技术特征：
技术总结
本发明公开了一种芯片性能测试方法、装置及系统，该方法包括：当接收到对待测试芯片进行测试的测试指令时，信号产生单元根据该测试指令产生指定类型的测试信号，并输出该测试信号，信号连接单元根据测试内容通过开关组件的开合状态，形成将该测试信号输入到信号接收处理单元的闭合回路，当该信号接收处理单元接收到从该闭合回路输入的该测试信号时，对该测试信号进行处理得到结果数据，该结果数据用于与预置判定数据进行比较，以得出与测试内容对应的测试结果。本发明可在该待测试芯片的内部实现对芯片性能的测试，提高测试结果的准确性，并降低测试成本。
技术研发人员：张满;李亮
受保护的技术使用者：深圳市汇顶科技股份有限公司
技术研发日：2016.03.04
技术公布日：2017.09.12