专利名称：一种新型光波导分光比测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量装置，特别涉及一种新型光波导分光比测量装置。
背景技术：
光波导在集成光学系统中得到了广泛的应用，并拥有很大的潜力，近年来备受关注，因此了解它的各项指标至关重要；在光波导的诸多指标中，分光比是极其重要的指标之一；本项目着重介绍了分光比的测量装置及测量方法。对于分光比，分别采用波长为1310nm和1550nm的激光光源测量Y波导两尾纤的输出光功率；根据公式计算出分光比后，分析影响测量结果的主要因素，进行测量不确定度评定；通过对Y波导指标的测量，有助于更好地了解Y波导的性能。光波导作为一种集成光学器件，广泛应用于集成光学系统中，它可以将一束光波分成两束光波，也可以将两束光波合并成一束光波；集成光路中使用Y波导分束器可以提高光能的透过率，易与光纤实现对接耦合，还能与其他分立元件(激光器、调制器、光开关等)集成在一起，目前在光通信领域、干涉计量、光学传感器、能量的分配与传输等方面有着广阔的应用前景；Y波导器件通常有以下几个技术指标:分光比、插入损耗、尾纤偏振串音、半波电压调制带宽等。因此，了解Y波导的各项指标、参数测量方法及其重要。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便、测量精度高的一种新型光波导分光比测量装置。为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下:一种新型光波导分光比测量装置，包括—插回损测试仪，所述插回损测试仪由测量光源和插回损光功率计组成，所述测量光源的输出端与被测光器件的输入端连接，所述被测光器件的输出端与插回损光功率计的输入端连接。在本实用新型的一个实施例中，所述测量光源通过跳纤与被测光器件连接。在本实用新型的一个实施例中，所述被测光器件通过尾纤与插回损光功率计连接。在本实用新型的一个实施例中，所述插回损光功率计的测量功率范围为+3dBm _80dBmo在本实用新型的一个实施例中，所述插回损光功率计的测量波长范围为850nm 1610nmo通过上述技术方案，本实用新型的有益效果是:本实用新型结 构简单、使用方便、测量精度高、稳定性好。
[0014]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本实用新型测量原理图1 ;图2为本实用新型测量原理图2。图中数字和字母所表示的相应部件名称:100、插回损测试仪110、测量光源120、插回损光功率计200、被测光器件300、跳纤400、第一尾纤500、第二尾纤。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。参见图1和图2所示，本实用新型一种新型光波导分光比测量装置包括插回损测试仪100，插回损测试仪100由测量光源110和插回损光功率计120组成，测量光源110的输出端通过跳纤300与被测光器件200的输入端连接，被测光器件200的输出端通过尾纤与插回损光功率计120的输入端连接。本实用新型插回损测试仪是一款台式的，具有单一光源输出口的，屏幕直接显示测量结果的背反射、差回损和直接光功率的测量仪器；它适用于光通讯元件，系统，特别是光纤缆线的连接插头的测量；系统可以内置任意两个固定波长的光源；LCD显示屏直接显示测试参数和数据；内置激光发射模块、功率接收模块、插回损转换模块，具有多种功能进行实时测量；光纤接口可连接 专业通用适配器FC、SC、ST、LC等，灵活运用多种光纤跳线端面的测量。随着光纤通信的发展，高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV等)，必须具有很高的回波损耗，DFB激光器由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响；从而严重影响系统的性能，即使是普通的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的损耗的测试变得越来越重要。插回损光功率计采用较高灵敏度光功率检测及激光光源稳定技术，功率精度高，测量功率范围+3dBm -80dBm，测量的波长范围850nm 1610nm。使用非常灵活方便，仪表上同时显示所使用的工作波长、被测光器件的光功率、回波损耗和插入损耗值等。理想的光纤端面是一种较好的校准件，使用研磨良好的FC/APC跳线端面作为校准件非常普遍，不确定度一般在0.2dB以内。测试端的FC连接器一定要保持清洁，而且要尽量减少插拔次数，以免损伤端面引起附加反射的增加。测试的过程要求较为严格，校准件、测试跳线本身的回波损耗值以及各端面的清洁程度均会对测试结果造成重大影响，不洁的端面引起的误差可达IOdB以上，因此，测试端面需经常清洁，测试跳线也需定期进行更新(插拔引起端面磨损)。同时，该测试仪具有普通光功率计的功能，内置常用的双波长光源(1310/1550nm)，即可以作为普通光功率计使用，亦可作为高稳定度单/双波长光源使用，使用灵活方便。本实用新型光波导分光比测量装置的测量方法的步骤如下:(I)首先测量跳纤的参数达到相应标准，将插回损光功率计归零；对Y波导两尾纤做出标记，记为第一尾纤400和第二尾纤500,因此两尾纤输出光功率分别记为Ptll和Ptl2 ；(2)按插回损光功率下切换键，选择波长1310nm，按照图1连接，测出Ptll数值，按照图2连接，测出Ptl2数值；(3)按插回损光功率下切换键，选择波长1550nm，按照图1连接，测出Ptll数值，按照图2连接，测出Ptl2数值；(4)分光比(D)的基本定义为:集成光学分束器各分支输出光功率相对于总输出光功率相对值的比值，对于Y波导调制器其值为两尾纤输出光功率分别占总输出光功率的比值。根据定义可以得到分光比的计算公式:
权利要求1.一种新型光波导分光比测量装置，其特征在于:包括 一插回损测试仪，所述插回损测试仪由测量光源和插回损光功率计组成，所述测量光源的输出端与被测光器件的输入端连接，所述被测光器件的输出端与插回损光功率计的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型光波导分光比测量装置，其特征在于:所述测量光源通过跳纤与被测光器件连接。
3.根据权利要求1所述的一种新型光波导分光比测量装置，其特征在于:所述被测光器件通过尾纤与插回损光功率计连接。
4.根据权利要求1所述的一种新型光波导分光比测量装置，其特征在于:所述插回损光功率计的测量功率范围为+3dBm -80dBm。
5.根据权利要求1所述的一种新型光波导分光比测量装置，其特征在于:所述插回损光功率计的测量波 长范围为850nm 1610nm。
专利摘要本实用新型公开了一种新型光波导分光比测量装置，包括一插回损测试仪，所述插回损测试仪由测量光源和插回损光功率计组成，所述测量光源的输出端与被测光器件的输入端连接，所述被测光器件的输出端与插回损光功率计的输入端连接。本实用新型结构简单、使用方便、测量精度高。
文档编号G01M11/02GK203116945SQ201220749540
公开日2013年8月7日 申请日期2012年12月31日 优先权日2012年12月31日
发明者张丽萍 申请人:上海宽岱电讯科技发展有限公司