专利名称：一种用于桥式元器件极性的多头测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及桥式元器件的正负极性测试装置领域，特别涉及一种用于桥式元器件极性的多头测试装置。
背景技术：
一般桥式元器件的正负极性采用单个逐点测试的方法，这样的测试方法大大的增加了工作量，降低了生产效率。综上所述，针对现有技术的不足和缺陷，特别需要一种可以同时测试多个桥式元器件的正负极性的多头测试装置，以解决现有桥式元器件的正负极性检测效率低下的问题。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，提高生产效率。本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，其特征在于，包括:一安装底板，所述安装底板上设置有若干个安装槽，所述安装槽设置有下开口 ；设置在每一个安装槽上的测试单元，所述相邻两个测试单元的距离间隔相同，所述测试单元的测试针通过所述安装槽的下开口向下伸出。特别地，所述安装底板的侧面还设置有供所述测试单元的指示灯伸出的通孔。由于采用了上述的技术方案，本实用新型的有益效果在于:本实用新型结构简单，多个测试单元可以一次性检测多个桥式元器件的正负极性，大大地提高了工作效率。
图1是本实用新型一种用于桥式元器件极性的多头测试装置的结构示意图。图2是本实用新型一种用于桥式元器件极性的多头测试装置的工作状态示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。参见图1和图2所示，一种用于桥式元器件极性的多头测试装置包括安装底板10，安装底板10上设置有五个安装槽11,安装槽11设置有下开口(图中未标出)，每一个安装槽11上均安装有一个测试单元20，相邻两个测试单元20的距离间隔与相邻两个桥式元器件31的距离间隔相等；安装底板10的侧面开设有通孔(图中未标出)，测试单元20的指示灯22嵌装在安装底板10侧面的通孔内，测试单元20的测试针21穿过安装槽11的下开口向下伸出。[0015]本实用新型的工作过程如下:接通测试单元20的电源，将该用于桥式元器件极性的多头测试装置移到已经放置有待测试的桥式元器件31的底盘30上，将每个测试单元20的测试针21对准其下方的桥式元器件31的正负极，因为相邻两个测试单元20的距离间隔与相邻两个桥式元器件31的距离间隔相等，所以可以同时对五个桥式元器件31进行极性测试，测试结果通过指示灯22反映出来，这样的工作过程简单且大大提高了测试的效率。以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
权利要求1.一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，其特征在于，包括: 一安装底板，所述安装底板上设置有若干个安装槽，所述安装槽设置有下开口 ； 设置在每一个安装槽上的测试单元，所述相邻两个测试单元的距离间隔相同，所述测试单元的测试针通过所述安装槽的下开口向下伸出。
2.如权利要求1所述的一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，其特征在于，所述安装底板的侧面还设置有供所述测试单元的指示灯伸出的通孔。
专利摘要本实用新型公开了一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，属于桥式元器件的正负极性测试装置领域；一种用于桥式元器件极性的多头测试装置，其特征在于，包括一安装底板，所示安装底板上设置有若干个安装槽，所示安装槽设置有下开口；设置在每一个安装槽上的测试单元，所示相邻两个测试单元的距离间隔相同，所述测试单元的测试针通过所述安装槽的下开口向下伸出；所述安装底板的侧面还设置有供所述测试单元的指示灯伸出的通孔；由于采用了上述的技术方案，本实用新型的有益效果在于本实用新型结构简单，多个测试单元可以一次性检测多个桥式元器件的正负极性，大大地提高了工作效率。
文档编号G01R31/02GK202948096SQ201220601708
公开日2013年5月22日 申请日期2012年11月15日 优先权日2012年11月15日
发明者许彩云, 翟宝明, 周士俊 申请人:上海昌福半导体有限公司