大型轴类铣键槽用测量卡板的制作方法

文档序号:6208644阅读:287来源:国知局
大型轴类铣键槽用测量卡板的制作方法
【专利摘要】大型轴类铣键槽用测量卡板,包括卡板、塞块;在卡板的内圈设置有键槽,键槽中配置有塞块。所述的卡板,在内圈均布设置有双键槽、三键槽、四键槽;所述的卡板的内圈及键槽的尺寸,是根据工件的直径、键槽尺寸要求进行制作的;所述的塞块尺寸,是根据键槽的通端尺寸要求进行制作的。本实用新型重量轻、测量方便,测量准确、稳定,操作简单,是大型轴类零件在铣削键槽时,检测键槽的对称度、宽度、深度、垂直度,所用的实效检测器具。卡板、塞块设计与轴的键槽尺寸相符,确保检测精度及检具使用寿命长。有效地解决大型轴类零件传统测量困难,不适应批量生产的问题。
【专利说明】大型轴类铣键槽用测量卡板
[0001]【技术领域】
[0002]本实用新型涉及到一种大型船舶上舵杆、舵销、舵柄等轴类铣键槽用测量卡板。
[0003]【背景技术】
[0004]大船舶上舵杆、舵销、舵柄等轴类件在铣键槽时,一般都是采用游标卡尺进行测量,铣键槽时对称度、深度,偏斜度等形位公差,测量难度大,费时费力,质量不稳定,不能满足大批量生产的需要。
[0005]
【发明内容】

[0006]本实用新型的目的就是要提供一种大型轴类铣键槽用测量卡板,
[0007]它能克服现有技术存在的以上测量缺陷。本实用新型的目的是只样实现的。大型轴类铣键槽用测量卡板,包括卡板、塞块,其特征在于:卡板的内圈设置有键槽,键槽中配置有塞块。
[0008]所述的卡板,在内圈均布设置有双键槽、三键槽、四键槽;
[0009]所述的卡板的内圈及键槽的尺寸,是根据工件的直径、键槽尺寸要求进行制作的;
[0010]所述的塞块尺寸,是根据键槽的通端尺寸要求进行制作的。
[0011]本实用新型重量轻、测量方便,测量准确、稳定,操作简单,是大型轴类零件在铣削键槽时,检测键槽的对称度、宽度、深度、垂直度,所用的实效检测器具。卡板、塞块设计与轴的键槽尺寸相符,确保检测精度及检具使用寿命长。有效地解决大型轴类零件传统测量困难,不适应批量生产的问题。
[0012]【专利附图】

【附图说明】
[0013]图1是本实用新型结构示意图中的主视图;
[0014]图2是本实用新型结构示意图中的俯视图;
[0015]1.卡板,2.塞块,3.大型轴,4.双键槽,5.三键槽,6.四键槽。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图对本实用新型作进一步说明;
[0017]大型轴类铣键槽用测量卡板,包括卡板1、塞块2,其特征在于:卡板的内圈设置有键槽,键槽中配置有塞块2。
[0018]所述的卡板1,在内圈均布设置有双键槽、三键槽、四键槽;
[0019]所述的卡板I的内圈及键槽的尺寸,是根据工件的直径、键槽尺寸要求进行制作的;
[0020]所述的塞块2尺寸,是根据键槽的通端尺寸要求进行制作的。
[0021]具体实施时,本实用新型由卡板、塞尺、塞块配合使用。卡板的内圈及键槽是根据工件的直径、键槽尺寸要求来进行制作的,其制造精度比工件的精度要高一级。塞块是根据键槽的通端尺寸要求来制作的。在加工测量时将卡板套入轴上对准刚加工好的键槽,再将塞块插入轴的键槽中进行对比、查看,对有偏斜、不对称、深度、宽度等不到尺寸的提供依据,方便进行及时修正和继续加工。当塞块塞入已加工的键槽中,再用塞尺塞入,可测出键槽的止端尺寸,这样就可完成一个键槽的检测过程。如检测工件圆周上双键槽或三键槽、四键槽时,是将第一键槽检测完毕后用一个塞块塞入键槽中并固定,再用同样的方法对第二个、第三个、第四个键槽分别进行检测。根据这个原理,可用同样的方法去检测工件内孔键槽的尺寸。
【权利要求】
1.大型轴类铣键槽用测量卡板,包括卡板(I)、塞块(2),其特征在于:卡板(I)的内圈设置有键槽,键槽中配置有塞块(2 )。
2.根据权利要求1所述的大型轴类铣键槽用测量卡板,其特征在于:所述的卡板(1),在内圈均布设置有双键槽(4)、三键槽(5)、四键槽(6)。
3.根据权利要求1或2所述的大型轴类铣键槽用测量卡板,其特征在于:所述的卡板(I)的内圈及键槽的尺寸,是根据工件的直径、键槽尺寸要求进行制作的。
4.根据权利要求1所述的大型轴类铣键槽用测量卡板,其特征在于:所述的塞块(2)的尺寸,是根据键槽的通端尺寸要求进行制作的。
【文档编号】G01B5/245GK203672304SQ201320790773
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2013年12月5日 优先权日:2013年12月5日
【发明者】陈波, 侯兴荣 申请人:江苏华帝海洋工程设备制造有限公司
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