理装置中的微电脑控制。冷却装置2内部安装温度传感器，微电脑通过温度传感器测得的电信号判断温度，并控制风扇转速和进风量。当热分析仪处于非工作状态、低温状态时，炉体1产生的热量相对较少，由微电脑控制风扇降低转速，使进入风道3内的微风带走多余热量；当热分析仪处于工作状态、高温状态时，炉体1产生的热量相对较高，由微电脑控制风扇提高转速，使进入风道3内的强风带走大量多余热量。通过微电脑控制风扇的转速，进而可以控制进入风道 3内的风速、风量，达到控制炉体1外温度的目的。独立的风道3只沿炉体1外围走并通出仪器外部。炉体1内部检测部分不受影响， 避免气流扰动带来的测量误差。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种热分析仪炉体冷却结构，包括炉体，其特征是，所述炉体外部环绕设置有冷却装置，所述冷却装置一端与风道连通，所述冷却装置另一端和一与外界相通的排风口连通，所述风道包含一与外界相通的进风口。
2.根据权利要求1所述的热分析仪炉体冷却结构，其特征是，所述排风口位于所述炉体顶部。
3.根据权利要求1所述的热分析仪炉体冷却结构，其特征是，所述进风口处设有一风扇。
4.根据权利要求3所述的热分析仪炉体冷却结构，其特征是，所述风扇与信号处理装置连接。
5.根据权利要求4所述的热分析仪炉体冷却结构，其特征是，所述信号处理装置包括微电脑及与所述微电脑进行信号传递的温度传感器。
6.根据权利要求5所述的热分析仪炉体冷却结构，其特征是，所述温度传感器设在所述冷却装置内部。
专利摘要本实用新型公开了一种热分析仪炉体冷却结构，包括炉体，其特征是，所述炉体外部环绕设置有冷却装置，所述冷却装置一端与风道连通，所述风道包含一与外界相通的进风口，所述冷却装置另一端和一与外界相通的排风口连通。本实用新型的热分析仪炉体冷却结构将整个冷却装置设在仪器内部，与传统的外置式炉体相比，降低了操作人员被烫伤的可能性，提高了仪器一体化水平，可避免对环境温度的影响。相对水冷，风冷的冷却方式使用方便，利用风资源成本低，维护成本低。炉体和冷却装置独立的安装在仪器内部，随着测量过程中炉体温度的升高，冷却装置的温度变化小，最大限度的降低对控制测量装置的影响，保证测量精度和重复性。
文档编号G01N25/20GK202229602SQ20112033721
公开日2012年5月23日 申请日期2011年9月9日 优先权日2011年9月9日
发明者周恒 , 龚联克 申请人:南京大展机电技术研究所