物体尺寸量测与比对系统及方法
【专利摘要】一种物体尺寸量测与比对系统，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件。该系统包括：取点模块，用于使用所述定位元件取得一目标物体上不在同一平面上的至少四个点的坐标值；模型建立模块，用于根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型；范围确定模块，用于确定一目标范围的高度H和宽度W；及结果输出模块，用于根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。本发明还提供一种物体尺寸量测与比对方法。本发明可应用于实际生活中对物体的三维尺寸数据进行量测，进而给用户提供参考。
【专利说明】物体尺寸量测与比对系统及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种物体尺寸量测与比对系统及方法。
【背景技术】
[0002]近年来，通过影像处理来判断景深和实际物体大小的技术，已逐步被广泛应用。在日常生活中，我们经常会遇到判断某一物体能否通过一目标通道或范围的情况。例如，在购买家具时，我们需要判断购买的家具能否通过门窗等预定的范围。传统的方法需要使用量测工具预先量测目标通道的宽和高，以及目标物体各边的尺寸，从而进行粗略判断。然而，这种方法显得不够方便、直观。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种物体尺寸量测与比对系统，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件。该系统包括:取点模块，用于使用所述定位元件取得一目标物体上不在同一平面上的至少四个点的坐标值；模型建立模块，用于根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型；范围确定模块，用于确定一目标范围的高度H和宽度W ;及结果输出模块，用于根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。
[0004]还有必要提供一种应用于上述电子装置的物体尺寸量测与比对方法，包括:取点步骤，使用所述定位元件取得一目标物体上不在同一平面上的至少四个点的坐标值；模型建立步骤，根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型；范围确定步骤，确定一目标范围的高度H和宽度W ;及结果输出步骤，根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。
[0005]相较于现有技术，本发明的物体尺寸量测与比对系统及方法，以电子装置对目标物体的特定点进行采样以建立目标物体的三维立体模型，从而建立并得出准确的类目测数据，用以判断该目标物体能否通过一范围。本发明可应用于实际生活中对物体的三维数据进行量测，进而给用户进行参考。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1是一电子装置的功能架构图。
[0007]图2是在一长方体的示意图。
[0008]图3是本发明较佳实施例中摄的含有参照物S和目标范围的图片的示意图。
[0009]图4是本发明物体尺寸量测与比对方法较佳实施例的流程图。
[0010]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种物体尺寸量测与比对系统，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件，其特征在于，该系统包括: 取点模块，用于使用所述定位元件取得一目标物体上不在同一平面上的至少四个点的坐标值； 模型建立模块，用于根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型； 范围确定模块，用于确定一目标范围的高度H和宽度W ;及 结果输出模块，用于根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。
2.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述目标物体为长方体或立方体形状,所述至少四点为该目标物体的顶点。
3.如权利要求2所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述至少四点由一能完全容置该目标物体的最小长方体空间的至少四个非共面顶点替代。
4.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述取点模块提示用户依次将电子装置放在所述至少四个点的位置上，然后通过所述定位元件分别取得该至少四个点的坐标值。
5.如权利要求1所述的 物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述电子装置还包括一红外测距装置，当该电子装置被放置在所述至少四点中任意一点的位置时，该红外测距装置测得所述目标物体与电子装置之间的距离，并于该距离为零或者小于一预定值时，启动所述定位元件对该电子装置所在点的坐标进行侦测。
6.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述范围确定模块执行以下步骤确定所述目标范围的高度H和宽度W: 使用电子装置的拍照装置同时拍下一已知高度HO和宽度WO的参照物和所述目标范围的图片； 提示用户确定该参照物在该图片上的高度Hl和宽度W1，以及该目标范围在该图片上的高度H2和宽度W2 ;及 根据参数HO、WO、HUffU H2、W2计算得出该目标范围的高度H和宽度W，其中，
7.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述结果输出模块执行以下方式步骤所述目标物体能否通过该目标范围: 确定所述长方体模型的长、宽、高三边中的较小两边，并由该较小两边定义该长方体模型的最小面； 将该最小面的尺寸与所述目标范围进行比对，判断该最小面能否通过所述目标范围以确定所述目标物体能否通过该目标范围。
8.—种物体尺寸量测与比对方法，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件，其特征在于，该方法包括: 取点步骤，使用所述定位元件取得一目标物体上不在同一平面上的至少四个点的坐标值； 模型建立步骤，根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型； 范围确定步骤，确定一目标范围的高度H和宽度W ;及 结果输出步骤，根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。
9.如权利要求8所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述目标物体为长方体或立方体形状,所述至少四点为该目标物体的顶点。
10.如权利要求9所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述至少四点由一能完全容置该目标物体的最小长方体空间的至少四个非共面顶点替代。
11.如权利要求8所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述取点模块提示用户依次将电子装置放在所述至少四个点的位置上，然后通过所述定位元件分别取得该至少四个点的坐标值。
12.如权利要求8所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述电子装置还包括一红外测距装置，当该电子装置 被放置在所述至少四点中任意一点的位置时，该红外测距装置测得所述目标物体与电子装置之间的距离，并于该距离为零或者小于一预定值时，启动所述定位元件对该电子装置所在点的坐标进行侦测。
13.如权利要求8所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述范围确定步骤包括: 使用电子装置的拍照装置同时拍下一已知高度HO和宽度WO的参照物和所述目标范围的图片； 提示用户确定该参照物在该图片上的高度Hl和宽度Wl，以及该目标范围在该图片上的高度H2和宽度W2 ;及 根据参数HO、WO、HU Wl、H2、W2计算得出该目标范围的高度H和宽度W，其中，
14.如权利要求8所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述结果输出步骤包括: 确定所述长方体模型的长、宽、高三边中的较小两边，并由该较小两边定义该长方体模型的最小面； 将该最小面的尺寸与所述目标范围进行比对，判断该最小面能否通过所述目标范围以确定所述目标物体能否通过该目标范围。
【文档编号】G01B21/04GK103630100SQ201210307370
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2012年8月27日 优先权日:2012年8月27日
【发明者】张庭硕 申请人:富泰华工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司