一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，包括圆盘形基座和固定所述的圆盘形基座的夹具，所述的基座上设有一个与异形光学元件的尺寸匹配的方形通孔，所述的方形通孔的内壁下侧的四周设有一圈凸出的台阶，所述的台阶的上表面与水平面平行，所述的台阶的宽度为0.4～0.5cm，所述的台阶的上表面距离所述的基座上表面的距离为1.2～1.5cm，所述的方形通孔的四个角上分别设有一个保护通孔,所述的方形通孔的中心与所述的圆盘形基座的圆心重合。本实用新型旨在提供一种测量精度高、测量过程简单的异形光学元件中心偏差的辅助检验装置。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及光学镜片的生产设备制造领域，特别是一种异形光学元件中心偏 差的辅助检验装置。 一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置
【背景技术】
[0002] 随着科学技术的发展，光学镜片经历了多个产品形状的发展，从传统的圆形光学 镜片演化为方形光学镜片，随着应用范围的扩展，镜片的形状也从规则向不规则的形状发 展，比如L形、中空的方形、凹字形、Z字形等，要对这些光学镜片进行中心偏差进行检测，难 度要远远大于对规则的形状的光学镜片进行检测，在现有技术中，一般检测异性光学元件 的中心偏差往往采用游标卡尺或者其他镜面形状的检测工具进行测量，在测量过程中，一 般通过化学胶黏剂将光学元件粘结在水平面上进行固定，其测量过程复杂，由于具有化学 胶黏剂的水平面并不是严格的水平，对测量精度也有一定的影响。 实用新型内容
[0003] 本实用新型提供一种测量精度高、测量过程简单的异形光学元件中心偏差的辅助 检验装置。
[0004] 本实用新型提供的技术方案为：一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，包 括圆盘形基座和固定所述的圆盘形基座的夹具，所述的基座上设有一个与异形光学元件的 尺寸匹配的方形通孔，所述的方形通孔的内壁下侧的四周设有一圈凸出的台阶，所述的台 阶的上表面与水平面平行，所述的台阶的宽度为0. 4?0. 5cm，所述的台阶的上表面距离所 述的基座上表面的距离为1. 2?1. 5cm，所述的方形通孔的四个角上分别设有一个保护通 孔，所述的方形通孔的中心与所述的圆盘形基座的圆心重合。
[0005] 在上述的异形光学元件中心偏差的辅助检验装置中，所述的夹具为三爪卡盘。
[0006] 在上述的异形光学元件中心偏差的辅助检验装置中，所述的圆盘形基座为不锈钢 材料制成。
[0007] 本实用新型采用方形通孔以及固定在方形通过内壁下侧的台阶对异性光学镜 片进行固定以辅助中心偏差数据的检测，本实用新型中，台阶的宽度恰到好处的设置在 0. 4?0. 5cm范围内，防止过窄不易放置镜片，过宽缩小了测量面积，更为重要的是，由于本 实用新型所测量的对象是异形光学元件，在测量过程中，需要不断的旋转本辅助检查装置， 异性光学元件在转动的过程中各个顶角与方形通孔之间的接触力并不是均衡的，特别是在 检测工具的测量头施加一定的作用力与光学元件的表面时，这种现象更加明显，容易造成 光学元件的角磕坏或者在挤压作用下损伤，采用本方案的保护通孔，可以避免各角受力，相 应的作用力转移到光学元件的边上，降低了产品的测量损坏率。
【专利附图】
【附图说明】
[0008] 图1是本实用新型的具体实施例1的圆盘形基座1的俯视图；
[0009] 图2是本实用新型的具体实施例1的圆盘形基座1的仰视图；
[0010] 图3是本实用新型的具体实施例1的圆盘形基座1上安装有L形光学元件后的俯 视图；
[0011]图4是本实用新型的具体实施例1的辅助检验装置上安装有L形光学元件后的俯 视图。
【具体实施方式】
[0012] 下面结合【具体实施方式】，对本实用新型的技术方案作进一步的详细说明，但不构 成对本实用新型的任何限制。
[0013] 实施例1
[0014] 如图1至图2所示，一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，包括圆盘形基座 1和固定所述的圆盘形基座1的夹具2,所述的夹具2优选为为三爪卡盘，所述的基座1上设 有一个与异形光学元件6的尺寸匹配的方形通孔3,所述的方形通孔3的内壁下侧的四周设 有一圈凸出的台阶4,所述的台阶4的上表面与水平面平行，所述的台阶4的宽度为0.4? 0. 5cm，优选为0. 45cm，所述的台阶4的上表面距离所述的基座1上表面的距离为1. 2? 1. 5cm，优选为1. 3cm，所述的方形通孔3的四个角上分别设有一个保护通孔5,所述的方形 通孔3的中心与所述的圆盘形基座1的圆心重合，在本方案中，所述的圆盘形基座1为不锈 钢材料制成。
[0015] 如图3和图4所示，当需要测量异形光学元件时，如测量L形光学元件，只需要将 L形光学元件放入到本辅助检查装置中，将本辅助检查装置固定在三爪卡盘上，通过减速电 机带动三爪卡盘转动，进而使本辅助检测装置进行慢速转动，通过三坐标测量仪或者游标 卡尺或者其他工具检测该L形光学元件的表面的参数，进而判断中心偏差的具体数值。
[0016] 以上所述的仅为本实用新型的较佳实施例，凡在本实用新型的精神和原则范围内 所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1. 一种异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，包括圆盘形基座（1)和固定所述的圆 盘形基座（1)的夹具（2)，其特征在于，所述的基座（1)上设有一个与异形光学元件的尺寸 匹配的方形通孔（3)，所述的方形通孔（3)的内壁下侧的四周设有一圈凸出的台阶（4)，所 述的台阶（4)的上表面与水平面平行，所述的台阶（4)的宽度为0.4?0.5cm，所述的台阶 (4)的上表面距离所述的基座（1)的上表面的距离为1. 2?1. 5cm，所述的方形通孔（3)的 四个角上分别设有一个保护通孔（5)，所述的方形通孔（3)的中心与所述的圆盘形基座（1) 的圆心重合。
2. 根据权利要求1所述的异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，其特征在于，所述 的夹具（2)为三爪卡盘。
3. 根据权利要求1所述的异形光学元件中心偏差的辅助检验装置，其特征在于，所述 的圆盘形基座（1)由不锈钢材料制成。
【文档编号】G01B21/00GK203881320SQ201420265437
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年5月22日 优先权日:2014年5月22日
【发明者】江涛 申请人:武汉君邦光电科技有限公司